专利名称：一种校准参数的方法及设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及芯片參数校准技术领域，尤其涉及一种校准參数的方法及设备。
背景技术：
在大量的烧录芯片中，当需要不固定參数吋，由于过多的人工操作会产生标准不一、环境及条件不同等问题，烧录到芯片中的參数可能不一定适合该芯片，无法更好的发挥芯片的性能，导致芯片不能正常工作。
发明内容
本发明实施例提供了一种校准參数的方法及设备，用于对配置參数进行校准，能够得到有效的參数，使得參数更准确，稳定。
本发明实施例中的校准參数的方法包括将初始配置參数及外部代码发送给芯片；发送软重启命令给芯片，使得芯片软重启，运行在初始配置參数及外部代码的环境下；对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；对采样数据进行处理，得到有效參数。本发明实施例中的校准參数的设备包括第一发送单元，用于将初始配置參数及外部代码发送给芯片；第二发送单元，用于在第一发送单元向芯片发送初始配置參数及外部代码之后，发送软重启命令给芯片，使得芯片软重启，运行在初始配置參数及外部代码的环境下；采样单元，用于在第二发送单元发送软重启命令之后，对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；处理单元，用于在采样单元采样后，对采样数据进行处理，得到有效參数。从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点校准參数的设备将初始配置參数及外部代码发送给芯片之后，将发送软启动命令给该芯片，使得芯片软重启，运行在初始配置參数及外部代码的环境下，再对预置的数据类型进行采样，得到采样数据，且对采样数据进行处于，得到有效数据，能够得到有效的參数，使得參数更加准确、稳定，且减少了人工干预，提高生产效率。
图I为本发明实施例中一种校准參数的方法的ー个示意图；图2为本发明实施例中一种校准參数的方法的另ー示意图；图3为本发明实施例中校准參数的设备的ー个示意图；图4为本发明实施例中校准參数的设备的另ー示意图。
具体实施例方式本发明实施例提供了一种校准參数的方法及设备，用于对配置參数进行校准，得到更加准确及稳定的參数，同时减少人工干预，提高生产效率。
请參阅图1，为本发明实施例中校准參数的方法的实施例，包括101、将初始配置參数及外部代码发送给芯片；在本发明实施例中，校准參数的设备启动之后，将初始化基本參数，井根据该基本參数生成初始配置參数，同时选择选择需要进行校准的芯片的地址。在本发明实施例中，校准參数的设备将初始配置參数及芯片的外部代码发送给芯片。需要说明的是，在本发明实施例中，校准參数的设备可以是任意的可执行本发明技术方案的设备，例如可以是触控设备。102、发送软重启命令给芯片，使得芯片软重启，运行在初始配置參数及外部代码的环境下；
在本发明实施例中，校准參数的设备在将初始配置參数及外部代码发送给芯片之后，还将发送软重启命令给芯片，芯片根据接收到的软重启命令进行软重启，使得芯片能够运行在初始配置參数及外部代码的环境下。103、对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；在本发明实施例中，芯片软重启之后，校准參数的设备将对预置的数据类型进行采样，得到采样数据。其中，预置的数据类型可以由用户根据需要进行设置，例如，可以是时钟參数，且还可设置数据的长度，例如可以是无符号整形的32bit长的数据。需要说明的，在本发明实施例中，校准參数设备可按照预置的采样间隔和采样次数对该预置的数据类型进行采样，得到采样数据。104、对采样数据进行处理，得到有效參数。在本发明实施例中，校准參数的设备对采样的数据进行处理，得到有效參数，该有效參数的准确性高，且更加稳定，同时避免了人工干预，可有效提高生产效率。为了更好的理解本发明实施例中的校准參数的方法，请參阅图2，为本发明实施例中一种校准參数的方法的实施例，包括201、发送私有命令给芯片，使得芯片处于私有命令模式；在本发明实施例中，校准參数的设备启动之后，将初始化基本參数，并根据该基本參数生成初始配置參数，同时选择选择需要进行校准的芯片的地址。