一种hdi板盲孔的电气测量装置的制造方法

文档序号:10877289阅读:429来源:国知局
一种hdi板盲孔的电气测量装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种HDI板盲孔的电气测量装置,包括机架、底部、和底部相对的顶部、压杆机构、上测试组件、下测试组件和毫欧表,与现有技术相比,这种HDI板盲孔的电气测量装置,此装置可以对每块工作品进行非破坏性测量,适用所有批次的埋孔板进行测量,测量孔在电镀、线路完成后进行测量,定位孔使用板边的工具孔进行定位,测量时将测试板放在测试架上定位后直接按下治具下压键即可测量,测量时间在20秒左右。
【专利说明】
一种HD I板盲孔的电气^则量装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种电气测量装置,尤其涉及一种HDI板盲孔的电气测量装置。【背景技术】[〇〇〇2] HDI是High Density Interconnector的英文简写,是生产印制板的一种(技术), 使用微盲埋孔技术的一种线路分布密度比较高的电路板,印刷电路板是以绝缘材料辅以导体配线所形成的结构性元件,印刷电路板在制成最终产品时,其上会安装积体电路、电晶体、二极体、被动元件(如:电阻、电容、连接器等)及其他各种各样的电子零件。藉著导线连通,可以形成电子讯号连结及应有机能,因此,印制电路板是一种提供元件连结的平台,用以承接联系零件的基底。
[0003]在HDI产品制造中,盲孔制作工艺复杂,控制盲孔品质是HDI板制作的关键点,常规控制是利用切片进行显微镜分析,此方式是破坏性实验,只能作批次抽查及出货报告分析用,且做一个切片分析需1小时左右,不可能对每个产品进行测量,成品的电测试由于本身的特点无法测量出微短路及微开路,只有开短路达到一定的阻值时电测试机才能测量出, 给HDI品质带来一定的隐患,
[0004]为了便于控制HDI板盲孔品质,我们制作出一种专门测量盲孔品质的测试装置,本装置是利用电测试机的上下压板动能,制作一个简单的测试架,配两根测试针,配合一个毫欧表来进行在线自动测量。【实用新型内容】
[0005]本实用新型所要解决的技术问题在于:提供一种HDI板盲孔的电气测量装置,来解决HDI产品成品的电测试由于本身的特点无法测量出微短路及微开路,只有开短路达到一定的阻值时电测试机才能测量出,给HD I品质带来一定的隐患的问题。
[0006]为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:一种HDI板盲孔的电气测量装置,包括机架、底部、和底部相对的顶部、压杆机构、上测试组件、下测试组件和毫欧表,所述机架设置有一竖直板,所述底部位于机架上端,所述底部设有导柱,所述顶部设有导柱孔, 所述顶部与导柱滑动相连,所述顶部可以沿导柱上下移动,所述顶部由位于其上端的压杆组件驱动,所述压杆组件位于机架的竖直板上,所述压杆组件与竖直板通过固定柱相连,所述压杆组件通过向外扳动把手实现压杆的下压动作,相反向内扳动把手则实现压杆的抬起动作,所述上测试组件包括上底板、若干块面板及导向柱,所述底板通过固定柱与顶部相连,所述底板位于顶部下端,所述底板设有若干小型圆孔,所述面板之间、面板与底板之间设置有弹簧,所述面板设有若干小型圆孔与底板的小型圆孔一一对应,所述面板的小型圆孔用于固定测试针,所述测试针头部凸出于面板,所述测试针用于连接需要测试的HDI产品,需要测试的HDI产品在边缘设有一排盲孔测量孔,目的是串连形成一定的阻值便于毫欧表测量,减少单个盲孔测量的误差,每个测量孔首尾相连,第一测量孔及最后一个测量孔与测试针位置相对应,所述导向柱用于底板和面板的定位,所述下测试组件包括固定板和位于其上端的定位板,所述固定板与底部通过支撑柱相连并用于HDI产品的底部支撑,所述定位板用于HDI产品在水平方向上的定位,所述毫欧表与测试针电性相连用于测量两个测试针之间的电阻值来判断HD I产品的品质。
[0007]与现有技术相比,这种HDI板盲孔的电气测量装置,此装置可以对每块工作品进行非破坏性测量,适用所有批次的埋孔板进行测量,测量孔在电镀、线路完成后进行测量,定位孔使用板边的工具孔进行定位,测量时将测试板放在测试架上定位后直接按下治具下压键即可测量,测量时间在20秒左右。【附图说明】
[0008]图1示出本实用新型正视图
[0009]图2示出本实用新型HDI板测量原理图
[0010]机架1、底部2、顶部3、压杆机构4、上测试组件5、下测试组件6、毫欧表7竖直板11、 导柱21、把手41、上底板51、面板52、导向柱53、测试针54、HDI产品8、测试点81、盲孔测量孔 82【具体实施方式】
