用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置的制作方法

文档序号:6320485阅读:505来源:国知局
专利名称:用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及医疗器械,尤其涉及一种医学激光诊断仪,特别是涉及一种医学激光诊断仪中的弱光快速光谱分析组件OMA,具体的是一种用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置。
背景技术
现有技术中,医学激光诊断仪中的弱光快速光谱分析组件OMA的核心元件是光电二极管阵列芯片,其外围设置有金属外壳,光电二极管阵列芯片在工作过程中会产生热量,热量会影响芯片的工作特性,具体表现为,诊断仪在工作较长时间后,产生的荧光光谱曲线会变成一条直线,影响诊断。

发明内容
本实用新型所要解决的现有技术中的技术问题是由于现有技术中,医学激光诊断仪中的弱光快速光谱分析组件OMA的核心元件是光电二极管阵列芯片,其外围设置有金属外壳,光电二极管阵列芯片在工作过程中会产生热量,所以会影响芯片的工作特性,具体表现为,诊断仪在工作较长时间后,产生的荧光光谱曲线会变成一条直线,影响诊断。
本实用新型为解决现有技术中的上述技术问题所采用的技术方案是提供一种用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置,所述的这种用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置由设置在医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件外围的金属外壳、一个半导体制冷器和一个散热器构成,其中,所述的半导体制冷器的制冷面与所述的金属外壳连接,所述的半导体制冷器的散热面与所述的散热器连接,所述的金属外壳的外侧包裹有保温层,所述的散热器中设置有散热风扇,所述的制冷器的制冷面与所述的金属外壳的连接部设置有温度传感器。
进一步的,所述的温度传感器与一个温度控制电路板连接。
进一步的,所述的半导体制冷器与温度控制电路板连接,所述的温度控制电路板与一个电源连接。
本实用新型的工作过程是半导体制冷器通电工作时,半导体制冷器的制冷面吸收医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的热量,半导体制冷器的散热面将热量传递到散热器,由散热器向机箱外散发。温度传感器检测金属外壳的温度,在温度到达设定的上下限时,通过温度控制电路板开启或关闭半导体制冷器。
本实用新型与已有技术相对照,其效果是积极和明显的。本实用新型通过半导体制冷器吸收医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的热量,并利用温度传感器检测金属外壳的温度,在温度到达设定的上下限时,通过温度控制电路板开启或关闭半导体制冷器。本实用新型适合解决诊断仪因弱光快速光谱分析组件温度偏差而引起的光谱曲线的变异,防止出现诊断误差。


图1是本实用新型的用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型的用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置,由设置在医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件8外围的金属外壳1、一个半导体制冷器2和一个散热器3构成,其中,所述的半导体制冷器2的制冷面与所述的金属外壳1连接,所述的半导体制冷器2的散热面与所述的散热器3连接,所述的金属外壳1的外侧包裹有保温层4,所述的散热器3中设置有散热风扇5,所述的制冷器2的制冷面与所述的金属外壳1的连接部设置有温度传感器6。
进一步的,所述的温度传感器6与一个温度控制电路板7连接。
进一步的,所述的半导体制冷器2与温度控制电路板7连接,所述的温度控制电路板7与一个电源连接。
权利要求1.一种用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置,由设置在医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件外围的金属外壳、一个半导体制冷器和一个散热器构成,其特征在于所述的半导体制冷器的制冷面与所述的金属外壳连接,所述的半导体制冷器的散热面与所述的散热器连接,所述的金属外壳的外侧包裹有保温层,所述的散热器中设置有散热风扇,所述的制冷器的制冷面与所述的金属外壳的连接部设置有温度传感器。
2.如权利要求1所述的用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置,其特征在于所述的温度传感器与一个温度控制电路板连接。
3.如权利要求1所述的用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置,其特征在于所述的半导体制冷器与温度控制电路板连接,所述的温度控制电路板与一个电源连接。
专利摘要一种用于医学激光诊断仪中弱光快速光谱分析组件的恒温装置,由设置在弱光快速光谱分析组件外围的金属外壳、半导体制冷器和散热器构成,半导体制冷器的制冷面与金属外壳连接,半导体制冷器的散热面与散热器连接,金属外壳的外侧包裹有保温层,散热器中设置有散热风扇,制冷器的制冷面与金属外壳的连接部设置有温度传感器。温度传感器与温度控制电路板连接。半导体制冷器通电工作时,制冷面吸收弱光快速光谱分析组件的热量,将热量传递到散热器,由散热器向机箱外散发。温度传感器检测金属外壳的温度,在温度到达设定的上下限时,通过温度控制电路板开启或关闭半导体制冷器。适合解决诊断仪因温度偏差而引起的光谱曲线的变异,防止出现诊断误差。
文档编号G05D23/00GK2759389SQ20042008239
公开日2006年2月22日 申请日期2004年8月31日 优先权日2004年8月31日
发明者曾平 申请人:上海雷硕医疗器械有限公司
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