专利名称：触控面板的坐标检测方法
技术领域：
本发明涉及电阻式触控面板，特别是有关于一种触控面板的坐标检测 方法。
背景技术：
请参阅图19，公知电阻式触控面板结构包括一镀有IT0 (Indium Tin Oxides;铟锡氧化物)薄膜的上基板1以及一镀有ITO薄膜的下基板2， 当触控面板被触控时，上基板1与下基板2于按压处导通且会产生电压降， 一处理器(图未示)则会算出电压降所占的比例而进一步算出坐标轴。
然而，上述己有技术只能检测触控一点的坐标，如果有不慎的误触致 发生多点触控(multi touch)情形时，则会造成触控点检测错误，如图 20至图23所示，图中触控点T1及触控点T2同时被按压，此时公知的触
控面板的坐标检测方法只能检测到一个等效电阻值而无法个别检测触控 点Tl及触控点T2的电阻值，即得到一位于触控点T3的坐标，而非触控 点T1及触控点T2其中一点的坐标；换言之，即同一时间内，触控点数量 在两点以上，最终只会检测到一点坐标；但是所检测到的这一点坐标，并 非前述那些触控点其中一点而是不正确的坐标。借此，常用者无法达到多 点触控的目的，形成触控面板在操作行为上的限制。
综上所陈，公知触控面板的坐标检测方法具有上述的缺失而有待改迸。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种触控面板的坐标检测方法，其能够确 实检测多个触控点的所在坐标，具有多点触控(multi touch)的特色。 为达成上述目的，本发明的技术解决方案是-一种触控面板的坐标检测方法，前述触控面板具有相迭设的一第一透
光片与一第二透光片，以及多个绝缘体(spacer)位于该第一透光片与该 第二透光片之间，使得第一透光片与第二透光片之间保有间隙，其中，第 一透光片顶面设有多个并列的第一条状导体，第二透光片底面设有多个并 列的第二条状导体，且第二条状导体相对第一条状导体呈交错设置并于投 影位置界定出多个感测点；该坐标检测方法包含下列步骤先对该第一条 状导体一端接地， 一测试信号以轮询方式对第一条状导体依序传送，并纪 录该第二条状导体输出电压值及电阻值的变化；接着对该第二条状导体一 端接地，该测试信号以轮询方式对第二条状导体依序传送，并纪录该第一 条状导体输出电压值及电阻值的变化；尔后利用一处理器依据以上步骤所 得的电压值及电阻值的变化而推算至少一坐标，该坐标即为该感测点中被 触发者的位置。
借此，本发明触控面板的坐标检测方法透过上述步骤，其能够克服电 阻式触控面板在多点触控会造成检测错误的缺失；换言之，本发明能够确 实检测多个触控点的所在坐标，进而提供正确的坐标；其相较于已有的触 控面板，具有多点触控(multi touch)的特色
图1为本发明第一较佳实施例的步骤流程图2为本发明第一较佳实施例的结构示意图，主要揭示各组件的结构；
图3为本发明第一较佳实施例的结构示意图，主要揭示下基板与上基 板之间的结构；
图4为本发明第一较佳实施例的是统架构示意图5为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至 Yl的情形；
图6为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至 Y2的情形；
图7为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至 Y3的情形；
图8为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板于步骤
4e的状态；
图9为本发明第一较佳实施例的测试信号的动作步序图； 图10为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询 至X1的情形；
图11为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询 至X2的情形；
图12为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询 至X3的情形；
图13为本发明第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板于步 骤f的状态；
图14为本发明第二较佳实施例的是统架构示意图15为本发明第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示测试信号正
向输入至Y2的情形；
图16为本发明第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示测试信号反
