一种新型间隙测量塞尺的制作方法
【专利摘要】本实用新型属于间隙测量技术，涉及一种新型间隙测量塞尺。所述新型间隙测量塞尺包括保护罩(1)、连接件(2)和若干片等厚度单片塞尺(3)，其中，所述连接件(2)为插锁结构，相应数目的单片塞尺插入保护罩内，并由连接件穿过锁定。本实用新型间隙测量塞尺的测量精度可达到0.05mm，测量范围自0.05mm—3.00mm之间的每0.05mm的任何间隙值，测量范围大、精度较高。每片塞尺单独进行编号，测量后，读取最后一片塞尺上的编号值，即可直接计算出所测量的间隙，较以往需要读取每片塞尺上的厚度值，计算简便，效率高。
【专利说明】
一种新型间隙测量塞尺
技术领域
[0001]本实用新型属于间隙测量技术，涉及一种新型间隙测量塞尺。
【背景技术】
[0002]GB/T 22523—2008中规定塞尺由多片不同厚度单片塞尺组合构成，适用厚度范围
0.02mm-1.00mm。塞尺一般使用不锈钢制造，自0.02-0.1Omm间，各钢片厚度级差为0.01mm；自0.10-1.0Omm间，各钢片厚度级差0.05mm，自1.0Omm以上，钢片厚度级差1mm。
[0003]而且现有塞尺进行间隙测量时，直接采用人工插入相应数目的塞尺，然而如果间隙较大，塞尺数目较多时，容易发生塞尺滑动移位，影响测量精度和效率。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的是:提供一种测量速度快，测量范围大、精度高，大大提升了间隙测量效率的新型间隙测量塞尺。
[0005]本实用新型的技术方案是:一种新型间隙测量塞尺，其包括保护罩1、连接件2和若干片等厚度单片塞尺3，其中，所述连接件2为插锁结构，相应数目的单片塞尺插入保护罩内，并由连接件穿过锁定。
[0006]所述单片塞尺厚度为0.05mm。
[0007]本实用新型的优点是:本实用新型间隙测量塞尺的测量精度可达到0.05mm，测量范围自0.05mm—3.0Omm之间的每0.05mm的任何间隙值，测量范围大、精度较高。每片塞尺单独进行编号，测量后，读取最后一片塞尺上的编号值，即可直接计算出所测量的间隙，较以往需要读取每片塞尺上的厚度值，计算简便，效率高。
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型间隙测量塞尺的示意图；
[0009]其中，1-保护罩、2-连接件、3-单片塞尺。
【具体实施方式】
[0010]下面对本实用新型做进一步详细说明。
[0011]请参阅图1，本实用新型间隙测量塞尺包括保护罩1、连接件2和若干片等厚度单片塞尺3。
[0012]所述单片塞尺厚度为0.05mm，测量端具有连接孔，其通过插入相应数目的单片塞尺可以进行间隙的测量。另外，单片塞尺3上有每片塞尺的上标有顺序编号，因此测量时，按编号顺序放置单片塞尺，从而可通过查看编号快速获得测量数据。
[0013]所述连接件2为插锁结构，设置在保护罩I的锁槽内，且与单片塞尺连接孔连接。实际测量时，相应数目的单片塞尺的测量端，插入保护罩内，并由连接件穿过连接孔进行锁定，避免单片塞尺之间的滑移错位。
[0014]本实用新型用于飞机装配时，各类零件之间的装配间隙的测量。测量时，根据目测间隙值，选取一定数量单片塞尺进行组合，对间隙进行测量，然后根据初步测量的偏差，调整塞尺数量，对间隙进行精确测量，读取最后一片塞尺编号(或最后一片与第一片编号差值)，计算出间隙值。
【主权项】
1.一种新型间隙测量塞尺，其特征在于，包括保护罩(1)、连接件(2)和若干片等厚度单片塞尺(3)，其中，所述连接件(2)为插锁结构，相应数目的单片塞尺插入保护罩内，并由连接件穿过锁定。2.根据权利要求1所述的新型间隙测量塞尺，其特征在于，所述单片塞尺厚度为.0.05mm。
【文档编号】G01B5/14GK205561724SQ201620136082
【公开日】2016年9月7日
【申请日】2016年2月23日
【发明人】李乾玥, 孙坐瑞, 刘楠, 崔宝东, 于立波, 朱国瑞, 高宏飞
【申请人】哈尔滨飞机工业集团有限责任公司