基材缺陷检测装置和光源装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开一种基材缺陷检测装置和光源装置，所述基材缺陷检测装置用以检测一基材，包括一光源装置、一图像获取装置及一控制装置。光源装置包括一第一光源产生装置及一第二光源产生装置。第一光源产生装置具有一第一发光面。第二光源产生装置与第一光源产生装置彼此相对应设置，第二光源产生装置具有一第二发光面。图像获取装置与第一光源产生装置及第二光源产生装置彼此相对应设置，图像获取装置包括一线性图像获取单元。控制装置电连接于图像获取装置、第一光源产生装置及第二光源产生装置。因此，第一光源产生装置及第二光源产生装置能够依次产生投射在基材上的闪烁光源。本实用新型克服了现有技术的不足，达到了快速检测基材的效果。
【专利说明】
基材缺陷检测装置和光源装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种缺陷检测装置，特别是涉及一种通过判断基材表面是否存在有缺陷以达到提升基材检测速度及准确性的基材缺陷检测装置。
【背景技术】
[0002]现今的产品大都以大量生产来降低生产成本，而大量生产的同时，检测装置如何能有效地检测成为重要的课题之一，而在产品生产前，制作产品所需的材料大都须先经检测，借此淘汰具有缺陷的材料，进而提高产品的合格率且降低生产成本。
[0003]许多广品用基材制造生广，因此，基材检测对于生广的合格率具有不可忽视的影响，其中，基材的检测常需要确认或基材的正反两表面是否有缺陷，例如:凹陷、凸起、破损、擦伤或刮伤等问题。
[0004]因此为了提供质量较好的基材，通常会通过人工进行目视检测，通过将基材设置于一输送带上，并用人眼进行观测，检测该些基材是否有瑕疵，并记录该些瑕疵区域。然而，上述通过人眼进行检测的方式，容易因为眼睛在长时间的观测下而产生疲劳或误判，开始产生基材缺陷辨别率下降的情形，且对于单一产品的缺陷判断标准也会不一致。此外，也由于是通过人眼进行检测，因此基材在输送带上的速度也不能太快。进一步来说，当缺陷很小时，或是待检测的基材是薄膜基材时，人眼就无法进行辨识，若要辨识也需要通过图像放大器进行观测，然而，还是会产生前述问题。
[0005]因此，如何提供一种能够将改善基材表面缺陷辨识率，以克服上述的缺失，已然成为该项事业所欲解决的重要课题之一。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种基材缺陷检测装置，以达到快速检测基材的效果。
[0007]为了解决上述的技术问题，本实用新型所采用的其中一技术方案是，提供一种基材缺陷检测装置，用以检测一基材，所述基材缺陷检测装置包括一光源装置、一图像获取装置、以及一控制装置。所述光源装置包括一第一光源产生装置以及一第二光源产生装置。所述第一光源产生装置具有一第一发光面，所述第一光源产生装置能由所述第一发光面依次发出一具有一第一亮度的光线及一具有一第二亮度的光线，其中所述第一亮度及所述第二亮度所产生的流明数不同。所述第二光源产生装置与所述第一光源产生装置彼此相对应设置，所述第二光源产生装置具有一第二发光面，所述第二光源产生装置能由所述第二发光面依次发出一具有一第三亮度的光线及一具有一第四亮度的光线，其中所述第三亮度及所述第四亮度所产生的流明数不同，具有所述第一亮度的光线、具有所述第二亮度的光线、具有所述第三亮度的光线以及具有所述第四亮度的光线都投射于位于一检测区域内的所述基材上。所述图像获取装置与所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置彼此相对应设置，所述图像获取装置包括一用于获取位于所述检测区域内的所述基材的一图像信息的线性图像获取单元。所述控制装置电连接于所述图像获取装置，以接收所述图像获取装置所获取到的所述图像信息，所述控制装置电连接于所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置，以控制所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置所产生的亮度。
