一种板级电路测试性指标计算方法
【专利摘要】本发明公开了一种板级电路测试性指标计算方法，根据测试信息数据库，结合电路中的器件信息，构建与信号流和位置无关的依赖矩阵Du，根据依赖矩阵Du计算得到最高故障检测率，再对依赖矩阵Du进行重构得到重构矩阵，实现对同类器件中不同位置器件的隔离，根据重构矩阵计算得到最高故障隔离率，根据测试选择的布尔向量计算当前测试选择的故障隔离率。可见，本发明通过与信号流无关的依赖矩阵Du的构建和重构，实现了板级电路中各项测试性指标的计算。
【专利说明】一种板级电路测试性指标计算方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于板级电路故障测试【技术领域】，更为具体地讲，涉及一种板级电路测试 性指标计算方法。
【背景技术】
[0002] 板级电路的系统级测试性指标包括是板级电路测试中的常用数据，包括最高故障 检测率（FDR)、最高故障隔离率（FIR)、当前选中测试的故障隔离率等。目前常用的系统级 测试性指标计算方法大都是基于依赖矩阵（D矩阵）的。D矩阵由被测系统多信号流图获 得，它反映了信号流关系、测试与故障模式、故障模式之间、测试之间的高阶依赖关系。获取 D矩阵的一般过程为：手动建立多信号流图，生成失效模式之间、测试之间、失效模式与测 试之间的高阶依赖关系，根据D矩阵进而开展测试优选与排序（序贯测试）。表1是D矩阵 的表格形式。
[0003]
【权利要求】
1. 一种板级电路测试性指标计算方法，其特征在于，包括以下步骤： 51 :根据测试信息数据库，结合电路中的器件信息，构建与信号流和位置无关的mXn 的依赖矩阵Du，具体方法为： 以|S|表示器件种类的数量，sx表示第X种器件，X的取值范围为
1；￡表 示第X种器件的故障概率；I Fx |表示第X种器件中的故障模式的数量；表示第X种故 障器件的第yx种故障模式，yx的取值范围为
表示第X种器件的第yx种 故障模式的概率；表示第X种器件的第yx种故障模式被第j个测试h的覆盖率，j的 取值范围为
表示测试的数量，h表示第j个测试的开销；
i的取值范围为
；根 据模块故障概率Px和各模块的故障模式概率进行换算得到依赖矩阵Du中第i种故障 模式的概率
52 :根据步骤S1得到的依赖矩阵Du和换算得到的概率Pi即可计算最高故障检测率，计 算公式为：
53 :对依赖矩阵Du进行重构，得到重构矩阵E，重构方法为：根据电路中的器件信 息得到电路中器件数量最多的器件种类，记其数量为N，初始化m' Xn'的重构矩阵 D'的每个元素值为0,其中
对于第X种器件中位于 第&号位置的器件，其中gx的取值范围为
为第X种器件的数量， 令
重构矩阵IV中的元素
的取值范围为
，j的取值范围为
；根据模块故 障概率Px和各模块的故障模式概率乂.,,.1进行换算得到重构矩阵D'中第i'种故障模式的 概率
S4:根据重构矩阵D'和换算得到概率pi;即可计算得到最高故障隔离率，计算公式 为：
S5 :根据需要选择测试，得到布尔向量
表示第j"种测试 被选中，tv = 0表示第y种测试未被选中，计算当前选中测试能达到的故障隔离率：
2. 根据权利要求1所述的板级电路测试性指标计算方法，其特征在于，所述步骤S5中 测试选择的方法为：根据需要设置测试性指标要求，测试性指标要求为最低故障检测率或 最低故障隔离率，设置粒子群规模Μ和最大迭代次数T max，采用自适应离散粒子算法得到最 优的布尔向量，其中每个粒子代表一种测试选择方案，每个粒子的适应度函数值为对应测 试选择方案的系统测试代价。
3. 根据权利要求2所述的板板级电路测试性指标计算方法，其特征在于，所述自适 应离散粒子算法中，记第r个粒子的位置向量为
，r的取值范围为
，Q表示粒子向量的维数，速度向量为
，其中第q个元素 v^j 的取值范围为
，初始位置向量<和速度向量 粒子的速度更新公式为：
其中，<第τ次迭代之后第r个粒子的位置，<、V广分别是第τ次、第τ+l次迭 代之后粒子的速度，α ρ α 2是加速常数，/?「、是[〇, 1]区间内的随机数；(为第 τ次迭代之后第r个粒子曾经达到过的最优位置；GbestT为第τ次迭代之后所有粒子达 到过的最优位置；^7为惯性系数，计算公式为：
其中，
，Κ是最优位置距离< 的自适应系数； 粒子的位置更新公式为：
其中，^+1表示第τ+1次迭代之后第r个粒子位置向量的第q个元素，l^1表示表示第 τ+l次迭代之后第r个粒子速度向量的第q个元素，rand表示一个随机产生的[0，1]区间 内的随机数，sig()为非线性作用函数，exp表示以常数e为底的指数函数。
4.根据权利要求3所述的板板级电路测试性指标计算方法，其特征在于，所述自适应 系数K = 2。
【文档编号】G06F19/00GK104063593SQ201410273011
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2014年6月18日 优先权日:2014年6月18日
【发明者】杨成林, 田书林, 刘震, 龙兵 申请人:电子科技大学