专利名称：一种实现自动化测试的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及自动化测试技术，尤指一种实现自动化测试的方法和装置。
背景技术：
自动化测试是把以人为驱动的测试行为转化为机器执行的一种过程。通常，在设 计了测试用例并通过评审之后，由测试人员根据测试用例中描述的规程一步步执行测试， 得到实际结果与期望结果的比较。在此过程中，为了节省人力、时间或硬件资源，提高测试 效率，便引入了自动化测试的概念。
自动化测试系统中，在设计了测试用例后，一般都需要进行拓扑适配。目前，关于
自动化测试系统中拓扑适配的技术应用已经比较广泛。传统的拓扑适配都是每一个测试用
例进行一次逻辑拓扑结构到物理拓扑结构的适配，然后执行自动化测试，即使执行具有相
同的逻辑拓扑结构图的测试用例，仍要再次进行逻辑拓扑结构到物理拓扑结构的适配，这
样就导致一次自动化测试多次执行相同的操作，延长了测试时间，降低了测试执行效率。 此外，在逻辑拓扑结构到物理拓扑结构的适配存在多种适配关系时，传统的自动
化测试只是选取一种拓扑适配关系进行测试。由于各种拓扑适配关系中被测试设备的多样
性、故障存在的不确定性，仅选取一种拓扑适配关系进行测试就不可避免的导致测试结果
的随机性，而这种测试结果的随机性在当前的自动化测试中又是无法避免的，导致其潜在
的故障难以被发现。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种实现自动化测试的方法和装置，达到 降低测试时间和提高测试效率的目的。 为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的
本发明提供的一种实现自动化测试的方法，该方法包括 在编写测试用例时，在逻辑拓扑结构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编 写； 测试人员配置测试流程与测试方式，在对测试用例进行自动化测试时，逐个选取 测试用例，在检测到拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系、且测试 流程为顺序测试时，按照配置的测试方式和测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号，在拓 扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试。 上述方案中，所述逻辑拓扑结构图集的建立具体为预先根据目前自动化测试脚 本所使用的逻辑拓扑结构图，全部选取或者选取一些使用频率较高的逻辑拓扑结构图，并 给每一个逻辑拓扑图进行编号索引，组建一个逻辑拓扑结构图的集合。 上述方案中，该方法进一步包括在逻辑拓扑结构图集中没有需要的逻辑拓扑结 构图时，测试人员需要重新创建新的逻辑拓扑结构图，将其进行编号后添加到逻辑拓扑结 构图集中。
上述方案中，所述测试方式包括遍历适配关系的测试、随机选取一种或者几种适 配关系的测试，其中，测试系统默认为遍历适配关系的测试。 上述方案中，在检测到拓扑适配数据库中不存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配 关系时，该方法进一步包括对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，将测试用例引 用的逻辑拓扑结构图的编号及其所有适配成功的适配关系存储到拓扑适配数据库中；
进一步的，所述对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，还包括在失败 后，提示没有合适的适配，选取下一个测试用例进行测试。 上述方案中，所述拓扑适配数据库为预先创建的，存储各测试用例引用的逻辑拓 扑结构图的编号及其适配成功的适配关系。 上述方案中，所述在检测到拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适 配关系时，该方法进一步包括对当前测试用例设置适配标志为成功； 所述在检测到拓扑适配数据库中不存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时， 该方法进一步包括对测试用例适配成功时，设置其适配标志为成功；所述对测试用例适 配都失败时，设置其适配标志为失败； 在测试流程为整体测试时，检测所有测试用例的适配标志，在检测到所有测试用
例都有适配标志时，将适配标志为成功的测试用例逐个进行测试。 本发明提供的一种实现自动化测试的装置，该装置包括 逻辑拓扑结构图集，用于存储逻辑拓扑结构图，及每个逻辑拓扑图的编号索引；
逻辑拓扑引用模块，用于在编写出的测试用例中，通过测试人员选取的逻辑拓扑 结构图的编号，引用逻辑拓扑结构图集中相应的逻辑拓扑结构图； 拓扑适配数据库，用于存储测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其适配成功 的适配关系； 测试适配模块，用于测试人员配置测试流程与测试方式，在对测试用例进行自动 化测试时，逐个选取测试用例，在检测到拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑 的适配关系时，直接通知测试流程检测模块； 测试流程检测模块，用于在检测到测试流程为顺序测试时，将当前的测试用例发 送到测试模块； 测试模块，用于按照配置的测试方式和当前的测试用例引用的逻辑拓扑结构图的 编号，从拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试。 上述方案中，所述测试适配模块进一步用于在检测到拓扑适配数据库中不存在当 前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，并 将测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其所有适配成功的适配关系存储到拓扑适配 数据库中；在适配失败后，提示没有合适的适配，并选取下一个测试用例进行测试。