向输入至Y2的情形；
图17为本发明第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板于步 骤e的状态；
图18为本发明第二较佳实施例的测试信号的动作步序图； 图19为公知触控屏幕的结构示意图20为公知触控屏幕的动作示意图，主要揭示上基板扫瞄Y轴的情
形；
图21为公知触控屏幕的动作示意图，主要揭示下基板扫瞄Y轴的情
形；
图22为公知触控屏幕的示意图，主要揭示触控屏幕检测触控点Y轴 坐标的等校电路；
图23为公知触控屏幕的示意图，主要揭示触控屏幕检测触控点Y轴 坐标经过A—Y转换的等校电路。
主要元件符号说明
第一透光片10第一条状导体12下基板14第一电极16 第二电极17第二透光片20 第二条状导体22上基板24 第三电极26第四电极27 感测点28绝缘体30 控制装置40处理器42 感测点P1P2感测点P3P具体实施方式
'
为了详细说明本发明的特征及功效所在，兹举以下较佳实施例并配合
如后.-
请参阅图1至图4，其是为本发明第一较佳实施例所提供的一种触控 面板的坐标检测方法；其中，为利于说明本实施例，对前述触控面板的结 构描述如下
该触控面板具有相迭设的一第一透光片10与一第二透光片20，多个 绝缘体(spacer) 30位于该第一透光片10与该第二透光片20之间，使得 该第一透光片10与该第二透光片20之间保有间隙。
该第一透光片10顶面设有八条并列的第一条状导体12，该第一透光 片10与该第一条状导体12构成一下基板14;其中，该第一条状导体12 相互平行且分别依序定义为Y1至Y8，用以作为Y轴的扫描线；各该第一 条状导体12两端分别设有一第一电极16以及一第二电极17，以供对该第 一条状导体12通以测试信号或进行接地。
该第二透光片20底面设有八条并列的第二条状导体22，该第二透光 片20与该第二条状导体22构成一上基板24;其中，该第二条状导体22 相互平行且分别依序定义为X1至X8，用以作为X轴的扫描线；各该第二 条状导体22两端分别设有一第三电极26以及一第四电极27，以供对该第 二条状导体22通以测试信号或进行接地。
该第二条状导体22相对该第一条状导体12呈交错设置并于投影位置 界定出多个感测点28;该第一条状导体12的延伸方向垂直该第二条状导 体22的延伸方向；本实施例中，该感测点28形成8X8的扫瞄矩阵。其中，当该第一条状导体12其中之一接触该第二条状导体22其中之一，即 表示该感测点28至少其中之一被按压而触发。本实施例中，该感测点28 以感测点P1以及感测点P2被触发为例进行说明；其中，感测点P1所在 坐标为X3， Y3，感测点P2所在坐标为X4， Y5。
本实施例所提供该坐标检测方法，包含下列步骤 a)请参阅图4及图5，对该第一条状导体12的第二电极17接地， 一控制装置40输出一测试信号且以轮询方式对该第一条状导体12的第一 电极16依序传送；该测试信号的工作周期在20毫秒(ms)至50毫秒(ms); 该测试信号选自以单向扫瞄以及往复扫瞄其中一种形式依序传送；本实施 例中，该测试信号以单向扫瞄形式为例且工作周期为50毫秒(ms)，在此
仅为举例说明，并非做为限制要件。扫瞄期间，本实施例再利用一处理器 42纪录电压值及电阻值的变化。
请参阅图5至图8，当该第一条状导体12中的Yl被输入该测试信号， 该第一条状导体12中的Yl两端电压为Vcc，该第一条状导体12中的Y2 至Y8则两端呈断路状态；当该测试信号轮询至Y2，该第二条状导体22 中的Y2两端电压为Vcc， Yl、 Y3至Y8则两端呈断路状态。当该测试信号 轮询至Y3，由于感测点Pl被触发使Y3与X3电性连接，进而使Y3两端电 压会产生压降并经由该第二条状导体22的X3的第四电极27输出电阻值 及电压值。同理，当该测试信号轮询至Y5，由于感测点P2被触发使Y5 与X4电性连接，Y5两端电压会产生压降并经由X4的第四电极27输出电 阻值及电压值。借此，即可得到感测点Pl以及感测点P2的Y轴坐标信息。
再者，为详细说明本步骤的技术特征，该测试信号的相关信息，如下: tn =扫瞄时间函数；
n =该第一条状导体12在单次完整扫瞄触控面板的扫瞄顺序，n = 1 8 ;
tn = tn-l + At ;
△ t 二 tn - tn-l = 50ms ;
tO 二该第一条状导体12扫瞄起始时间，本实施例中，t0 = 0 ; tn 二 tn-l + At = tO + n*At ; tl = tl-l + At 二 1:0+ At = At t2 = t2-l + At = tl+ At = tO + 2*Att8 = t8-l + At = t7+ At = tO + 8*At
