测试机治具模块的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种测试机治具模块，提供具有多个接点的待测物量测及吸附升降，包括：一上治具，于其下方设有一下端面，该上治具内设有吸附待测物且凸出于下端面的多个伸缩吸嘴，该多个伸缩吸嘴间另设有对应待测物的多个接点且凸出于下端面的多个凸出测试探针；一下治具，对应设于上治具下方，其上方设有提供置放待测物的一上端面，通过本实用新型，能将上治具下压以测试探针量测待测物的多个接点，并同步利用伸缩吸嘴吸附待测物及上升上治具使待测物脱离下治具。
【专利说明】
测试机治具模块
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种治具模块，尤指一种能将上治具下压以测试探针量测待测物的多个接点，并同步利用伸缩吸嘴吸附待测物及上升上治具使待测物脱离下治具的测试机治具模块。
【背景技术】
[0002]目前，一般测试电路板的好坏，必需将其置于测试台面并以夹具加以夹持，再利用仪器探针将电路板的接点进行量测，因此，量测时必须一块一块地搬运及夹持，因此，在操作上费时费工，不仅成本增加速度慢，其准确度会因人工当时的精神状态及工作态度而有所不同，常常发生疏漏，造成电路板不良率大大增加，该等电路板更需再次花人力重新量测并使成本增加，使得其在实用性上大打折扣，因此，本实用新型提供一种能将上治具下压以测试探针量测待测物的多个接点，并同步利用伸缩吸嘴吸附待测物及上升上治具使待测物脱离下治具，使得其量测准确、省时省力、降低搬运时间成本，有效提升其使用方便及快速性的测试机治具模块。
【实用新型内容】
[0003]为解决上述现有技术不足之处，本实用新型之主要目的在于提供一种测试机治具模块，其能将上治具下压以测试探针量测待测物的多个接点，并同步利用伸缩吸嘴吸附待测物及上升上治具使待测物脱离下治具，以克服现有技术中的缺点。
[0004]本实用新型之另一目的在于提供一种测试机治具模块，其量测准确、省时省力、降低搬运时间成本。
[0005]本实用新型之又一目的在于提供一种测试机治具模块，可有效提升其使用方便及快速性。
[0006]为达上述目的，本实用新型提供提供一种测试机治具模块，提供具有多个接点的待测物量测及吸附升降，包括:
[0007]—上治具，于其下方设有一下端面，该上治具内设有吸附待测物且凸出于下端面的多个伸缩吸嘴，该多个伸缩吸嘴间另设有对应待测物的多个接点且凸出于下端面的多个凸出测试探针；
[0008]—下治具，对应设于上治具下方，其上方设有提供置放待测物的一上端面。
[0009]较佳地，本实用新型上治具的伸缩吸嘴凸出于下端面的长度大于测试探针凸出于下端面的长度。
[0010]较佳地，本实用新型的上治具可升降。
[0011]与现有技术相比，本实用新型一种测试机治具模块能将上治具下压以测试探针量测待测物的多个接点，并同步利用伸缩吸嘴吸附待测物及上升上治具使待测物脱离下治具，使得其量测准确、省时省力、降低搬运时间成本，有效提升其使用方便及快速性，符合进步、实用与使用者的需要。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型的立体分解图；
[0013]图2为本实用新型的立体组合图；
[0014]图3为本实用新型的组合剖面图；
[0015]图4为本实用新型下治具置放待测物且上治具上升位于下治具上方的实施例图；
[0016]图5为本实用新型上治具下压且其测试探针与待测物的接点接触量测的实施例图；
[0017]图6为本实用新型上治具上升且其伸缩吸嘴吸附待测物的实施例图。
【具体实施方式】
[0018]为使审查员了解本实用新型的特征、内容与优点及其所能达成的功效，将本实用新型配合附图，并以实施例的表达形式详细说明如下。在此需说明的是，在本实用新型中所使用的附图，其主旨仅为示意及辅助说明书，未必为本实用新型实施后的真实比例与精准配置，故不应将附图的比例与配置关系局限本实用新型于实际实施上的专利范围。