[0008]优选地，进一步包括:一输送装置，所述输送装置电连接于所述控制装置，其中所述输送装置包括多个滚轮，用以输送所述基材通过所述检测区域，其中所述控制装置控制所述输送装置输送所述基材的一移动速度。
[0009]优选地，所述线性图像获取单元及所述第一光源产生装置设置于所述基材的其中一侧边，所述第二光源产生装置设置于所述基材的另外一侧边，或是所述线性图像获取单元、所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置设置于所述基材的其中一所述侧边。
[0010]优选地，所述图像信息包括一第一图像信号及一第二图像信号，其中所述第一图像信号为所述线性图像获取单元获取具有所述第一亮度的光线投射于位于所述检测区域上的图像而得，所述第二图像信号为所述线性图像获取单元获取具有所述第三亮度的光线投射于位于所述检测区域上的图像而得，其中所述控制装置依据所述第一图像信号及所述第二图像信号，以得到所述瑕疵信息。
[0011]优选地，具有所述第一亮度的光线或具有所述第三亮度的光线通过所述瑕疵区域，以偏折地投射在所述线性图像获取单元的一获取范围中。
[0012]优选地，当所述第一光源产生装置发出具有所述第一亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第四亮度的光线，当所述第一光源产生装置发出具有所述第二亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第三亮度的光线。
[0013]优选地，具有所述第一亮度的光线的流明数大于具有所述第二亮度的光线的流明数，具有所述第三亮度的光线的流明数大于具有所述第四亮度的光线的流明数。
[0014]优选地，所述第一光源产生装置进一步包括:一第一照度传感器，以量测具有所述第一亮度的光线及具有所述第二亮度的光线，所述第二光源产生装置进一步包括:一第二照度传感器，以量测具有所述第三亮度的光线及具有所述第四亮度的光线，其中所述第一光源产生装置具有多个第一发光组件，所述第二光源产生装置具有多个第二发光组件，所述第一光源产生装置的多个所述第一发光组件同步产生具有所述第一亮度的光线或具有所述第二亮度的光线，所述第二光源产生装置的多个所述第二发光组件同步产生具有所述第三亮度的光线或具有所述第四亮度的光线。
[0015]优选地，所述基材为透光基材或非透光基材。
[0016]为了解决上述的技术问题，本实用新型所采用的另外一技术方案是，提供一种光源装置，用于设置在一基材缺陷检测装置上，所述光源装置包括一第一光源产生装置以及一第二光源产生装置。所述第一光源产生装置具有一第一发光面，所述第一光源产生装置能由所述第一发光面依次发出一具有一第一亮度的光线及一具有一第二亮度的光线，其中所述第一亮度及所述第二亮度所产生的流明数不同。所述第二光源产生装置与所述第一光源产生装置彼此相对应设置，所述第二光源产生装置具有一第二发光面，所述第二光源产生装置能由所述第二发光面依次发出一具有一第三亮度的光线及一具有一第四亮度的光线，其中所述第三亮度及所述第四亮度所产生的流明数不同，具有所述第一亮度的光线、具有所述第二亮度的光线、具有所述第三亮度的光线以及具有所述第四亮度的光线都投射于位于一检测区域内的基材上。其中，当所述第一光源产生装置发出具有所述第一亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第四亮度的光线。其中，当所述第一光源产生装置发出具有所述第二亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第三亮度的光线。
[0017]本实用新型的有益效果可以在于，本实用新型实施例所提供的基材缺陷检测装置，能通过“所述第一光源产生装置发出具有所述第一亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第四亮度的光线”及“所述第一光源产生装置发出具有所述第二亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第三亮度的光线”的技术特征，而使得第一光源产生装置第二光源产生装置能够依次产生投射于基材上的不同亮度的光线。即，第一光源产生装置及第二光源产生装置能够依次产生投射在基材上的闪烁光源。