上述方案中，所述测试适配模块进一步还用于对当前测试用例设置适配标志；
上述方案中，所述测试流程检测模块进一步还用于在检测到测试流程为整体测试 时，检测所有测试用例的适配标志，在检测到所有测试用例都有适配标志时，将适配标志为 成功的测试用例逐个发送给测试模块。 上述方案中，该装置进一步包括添加模块，用于在逻辑拓扑结构图集中没有需要 的逻辑拓扑结构图时，将测试人员重新创建新的逻辑拓扑结构图进行编号后添加到逻辑拓
5扑结构图集中。 本发明提供了一种实现自动化测试的方法和装置，通过预先建立逻辑拓扑结构图 集，在编写自动化测试用例时，在逻辑拓扑结构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编 写；在对测试用例进行测试时，逐个选取测试用例，在检测拓扑适配数据库中存在当前测试 用例的逻辑拓扑的适配关系、且测试流程为顺序测试时，按照配置的测试方式和测试用例 引用的逻辑拓扑结构图的编号，在拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试； 如此，可以减少在自动化测试中相同的操作重复进行，提高了测试效率；同时，在测试方式 配置为遍历适配关系测试时，可以避免测试结果的随机性，增加测试结果的准确度。
图1为本发明实现一种自动化测试的方法的流程示意图；
图2为本发明实现一种自动化测试的装置的结构示意图。
具体实施例方式
本发明的基本思想是预先建立逻辑拓扑结构图集，在编写自动化测试用例时，在 逻辑拓扑结构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编写；测试人员配置测试流程与测 试方式，在对测试用例进行测试时，逐个选取测试用例，在检测拓扑适配数据库中存在当前 测试用例的逻辑拓扑的适配关系、且测试流程为顺序测试时，按照配置的测试方式和测试 用例引用的逻辑拓扑结构图的编号，在拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测 试。 其中，所述建立逻辑拓扑结构图集具体为预先根据目前自动化测试脚本所使用 的逻辑拓扑结构图，全部选取或者选取一些使用频率较高的逻辑拓扑结构图，并给每一个 逻辑拓扑图进行编号索引，组建一个逻辑拓扑结构图的集合。 上述方法中，在逻辑拓扑结构图集中没有需要的逻辑拓扑结构图时，测试人员重
新创建新的逻辑拓扑结构图，将其进行编号后添加到逻辑拓扑结构图集中。 下面通过附图及具体实施例对本发明再做进一步的详细说明。 本发明实现一种自动化测试的方法，如图1所示，该方法包括以下几个步骤 步骤101 :建立逻辑拓扑结构图集，测试人员在编写测试用例时，在逻辑拓扑结构
图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编写，并为编写出的各测试用例添加序号； 具体的，根据目前自动化测试脚本所使用的逻辑拓扑结构图，全部选取或者选取
一些使用频率较高的逻辑拓扑结构图，并给每一个逻辑拓扑图进行编号索引，组建一个逻
辑拓扑结构图的集合，作为逻辑拓扑结构图集；测试人员在编写测试用例时，在逻辑拓扑结
构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编写，即将选取的逻辑拓扑结构图的编号添加
到自动化测试脚本中，使编写出的测试用例可以通过自动化测试脚本中添加的编号引用逻
辑拓扑结构图集中相应的逻辑拓扑结构图；同时，为编写出的各测试用例按照先后顺序添
加序号； 进一步的，本步骤中在逻辑拓扑结构图集中没有需要的逻辑拓扑结构图时，根据 需要进行测试的测试用例，测试人员重新创建新的逻辑拓扑结构图，将其进行编号后添加 到逻辑拓扑结构图集中，再在逻辑拓扑结构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编写。
步骤102 :测试人员配置测试流程与测试方式，在测试系统对测试用例进行测试 时，按照序号逐个选取测试用例，检测拓扑适配数据库中是否存在当前测试用例的逻辑拓 扑的适配关系，若不存在，则执行步骤103 ;若存在，则执行步骤104 ; 具体的，测试人员配置测试流程与测试方式，所述测试流程包括顺序测试和整体 测试，其中顺序测试表示按照测试用例的序号逐个进行检测适配关系及测试；整体测试表 示将所有编写的测试用例都检测适配关系后，再逐个进行测试；所述测试方式包括遍历 适配关系的测试、随机选取一种或者几种适配关系的测试，其中，测试系统默认为遍历适配 关系的测试；在测试系统对测试用例进行测试时，按照序号逐个选取测试用例，根据测试用 例引用的逻辑拓扑结构图的编号，检测拓扑适配数据库中存储的逻辑拓扑结构图的编号， 如果没有相同的编号，则说明拓扑适配数据库中不存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关 系，执行步骤103 ;如果有相同的编号，则说明拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑 拓扑的适配关系，执行步骤104 ; 本步骤中，所述拓扑适配数据库为预先创建的，存储各测试用例引用的逻辑拓扑 结构图的编号及其适配成功的适配关系； 进一步的，在本步骤中，测试系统对测试用例设置适配标志，在检测到拓扑适配数 据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，对当前测试用例设置适配标志为成 功。 步骤103 :对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，将测试用例引用的逻