在本发明实施例中，校准參数的设备在将初始配置參数及芯片的外部代码发送给芯片之前，将发送私有命令给芯片，使得芯片处于私有命令模式。202、将初始配置參数及外部代码按预置的大小划分为数据包，设置数据包的序列号;在本发明实施例中，芯片处于私有命令模式之后，校准參数的设备将初始配置參数及外部代码按预置的大小划分为数据包，设置数据包的序列号。需要说明的是，初始配置參数及外部代码的数据包的划分是分别进行的，例如，可先将初始配置參数划分为数据包并配置序列号之后再将外部代码划分为数据包并设置序列号，在实际应用中可根据具体的需要设置数据包的划分顺序，此处不做限定。在本发明实施例中，划分的数据包的大小可根据需要进行设置，例如，可将初始配置參数及外部代码以128byte为单位进行划分，划分的128byte的数据再加上2byte的序列号及2byte的校验码构成一个数据包。203、对数据包进行CRC校验，将得到的校验码保存至对应的数据包中；在本发明实施例中，校准參数的设备还将对数据包进行循环冗余校验码(CyclicRedundancy Check, CRC)校验,并将得到的校验码保存至对应的数据包中。204、发送包含校验码及序列号的数据包给芯片；在本发明实施例中，校准參数的设备将保存了数据包序列及校验码的数据包发送给芯片，芯片在接收到数据包之后，将按照数据包中包含的序列号对数据包进行重组，且还将对数据包进行CRC校验，将得到的CRC校验码与已保存在数据包中的校验码进行比对，若相同，则数据包的传输正确，若不同，则说明数据包在传输过程中数据出现错误，能够有效的确保数据传输的正确性。205、发送软重启命令给芯片，使得芯片软重启，运行在初始配置參数及外部代码 的环境下；在本发明实施例中，校准參数的设备在将数据包发送给芯片之后，将发送软重启命令给芯片，使得芯片启动软重启操作，且芯片软重启后将运行在初始配置參数及外部代码的环境下。206、发送退出命令给芯片，使得芯片退出私有命令模式；在本发明实施例中，芯片在软重启之后，将进行參数的校准，校准參数的设备在对预置类型的參数进行校准之前，将发送退出命令给芯片，芯片接收到该退出命令后，将退出私有命令模式。207、对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；208、计算采样数据的平均值；209、将平均值按照预置的转换算法转换成有效參数；在本发明实施例中，步骤207至步骤209即为校准參数的过程，具体包括校准參数的设备可按照预置的采样间隔及采样次数对预置的数据类型进行采样，得到采样数据，并将计算采样数据的平均值，将该平均值按照预置的转换算法转换成有效数据，其中该预置的转换算法可以是(10000*12*1000)*10/(simple Value*5);在上述算法中，simple Value即为采样数据的平均值。210、根据有效參数更新初始配置參数；211、利用更新后的初始配置參数对芯片进行量产。在本发明实施例中，得到预置的数据类型的有效參数之后，校准參数的设备将根据该有效參数更新初始配置參数，并利用更新后的配置參数对芯片进行量产，将更新后的初始配置參数及外部代码写入芯片的一次性可编程(One Time Programable, OTP)中。在本发明实施例中，校准參数的设备通过将初始配置參数及外部代码划分为数据包，并进行CRC校验及设置数据包的序列号，能够使得数据的传输更加的安全准确，同吋，利用校准參数的设备对预置类型的參数进行采样及数据转换实现数据的校准，使得得到的有效參数更加准确稳定，且能有有效的避免人工干预，以提高生产效率。请參阅图3，为本发明实施例中校准參数的设备的实施例，包括第一发送单元301，用于将初始配置參数及外部代码发送给芯片；