[0018]为使能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而所附附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型第一实施例的基材缺陷检测装置的立体示意图。
[0020]图2为本实用新型第一实施例的基材缺陷检测装置的其中一侧视示意图。
[0021]图3为本实用新型第一实施例的基材缺陷检测装置的其中一光源投射示意图。
[0022]图4为本实用新型第一实施例的基材缺陷检测装置的另外一侧视示意图。
[0023]图5为本实用新型第一实施例的基材缺陷检测装置的另外一光源投射示意图。
[0024]图6为本实用新型第一实施例基材的缺陷示意图。
[0025]图7为本实用新型第一实施例检测区域的范围调整示意图。
[0026]图8为本实用新型第二实施例的光源产生装置意图。
【具体实施方式】
[0027]以下通过特定的具体实例说明本实用新型实施例所公开“基材缺陷检测装置”的实施方式，本领域的技术人员可由本说明书所公开的内容轻易了解本实用新型的其他优点与效果。本实用新型也可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不背离本实用新型的精神下进行各种修饰与变更。此外，本实用新型的附图仅为简单说明，并非依实际尺寸描绘，即未反应出相关构成的实际尺寸，予以声明。以下的实施方式进一步详细说明本实用新型的相关技术内容，但并非用以限制本实用新型的技术范围。
[0028]第一实施例
[0029]首先，请参阅图1及图6所示，本实用新型第一实施例的提供一种基材缺陷检测装置Q，用以检测一基材B，基材缺陷检测装置Q包括一光源装置1、一图像获取装置2以及一控制装置3。因此，基材B可通过图像获取装置2，以判断基材B表面或内部是否具有瑕疵区域F。举例来说，以本实用新型第一实施例而言，待检测的基材B可以是，透光基材或非透光基材，例如是具有透光性的薄膜或非透光性的薄膜，然而本实用新型不以此为限。另外，瑕疵区域F可以是凸起瑕疵F1、凹陷瑕疵F2或是杂质瑕疵F3(基材B内具有杂质)存在等。因此，可通过图像获取装置2获取到图像信息，并将图像信息通过控制装置3的运算，进而得到位于基材B上的瑕疵区域F的一瑕疵信息。
[0030]接着，基材B可通过一设置于基材缺陷检测装置Q上的输送装置4来输送并承载基材B，输送装置4可电连接于控制装置3，输送装置4可包括多个滚轮41，由此输送基材B通过检测区域Z。另外，控制装置3可控制输送装置4输送基材B的一移动速度。举例来说，多个滚轮41中的其中一个，可以通过一马达(图中未示出)的驱动而作为主动轮，通过主动轮的设置，可以带动位于输送装置4上的待检测基材B。由此将待检测的基材B输送到一用于检测基材B的检测区域Z。进一步来说，可以进一步提供一入料单元(图中未示出)及一收料单元(图中未示出)，基材B的一端可设置于一入料单元上，另一端则可以通过输送装置4上的多个滚轮41而被输送至收料单元上，以收纳被检测完成的基材B。
[0031]承上述，光源装置I可包括一第一光源产生装置11及一第二光源产生装置12，优选地，第一光源产生装置11及第二光源产生装置12可以是由多个发光二极管(Light-Emitting D1de，LED)所组成的发光灯条。需说明的是，具体的第一光源产生装置11及第二光源产生装置12在后面第二实施例中进一步说明。
[0032]承上述，图像获取装置2与第一光源产生装置11及第二光源产生装置12彼此相对应设置，图像获取装置2可包括一用于获取位于检测区域Z内的基材B的一图像信息的线性图像获取单元21。控制装置3可电连接于图像获取装置2，以接收图像获取装置2所获取到的图像信息。另外，控制装置3也电连接于第一光源产生装置11及第二光源产生装置12以控制第一光源产生装置11及第二光源产生装置12的开启或关闭。
