专利名称：：检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备的制作方法
技术领域：
：本发明涉及一种能够在一记录和再现盘上记录信息并从该盘再现信息的设备，尤其涉及一种检验盘记录和再现设备是否正常地产生或更新盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法以及用于执行该方法的测试设备。记录和再现盘是采用诸如激光束的光来记录和再现信息的光盘，例如是数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重写盘。根据“可重写盘DVD规范，部分1，物理规范版本2.0(DVDSpecificationsforRewritab1eDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”,DVD-RAM在其每侧包括4个DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4，用于管理其上的缺陷。如图1所示，DMA1和DMA2位于靠近盘内径的导入区，DMA3和DMA4位于靠近盘外经的导出区。每个DMA后跟随保留扇区。DMA中存储有盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有关盘格式结构的信息，例如盘认证标记、DDS/PDL更新计数器和每个区的开始逻辑扇区号。PDL包括有关在盘初始化期间在盘上检测到的所有缺陷扇区的信息。SDL包括有关在使用盘时出现的缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、有关被用来替代缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号的信息、以及有关备用区的信息。可以立即读取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面，DMA包括随盘上缺陷位置和数目变化的信息。此外，可通过基于DMA中所登记的缺陷信息来执行一算法来获得一些信息，例如，每个区域的开始扇区号或逻辑扇区号0的位置信息。为了防止由于DMA信息中的差错引起的错误的缺陷管理，因此在盘的每侧存在4个DMA。由于这种DMA信息与物理数据扇区紧密相关，因此，当不正确地写入或读出DMA信息时，诸如可移动光盘的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。这是因为，当将盘记录和再现设备(例如DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现体系结构分成文件系统层、用于将主计算机与记录和再现设备相接口的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动单元)层、和记录介质层时，在物理盘记录和再现设备层及其下面的层执行DMA信息的写入和读取。在实际的文件系统中，仅基于逻辑扇区号将要被记录或再现的用户信息发送到盘记录和再现设备，并且盘记录和再现设备将逻辑扇区号变换成物理扇区号，以记录或再现用户信息。在这种情况下，使用DMA信息。因此，当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时，在其他记录和再现设备上不能正确地读取或写入数据。因此，需要一种用于检验盘记录和再现设备是否正确地读取记录在盘上的信息并且将DMA信息正确地记录到盘上以产生或更新DMA信息的方法。为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法。本发明的第二目的是提供一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常地产生或更新盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法，其中该DMA信息是使用空白盘和用作测试基准的DMA镜像文件产生的。本发明的第三目的是提供一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常地产生或更新DMA信息的测试设备。为了实现本发明的上述和其他目的，提供了一种用于检验在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的方法。该方法包括下列步骤采用具有测试基准信息的测试盘，扩展记录和再现设备中测试盘的辅助备用区，并从测试盘中产生测试信息；和，将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。为了实现本发明的上述和其他目的，还提供了一种用于测试在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的设备。该设备包括测试盘，其具有测试基准信息；基准驱动器，用于在记录和再现设备在辅助备用区扩展模式下对测试盘进行处理之后，从测试盘产生测试信息；和检验器，用于将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。