专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种用来进行一主机板的一电压调节模块电路的供电检测的测试装置。
背景技术：
一般而言，在主机板的测试过程中，以中央处理器为例，其需实际安装于中央处理器插座上，藉以测试电压调节模块电路的供电是否正常。然而，如果是在测试过程中发生异常，则往往会导致中央处理器烧毁，从而造成检测成本的增加。因此，仿真中央处理器的装置因应而生；然而已知仿真中央处理器工具通常无法应用于并非使用引脚开路或短路的方式的串接电压识别(Serial Voltage Identification, SVID)供电设计，且目前工厂作业员或工程师在检验或设计主机板过程中，皆需要配合不同脉冲调制电路(PWM IC)，且需采用不同方式才能够产生对应的电压值， 十分地不便，无法达到有效的快速检验。
实用新型内容本实用新型的主要目的在于提供一测试装置，用以进行主机板的电压调节模块电路的供电检测，该测试装置可仿真成中央处理器，藉此解决上述问题。本实用新型提供一种测试装置，其安装于该主机板的一中央处理器插座上，用来进行一主机板的一电压调节模块电路的供电检测，该测试装置包含一可编程芯片、一中央处理器电压控制接口及一中央处理器发光装置。该可编程芯片用来以硬件描述语言仿真的方式产生至少一中央处理器串接电压识别信号。该中央处理器电压控制接口电连接于该可编程芯片，其用来控制该可编程芯片传送该中央处理器串接电压识别信号至该主机板，藉以控制该电压调节模块电路输出相对应的一中央处理器电压值。该中央处理器发光装置电连接于该可编程芯片，其用来根据该中央处理器电压控制接口的控制决定发光与否。根据本实用新型的一个方面，提供一种测试装置，其安装于一主机板的一中央处理器插座上，其特征在于，该测试装置包含一可编程芯片，其以硬件描述语言仿真的方式产生至少一中央处理器串接电压识别信号；一中央处理器电压控制接口，其电连接于该可编程芯片，该中央处理器电压控制接口控制该可编程芯片传送该中央处理器串接电压识别信号至该主机板，藉以控制一设于该主机板上的电压调节模块电路输出相对应的一中央处理器电压值；一中央处理器发光装置，其电连接于该可编程芯片，该中央处理器发光装置根据该中央处理器电压控制接口的控制决定发光与否；一模拟数字转换器，其电连接于该可编程芯片，该模拟数字转换器用来将对应该中央处理器电压值的一模拟信号转换至一数字信号；以及一显示接口，其电连接于该可编程芯片，该可编程芯片根据该数字信号控制该显示接口的显示。本实用新型具有以下优点本实用新型所提供的测试装置使用可编程芯片以硬件描述语言仿真的方式仿真中央处理器而输出相对应的串接电压识别信号，藉以针对主机板进行相关的供电检测；藉此，不仅可解决以往在实际安装中央处理器进行供电测试过程中发生供电异常而导致中央处理器烧毁的检测问题，同时也可大大地简化所需的电路设计。
图1为本实用新型测试装置的示意图。图2为本实用新型中央处理器及绘图处理器电压值、中央处理器及绘图处理器发光装置与串接电压识别信号的对应关系示意图。图3为本实用新型测试装置进行主机板的供电检测的方法的流程图。[0011]主要元件符号说明[0012]100测试装置102主机板[0013]104中央处理器插座106电压调节模块电路[0014]108可编程芯片118第一发光元件[0015]120第一正向按钮122第一反向按钮[0016]124第二发光元件126第二正向按钮[0017]128第二反向按钮130模拟数字转换器[0018]132显示接口134烧录接口[0019]136输入输出接口137计算机屏幕[0020]110中央处理器电压控制接口[0021]112绘图处理器电压控制接口[0022]114中央处理器发光装置[0023]116绘图处理器发光装置[0024]步骤 300、302、304、306、308、310、312、31具体实施方式
请参阅图1，测试装置100安装于一主机板102的一中央处理器插座104上以进行主机板102上的一电压调节模块电路106的检测，更具体的说，电压调节模块电路106为脉冲调制电路，测试装置100可仿真中央处理器，将编辑好的串接电压识别信号输出到该电压调节模块电路106，产生中央处理器及绘图处理器(CPU&AXG)需要的电压。主机板102优选为采用串接电压识别信号控制处理器供电的主机板，如Intel LGAl 155主机板，在此实施例中，测试装置100的主体为具有1155个引脚的芯片，安装于中央处理器插座104上。测试装置100包含一可编程芯片108、一中央处理器电压控制接口 110、一绘图处理器电压控制接口 112、一中央处理器发光装置114及一绘图处理器发光装置116。可编程芯片108用来以硬件描述语言(Hardware Description Language, HDL)仿真的方式产生中央处理器串接电压识别信号及绘图处理器串接电压识别信号，其优选为一复杂可编辑逻辑芯片(Complex Programmable Logic Device，CPLD)，而所使用的硬件描述语言优选为高速集成电路硬件描述语言(Very High Speed Integrated Circuit Hardware Description Language, VHDL)。中央处理器电压控制接口 110、绘图处理器电压控制接口 112、中央处理器发光装置114及绘图处理器发光装置116均电连接于可编程芯片108，中央处理器电压控制接口