[0033]接着，请参阅图2及图3图所示，以下先就线性图像获取单元21及第一光源产生装置11设置于基材B的其中一侧边(第一侧边BI)，第二光源产生装置12设置于基材B的另外一侧边(第二侧边B2)进行说明。具体来说，第一光源产生装置11具有一第一发光面SI，第一光源产生装置11能依次由第一发光面SI发出一具有一第一亮度的光线LI及一具有一第二亮度的光线L2。举例而言，具有第一亮度的光线LI可以是第一光源产生装置11开启产生光照时的状态，具有第二亮度的光线L2可以是第一光源产生装置11关闭时的状态，然而本实用新型不以此为限。在其他实施方式中，具有第一亮度的光线LI及具有第二亮度的光线L2均可以由第一光源产生装置11产生，但具有第一亮度的光线LI为产生90%光照时的亮度，而具有第二亮度的光线L2为产生30%光照时的亮度。换句话说，具有第一亮度的光线LI及具有第二亮度的光线L2所产生的流明数(或是照度)不同。即，第一光源产生装置11能依据一固定频率而持续闪烁。另外，具有第一亮度的光线LI及具有第二亮度的光线L2可沿一第一默认路径行进并投射于基材B上。然而，本实用新型不以上述亮度比例为限，使用者可依据需求调整亮度比例。
[0034]承上述，第二光源产生装置12可与第一光源产生装置11彼此相对应设置，第二光源产生装置12具有一第二发光面S2，第二光源产生装置12能依次由第二发光面S2发出一具有一第三亮度的光线L3及一具有一第四亮度的光线L4。举例而言，具有第三亮度的光线L3可以是第二光源产生装置12开启产生光照时的状态，具有第四亮度的光线L4可以是第二光源产生装置12关闭时的状态，然而本实用新型不以此为限。在其他实施方式中，具有第三亮度的光线L3及具有第四亮度的光线L4可以由第二光源产生装置12产生，但具有第三亮度的光线L3为产生90%光照时的亮度，而具有第四亮度的光线L4为产生30%光照时的亮度。换句话说，具有第三亮度的光线L3及具有第四亮度的光线L4所产生的流明数(或是照度)不同。即，第二光源产生装置12能依据一固定频率而持续闪烁。另外，具有第三亮度的光线L3及具有第四亮度的光线L4可沿一第二默认路径行进并投射于基材B上。然而，本实用新型不以上述亮度比例为限，使用者可依据需求调整亮度比例。
[0035]诚如上述，以本实用新型第一实施例而言，具有第一亮度的光线LI的流明数可大于具有第二亮度的光线L2的流明数，而具有第三亮度的光线L3的流明数大于具有第四亮度的光线L4的流明数，然而本实用新型不以此为限。另外，控制装置3可以控制第一光源产生装置11及第二光源产生装置12的开启、关闭或是其所产生的流明数。举例来说，以本实用新型第一实施例而言，当第一光源产生装置11发出具有第一亮度的光线LI时，第二光源产生装置12可发出具有第四亮度的光线L4，换句话说，在其中一种实施方式中，第一光源产生装置11发出光源时，第二光源产生装置12为关闭状态。另外，当第一光源产生装置11发出具有第二亮度的光线L2时，第二光源产生装置12可发出具有第三亮度的光线L3，换句话说，在其中一种实施方式中，第二光源产生装置12发出光源时，第一光源产生装置11为关闭状态。因此，第一光源产生装置11及第二光源产生装置12可以交替开启或关闭，使得第一光源产生装置11及第二光源产生装置12依据一预定频率交替闪烁。
[0036]接着，在第一光源产生装置11及第二光源产生装置12依据一预定频率交替闪烁的过程中，图像获取装置2可以持续获取检测区域Z上的图像信息。其中，图像信息可以包括一第一图像信号及一第二图像信号。具体而言，第一图像信号为线性图像获取单元21获取具有第一亮度的光线LI投射于位于检测区域Z上的图像而得，第二图像信号为线性图像获取单元21获取具有第三亮度的光线L3投射于位于检测区域Z上的图像而得。因此，控制装置3可依据第一图像信号及第二图像信号，得到位于基材B上的瑕疵区域F的一瑕疵信息。
[0037]接着，请参阅图4及图5图所示，以下就线性图像获取单元21、第一光源产生装置11及第二光源产生装置12设置于基材B的其中一侧边(第一侧边BI)进行说明。具体来说，线性图像获取单元21、第一光源产生装置11及第二光源产生装置12都设置于同一侧边，且第一光源产生装置11及第二光源产生装置12所产生的具有第一亮度的光线L1、具有第二亮度的光线L2、具有第三亮度的光线L3及具有第四亮度的光线L4都能够投射于位于检测区域Z内的基材B上。