通过下面结合附图对优选实施例的描述，本发明的上述和其他目的和优点将会变得更加清楚，其中图1表示可重写盘的示意性配置；图2的框图表示本发明测试设备的功能；图3A至3D是由图2的检验器所具有的用于检验的详细检查表的示例；图4表示辅助备用区扩展的示例；图5表示本发明检验方法的流程图；和图6的框图表示图2所示的待测试驱动器。下面将通过下面结合示例性地示出示例的附图对本发明优选实施例进行详细描述，其中，相同部件采用相同标号。下面将参照附图描述实施例，以解释本发明。参照图2，测试设备包括C-1盘201、缺陷管理区(DMA)镜像文件提供器203、基准驱动器205、C-3盘207、待测试盘209、C-3’盘211、C-3’盘DMA镜像文件213、和检验器215。C-1盘201是测试盘，其具有故意的物理缺陷，目的是测试能够在诸如数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)的可重写盘上记录信息或由其再现信息的盘驱动器，并且C-1盘201基本上是其上未记录用户数据的空白盘。只要C-1盘201上未记录“信息”或其上未出现“故意缺陷”，则可将C-1盘201视作空白盘。因此，当测试盘驱动器时，将C-1盘201上的物理缺陷用作已知信息。另外，设计C-1盘201使之满足在“可重写盘DVD规范2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)”中所规定的容量为4.7千兆字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。DMA镜像文件提供器203提供作为测试基准信息的DMA镜像文件，该测试基准信息包括如图1所示的盘定义结构(DDS)信息、主缺陷列表(PDL)信息和次缺陷列表(SDL)信息，并满足辅助备用区(SSA)为满的条件。为了满足SSA为满的条件，配置测试基准DMA镜像文件，使得PDL中主备用区(PSA)的备用区满标记被设置成表示满状态的“1b”，并使得SDL中SSA的备用区满标记被设置成表示满状态的“1b”。在主缺陷的初始化或再初始化期间，在盘的用户数据区的第一部分设置PSA。在滑移(slipping)替换后余下的PSA被用于线性替换。当PSA不足时，在初始化或再初始化期间，或在使用盘的同时，另外指定或扩展SSA的尺寸。不给PSA和SSA指定逻辑扇区号。逻辑扇区号(LSN)与物理扇区号之间的关系随盘上的缺陷而改变。换言之，由于每当出现缺陷扇区时为PSA指定从区域的结尾到开头的一个扇区，因此LSN改变。有关采用滑移替换方式替换的缺陷扇区位置的信息被记录在PDL中。在线性替换期间使用SSA，其中，当在正使用的盘上检测到缺陷(次缺陷)时，纠错码(ECC)块被备用区中正常的块替换。对于线性替换期间盘上的LSN与物理扇区号之间的关系，当在将LSN指定为物理扇区号的扇区中检测到缺陷时，即当检测到次缺陷时，从可用SSA的结尾开始指定用于替换具有LSN的缺陷扇区的扇区。换言之，采用物理备用区中的一扇区来替换具有LSN的缺陷扇区。有关采用线性替换方式替换的缺陷扇区位置的信息被记录在DMA的SDL中。可这样配置测试基准DMA镜像文件，使得备用区满标记被设置成表示满状态的值，而不管PSA和SSA是否根据上述替换方式被填充数据。基准驱动器205是用于测试能够在盘上记录信息或从该盘再现信息的设备的改进的测试记录和再现设备。当将C-1盘201加载到基准驱动器205并且从DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件时，基准驱动器205在C-1盘201上记录的测试基准DMA镜像文件，以产生C-3盘207。测试基准DMA镜像文件被记录到C-1盘201上，而不管C-1盘201上的物理缺陷如何。因此，除物理缺陷之外，C-3盘207还包括测试基准DMA信息，该信息用于进行测试，而不管C-1盘201上的物理缺陷如何，因此，记录在C-3盘207上的测试基准DMA信息是用户已知的预先确定的(pre-firxed)信息。设计C-3盘207使之满足在“可重写盘DVD规范2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)”中所规定的容量为4.7千兆字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。当将其上扩展了SSA的C-3’盘211加载到基准驱动器205中时，基准驱动器205立即读取记录在C-3’盘211上的DMA信息，并根据DMA信息输出C-3’盘DMA镜像文件213，作为测试信息。该测试信息可以是C-3’盘DMA镜像文件213的一部分。可使用C-3’盘DMA镜像文件213的任何部分。待测试驱动器209是能够在可重写盘上记录信息和从该盘再现信息的记录和再现设备。当将C-3盘207加载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209在SSA扩展模式下执行一处理。因此，待测试驱动器209产生或更新C-3盘207上的DMA，以产生其上扩展了C-3盘207的SSA的C-3’盘211。与C-1盘201一样，C-3’盘211被设计成满足容量为4.7千兆(GB)字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。