[0011]如图1和图2所示,一种HDI板盲孔的电气测量装置,包括机架1、底部2、和底部相对的顶部3、压杆机构4、上测试组件5、下测试组件6和毫欧表7,所述机架1设置有一竖直板11, 所述底部2位于机架1上端,所述底部2设有导柱21,所述顶部3设有导柱孔,所述顶部3与导柱21滑动相连,所述顶部3可以沿导柱21上下移动,所述顶部3由位于其上端的压杆组件4驱动,所述压杆组件4位于机架1的竖直板11上,所述压杆组件4与竖直板11通过固定柱12相连,所述压杆组件4通过向外扳动把手41实现压杆4的下压动作,相反向内扳动把手41则实现压杆4的抬起动作,所述上测试组件5包括上底板51、若干块面板52、导向柱53和测试针 54,所述底板51通过固定柱512与顶部3相连,所述底板51位于顶部3下端,所述底板51设有若干小型圆孔,所述面板52之间、面板52与底板51之间设置有弹簧55,所述面板52设有若干小型圆孔与底板51的小型圆孔一一对应,所述面板52的小型圆孔用于固定测试针54,所述测试针54头部凸出于面板52,所述测试针54用于连接需要测试的HDI产品8,需要测试的HDI 产品8在边缘设有一排盲孔测量孔82,目的是串连形成一定的阻值便于毫欧表测量,减少单个盲孔测量的误差,每个测量孔82首尾相连,第一测量孔82及最后一个测量孔83与测试针 54位置相对应,所述导向柱53用于底板51和面板52的定位,所述下测试组件6包括固定板61 和位于其上端的定位板62,所述固定板61与底部3通过支撑柱63相连并用于HDI产品的底部支撑,所述定位板62用于HDI产品在水平方向上的定位,所述毫欧表7与测试针54电性相连用于测量两个测试针之间的电阻值来判断HDI产品的品质。
[0012]本实用新型的有益效果是,在测试中,测试针连接在毫欧表的测试线上,豪欧表选择量程lm Q 一1 Q之间,毫欧表测量精度要求达到0.lm Q,正常无缺陷的盲孔阻值非常小在100mQ左右,有缺陷的盲孔阻值在1000mQ以上至无穷大,直接通过毫欧表显示即可判定产品的品质,将测量出来电阻偏大的产品进行筛选和进一步分析,并且可以对不良品可进行复测确认,此装置可以对每块工作品进行非破坏性测量,适用对所有批次的埋孔板进行测量。
[0013]本实用新型不局限于上述具体的实施方式,本领域的普通技术人员从上述构思出发,不经过创造性的劳动,所做出的种种变换,均落在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种HDI板盲孔的电气测量装置,其特征在于,包括机架、底部、和底部相对的顶部、 压杆机构、上测试组件、下测试组件和毫欧表,所述机架设置有一竖直板,所述底部位于机 架上端,所述底部设有导柱,所述顶部设有导柱孔,所述顶部与导柱滑动相连,所述顶部可 以沿导柱上下移动,所述顶部由位于其上端的压杆组件驱动,所述压杆组件位于机架的竖 直板上,所述压杆组件与竖直板通过固定柱相连,所述上测试组件包括上底板、若干块面板 及导向柱,所述底板通过固定柱与顶部相连,所述底板位于顶部下端,所述底板设有若干小 型圆孔,所述面板设有若干小型圆孔与底板的小型圆孔一一对应,所述面板的小型圆孔用 于固定测试针,所述测试针头部凸出于面板,所述测试针用于连接需要测试的HDI产品,所 述导向柱用于底板和面板的定位,所述下测试组件包括固定板和位于其上端的定位板,所 述固定板与底部通过支撑柱相连并用于HDI产品的底部支撑,所述定位板用于HDI产品在水 平方向上的定位,所述毫欧表与测试针电性相连用于测量两个测试针之间的电阻值来判断 HDI产品的品质。2.如权利要求1所述的一种HDI板盲孔的电气测量装置,其特征在于,所述压杆组件通 过向外扳动把手实现压杆的下压动作,相反向内扳动把手则实现压杆的抬起动作。3.如权利要求2所述的一种HDI板盲孔的电气测量装置,其特征在于,所述面板之间、面 板与底板之间设置有弹簧。4.如权利要求3所述的一种HDI板盲孔的电气测量装置,其特征在于,所述HDI产品在边 缘设有一排盲孔测量孔用于串连形成一定的阻值便于毫欧表测量。5.如权利要求4所述的一种HDI板盲孔的电气测量装置,其特征在于,每个测量孔首尾 相连,第一测量孔及最后一个测量孔与测试针位置相对应。
【文档编号】G01R31/28GK205562743SQ201620206200
【公开日】2016年9月7日
【申请日】2016年3月17日
【发明人】钱荣喜
【申请人】苏州市惠利源科技有限公司
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