专利名称：像差检测方法和使用其的光记录再现方法与光记录再现装置的制作方法
发明领域本发明涉及检测出光拾取装置的会聚光学系统中产生的像差的像差检测方法和使用该像差检测方法的光记录再现方法和光记录再现装置。
背景技术：
近年来，要求信息量增大并且提高光盘的记录密度。光盘的高记录密度化通过提高光盘的信息记录层的线记录密度和使轨道的间距狭窄化来执行。为对应于该光盘的光记录密度化，需要减小该光盘的信息记录层上会聚的光束的光斑直径。
作为减小光束的光斑直径的方法，考虑有增大从作为对光盘进行记录再现的光拾取装置的会聚光学系统的物镜照射的光束的数值孔径(NANumericalAperture)和使光束短波长化。
关于光束的短波长化，考虑通过将光源从红色半导体激光器变更为商品上开发出的蓝紫色半导体激光器来实现。
另一方面，作为实现高数值孔径的物镜的方法，提出在物镜中组合半球透镜，用2块透镜(2组透镜)构成物镜来实现高数值孔径的方法。
一般地，光盘中，为保护信息记录层不受尘土、划伤的影响，信息记录层用盖层玻璃覆盖。因此，透过光拾取装置的物镜的光束通过盖层玻璃，在其下的信息记录层上会聚并结为焦点。
光束通过盖层玻璃时，产生球面像差(SASpherical Aberration)。球面像差如下式所示SA∝d·NA4.........(1)和盖层玻璃的厚度d和物镜的NA的4次方成比例。通常，物镜设置成抵消该球面像差，因此通过物镜和盖层玻璃的光束的球面像差非常小。
但是，盖层玻璃的厚度与预定的值偏离时，信息记录层上会聚的光束中产生球面像差，光束直径变大，出现不能正确读写信息的问题。
通过上述式(1)可知，盖层玻璃的厚度误差Δd越大，球面像差ΔSA越大，越不能正确读写信息。
作为为向光盘厚度方向进行记录信息的高密度化，层叠信息记录层来形成的多层光盘，例如信息记录层为2层数的DVD(Digital Veratile Disc)已经商品化。对这种多层光盘进行记录再现的光拾取装置需要对光盘的每个信息记录层将光束会聚到非常小。
上述这种信息记录层在多层光盘中，从该光盘的表面(盖层玻璃表面)到各信息记录层的厚度分别不同，因此光束通过光盘的盖层玻璃时产生的球面像差在各信息记录层中是不同的。此时，例如相邻的信息记录层产生的球面像差的差异(误差ΔSA)通过式(1)与相邻的信息记录层的层间距离t(相当于d)成比例。
信息记录层为2层的DVD中，光拾取装置的物镜的NA小到0.6左右，因此，从上述式(1)可知，即便盖层玻璃厚度误差Δd稍微变大，对球面像差的误差ΔS的影响也很小。
因此，在使用现有数值孔径NA为0.6左右的光拾取装置的DVD装置中，DVD的盖层玻璃厚度误差Δd产生的球面像差的误差ΔSA减小，可将在每个信息记录层上会聚的光束会聚到非常小。
然而，即使盖层玻璃的厚度误差Δd相等，NA越大，产生越大的球面像差SA。例如，与NA＝0.6相比，NA＝0.85，产生约4倍的球面像差SA。因此，通过上述式(1)可知，像NA＝0.85，NA越高，盖层玻璃的厚度误差产生的球面像差越大。
同样，多层光盘的情况下，相邻的信息记录层的层间距离t相等，光拾取装置的物镜的NA越大，产生的球面像差的差异(误差ΔSA)越大。例如，与NA＝0.6相比，NA＝0.85，产生约4倍的球面像差的差异。因此，通过上述式(1)可知，像NA＝0.85，NA越高，每个信息记录层的球面像差的差异越大。
从而，在高NA的物镜中，不能忽略球面像差的误差的影响，产生导致信息读取精度降低的问题。因此，使用高NA的物镜实现高记录密度化需要校正球面像差。
这样，作为检测并校正球面像差的方法，例如日本公开特许公报“特开平2000-171346号公报(
公开日2000年6月23日)”中公开检测并校正上述球面像差的光拾取装置。该光拾取装置中，光盘的信息记录层上会聚光束时，由于球面像差，光束的光轴附近的光束和比光轴附近外侧的光束利用光束的会聚位置不同的光束。
根据上述公报中公开的光拾取装置，用全息件等光学元件将检测的光束分离为光束的光轴附近的光束和比光轴附近外侧的光束，在球面像差产生时检测出某一方的光束的信息记录层的会聚位置的偏差，根据该检测结果校正球面像差，可将光盘的每个信息记录层上会聚的光束的直径作到非常小。
但是，光记录媒体中形成用于记录信息等的例如脊、槽或坑。这些脊、槽或坑的宽度需要由通过光束照射在该光记录媒体上形成的光斑可靠捕捉到，因此按比光斑直径小的宽度形成。
因此，照射到光记录媒体上的光束为包含通过成为该光记录媒体表面的凹凸的脊、槽或坑的次数不同的衍射光的反射光，返回构成光拾取装置中备有的会聚光学系统的物镜。例如图6所示，由光盘的脊、槽反射的光为次数不同的衍射光(0次光、±1次光)重叠的状态，返回物镜。