由待测试驱动器209产生的C-3’盘211被加载到基准驱动器205，并因此如上所述地输出测试信息。来自基准驱动器205的测试信息被提供给检验器215。在提供测试信息时，基准驱动器205可立即向检验器205提供测试信息。检验器215使用有关当待测试驱动器209在SSA扩展模式下对C-3盘207进行正常处理时所获得的DMA的所期望基准信息(期望值)，来检验C-3’盘DMA镜像文件213。所期望的基准信息可由检验器215根据从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件和先前提供的C-1盘211中所包含的物理缺陷信息来设置。另外，如图3A至3D所示，可预先准备和使用DMA信息表。图3A表示检验器215所能包括的用于DMA检验的检查表。该列表的检查项目包括DMA1至DMA4的差错条件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器、SDL1至SDL4中的SDL更新计数器、以及DMA1至DMA4中的内容。DMA项目中的差错条件用于检查DMA中是否存在差错，其中的两个位于导入区，另两个位于导出区。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA这4个DMA的任意一个中不能存在不能纠正的差错。如果在任意一个DMA中存在任何不能纠正的差错，则输出测试结果，以通知用户待测试驱动器209未能产生或更新C-3盘207的DMA。当DMA的产生或更新以失败告终时，用户需要采用另一测试盘从头重新测试。为了在再初始化时检验DDS/PDL和SDL更新计数器项目，检查表示4个DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新计数器值的“M+k”值，以查看值“M”是否为先前值和值“k”是否为“1”，因为当更新或重写DDS/PDL时每个DDS/PDL更新计数器值递增1。“先前值”是指待测试驱动器209执行辅助备用区的扩展之前的“M”值。还检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA中的8个DDS/PDL更新计数器的值是否相同。检查表示4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新计数器值的“N+k”值，以查看值“N”是否为先前值和值“k”是否为“1”，因为当更新或重写SDL时每个SDL更新计数器值递增1。“先前值”是指待测试驱动器209执行辅助备用区的扩展之前的“N”值。还检查4个SDL中的值是否相同。另外，还检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的内容是否相同。图3B表示检验器215可包括的用于DDS的检验的检查表。该列表的检查项目包括DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号(LSN0)位置、每个区域的开始LSN等。验证DDS标识符为“0A0Ah”。检查盘认证标记的一个字节中表示是否在进程中的比特位置b7的值是否为“0b”。如果比特位置b7的值为“0b”，则表明正在进行格式化。因此，当比特位置b7的值为“1b”时，检验器215确定格式化失败。此外，检查盘认证标记中保留的比特位置b6至b2是否全部为“0b”，并检查表示用户认证标记的比特位置b1的值是否为“1b”。还检查表示盘制造商认证标记的比特位置b0的值是否为“1b”。为了检验相应的DDS/PDL更新计数器，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否为先前值，并且表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为1，该增量表示DDS/PDL更新计数器“M”在测试前和测试后的差值。还检查组数的值是否为表示组数为“1”的“0001h”，并且区域数的值是否为表示区域数为35的“0023h”。另外，检查主备用区中第一扇区号是否为“031000h”和主备用区中最后的扇区号是否为“0341FFh”。检查是否根据在PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始LSN(LSN0)，即第二区域(区域1)至第35区域(区域34)的开始LSN的位置。在PDL中登记的缺陷覆盖C-1盘201上的物理缺陷和从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中登记的缺陷。检查DDS结构中剩余的保留区域(字节位置396至2047)是否全部为“00h”。如图3C所示，用于检验PDL结构的检查项目包括PDL标识符、PDL中项目数、PDL项目的完整性(integrity)、和未使用区域。检查PDL标识符是否为“0001h”。PDL中的项目数是C-1盘201上物理缺陷数与从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中登记的缺陷数之和。为了检验每个PDL项目中的完整性，检查项目的类型和有缺陷的扇区号。