[0038]另外，请同时参阅图6所示，假设基材B上的瑕疵区域F为一凸起瑕疵Fl，而具有第一亮度的光线LI为一 90%亮度比例的光照、具有第二亮度的光线L2为关闭状态、具有第三亮度的光线L3为一 90%亮度比例的光照且具有第二亮度的光线L2为关闭状态。因此，当具有第一亮度的光线LI投射在检测区域Z上时将会产生一沿着一预定角度延伸的阴影(第一图像信号)，当具有第三亮度的光线L3投射在检测区域Z上时将会产生另外一沿着另外一预定角度延伸的阴影(第二图像信号)。控制装置3可以依据阴影的产生与否，而判断出瑕疵区域F上的瑕疵信息属于何种瑕疵。换句话说，假设基材B上是一凹陷瑕疵F2，则不会有显示在凹陷处外的阴影产生。即，本实用新型实施例特别适用于检测基材B表面的缺陷情形。
[0039]因此，本实用新型能通过使第一亮度的光线L1、具有第二亮度的光线L2、具有第三亮度的光线L3以及具有第四亮度的光线L4都能投射于位于检测区域Z内的基材B上，以产生不同的投影效果，使得控制装置3能够依据所接收到的第一图像信号及第二图像信号而判断瑕疵区域F上的瑕疵信息。
[0040]值得说明的是，在其他实施方式中，具有第一亮度的光线LI或具有第三亮度的光线L3通过瑕疵区域F时，可以通过瑕疵区域F偏折具有第一亮度的光线LI或具有第三亮度的光线L3，使得偏折后的具有第一亮度的光线LI或具有第三亮度的光线L3能够投射在线性图像获取单元21的一获取范围(能够直接照入线性图像获取单元21的光线)中。
[0041]另外，由于控制装置3电连接于第一光源产生装置11及第二光源产生装置12，因此可以控制第一光源产生装置11及第二光源产生装置12所产生的亮度(第一亮度、第二亮度、第三亮度及第四亮度)。
[0042]接着，请参阅图7所示，举例来说，可通过调整线性图像获取单元21与基材B之间的距离(D1，D2)，以调整线性图像获取单元21投影在基材B上的大小，换句话说，检测区域Z的大小可通过线性图像获取单元21与基材B之间的距离(D1，D2)而调整。进一步来说，也可以移动第二光源产生装置12至基材B之间的距离(D3，D4)，以调整光源的照射范围。另外，值得说明的是，虽然图中显示的是移动第二光源产生装置12，但在其他实施方式中，也可以移动第一光源产生装置11，以调整第一光源产生装置11照射在基材B上的光源大小。
[0043]第二实施例
[0044]首先，请参阅图1并同时配合图8所示，本实用新型第二实施例提供一种光源装置I，用于设置在一基材缺陷检测装置Q上，光源装置I包括一第一光源产生装置11及一第二光源产生装置12。优选地，第一光源产生装置11还进一步包括:一第一照度传感器112，以量测具有第一亮度的光线LI及具有第二亮度的光线L2。第二光源产生装置12还进一步包括:一第二照度传感器122，以量测具有第三亮度的光线L3及具有第四亮度的光线L4。举例来说，第一照度传感器112及第二照度传感器122可以为一光照计(Light Meter)，以量测第一光源产生装置11及第二光源产生装置12所产生的光线流明数(或是照度)。
[0045]接着，第一光源产生装置11中具有多个第一发光组件111，第二光源产生装置12具有多个第二发光组件121，第一光源产生装置11的多个第一发光组件111同步产生具有第一亮度的光线LI或具有第二亮度的光线L2，第二光源产生装置12的多个第二发光组件121同步产生具有第三亮度的光线L3或具有第四亮度的光线L4。换句话说，可通过控制装置3而控制多个第一发光组件111及多个第二发光组件121同步点亮或同步灭掉。也可以控制多个第一发光组件111及多个第二发光组件121同步产生相同流明数(或是照度)的光线。
[0046]进一步来说，第一光源产生装置11的多个第一发光组件111及第二光源产生装置12的多个第二发光组件121可以并排设置，以产生一线性光源。再者，第一发光组件111及第二发光组件121可以为发光二极管，然而本实用新型不以此为限。另外，需说明的是，第一光源产生装置11及第二光源产生装置12的其他技术特征，与前述第一实施例相仿，在此不再赘述。