这样，次数不同的衍射光，即0次光和±1次光重叠的状态的反射光返回到会聚光学系统的物镜时，出现该反射光的光强度降低，该会聚光学系统产生的球面像差的检测灵敏度降低的问题。
适当向光记录媒体进行信息的记录再现中，即便是对光记录媒体进行信息的记录再现当中也需要检测并校正球面像差。
但是，对光记录媒体进行信息的记录再现当中检测并校正球面像差需要复杂的控制，在对光记录媒体进行信息的记录再现时出现难以适当检测出球面像差的问题。
发明概要本发明的目的在于提供提高会聚光学系统产生的球面像差的检测灵敏度的像差检测方法和使用该像差检测方法，即便在对光记录媒体进行信息的记录再现时也能通过简单控制检测并校正球面像差的光记录再现方法和光记录再现装置。
为达到上述目的，本发明的像差检测方法的特征在于将通过光拾取装置上备有的会聚光学系统的光束照射到上述光记录媒体的平坦区域，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差。
一般地，光记录媒体上形成信息记录再现需要的槽和脊或者坑，槽宽度、脊宽度、坑宽度比照射的光束的光斑直径小时，反射光中包含槽、脊或坑产生的次数不同的衍射光(0次光和±1次衍射光等)。这种反射光降低光强度，并且降低会聚光学系统产生的像差的检测灵敏度。这里所谓像差主要表示球面像差。
与此相反，来自光记录媒体的未形成槽、脊或坑的平坦区域的反射光仅是0次光，因此防止光强度降低的同时，可提高会聚光学系统产生的像差的检测灵敏度。
因此，如上述构成，使用来自上述光记录媒体的平坦区域的光束的反射光来进行光拾取装置的会聚光学系统中产生的像差的检测，可提高像差检测的灵敏度。
为达到上述目的，本发明的光记录再现方法是使用光拾取装置对光记录媒体进行信息记录再现的同时，将通过上述光拾取装置上备有的会聚光学系统的光束照射到上述光记录媒体，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差，其特征在于对上述光记录媒体进行信息的记录再现时，特定该光记录媒体中存在的平坦部，在该特定的平坦部上照射通过上述会聚光学系统的光束，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差。
根据上述构成，特定会聚光学系统中产生的像差的检测中使用的平坦部，使用来自特定的平坦部的光束的反射光检测会聚光学系统中产生的像差，从而即便对光记录媒体进行信息的记录再现时，也可不进行复杂的控制，简单且灵敏地检测出会聚光学系统产生的像差。
为达到上述目的，本发明的光记录再现装置，具有对光记录媒体光学地进行信息的记录再现的光拾取装置；将通过上述光拾取装置上备有的会聚光学系统的光束照射到上述光记录媒体，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差的像差检测电路；特定上述光记录媒体中存在的平坦部的平坦部特定电路，其特征在于上述像差检测电路根据来自上述平坦部特定电路特定的平坦部的反射光检测像差。
根据上述构成，对光记录媒体进行信息的记录再现时，通过来自像差检测电路平坦部特定电路特定的光记录媒体上存在的平坦部的反射光，即衍射光影响小的反射光，可灵敏地进行像差检测。
本发明的其他目的、特征和优点通过下面的记载变得明了。本发明的有利方面通过参考附图的下面的说明而变得清楚。
附图的简要说明
图1是本发明的一个实施例的光记录再现装置的简要构成框图；图2是图1所示的光记录再现装置备有的光拾取装置的简要构成图；图3是图1所示的光记录再现装置备有的检测装置的简要构成图；图4是表示光盘的平坦部反射的光束与光盘的脊、槽反射的光束产生的球面像差信号的变化的曲线；图5是表示光盘的记录区域中存在的镜面部的一例的图；图6是表示光盘的脊、槽反射的光束产生衍射光的状况的说明图。
发明的实施例本发明的一个实施例如下所述。本实施例中，说明将检测出构成光拾取装置的会聚光学系统中产生的球面像差的像差检测方法和使用其的光记录再现方法适用于备有该光拾取装置的光记录再现装置中的例子。
如图1所示，本实施例的光记录再现装置包括旋转驱动作为光记录媒体的光盘6的主轴电机62、在光盘6上记录再现信息的光拾取装置10、驱动控制上述主轴电机62和光拾取装置10的驱动控制部51。
上述光拾取装置10具有作为向光盘6照射光束的光源的半导体激光器1、全息件2、准直透镜3、作为会聚光学系统的2要素物镜9和检测装置7，8。