经由上述方程式得知，本实施例中对该第一条状导体12扫瞄一次需 要400毫秒(ms)。
又，该测试信号的方程式如下 fn =测试信号函数；
f0 = 0 ;
Vcc =测试信号的电压值；
fn = Vcc氺At = Vccnn - tn-1
fl = Vcc*At = Vcc*tl - tl-1 二 Vcc*tl - t0
f2 二 Vcc*At = Vcc*t2 - t2_l = Vcc*t2 - tl
f8 = Vcc* At = Vcc*t8 - t8-l = Vcc*t8 - t7
经由上述方程式，即能够推得该测试信号扫瞄该第一条状导体12的 动作步序图，如图9所示。
b)请参阅图4及图10，对该第二条状导体22的第四电极27接地， 该测试信号以轮询方式对该第二条状导体22的第三电极26依序传送；扫 瞄期间，本实施例再利用该处理器42纪录电压值及电阻值的变化。
请参阅图10至图13，当该第二条状导体22中的XI被输入该测试信 号，该第二条状导体22中的Xl两端电压为Vcc，该第二条状导体22中的 X2至X8则两端呈断路状态；当该测试信号轮询至X2，该第二条状导体22 中的X2两端电压为Vcc， XI、 X3至X8则两端呈断路状态。当该测试信号 轮询至X3，由于感测点Pl被触发使X3与Y3电性连接，进而使X3两端电 压会产生压降并经由该第一条状导体12的Y3的第二电极17输出电阻值 及电压值。同理，当该测试信号轮询至X4，由于感测点P2被触发使X4 与Y5电性连接，X4两端电压会产生压降并经由Y5的第二电极17输出电 阻值及电压值。借此，即可得到感测点Pl以及感测点P2的X轴坐标信息； 其中，该处理器42至此取得推算感测点Pl以及感测点P2坐标所需要的 信息。
再者，为详细说明本步骤的技术特征，该测试信号的相关信息，如下:tm 二扫瞄时间函数；
m 二该第二条状导体22在单次完整扫瞄触控面板的扫瞄顺序，m = 9 16 ;
tm 二 tm-1 + A t ;
At 二 tm - tm-l = 50ms ;
t8 =该第二条状导体22扫瞄起始时间，即本实施例中该第一条状导体12 扫瞄结束时间；
tm = tm-l + At二t8 + n"t ;
t9 = t9-l + At二t8十At = At
t10 = t10-1 + At = t9+ At = t8 + 2*At
t16 二 tl6-l + At = tl5 + At = t8 +歸t
经由上述方程式得知，本实施例中对该第二条状导体22扫瞄一次需 要400毫秒(ms);借此，我们可以得知触控面板做完一次完整的扫瞄需 要800毫秒(ms)，即扫瞄该第一条状导体12以及该第二条状导体22的 时间总和。 一般而言，触控单一次操作的时间至少需要1至2秒；换言之， 使用者的多点触控(multi touch)行为能够在单一次触控的操作时间内 被完整扫瞄而检测。
又，该测试信号的方程式如下 fm =测试信号函数； Vcc 二测试信号的电压值；
fm 二 Vcc氺At 二 Vcc氺tm 一 tm一l
f9 = Vcc氺At = Vcc氺t9 - t9-1 = Vcc*t9 - t8
f10 二 Vcc沐At 二 Vcc*tl0 - t10-1 = Vcc*tl0 - t9
f16 二 Vcc*At = Vcc*tl6 - U6-1 = Vcc*tl6 - tl5
经由上述方程式，即能够推得该测试信号扫瞄该第二条状导体22的 动作步序图，如图9所示。
c)该处理器42依据步骤a及步骤b所得的电压值及电阻值的变化而 推算感测点P1坐标为X3， Y3以及感测点P2坐标为X4， Y5，该坐标即为 该感测点28中被触发者的位置；其中，该坐标的数量对应于该感测点28
9中被触发者的数量。
综上所陈，本实施例透过上述步骤，其能够克服常用电阻式触控面板 在多点触控会造成检测错误的缺失；换言之，本发明能够确实在单一次触 控行为的操作时间内检测多个触控点的所在坐标，进而提供正确的坐标； 其相较于已有的触控面板，具有多点触控的特色。
请参阅图14，其是为本发明第二较佳实施例所提供的一种触控面板 的坐标检测方法，其与第一较佳实施例大致相同；本实施例中，该感测点 28以感测点P3以及感测点P4被触发为例进行说明；其中，感测点P3所 在坐标为X2， Y2，感测点P4所在坐标为X4， Y2;但本实施例的差异在于
