内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元的制作方法
【专利摘要】一种内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元，该内存单元测试系统包括，一计算机、一可变电阻单元、一电压表及一引脚外接单元。该计算机系统包括一主板，该主板上设置有内存单元接口。该引脚外接单元包括基板及多个导电柱，所述多个导电柱对应于内存接口单元的引脚的位置排列设置在基板上，用于与所述内存单元接口背面的引脚电连接。该可变电阻单元及电压表与上述引脚外接单元上相应的导电柱电连接，可变电阻单元用于调节内存单元的工作电压，电压表用于指示内存单元的当前的工作电压。该计算机还包括一内存单元测试软件，用于在不同的工作电压下测试内存单元稳定性。
【专利说明】内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种内存单元测试系统，尤其涉及一种具有可快速插拔的引脚外接单元的内存单元测试系统。
【背景技术】
[0002]当前计算机内存速率越来越快，容量越来越大，这对内存数据的读取稳定性提出更高要求。业界目前使用测量内存在不同参考电压下的数据读取工作稳定度来评估计算机内存的性能好坏，即内存工作电压范围测量。现有测内存工作电压测量方法要求针对每一内存单元均进行电压测量，在更换测试点时，需要关闭计算机，然后重新焊接测试点，这样一块主机板一种内存配置的测试最多需要重复开关机以及焊接八次，极大消耗测试时间，同时焊接也带来损坏主机板的危险。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本发明提供一种内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元，以解决上述问题。
[0004]一种内存单元测试系统，包括一计算机、一可调电阻单元、一电压表及一引脚外接单元。该计算机包括一内存单元接口，用于连接待测内存单元，该可调电阻单元用于调节内存单元的工作电压，该引脚外接单元，包括基板及多个导电柱，所述多个导电柱对应于内存接口单元的引脚的位置排列设置在基板上，用于将内存单元接口的上的引脚引出以方便焊接可调电阻单元及电压表。该计算机中存储有一内存单元测试软件，用于在不同的工作电压下测试内存单元稳定性。
[0005]一引脚外接单元，包括基板及多个导电柱，该基板用于设置导电柱。该多个导电柱，用于连接内存单元接口背面相应的引脚，其中，该多个导电柱对应于内存单元接口背面的引脚位置垂直排列插设在上述基板上。
[0006]本发明提供一种内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元，结合内存单元接口背面的引脚结构，通过可快速插拔的引脚外接单将内存单元上相关电压引脚外置，以方便焊接，能有效地保护主板并大大提高了内存单元的测试效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1为本发明一实施例内存单元测试系统的示意图。
[0008]图2为图1所示内存单元测试装置中引脚外接单元的立体示意图。
[0009]图3为图2所示引脚外接单元连接至内存单元接口背面引脚的剖面示意图。
[0010]主要元件符号说明 _
【权利要求】
1.一种内存单元测试系统，用于内存单元稳定性测试，包括一可变电阻单元、电压表及一计算机，该可变电阻单元用于调节内存单元的工作电压，该电压表用于指示内存单元当前的工作电压，该计算机包括一主板及安装有一内存单元测试软件，该主板上设有内存单元接口，该内存单元接口的引脚外露于该主板的背面，该内存测试软件用于在不同工作电压下测试内存单元的稳定性，其特征在于，该内存单元测试系统还包括一引脚外接单元，该引脚外接单元包括: 基板，用于设置导电柱；及 多个导电柱，用于连接内存单元接口背面相应的引脚，其中，该多个导电柱对应于内存单元接口背面的引脚位置垂直排列插设在上述基板上； 其中，该可变电阻单元及电压表与上述引脚外接单元上的相应的导电柱电连接。
2.如权利要求1所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述导电柱的贯穿于主板中的部分包括一中空部，其中设置一对弧形弹片，用于夹持内存单元接口背面相应的引脚，其中，所述弧形弹片与导电柱电连接。
3.如权利要求1所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度高于非测试用导电柱。
4.如权利要求3所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述可变电阻单元和电压表与所述测试用导电柱电连接。
5.如权利要求1所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述多个导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度与非测试用导电柱的高度一致。
6.一种引脚外接单元，应用于一内存单元测试系统中，该内存单元测试系统用于内存单元稳定性测试，包括一可变电阻单元、电压表及一计算机，该可变电阻单元用于调节内存单元的工作电压，该电压表用于指示内存单元当前的工作电压，该计算机包括一主板及安装有一内存单元测试软件，该主板上设有内存单元接口，该内存单元接口的引脚外露于该主板的背面，该内存测试软件用于在不同工作电压下测试内存单元的稳定性，其特征在于，该引脚外接单元包括: 基板，用于设置导电柱；及 多个导电柱，用于连接内存单元接口背面相应的引脚，其中，该多个导电柱对应于内存单元接口背面的引脚位置垂直排列插设在上述基板上； 其中，可变电阻单元及电压表与上述引脚外接单元上的相应导电柱电连接。
7.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述导电柱的贯穿于主板中的部分包括一中空部，其中设置一对弧形弹片，用于夹持内存单元接口背面相应的引脚，其中，所述弧形弹片与导电柱电连接。
8.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度高于非测试用导电柱。
9.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述可变电阻单元和电压表与所述测试用导电柱电连接。
10.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述多个导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度与非测试用导电柱的高度一致。
【文档编号】G06F11/22GK104050062SQ201310075783
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2013年3月11日 优先权日:2013年3月11日
【发明者】黄发生 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司