4110与绘图处理器电压控制接口 112用来控制可编程芯片108，传送相对应的中央处理器与绘图处理器串接电压识别信号至主机板102，藉以控制电压调节模块电路106输出相对应的中央处理器与绘图处理器电压值，中央处理器发光装置114及绘图处理器发光装置116 则是分别用来根据中央处理器电压控制接口 110及绘图处理器电压控制接口 112的控制决定发光与否。中央处理器发光装置114包含多个第一发光元件118(于图1中显示八个)，其优选为发光二极管而中央处理器电压控制接口 110则是包含相对应的一第一正向按钮120 以及一第一反向按钮122，其分别用来正向以及反向切换可编程芯片108，以产生不同的中央处理器串接电压识别信号，而这些第一发光元件118则会根据第一正向按钮120或第一反向按钮122的切换，依序正向或反向循环发光，如此即可方便测试人员快速地切换至所欲产生的串接电压识别信号。该绘图处理器电压控制接口为一手动输入操控装置，该可编程芯片根据该手动输入操控装置的输入传送该绘图处理器串接电压识别信号至该主机板。绘图处理器发光装置116包含多个第二发光元件124(于图1中显示八个)，其优选为发光二极管，而绘图处理器电压控制接口 112则是包含相对应的一第二正向按钮126 以及一第二反向按钮128，其分别用来正向以及反向切换可编程芯片108，以产生不同的绘图处理器串接电压识别信号，同样地，这些第二发光元件1 也会根据第二正向按钮1 或第二反向按钮128的切换，依序正向或反向循环发光。测试装置100还包含一模拟数字转换器130、一显示接口 132、一烧录接口 1；34及一输入输出接口 136，其均电连接于可编程芯片108。模拟数字转换器130用来将对应中央处理器电压值以及绘图处理器电压值的模拟信号转换至数字信号，而可编程芯片108则是根据数字信号，控制显示接口 132显示相对应的电压数值，其中，显示接口 132优选为七段显示器(图1中显示三个)，但不受此限，其也可为其他常见的显示装置，如液晶屏幕等。 烧录接口 134用来传输硬件描述语言数据至可编程芯片108，其优选为一联合测试工作组 (Joint Test Action Group, JTAG)接口。输入输出接口 136可为RS232，可电连接于一外接式装置，如一计算机屏幕137 (如图1所示)，以取代测试人员以电压量测工具来量测电压的方式，从而方便测试人员可直接观测这些数值。请参阅图1及图2，如果是欲使用测试装置100检测电压调节模块电路106针对中央处理器的供电是否正常，则可在将测试装置100安装于中央处理器插座104上后，按压第一正向按钮120或第一反向按钮122，以正向或反向切换控制可编程芯片108，而传送相对应的中央处理器串接电压识别信号至主机板102，在此同时，可编程芯片108也会控制中央处理器发光装置114内相对应的第一发光元件118发光，藉以让测试人员可根据图4以及第一发光元件118的发光状况，得知目前所对应的串接电压识别信号以及电压调节模块电路106所应输出的中央处理器电压值。接着，模拟数字转换器130就会撷取相对应的模拟信号并将其转换为数字信号， 而在可编程芯片108读取到数字信号后，即可控制显示接口 132显示相对应的数值，也就是电压调节模块电路106所实际输出的中央处理器电压值，藉以让测试人员可通过判断与图 2所对应的数值是否一致的方式，得知电压调节模块电路106针对中央处理器的供电是否正常。同样地，如果是欲使用测试装置100检测电压调节模块电路106针对绘图处理器的供电是否正常，则可以上述同样的方式按压绘图处理器电压控制接口 112的第二正向按钮1 或第二反向按钮128，藉以让测试人员可根据图2以及第二发光元件124的发光状况，得知目前所对应的串接电压识别信号以及电压调节模块电路106所应输出的绘图处理器电压值。另外，中央处理器电压控制接口 110及绘图处理器电压控制接口 112的设计也可采用只具有单颗切换按钮的配置而仅允许测试人员进行单向切换控制的设计，或是改设计成一手动输入操控装置，以供使用者以直接输入相对应的识别码号的方式切换控制可编程芯片108。由上述可知，测试装置100具有可分别检测主机板102在中央处理器以及绘图处理器的供电运作上是否正常的功能，但其也可为二者择一的设计。请参阅图3，以下仅介绍电压调节模块电路对中央处理器的供电检测。首先，需先启动主机板102以进行相关的供电检测(步骤300)。接着，在将测试装置100安装于中央处理器插座104上后，参照上述所提及的操作，电压调节模块电路106即可输出相对应的中央处理器电压值以及绘图处理器电压值(步骤30 ，测试人员可决定是否按压中央处理器电压控制接口 110上的第一正向按钮120或第一反向按钮122(步骤304)，以正向或反向切换控制可编程芯片108，而传送相对应的中央处理器串接电压识别信号至主机板102，同时，中央处理器发光装置114也会根据中央处理器电压控制接口 110的控制决定发光与否 (步骤308)，藉以让测试人员可根据图2以及中央处理器发光装置114的发光状况，得知目前所对应的串接电压识别信号以及电压调节模块电路106所应输出的中央处理器电压值。