[0019]图1、图2、图3、图4、图5及图6分别为本实用新型的立体分解图、本实用新型的立体组合图、本实用新型的组合剖面图、本实用新型下治具置放待测物且上治具上升位于下治具上方的实施例图、本实用新型上治具下压且其测试探针与待测物的接点接触量测的实施例图、本实用新型上治具上升且其伸缩吸嘴吸附待测物的实施例图。如图1、图2、图3、图4、图5及图6所示，本实用新型一种测试机治具模块提供具有多个接点31的待测物3量测及吸附升降，该待测物3于本实施例为电路板，于一较佳实施例中包括有一上治具1、一下治具2。
[0020]前述的一上治具I，于其下方设有一下端面10，该上治具I内设有吸附待测物3且凸出于下端面10的多个伸缩吸嘴11，该多个伸缩吸嘴11间另设有对应待测物3的多个接点31且凸出于下端面10的多个凸出测试探针12;而伸缩吸嘴11的数量多少，取决于待测物3的重量，即可为电路板的待测物3的重量重，所需的伸缩吸嘴11的数量较多，反之若可为电路板的待测物3的重量轻，所需的伸缩吸嘴11的数量则可减少，但并不以此限制本实用新型，其也可将所需的伸缩吸嘴11的数量不变或增加，都属本实用新型的保护范围。
[0021]前述的一下治具2，对应设于上治具I下方，其上方设有置放待测物3的一上端面20;又为了能于提供将伸缩吸嘴11先与待测物3接触，上治具I的伸缩吸嘴11凸出于下端面10的长度，大于测试探针12凸出于下端面10的长度;又为了能将可为电路板的待测物3进行升降，该上治具I可升降。
[0022]请配合参阅图4、图5、图6，本实用新型其使用时简单容易，仅需将可为电路板的待测物3置于下治具2(如图4所示)；此时，上治具I下压，由于其伸缩吸嘴11凸出于下端面10的长度大于测试探针12的凸出下端面10的长度，伸缩吸嘴11会先被压缩，之后测试探针12则会与可为电路板的待测物3的接点31接触而进行量测(如图5所示)；当量测完成后，伸缩吸嘴11会将待测物3吸附并恢复其原本长度，被伸缩吸嘴11吸附的待测物3，会随着上治具I上升而上升，并使待测物3脱离下治具2的上端面20(如图6所示)；若该待测物3所量测的值有问题，可以将上治具I再次下压如图5所示进行量测。
[0023]通过本实用新型，能将上治具I下压以测试探针12量测待测物3的多个接点31，并同步利用伸缩吸嘴11吸附待测物3及上升上治具I使待测物3脱离下治具2，使得其量测准确、省时省力、降低搬运时间成本，有效提升其使用方便及快速性，符合进步、实用与使用者的需要。
[0024]以上所述实施例仅为说明本实用新型的技术思想及特点，其目的在使熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并非用以限定本实用新型的专利范围，即凡是依本实用新型所揭示的精神所作的均等变化或修饰，仍应涵盖在本实用新型的专利范围内。
【主权项】
1.一种测试机治具模块，提供具有多个接点的待测物量测及吸附升降，其特征在于，包括: 一上治具，于其下方设有一下端面，该上治具内设有吸附待测物且凸出于下端面的多个伸缩吸嘴，该多个伸缩吸嘴间另设有对应待测物的多个接点且凸出于下端面的多个凸出测试探针； 一下治具，对应设于上治具下方，其上方设有提供置放待测物的一上端面。2.如权利要求1所述的测试机治具模块，其特征在于:所述上治具的伸缩吸嘴凸出于下端面的长度大于测试探针凸出于下端面的长度。3.如权利要求1所述的测试机治具模块，其特征在于:所述上治具可升降。
【文档编号】G01R31/28GK205507018SQ201620036994
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2016年1月15日
【发明人】陈文勇
【申请人】全新方位科技股份有限公司