辑拓扑结构图的编号及其所有适配成功的适配关系存储到拓扑适配数据库中，然后执行步 骤104 ; 进一步的，在本步骤中，所述对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，失败 后，提示没有合适的适配，按照序号选取下一个测试用例进行测试； 所述对测试用例适配成功时，设置其适配标志为成功；所述对测试用例适配都失 败时，设置其适配标志为失败。 步骤104 :检测测试流程，在测试流程为顺序测试时，执行步骤105 ; 进一步的，本步骤中还包括测试流程为整体测试时，检测所有测试用例的适配标
志，在检测到所有测试用例都有适配标志时，按照序号将适配标志为成功的测试用例逐个
执行步骤105。 步骤105 :测试系统对测试用例按照配置的测试方式和其引用的逻辑拓扑结构图 的编号，在拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试； 具体的，测试系统按照配置的测试方式和当前的测试用例引用的逻辑拓扑结构图 的编号，在拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试，并输出测试结果，完成后 按照序号测试下一个测试用例；比如，当测试方式采用遍历适配关系的测试时，测试系统在 拓扑适配数据库中直接调用当前测试用例引用逻辑拓扑结构图的编号所对应的所有适配 关系进行测试，输出测试结果。 基于上述方法，本发明实现一种自动化测试的装置，如图2所示，该装置包括逻 辑拓扑结构图集21、逻辑拓扑引用模块22、测试适配模块23、拓扑适配数据库24、测试流程 检测模块25、测试模块26 ;其中， 逻辑拓扑结构图集21，用于存储逻辑拓扑结构图，及每个逻辑拓扑图的编号索
逻辑拓扑引用模块22，用于在编写出的测试用例中，通过测试人员选取的逻辑拓
扑结构图的编号，引用逻辑拓扑结构图集21中相应的逻辑拓扑结构图； 测试适配模块23，用于测试人员配置测试流程与测试方式；按照测试用例的序号
逐个选取测试用例，检测拓扑适配数据库中是否存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关
系，若不存在，则对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，并将测试用例引用的逻辑
拓扑结构图的编号及其所有适配成功的适配关系存储到拓扑适配数据库24中，再通知测
试流程检测模块25 ;若存在，则直接通知测试流程检测模块25 ; 所述测试适配模块23进一步用于对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适 配，在适配失败后，提示没有合适的适配，按照序号选取下一个测试用例进行测试；
进一步的，所述测试适配模块23还用于对当前测试用例设置适配标志，具体方法 如步骤102和步骤103中所述，此处不再赘述； 拓扑适配数据库24，用于存储测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其适配成 功的适配关系； 测试流程检测模块25，用于在检测到测试流程为顺序测试时，将当前的测试用例 发送到测试模块； 所述测试流程检测模块25进一步还用于在检测到测试流程为整体测试时，检测 所有测试用例的适配标志，在检测到所有测试用例都有适配标志时，按照序号将适配标志 为成功的测试用例逐个发送给测试模块26 ; 测试模块26，用于按照配置的测试方式和当前的测试用例引用的逻辑拓扑结构图 的编号，从拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试； 所述装置进一步包括添加模块27，用于在逻辑拓扑结构图集21中没有需要的逻
辑拓扑结构图时，将测试人员重新创建新的逻辑拓扑结构图进行编号后添加到逻辑拓扑结 构图集21中。 以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围，凡在 本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护 范围之内。
权利要求
一种实现自动化测试的方法，其特征在于，该方法包括在编写测试用例时，在逻辑拓扑结构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编写；测试人员配置测试流程与测试方式，在对测试用例进行自动化测试时，逐个选取测试用例，在检测到拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系、且测试流程为顺序测试时，按照配置的测试方式和测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号，在拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试。
2. 根据权利要求l所述的方法，其特征在于，所述逻辑拓扑结构图集的建立具体为预 先根据目前自动化测试脚本所使用的逻辑拓扑结构图，全部选取或者选取一些使用频率较高的逻辑拓扑结构图，并给每一个逻辑拓扑图进行编号索引，组建一个逻辑拓扑结构图的隹A 朱n o