对于PDL项目类型，检查表示C-3盘207上存在的已知的P列表的“00b”、表示在用户认证期间检测到的有缺陷扇区的G1列表的“10b”、以及表示由于SDL变换引起的G2列表的“11b”是否与测试基准DMA镜像文件中的那些相同。检查PDL中有缺陷的扇区号是否以递增顺序写入。此外，还检查未使用区域是否设置成“FFh”。如图3D所示，用于检验SDL结构的检查项目包括SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、保留区域等。检查SDL标识符是否为“0002h”。为了检验相应的SDL更新计数器的项目，检查表示SDL更新计数器值的值N是否为先前值，并且表示SDL更新计数器增量的值k是否为1，该增量表示DDS/PDL更新计数器“N”在测试前和测试后的差值。为了检验相应的DDS/PDL更新计数器的项目，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否为先前值，并且表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为1。检查备用区满标记是否表示次备用区为不满，因为当待测试驱动器209扩展SSA时SSA满标记被设置成表示不满状态的值。当测试基准DMA镜像文件包括有关用于扩展SSA的可用区域的信息时，待测试驱动器209要将C-3盘207的SSA扩展预定区域，如图4所示。因此，通过检查SSA的开始扇区号和逻辑上读取总数来检验是否正常地执行了SSA的扩展。当测试基准DMA镜像文件包括有关最大可用SSA的信息时，待测试驱动器209应采用有关最大可用SSA的信息来计算当前SSA和SSA的额外的可指定区域，并扩展SSA。待测试驱动器209还应在DDS中记录有关扩展的信息。因此，检查是否正常地执行该扩展。与此同时，由于备用区未被指定LSN并且其不包括在文件系统区域中，因此，当扩展SSA时，文件系统信息改变。这是因为，包括文件系统区域的尺寸的文件系统信息通常记录在卷区域的开始和结尾部分上，因此，其上记录有文件系统信息的位置可能改变，如图4所示。因此，最好检查在验证SSA被适当地扩展时文件系统信息是否被正确地更新。由于已知SDL的总使用区域，因此，如果检查SDL中的项目数，则可确定SDL的未使用区域尺寸。因此，检查C-3’盘DMA镜像文件213的未使用区域尺寸是否等于基于SDL中项目数的SDL的未使用区域尺寸，并且还检查未使用区域是否被设置成“FFh”。另外，还检查所有保留区域的期望值是否为“00h”如上所述，通过检查C-3’盘DMA镜像文件213中所包含的信息是否与预定的基准信息相一致，检验器215检验待测试驱动器209在根据从C-3盘207中读出的DMA扩展SSA后是否正常地产生或更新DMA。检查结果可显示给用户。为此，本发明可包括显示单元。因此，能够通知用户在SSA扩展模式下待测试驱动器209是否正常地读取和产生或更新DMA信息。图5是本发明的检验方法的流程图。在步骤501，通过在满足图2所示条件的C-1盘201上记录满足图2所示条件的测试基准DMA镜像文件，产生C-3盘207。接下来，在步骤502，将C-3盘207加载到待测试驱动器209。在步骤S503，待测试驱动器209在预定的SSA扩展模式下对C-3盘207进行处理。在步骤504，从具有扩展的SSA的C-3’盘211中读出DMA信息，并根据该DMA信息来产生C-3’盘DMA镜像文件213作为测试信息。在步骤505，检验C-3’盘DMA镜像文件213。该检验是以由图2所示检验器215执行的相同的方式采用期望的基准信息(或期望值)来执行的。在完成检验之后，在步骤506输出检验结果，从而用户能够评估待测试驱动器209的性能。图6表示的待测试驱动器110具有用于发出光的光源22、用于将来自光源的光聚焦到盘D时的聚焦部件24、和用于控制光源22的控制器26。上述检验处理试图检验控制器26的适当操作。如上所述，在本发明中，在SSA扩展模式下，待测试驱动器对采用其上未记录信息的空白盘(C-1盘)产生的测试盘(C-3盘)和用于测试SSA扩展的基准DMA镜像文件进行处理，从而使得用户能够在SSA扩展模式下检验待测试驱动器是否正常地读取和产生或更新DMA信息。另外，根据本发明，用户自己就可生成测试盘，从而由于不需制造商生产和提供测试盘而降低成本。用户可采用基准驱动器、DMA镜像文件提供器和C-1盘来生成C-3盘。尽管已图示和描述了本发明的几个优选实施例，但是，本领域内的普通技术人员可在不背离本发明原理和宗旨的前提下对实施例进行修改，本发明的范围由其权利要求书和其等同物限定。权利要求1.一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的方法，该方法包括下列步骤采用具有测试基准信息的测试盘，扩展记录和再现设备中测试盘的辅助备用区，并从测试盘中产生测试信息；和将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，以提供对测试信息的检验结果。2.如权利要求1所述的方法，其中所述测试基准信息是镜像文件。3.如权利要求2所述的方法，其中，所述测试基准信息具有被设置成表示次备用区为满的值的备用区满标记。4.如权利要求3所述的方法，其中所述测试信息是镜像文件。5.如权利要求3所述的方法，其中所述测试信息是直接从测试盘上的DMA读取的。6.