b)请参阅图14至图17，所述该测试信号选自以单向扫瞄以及往复 扫瞄其中一种形式依序传送；本实施例中，该测试信号以往复扫瞄形式为 例；往复扫瞄形式的定义是先将该测试信号对单一第一条状导体12分别 以正向输入及反向输入一次，进而取得感测点P3以及感测点P4的Y轴坐 标信息。其中，当该测试信号轮询至该第一条状导体12的Y2且该测试信 号对Y2正向输入时，由于感测点P3被触发使Y2与X2电性连接，进而使 Y2两端电压会产生压降并经由该第二条状导体22的X2的第四电极27输 出电阻值及电压值，进而得到感测点P3的Y轴坐标信息。当该测试信号 轮询至该第一条状导体12的Y2且该测试信号对Y2反向输入时，由于感 测点P4被触发使Y2与X4电性连接，进而使Y2两端电压会产生压降并经 由该第二条状导体22的X4的第二电极37输出电阻值及电压值，进而得 到感测点P4的Y轴坐标信息。借此，即使感测点P3以及感测点P4的Y 坐标轴重迭，本实施例仍能够得到感测点P3以及感测点P4的Y轴坐标信 息。
再者，为详细说明本步骤的技术特征，该测试信号的相关信息，如下: tn =扫瞄时间函数；
n 二该第一条状导体12在单次完整扫瞄触控面板的扫瞄顺序，n = 1 8 ;
tn = tn-l + 2氺At ;
△ t 二 [tn」tn-1]/2 = 50ms ;
t0 =该第一条状导体12扫瞄起始时间，本实施例中，t0 = 0 ; tn = tn-l + 2*At = t0 + [n*2*At];
10tl = tl-l + 2* At = t0 + 2* At = 2* At
t2 = t2-l + 2*At = tl + 2*At 二 t0 +扭At
t8 = t8-l + 2*At = t7 + 2* At = tO + 16* At
经由上述方程式得知，本实施例中对该第一条状导体12扫瞄一次需 要800毫秒(ms)。其中，该测试信号扫瞄该第一条状导体12的动作步序 图，如图18所示。
c)该测试信号同样以往复扫瞄形式而对单一第二条状导体22分别以 正向输入及反向输入一次，进而取得感测点P3以及感测点P4的X轴坐标 信息；其中，本步骤动作原理与步骤a相同，在此容不赘述，本实施例对 该第二条状导体22扫瞄一次则需要800毫秒ms。借此，即可得到感测点 P3以及感测点P4的X轴坐标信息；其中，该处理器42至此取得推算感测 点P3以及感测点P4坐标所需要的信息。
经由上述步骤，本实施例的主要目的在于，当该感测点28被触发者 为复数且位在同一坐标轴时，该处理器42仍然能够有效检测按压位置而 正确推算对应该感测点28被触发者的坐标。
借此，本实施例同样能够达到与第一较佳实施例相同的功效，并进一 步确保多个个感测点在坐标轴重迭的情形下，仍可确实有效的检测该感测 点被触发者的坐标信息，具有确实达成多点触控的特色。
权利要求
1.一种触控面板的坐标检测方法，前述触控面板具有相迭设的一第一透光片与一第二透光片，以及多个绝缘体位于该第一透光片与该第二透光片之间，使得第一透光片与第二透光片之间保有间隙，其中，第一透光片顶面设有多个并列的第一条状导体，第二透光片底面设有多个并列的第二条状导体，且第二条状导体相对第一条状导体呈交错设置并于投影位置界定出多个感测点；其特征在于，该坐标检测方法包含下列步骤a.对该第一条状导体一端接地，一测试信号以轮询方式对第一条状导体依序传送，并纪录该第二条状导体输出电压值及电阻值的变化；b.对该第二条状导体一端接地，该测试信号以轮询方式对第二条状导体依序传送，并纪录该第一条状导体输出电压值及电阻值的变化；以及c.利用一处理器依据步骤a及步骤b所得的电压值及电阻值的变化而推算至少一坐标，该坐标即为该感测点中被触发者的位置。
2. 如权利要求1所述的触控面板的坐标检测方法，其特征在于，步骤 a所述该测试信号的工作周期在20毫秒至50毫秒。
3. 如权利要求1所述触控面板的坐标检测方法，其特征在于，步骤a 所述该测试信号以单向扫描形式传送。
4. 如权利要求1所述触控面板的坐标检测方法，其特征在于，步骤a 所述该测试信号以往复扫描形式传送。
5. 如权利要求1所述触控面板的坐标检测方法，其特征在于，步骤c 所述该坐标的数量对应于该感测点中被触发者的数量。
全文摘要
一种触控面板的坐标检测方法，该触控面板具有多个并列的条状导体分上、下层位置交错设置，且各条状导体彼此为电性不导通，该坐标检测方法包含下列步骤先产生一测试信号对该等第一条状导体依序轮询，并纪录电压值及电阻值的变化，该测试信号对该等第二条状导体依序轮询，并纪录电压值及电阻值的变化，尔后利用一处理器依据所得的电压值及电阻值而推算至少一坐标，坐标即为该等感测点中被触发者的位置，达到多点触控的目的。
文档编号G06F3/041GK101676847SQ20081016563
公开日2010年3月24日 申请日期2008年9月19日 优先权日2008年9月19日
发明者吴炳升, 赖辉龙, 陈俊荣, 黄荣信 申请人:奇信电子股份有限公司