专利名称：一种磁盘阵列测试方法以及一种磁盘阵列的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试技术，特别涉及一种磁盘阵列测试方法以及一种磁盘阵列。
背景技术：
磁盘阵列(RAID,Redundant Arrays of Inexpensive Disks)是指由一系列价格较便宜、容量较小、稳定性较高、速度较慢的磁盘组合而成的一个大型的磁盘组。利用同样的一系列磁盘，如4个磁盘，通过不同的组合方式，可以得到不同的磁盘阵列，对于得到的各不同磁盘阵列，通常还需要对其进行测试，以确定其性能是否符合要求
坐寸ο可以看出，如果要对组合得到的各不同磁盘阵列的性能进行测试，上述4个磁盘就会被不断的重复利用，即上述4个磁盘将一直处于高速运转状态，从而可能导致出现以下问题I)磁盘的温度不断升高，从而可能影响到磁头的电阻感应灵敏度，进而产生读写错误;2)磁盘在高速运转过程中，由于振动等原因，磁头可能会撞击到盘片，从而导致盘片坏轨或磁头损坏；无论出现上述哪种情况，均会影响测试结果，导致测试结果不准确。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种磁盘阵列测试方法以及一种磁盘阵列，能够提高测试结果的准确性。为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的一种磁盘阵列测试方法，包括确定得到待测试的磁盘阵列所需的磁盘；获取每个磁盘分别对应的磁盘模拟卡，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分；用获取到的各磁盘模拟卡得到所述磁盘阵列；向所述磁盘阵列发送测试信号，并获取所述磁盘阵列对接收到的测试信号进行处理后返回的测试结果。一种磁盘阵列，包括两个以上磁盘模拟卡；每个磁盘模拟卡，分别用于替代对应的磁盘得到所述磁盘阵列，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分。可见，采用本发明所述方案，可利用磁盘模拟卡来替代磁盘得到待测试的磁盘阵列，磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分，即去除了磁头、电机、电机驱动芯片等机械部件，从而避免了出现现有技术中的问题，进而提高了测试结果的准确性。
图1为本发明磁盘阵列测试方法实施例的流程图。图2为现有磁盘的组成结构示意图。图3为本发明磁盘模拟卡的组成结构示意图。
具体实施例方式针对现有技术中存在的问题，本发明中提出一种改进后的磁盘阵列测试方法以及一种改进后的磁盘阵列，相比于现有技术，能够提高测试结果的准确性。为了使本发明的技术方案更加清楚、明白，以下参照附图并举实施例，对本发明所述方案作进一步地详细说明。图1为本发明磁盘阵列测试方法实施例的流程图。如图1所示，包括步骤11 :确定得到待测试的磁盘阵列所需的磁盘。本步骤中，确定要得到待测试的磁盘阵列，需要用到哪些磁盘，其具体实现为现有技术。步骤12 :获取每个磁盘分别对应的磁盘模拟卡，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分。图2为现有磁盘的组成结构示意图。如图2所示，包括接口、微处理器、高速缓存、数字信号处理器、前置信号处理器、电机驱动芯片、主轴电机、音圈电机、磁头等。其中，接口、微处理器、高速缓存、数字信号处理器和前置信号处理器为信号处理部分，主要用于进行信号处理；电机驱动芯片、主轴电机、音圈电机和磁头等为机械部分，主要用于进行数据的存储及读取。可针对每个磁盘，分别生成一个对应的磁盘模拟卡，其中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分，即去除了机械部分。图3为本发明磁盘模拟卡的组成结构示意图。可以看出，相比于图2所示磁盘，去除了虚线框内的组成部分，即将图2中除虚线框内的组成部分之外的其它组成部分均集成到了磁盘模拟卡中。步骤13 :用获取到的各磁盘模拟卡得到待测试的磁盘阵列。在实际应用中，可将各磁盘模拟卡设置在待测试的磁盘阵列主板的背板上，如果未用磁盘模拟卡替代磁盘的话，磁盘也应该设置在该位置。步骤14 向待测试的磁盘阵列发送测试信号，并获取待测试的磁盘阵列对接收到的测试信号进行处理后返回的测试结果。本步骤中，测试设备如计算机向待测试的磁盘阵列发送测试信号，待测试的磁盘阵列接收到测试信号后，对其进行处理，并将处理结果即测试结果返回给测试设备。另外，测试设备在获取到测试结果之后，还可进一步进行以下处理确定获取到的测试结果是否为所需的测试结果，如果是，则利用获取到的测试结果对待测试的磁盘阵列的性能进行评估，否则，报告产生故障。对于测试设备来说，针对其发出的测试信号，其预先知道如果是磁盘组合而成的磁盘阵列的话，应该返回什么测试结果，所以如何获取到的测试结果和预期的测试结果不一致，则可报告产生故障。测试设备获取到所需的测试结果后，可利用其对待测试的磁盘阵列的性能进行评估，如评估待测试的磁盘阵列处理信号所用的时长等。基于上述介绍，本发明同时公开了一种磁盘阵列，其中包括两个以上磁盘模拟卡。每个磁盘模拟卡，分别用于替代对应的磁盘得到所述磁盘阵列，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分。 每个磁盘模拟卡均位于所述磁盘阵列主板的背板上。总之，采用本发明所述方案，可利用磁盘模拟卡来替代磁盘得到待测试的磁盘阵列，磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分，即去除了磁头、电机、电机驱动芯片等机械部件，从而避免了出现现有技术中的问题，进而提高了测试结果的准确性。而且，通常来说，磁盘本身质量较大，因此如果磁盘阵列中包括很多磁盘的话，磁盘阵列的质量就会很大，从而不便于进行测试，而磁盘模拟卡的质量则较小，从而更加便于进行测试。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
权利要求
1.一种磁盘阵列测试方法，其特征在于，包括确定得到待测试的磁盘阵列所需的磁盘；获取每个磁盘分别对应的磁盘模拟卡，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分；用获取到的各磁盘模拟卡得到所述磁盘阵列；向所述磁盘阵列发送测试信号，并获取所述磁盘阵列对接收到的测试信号进行处理后返回的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试结果之后，进一步包括确定所述测试结果是否为所需的测试结果，如果是，则利用所述测试结果对所述磁盘阵列的性能进行评估，否则，报告产生故障。
3.一种磁盘阵列，其特征在于，包括两个以上磁盘模拟卡；每个磁盘模拟卡，分别用于替代对应的磁盘得到所述磁盘阵列，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分。
4.根据权利要求3所述的磁盘阵列，其特征在于，每个磁盘模拟卡均位于所述磁盘阵列主板的背板上。
全文摘要
本发明公开了一种磁盘阵列测试方法确定得到待测试的磁盘阵列所需的磁盘；获取每个磁盘分别对应的磁盘模拟卡，每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分；用获取到的各磁盘模拟卡得到所述磁盘阵列；向所述磁盘阵列发送测试信号，并获取所述磁盘阵列对接收到的测试信号进行处理后返回的测试结果。本发明同时公开了一种磁盘阵列。应用本发明所述方案，能够提高测试结果的准确性。
文档编号G06F11/22GK103019901SQ20121053508
公开日2013年4月3日 申请日期2012年12月12日 优先权日2012年12月12日
发明者李文杰 申请人:创新科存储技术有限公司, 创新科存储技术(深圳)有限公司