第二发送单元302，用于在第一发送单元301向所述芯片发送初始配置參数及外部代码之后，发送软重启命令给所述芯片，使得所述芯片软重启，运行在所述初始配置參数及外部代码的环境下；采样单元303，用于在所述第二发送单元302发送软重启命令之后，对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；处理单元304，用于在所述采样単元303采样后，对所述采样数据进行处理，得到有效參数。在本发明实施例中，第一发送单元301将初始配置參数及外部代码发送给芯片；接着第二发送单元302发送软重启命令给所述芯片，使得所述芯片软重启，运行在所述初始配置參数及外部代码的环境下；芯片软重启之后，采样单元303对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；最后，处理单元304对采样数据进行处理，得到有效參数。在本发明实施例中，校准參数的设备对采样的数据进行处理，得到有效參数，该有 效參数的准确性高，且更加稳定，同时避免了人工干预，可有效提高生产效率。为了更好的理解本发明实施例中的校准參数的设备，请參阅图4，为本发明实施例中校准參数的设备的实施例，包括如图3所示实施例中的第一发送单元301、第二发送单元302、采样单元303、处理単元304，且与图3所示实施例中描述的内容相似，此处不再赘述。其中，第一发送单元301包括划分单元401，用于将所述初始配置參数及外部代码按预置的大小划分为数据包，设置所述数据包的序列号；校验单元402，用于在所述划分単元对划分的数据包设置序列号之后，对所述数据包进行循环冗余校验码CRC校验，将得到的校验码保存至对应的数据包中；数据包发送単元403，用于在所述校验単元将所述校验码保存至对应的数据包之后，发送包含所述校验码及所述序列号的数据包给所述芯片。其中，处理单元304包括计算单元404，用于计算所述采样数据的平均值；转换单元405，用于将所述平均值按照预置的转换算法转换成有效參数。在本发明实施例中，校准參数的设备还包括第三发送单元406，用于在所述第一发送单元301之前发送私有命令给所述芯片，使得所述芯片处于私有命令模式；第四发送单元407，用于在所述第二发送单元302发送软重启命令之后发送退出命令给所述芯片，使得所述芯片退出私有命令模式；更新単元408，用于在所述处理単元304获得有效參数之后，根据所述有效參数更新所述初始配置參数；量产单元409，用于在所述更新単元408更新所述初始配置參数之后，利用更新后的初始配置參数对所述芯片进行量产。在本发明实施例中，第三发送单元在发送私有命令给芯片，使得芯片处于私有命令模式，接着第一发送单元301中的划分单元401将初始配置參数及外部代码按预置的大小划分为数据包，设置数据包的序列号；接着校验单元402对数据包进行循环冗余校验码CRC校验，将得到的校验码保存至对应的数据包中；再由数据包发送単元403发送包含校验码及序列号的数据包给芯片。接着第二发送单元302发送软重启命令给所述芯片，使得所述芯片软重启，运行在所述初始配置參数及外部代码的环境下；芯片软重启之后，第四发送単元407发送退出命令给芯片，使得芯片退出私有命令模式，接着，采样单元303对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；并由处理单元304中的计算单元404计算采样数据的平均值；接着，转换单元405将平均值按照预置的转换算法转换成有效參数。得到有效參数之后，更新単元408根据所述有效參数更新所述初始配置參数；最后，量产单元409利用更新后的初始配置參数对芯片进行量产。在本发明实施例中，校准參数的设备通过将初始配置參数及外部代码划分为数据包，并进行CRC校验及设置数据包的序列号，能够使得数据的传输更加的安全准确，同吋，利用校准參数的设备对预置类型的參数进行采样及数据转换实现数据的校准，使得得到的有效參数更加准确稳定，且能有有效的避免人工干预，以提高生产效率。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于ー种计算机可读存储介质中，上 述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。以上对本发明所提供的一种校准參数的方法及设备进行了详细介绍，对于本领域的一般技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
权利要求