如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括检验所述测试信息中DMA的结构；检验所述测试信息的盘定义结构(DDS)；检验所述测试信息的主缺陷列表(PDL)结构；和检验所述测试信息的次缺陷列表(SDL)结构。7.如权利要求6所述的方法，其中检验DMA结构的步骤包括检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区；检查4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”，并且DDS/PDL更新计数器的值是否相同；检查4个SDL中SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”，并且SDL更新计数器的值是否相同；和检查4个DMA的内容是否相同。8.如权利要求6所述的方法，其中检验DDS的步骤包括检查DDS标识符是否为预定值；检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，并且表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”；检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”；检查组数是否为预定值；检查区域数是否为预定值；分别检查主备用区的第一和最后扇区号是否为预定的扇区号；检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置；和检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。9.如权利要求6所述的方法，其中检验PDL结构的步骤包括检查PDL标识符是否为预定值；检查PDL中的项目数是否与测试基准信息的PDL中登记的缺陷数相同；和检查PDL项目的完整性中所包括的缺陷列表是否与测试基准信息中的相同。10.如权利要求6所述的方法，其中检验SDL结构的步骤包括检查SDL标识符是否为预定值；检查SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”；检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”；检查是否根据由用户指定的次备用区(SSA)的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数；和检查备用区满标记是否表示SSA为不满。11.如权利要求1所述的方法，还包括将测试基准信息记录到空白盘上，以产生测试盘。12.如权利要求11所述的方法，其中所述测试基准信息记录到空白盘上，而不管空白盘的物理条件如何。13.如权利要求1所述的方法，其中，扩展辅助备用区的步骤包括，产生测试信息，从而测试盘的文件系统信息被包含在测试信息中；和比较步骤包括，检验测试信息中所包含的文件系统信息是否被正确地更新。14.一种用于测试在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的设备，包括基准驱动器，用于在记录和再现设备在辅助备用区扩展模式下对测试盘进行处理之后，从测试盘产生测试信息；和检验器，用于将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，以提供对测试信息的检验结果。15.如权利要求14所述的设备，其中所述测试基准信息是镜像文件。16.如权利要求15所述的设备，其中，所述测试基准信息具有被设置成表示次备用区为满的值的备用区满标记。17.如权利要求16所述的设备，其中所述测试信息是镜像文件。18.如权利要求16所述的设备，其中所述测试信息是直接从测试盘上的DMA读取的。19.如权利要求18所述的设备，其中所述检验器检验所述测试信息中DMA的结构、所述测试信息的盘定义结构(DDS)、所述测试信息的主缺陷列表(PDL)结构；和所述测试信息的次缺陷列表(SDL)结构。20.如权利要求19所述的设备，其中为了检验DMA结构，所述检验器检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区，检查4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”,DDS/PDL更新计数器的值是否相同，4个SDL中SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”,SDL更新计数器的值是否相同，和4个DMA的内容是否相同。21.如权利要求19所述的设备，其中为了检验DDS，检验器检查DDS标识符是否为预定值，盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”，DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”，组数是否为预定值，区域数是否为预定值，主备用区的第一和最后扇区号是否分别为预定的扇区号，是否根据PDL中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置，和是否根据PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。