[0047]此外，也可以将第一照度传感器112及第二照度传感器122所接收到的信息传输到控制装置3上，以调整各个第一发光组件111及第二发光组件121的亮度，使得每一个第一发光组件111或第二发光组件121所产生的亮度能够均匀。换句话说，光源装置I具有一回授功能。再者，为了使得检测结果准确，也可以在一开始时就对第一光源产生装置11的多个第一发光组件111及第二光源产生装置12的多个第二发光组件121进行校正，使其亮度一致。
[0048]实施例的效果
[0049]综上所述，本实用新型的有益效果可以在于，本实用新型实施例所提供的基材缺陷检测装置Q，能通过“第一光源产生装置发出具有第一亮度的光线LI时，第二光源产生装置12发出具有第四亮度的光线L4”及“第一光源产生装置11发出具有第二亮度的光线L2时，第二光源产生装置12发出具有第三亮度的光线L3”的技术特征，而使得第一光源产生装置11和第二光源产生装置12能够依次产生投射于基材B上的不同亮度的光线。即，第一光源产生装置11及第二光源产生装置12能够依次产生投射在基材B上的闪烁光源。
[0050]此外，通过第一光源产生装置11及第二光源产生装置12位置上的相对应设置，使得能够直接通过一组图像获取装置2而依次获取第一图像信号及第二图像信号，以节省图像获取装置2的数量。换句话说，可通过两个以上的光源产生装置，以使得图像获取装置2能够获取到两个以上的不同图像信号。
[0051]以上所述仅为本实用新型的优选可行实施例，并非因此局限本实用新型的专利范围，所以全部运用本实用新型说明书及附图内容所做的等效技术变化，均包含于本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种基材缺陷检测装置，用以检测一基材，其特征在于，所述基材缺陷检测装置包括: 一光源装置，所述光源装置包括: 一第一光源产生装置，所述第一光源产生装置具有一第一发光面，所述第一光源产生装置能由所述第一发光面依次发出一具有一第一亮度的光线及一具有一第二亮度的光线，其中所述第一亮度及所述第二亮度所产生的流明数不同；以及 一第二光源产生装置，所述第二光源产生装置与所述第一光源产生装置彼此相对应设置，所述第二光源产生装置具有一第二发光面，所述第二光源产生装置能由所述第二发光面依次发出一具有一第三亮度的光线及一具有一第四亮度的光线，其中所述第三亮度及所述第四亮度所产生的流明数不同，其中，具有所述第一亮度的光线、具有所述第二亮度的光线、具有所述第三亮度的光线以及具有所述第四亮度的光线都投射于位于一检测区域内的所述基材上； 一图像获取装置，所述图像获取装置与所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置彼此相对应设置，所述图像获取装置包括一用于获取位于所述检测区域内的所述基材的一图像信息的线性图像获取单元;以及 一控制装置，所述控制装置电连接于所述图像获取装置，以接收所述图像获取装置所获取到的所述图像信息，所述控制装置电连接于所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置，以控制所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置所产生的亮度； 其中，所述图像信息通过所述控制装置的运算，以得到位于所述基材上的一瑕疵区域的一瑕疵信息。2.根据权利要求1所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述基材缺陷检测装置还进一步包括:一输送装置，所述输送装置电连接于所述控制装置，其中所述输送装置包括多个滚轮，用以输送所述基材通过所述检测区域，其中所述控制装置控制所述输送装置输送所述基材的一移动速度。3.根据权利要求1或2所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述线性图像获取单元及所述第一光源产生装置设置于所述基材的其中一侧边，所述第二光源产生装置设置于所述基材的另外一侧边，或是所述线性图像获取单元、所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置设置于所述基材的其中一所述侧边。