1.一种校准參数的方法,其特征在于,包括 将初始配置參数及外部代码发送给芯片； 发送软重启命令给所述芯片，使得所述芯片软重启，运行在所述初始配置參数及外部代码的环境下； 对预置的数据类型进行采样，得到采样数据； 对所述采样数据进行处理，得到有效參数。
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述将初始配置參数及外部代码发送给芯片包括 将所述初始配置參数及外部代码按预置的大小划分为数据包，设置所述数据包的序列号; 对所述数据包进行循环冗余校验码CRC校验，将得到的校验码保存至对应的数据包中； 发送包含所述校验码及所述序列号的数据包给所述芯片。
3.根据权利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述将所述初始配置參数及外部代码发送给芯片之前还包括 发送私有命令给所述芯片，使得所述芯片处于私有命令模式。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在干，所述发送软重启命令给所述芯片之后还包括 发送退出命令给所述芯片，使得所述芯片退出私有命令模式。
5.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述对采样数据进行处理，得到有效參数包括 计算所述采样数据的平均值； 将所述平均值按照预置的转换算法转换成有效參数。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对采样数据进行处理，得到有效參数之后还包括 根据所述有效參数更新所述初始配置參数； 利用更新后的初始配置參数对所述芯片进行量产。
7.ー种校准參数的设备，其特征在于，包括 第一发送单元，用于将初始配置參数及外部代码发送给芯片； 第二发送单元，用于在第一发送单元向所述芯片发送初始配置參数及外部代码之后，发送软重启命令给所述芯片，使得所述芯片软重启，运行在所述初始配置參数及外部代码的环境下； 采样单元，用于在所述第二发送单元发送软重启命令之后，对预置的数据类型进行采样，得到采样数据； 处理单元，用于在所述采样単元采样后，对所述采样数据进行处理，得到有效參数。
8.根据权利要求7所述的校准參数的设备，其特征在于，所述第一发送单元，包括 划分单元，用于将所述初始配置參数及外部代码按预置的大小划分为数据包，设置所述数据包的序列号； 校验单元，用于在所述划分単元对划分的数据包设置序列号之后，对所述数据包进行循环冗余校验码CRC校验，将得到的校验码保存至对应的数据包中； 数据包发送単元，用于在所述校验単元将所述校验码保存至对应的数据包之后，发送包含所述校验码及所述序列号的数据包给所述芯片。
9.根据权利要求7所述的校准參数的设备，其特征在于，所述处理単元包括 计算单元，用于计算所述采样数据的平均值； 转换单元，用于将所述平均值按照预置的转换算法转换成有效參数。
10.根据权利要求7至9任意一项所述的校准參数的设备，其特征在于，所述设备还包括 第三发送单元，用于在所述第一发送单元之前发送私有命令给所述芯片，使得所述芯片处于私有命令模式； 第四发送单元，用于在所述第二发送单元之后发送退出命令给所述芯片，使得所述芯片退出私有命令模式； 更新単元，用于在所述处理单元获得有效參数之后，根据所述有效參数更新所述初始配置參数； 量产单元，用于在所述更新単元更新所述初始配置參数之后，利用更新后的初始配置參数对所述芯片进行量产。
全文摘要
本发明实施例公开了一种校准参数的方法及设备，用于对预置类型的参数进行校准。本发明实施例方法包括将初始配置参数及外部代码发送给芯片；发送软重启命令给芯片，使得芯片软重启，运行在初始配置参数及外部代码的环境下；对预置的数据类型进行采样，得到采样数据；对采样数据进行处理，得到有效参数，使得参数更加准确、稳定，且减少了人工干预，提高生产效率。
文档编号G06F9/445GK102866899SQ20121025755
公开日2013年1月9日 申请日期2012年7月24日 优先权日2012年7月24日
发明者胡家安, 刘尚林, 罗源坤 申请人:深圳芯邦科技股份有限公司