22.如权利要求19所述的设备，其中为了检验PDL结构，所述检验器检查PDL标识符是否为预定值，PDL中的项目数是否与测试基准信息的PDL中登记的缺陷数相同，和PDL项目的完整性中所包括的缺陷列表是否与测试基准信息中的相同。23.如权利要求19所述的设备，其中为了检验SDL结构，所述检验器检查SDL标识符是否为预定值，并检查表示在扩展辅助备用区之前和之后的SDL更新计数器的差值的SDL更新计数器值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”,DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”，是否根据由用户指定的次备用区(SSA)的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数，和备用区满标记是否表示SSA为不满。24.如权利要求14所述的设备，其中所述基准驱动器产生测试信息，从而测试信息中包括其上未扩展辅助备用区的测试盘的文件系统信息，并且所述检验器检验测试信息中所包括的文件系统信息是否被正确地更新。25.如权利要求14所述的设备，其中基准驱动器将测试基准信息记录到空白盘上，以产生测试盘。26.如权利要求25所述的设备，其中所述基准驱动器将测试基准信息记录到空白盘上，而不管空白盘的物理条件如何。27.一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备中是否适当地产生或更新DMA信息的方法，该方法包括下列步骤根据辅助备用区扩展测试模式来设置测试基准；根据所述辅助备用区扩展测试模式来从DMA信息中产生测试信息，所述DMA信息是由所述记录和再现设备产生或更新的；和在再初始化测试模式下，采用测试基准来执行用于检验测试信息的测试。28.如权利要求27所述的方法，其中所述测试信息是DMA镜像文件。29.如权利要求27所述的方法，其中所述测试信息是直接从被用于测试的盘上的DMA区域读取的。30.如权利要求27所述的方法，其中产生测试信息的步骤包括记录DMA的预先确定的内容，并选择具有足够的次缺陷列表(SDL)缺陷的DMA镜像文件，以填充辅助备用区。31.如权利要求30所述的方法，还包括通过在空白盘上形成已知的物理缺陷，来得到第一测试盘；和通过在第一测试盘上记录DMA的预先确定的内容来得到第二测试盘，在第一测试盘中记录表示辅助备用区为满的镜像文件，并且在产生测试信息时采用的第二测试盘。32.如权利要求31所述的方法，其中，执行测试的步骤包括检查第二测试盘的DMA信息是否与具有预定文件系统的预定DMA结构相一致。33.一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备中是否适当地产生或更新DMA的方法，该方法包括下列步骤根据所述辅助备用区扩展测试模式来从DMA信息中产生测试信息，所述DMA信息是由所述记录和再现设备产生或更新的；和采用用于检验DMA信息的测试基准来检验测试信息。34.如权利要求33所述的方法，其中所述测试信息是DMA镜像文件。35.一种用于测试在具有缺陷管理区域(DMA)信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查DMA信息是否被适当地产生或更新的设备，包括改进的驱动器单元，用于从测试盘的产生或更新的DMA信息中产生测试信息，它是在记录和再现设备相应于辅助备用区的扩展对具有DMA镜像文件的测试盘上的辅助备用区进行扩展后得到的；和检验器，用于相应于辅助备用区的扩展将测试信息与预定的测试信息相比较，以检验测试结果。36.如权利要求35所述的设备，其中所述测试信息是DMA镜像文件。37.如权利要求35所述的设备，其中所述改进的驱动单元从测试盘上的DMA区域读取测试信息，并将该测试信息提供给检验器。38.如权利要求37所述的设备，其中测试盘是在第一测试盘上记录有DMA的预先确定的内容的第二测试盘，第一测试盘是通过在空白盘上形成已知的物理缺陷而得到的，在第一测试盘中记录具有用于填充辅助备用区的足够的次缺陷列表(SDL)缺陷的镜像文件。39.一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括下列步骤采用再现和记录设备扩展包含预定缺陷信息的测试盘上的辅助备用区，以测试测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。40.如权利要求39所述的方法，还包括得知空白盘中预定位置上的物理缺陷，以产生第一测试盘；通过在第一测试盘中记录DMA的预先确定的内容，得到第二测试盘，在第一测试盘中记录具有用于填充辅助备用区的足够的次缺陷列表(SDL)缺陷的镜像文件；使记录和再现设备对第二测试盘进行辅助备用区的扩展，以产生具有DMA信息的第二测试盘；和采用基准驱动器从具有DMA信息的第二测试盘仅读取DMA信息，以产生测试DMA镜像文件作为测试信息，其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。41.