3. 根据权利要求l所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括在逻辑拓扑结构图集 中没有需要的逻辑拓扑结构图时，测试人员需要重新创建新的逻辑拓扑结构图，将其进行 编号后添加到逻辑拓扑结构图集中。
4. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试方式包括遍历适配关系的测 试、随机选取一种或者几种适配关系的测试，其中，测试系统默认为遍历适配关系的测试。
5. 根据权利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，在检测到拓扑适配数据库中不存 在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，该方法进一步包括对测试用例执行从逻辑拓 扑到物理拓扑的适配，将测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其所有适配成功的适配 关系存储到拓扑适配数据库中；进一步的，所述对测试用例执行从逻辑拓扑到物理拓扑的适配，还包括在失败后，提 示没有合适的适配，选取下一个测试用例进行测试。
6. 根据权利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，所述拓扑适配数据库为预先创建的，存储各测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其适配成功的适配关系。
7. 根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在检测到拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，该方法进一步包括对当前测试用例设置适配标志 为成功；所述在检测到拓扑适配数据库中不存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，该方法进一步包括对测试用例适配成功时，设置其适配标志为成功；所述对测试用例适配都 失败时，设置其适配标志为失败；在测试流程为整体测试时，检测所有测试用例的适配标志，在检测到所有测试用例都 有适配标志时，将适配标志为成功的测试用例逐个进行测试。
8. —种实现自动化测试的装置，其特征在于，该装置包括 逻辑拓扑结构图集，用于存储逻辑拓扑结构图，及每个逻辑拓扑图的编号索引； 逻辑拓扑引用模块，用于在编写出的测试用例中，通过测试人员选取的逻辑拓扑结构图的编号，引用逻辑拓扑结构图集中相应的逻辑拓扑结构图；拓扑适配数据库，用于存储测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其适配成功的适 配关系；测试适配模块，用于测试人员配置测试流程与测试方式，在对测试用例进行自动化测 试时，逐个选取测试用例，在检测到拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，直接通知测试流程检测模块；测试流程检测模块，用于在检测到测试流程为顺序测试时，将当前的测试用例发送到 测试模块；测试模块，用于按照配置的测试方式和当前的测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编 号，从拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试。
9. 根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述测试适配模块进一步用于在检测到 拓扑适配数据库中不存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系时，对测试用例执行从逻辑 拓扑到物理拓扑的适配，并将测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号及其所有适配成功的 适配关系存储到拓扑适配数据库中；在适配失败后，提示没有合适的适配，并选取下一个测 试用例进行测试。
10. 根据权利要求8所述的装置，其特征在于， 所述测试适配模块进一步还用于对当前测试用例设置适配标志；所述测试流程检测模块进一步还用于在检测到测试流程为整体测试时，检测所有测试 用例的适配标志，在检测到所有测试用例都有适配标志时，将适配标志为成功的测试用例 逐个发送给测试模块。
11. 根据权利要求8至10任一所述的装置，其特征在于，该装置进一步包括添加模 块，用于在逻辑拓扑结构图集中没有需要的逻辑拓扑结构图时，将测试人员重新创建新的 逻辑拓扑结构图进行编号后添加到逻辑拓扑结构图集中。
全文摘要
本发明公开了一种实现自动化测试的方法，通过预先建立逻辑拓扑结构图集，在编写自动化测试用例时，在逻辑拓扑结构图集中选取需要的逻辑拓扑结构图进行编写；在对测试用例进行测试时，逐个选取测试用例，在检测拓扑适配数据库中存在当前测试用例的逻辑拓扑的适配关系、且测试流程为顺序测试时，按照配置的测试方式和测试用例引用的逻辑拓扑结构图的编号，在拓扑适配数据库中直接调用所需的适配关系进行测试；本发明同时公开了一种实现自动化测试的装置；利用本发明的方案，可以减少在自动化测试中相同的操作重复进行，提高测试效率，增加测试结果的准确度。
文档编号G06F17/30GK101706799SQ200910221569
公开日2010年5月12日 申请日期2009年11月20日 优先权日2009年11月20日
发明者郇昌波 申请人:中兴通讯股份有限公司