如此一来，测试人员就可通过判断与图2所对应的数值是否一致的方式，得知电压调节模块电路106针对中央处理器的供电是否正常。同样地，也可参照上述的流程进行电压调节模块电路106针对绘图处理器的供电是否正常的检测(步骤306、步骤310)。最后，测试人员可决定是否关闭主机板102(步骤 312)以结束测试装置100的检测流程(步骤314)。综上所述，本实用新型所提供的测试装置改使用可编程芯片以硬件描述语言仿真的方式仿真中央处理器而输出相对应的串接电压识别信号，藉以针对主机板进行相关的供电检测，如此不仅可解决以往在实际安装中央处理器进行供电测试过程中发生供电异常而导致中央处理器烧毁的检测问题，同时也可大大地简化所需的电路设计。
权利要求1.一种测试装置，其安装于一主机板的一中央处理器插座上，其特征在于，该测试装置包含一可编程芯片，其以硬件描述语言仿真的方式产生至少一中央处理器串接电压识别信号；一中央处理器电压控制接口，其电连接于该可编程芯片，该中央处理器电压控制接口控制该可编程芯片传送该中央处理器串接电压识别信号至该主机板，藉以控制一设于该主机板上的电压调节模块电路输出相对应的一中央处理器电压值；一中央处理器发光装置，其电连接于该可编程芯片，该中央处理器发光装置根据该中央处理器电压控制接口的控制决定发光与否；一模拟数字转换器，其电连接于该可编程芯片，该模拟数字转换器用来将对应该中央处理器电压值的一模拟信号转换至一数字信号；以及一显示接口，其电连接于该可编程芯片，该可编程芯片根据该数字信号控制该显示接口的显示。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该中央处理器发光装置包含多个发光元件，该中央处理器电压控制接口包含一正向按钮以及一反向按钮，其分别用来正向以及反向切换该可编程芯片以产生不同的中央处理器串接电压识别信号，这些发光元件根据该正向按钮或该反向按钮的切换依序正向或反向循环发光。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该中央处理器电压控制接口为一手动输入操控装置，该可编程芯片根据该手动输入操控装置的输入传送该中央处理器串接电压识别信号至该主机板。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该可编程芯片还以硬件描述语言仿真的方式产生至少一绘图处理器串接电压识别信号，该测试装置还包含一绘图处理器电压控制接口，其电连接于该可编程芯片，该绘图处理器电压控制接口控制该可编程芯片传送该绘图处理器串接电压识别信号至该主机板，藉以控制该电压调节模块电路输出相对应的一绘图处理器电压值；以及一绘图处理器发光装置，其电连接于该可编程芯片，该绘图处理器发光装置用来根据该绘图处理器电压控制接口的控制决定发光与否。
5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该绘图处理器发光装置包含多个发光元件，该绘图处理器电压控制接口包含一正向按钮以及一反向按钮，其分别用来正向以及反向切换该可编程芯片以产生不同的绘图处理器串接电压识别信号，这些发光元件根据该正向按钮或该反向按钮的切换依序正向或反向循环发光。
6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该绘图处理器电压控制接口为一手动输入操控装置，该可编程芯片根据该手动输入操控装置的输入传送该绘图处理器串接电压识别信号至该主机板。
7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包含一烧录接口，其电连接于该可编程芯片，该烧录接口为一联合测试工作组接口，用来传输硬件描述语言数据至该可编程芯片。
8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包含一输入输出接口，其电连接于该可编程芯片，该输入输出接口电连接于一外接式装置。
专利摘要一种测试装置，安装于主机板的中央处理器插座上，包含可编程芯片、中央处理器电压控制接口、中央处理器发光装置、模拟数字转换器及显示接口。可编程芯片以硬件描述语言仿真的方式产生中央处理器串接电压识别信号。中央处理器电压控制接口控制可编程芯片传送中央处理器串接电压识别信号至主机板，以控制主机板的电压调节模块电路输出中央处理器电压值。中央处理器发光装置根据中央处理器电压控制接口的控制决定发光与否。模拟数字转换器将对应中央处理器电压值的模拟信号转换至数字信号。可编程芯片根据数字信号控制显示接口。
文档编号G06F11/26GK202049477SQ201120012489
公开日2011年11月23日 申请日期2011年1月17日 优先权日2011年1月17日
发明者谢政霖 申请人:精英电脑股份有限公司