如权利要求40所述的方法，其中所述比较步骤包括检查第二测试盘的DMA信息是否与预定的DMA结构相一致，检查是否保持P列表，检查与第一测试盘的已知缺陷相同的缺陷列表，和检查第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。42.一种检验记录和再现设备是否适当地翻译和处理缺陷信息的方法，包括下列步骤准备具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘；通过使记录和再现设备对测试盘进行辅助备用区扩展，来产生测试信息；和对测试信息进行检验测试。43.一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括下列步骤采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘执行辅助备用区扩展，以产生DMA信息；根据所产生的DMA信息产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。44.如权利要求43所述的方法，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。45.一种由记录和再现设备采用下列处理步骤适当地产生的DMA信息，该处理步骤包括采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘执行辅助备用区扩展，以产生DMA信息；根据所产生的DMA信息产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。46.如权利要求45所述的DMA信息，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。47.一种按照下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘执行辅助备用区扩展，以产生DMA信息；根据所产生的DMA信息产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。48.如权利要求47所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。49.一种采用下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘执行辅助备用区扩展，以产生DMA信息；将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。50.如权利要求49所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。51.一种用于测试在具有缺陷管理区域信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查DMA信息是否被适当地产生的设备，包括改进的驱动器单元，用于采用记录和再现设备，根据再现装置通过对包含已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘执行辅助备用区扩展而产生的测试盘的DMA信息，来产生测试信息，以产生DMA信息；和检验器，用于将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。52.如权利要求51所述的设备，其中改进的驱动器单元仅从具有DMA信息的测试盘读取DMA信息，以产生DMA镜像文件作为测试信息，其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。53.如权利要求51所述的设备，其中，通过在具有已知的物理缺陷的第一测试盘上记录DMA的预先确定的内容，并且记录具有用于填充辅助备用区的足够的次缺陷列表(SDL)缺陷的测试基准DMA镜像文件，改进的驱动器单元产生第二测试盘；所述记录和再现设备对第二测试盘执行辅助备用区的扩展，以产生具有DMA信息的第二测试盘；和所述改进的驱动器单元仅从具有DMA信息的第二测试盘读取DMA信息，以产生测试DMA镜像文件作为测试信息，其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。54.如权利要求53所述的设备，其中所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否与预定的DMA结构相一致，检查是否保持P列表，检查与第一测试盘的已知缺陷相同的缺陷列表，和检查第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。55.如权利要求53所述的设备，其中通过检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构，所述检验器比较测试信息和基准测试信息。56.如权利要求35所述的设备，还包括DMA镜像文件提供器，其向检验器提供基准测试信息，以比较测试信息和基准测试信息。57.如权利要求47所述的设备，还包括DMA镜像文件提供器，其向检验器提供基准测试信息，以比较DMA镜像文件和基准DMA镜像文件。58.