4.根据权利要求1或2所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述图像信息包括一第一图像信号及一第二图像信号，其中所述第一图像信号为所述线性图像获取单元获取具有所述第一亮度的光线投射于位于所述检测区域上的图像而得，所述第二图像信号为所述线性图像获取单元获取具有所述第三亮度的光线投射于位于所述检测区域上的图像而得，其中所述控制装置依据所述第一图像信号及所述第二图像信号，以得到所述瑕疵信息。5.根据权利要求1或2所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，具有所述第一亮度的光线或具有所述第三亮度的光线通过所述瑕疵区域，以偏折地投射在所述线性图像获取单元的一获取范围中。6.根据权利要求1或2所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，当所述第一光源产生装置发出具有所述第一亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第四亮度的光线，当所述第一光源产生装置发出具有所述第二亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第三亮度的光线。7.根据权利要求6所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，具有所述第一亮度的光线的流明数大于具有所述第二亮度的光线的流明数，具有所述第三亮度的光线的流明数大于具有所述第四亮度的光线的流明数。8.根据权利要求1或2所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述第一光源产生装置进一步包括:一第一照度传感器，以量测具有所述第一亮度的光线及具有所述第二亮度的光线，所述第二光源产生装置进一步包括:一第二照度传感器，以量测具有所述第三亮度的光线及具有所述第四亮度的光线，其中所述第一光源产生装置具有多个第一发光组件，所述第二光源产生装置具有多个第二发光组件，所述第一光源产生装置的多个所述第一发光组件同步产生具有所述第一亮度的光线或具有所述第二亮度的光线，所述第二光源产生装置的多个所述第二发光组件同步产生具有所述第三亮度的光线或具有所述第四亮度的光线。9.根据权利要求1或2所述的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述基材为透光基材或非透光基材。10.一种光源装置，用于设置在一基材缺陷检测装置上，其特征在于，所述光源装置包括: 一第一光源产生装置，所述第一光源产生装置具有一第一发光面，所述第一光源产生装置能由所述第一发光面依次发出一具有一第一亮度的光线及一具有一第二亮度的光线，其中所述第一亮度及所述第二亮度所产生的流明数不同；以及 一第二光源产生装置，所述第二光源产生装置与所述第一光源产生装置彼此相对应设置，所述第二光源产生装置具有一第二发光面，所述第二光源产生装置能由所述第二发光面依次发出一具有一第三亮度的光线及一具有一第四亮度的光线，其中所述第三亮度及所述第四亮度所产生的流明数不同； 其中，具有所述第一亮度的光线、具有所述第二亮度的光线、具有所述第三亮度的光线以及具有所述第四亮度的光线都投射于位于一检测区域内的基材上； 其中，当所述第一光源产生装置发出具有所述第一亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第四亮度的光线； 其中，当所述第一光源产生装置发出具有所述第二亮度的光线时，所述第二光源产生装置发出具有所述第三亮度的光线。
【文档编号】G01N21/01GK205620325SQ201620224199
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2016年3月22日
【发明人】许轩兢
【申请人】香港商微觉视检测技术股份有限公司