一种制造相一致的记录和再现设备的方法，包括下列步骤制造更新和产生缺陷管理区(DMA)信息的未认证的记录和再现设备；和检验所述未认证的记录和再现设备是否与标准相一致，所述检验标准包括采用记录和再现设备，对包含预定缺陷信息和测试基准DMA信息的测试盘执行辅助备用区扩展，以产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验，所述检验表示所述未认证的记录和再现设备是否与标准相一致。59.如权利要求58所述的方法，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。60.一种用于记录和再现光盘上的信息的盘记录和再现设备，包括光源，用于发出光；聚焦部件，用于将光聚焦到光盘上，以记录和再现信息；和控制器，用于控制所述光源，通过如下处理来检验所述控制器，以更新和产生缺陷管理区(DMA)信息，即，采用记录和再现设备，对包含预定的缺陷信息和测试基准DMA信息的测试盘执行辅助备用区扩展，以产生测试信息，和，将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。61.如权利要求60所述的盘记录和再现设备，其中所述比较包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。62.一种用于记录和再现光盘上的信息的盘记录和再现设备，包括光源，用于发出光；聚焦部件，用于将光聚焦到光盘上，以记录和再现信息；和控制器，用于控制所述光源，和在对光盘执行辅助备用区扩展之后更新和产生缺陷管理区信息，从而缺陷管理区信息与标准相一致。63.如权利要求62所述的盘记录和再现设备，其中所述控制器检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。64.如权利要求8所述的方法，其中所述检验DDS的步骤还包括检查剩余的保留区域是否具有预定值。65.如权利要求9所述的方法，其中所述检验PDL的步骤还包括检查未使用的区域是否是预定值。66.如权利要求43所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件具有表示主备用区为满的第一备用区满标记和表示次备用区志满标记为满的第二备用区满标记。67.如权利要求51所述的记录和再现设备，其中所述测试基准信息具有表示主备用区为满的第一备用区满标记和表示次备用区志满标记为满的第二备用区满标记。68.如权利要求47所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件具有表示主备用区为满的第一备用区满标记和表示次备用区志满标记为满的第二备用区满标记。69.如权利要求51所述的记录和再现设备，其中所述测试基准DMA镜像文件具有表示主备用区为满的第一备用区满标记和表示次备用区志满标记为满的第二备用区满标记。70.如权利要求58所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件具有表示主备用区为满的第一备用区满标记和表示次备用区志满标记为满的第二备用区满标记。71.如权利要求27所述的方法，其中所述测试基准具有包括有关次备用区最大可用量的信息，并且所述执行步骤包括检查当前的次备用区和采用有关次备用区最大可用量的信息的额外的可指定备用区是否被正确地确定。72.如权利要求71所述的方法，其中所述执行步骤包括检查在扩展辅助备用区时是否正确地更新DMA的文件系统信息。73.如权利要求35所述的设备，其中，所述DMA镜像文件具有有关次备用区最大可用量的信息，并且所述检验器检查当前的次备用区和采用有关次备用区最大可用量的信息的额外的可指定备用区是否被正确地确定。74.如权利要求73所述的设备，其中所述检验器检查在扩展辅助备用区时是否正确地更新DMA的文件系统信息。75.如权利要求45所述的DMA镜像信息，其中所述测试基准DMA镜像文件具有有关次备用区最大可用量的信息，并且所述比较步骤包括检查当前的次备用区和采用有关次备用区最大可用量的信息的额外的可指定备用区是否被正确地确定。76.如权利要求75所述的DMA镜像信息，其中所述比较步骤包括检查在扩展辅助备用区时是否正确地更新DMA的文件系统信息。77.如权利要求58所述的方法，其中所述DMA镜像文件具有有关次备用区最大可用量的信息，并且所述比较步骤包括检查当前的次备用区和采用有关次备用区最大可用量的信息的额外的可指定备用区是否被正确地确定。78.如权利要求75所述的方法，其中所述比较步骤包括检查在扩展辅助备用区时是否正确地更新DMA的文件系统信息。全文摘要一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法及其测试设备。该方法包括下列步骤:采用具有测试基准信息的测试盘,在记录和再现设备中扩展测试盘的辅助备用区,并从测试盘中产生测试信息;和将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。因此,可容易地检验当扩展辅助备用区时记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能。文档编号G11B27/00GK1320923SQ0111620公开日2001年11月7日申请日期2001年4月6日优先权日2000年4月8日发明者高祯完,郑铉权申请人:三星电子株式会社