上述2要素物镜9和准直透镜3之间设置将来自2要素物镜9的光束或来自准直透镜3的光束光路约折射90度的镜面63。
另外，上述2要素物镜9结构为从来自半导体激光器1的光束照射侧开始顺序配置透镜第一要素4、透镜第二要素5。
上述透镜第一要素4由夹持器52保持在周边部。该夹持器52的外周部上设置聚焦·致动器53和跟踪·致动器64。
由上述聚焦·致动器53将2要素物镜9移动到光轴方向的适当位置并进行合焦控制。由跟踪·致动器64将2要素物镜9在径向(光盘6上形成的轨道方向和与光轴方向垂直的方向)移动并进行跟踪控制。
通过正确驱动控制上述跟踪·致动器64可使光束正确跟踪光盘6的信息轨道。
上述透镜第二要素5由夹持器54保持在周边部。与该夹持器54的外周部相对的夹持器52的内周面上设置在光轴方向移动上述透镜第二要素5的第二要素致动器55。通过驱动控制该第二要素致动器55可调整透镜第一要素4和透镜第二要素5之间的间隔，校正光拾取装置10的会聚光学系统产生的球面像差。
上述驱动控制部51具有驱动控制上述主轴电机62的主轴电机驱动电路56、驱动控制上述聚焦·致动器53的聚焦驱动电路57、驱动控制上述跟踪·致动器64的跟踪驱动电路61、驱动控制上述第二要素致动器55的第二要素驱动电路58，还具有从上述检测装置7，8得到的信号生成对上述各控制电路的控制信号的控制信号生成电路59、从上述检测装置7，8得到的信号再现光盘6中记录的信息并生成再现信号的信息再现电路60。
上述控制信号生成电路59根据从上述检测装置7，8得到的信号生成跟踪误差信号TES、聚焦误差信号FES、球面像差信号SAES，跟踪误差信号TES输出到跟踪驱动电路61、聚焦误差信号FES输出到聚焦驱动电路57、球面像差信号SAES输出到第二要素驱动电路58。并且，各驱动电路中，根据各误差信号进行各部件的驱动控制。
例如，聚焦驱动电路57中，输入聚焦误差信号FES，则根据该FES的值在光轴方向上移动2要素物镜9，驱动控制聚焦·致动器53来校正该2要素物镜9的焦点位置偏离。
第二要素驱动电路58中，输入球面像差信号SAES，则根据该SAES的值在光轴方向上移动透镜第二要素5，驱动控制第二要素致动器55，以校正光拾取装置10的光学系统产生的球面像差。但是用球面像差校正机构校正球面像差时，固定2要素透镜9的透镜第一要素4和透镜第二要素5之间的间隔，根据输入到该球面像差校正机构的球面像差信号SAES的值，校正球面像差。
这里，参考图2在下面详细说明上述光拾取装置10的细节。为说明方便，图2所示的光拾取装置10中，省略了图1所示的镜面63。
上述光拾取装置10中，全息件2、准直透镜3、构成2要素物镜9的透镜第1要素4、透镜第2要素5配置在半导体激光器1的光束照射面和光盘的光束反射面之间形成的光轴OZ上，检测装置7，8配置在上述全息件2的衍射光的焦点位置上。
即，上述构成的光拾取装置10中，从半导体激光器1照射的光束作为0次衍射光经全息件2通过、由准直透镜3变换为平行光后，通过2个透镜第1要素4、透镜第2要素5构成的2要素物镜9会聚在光盘6上的信息记录层6c或6d。
另一方面，光盘6的信息记录层6c或6d反射的光束按2要素物镜9的透镜第2要素5、透镜第1要素4、准直透镜3的顺序依次通过各部件入射到全息件2，在全息件2衍射并会聚在检测装置7，8。
上述检测装置7具有第一光接收部7a、第二光接收部7b，检测装置8具有第三光接收部7c、第四光接收部7d，会聚的光束通过这些检测装置7，8变换为电信号。
上述光盘6由盖层玻璃6a、基板6b和盖层玻璃6a、基板6b之间形成的2个信息记录层6c、6d构成。即，光盘6是2层盘，本光拾取装置10通过在信息记录层6c或6d上会聚光束从各信息记录层再现信息，向各信息记录层记录信息。
因此，下面说明中，光盘6的信息记录层表示信息记录层6c或6d，光拾取装置10在哪个信息记录层上会聚光束都可记录或再现信息。
上述全息件2具有4个区域2a，2b，2c，2d。
第一区域2a是与光轴OZ正交的第一直线CL1和以光轴OZ为中心的第一圆E1和第二圆弧E2包围的区域。
第二区域2b是上述第一直线CL1和上述第二圆E2包围的区域。
第三区域2c和第四区域2d是上述第一圆E1的第一区域2a和第二区域2b的形成面的相反侧的区域与光轴OZ正交并且由与第一直线CL正交的第二直线CL2分割的区域。
上述全息件2将来自半导体激光器1侧的射出光作为0次衍射光透过光盘6侧、衍射来自光盘6侧的反射光并导向检测装置7，8。
并且，全息件2形成为衍射从光盘6侧通过该全息件2的光束，在各区域中会聚在不同的点。
即，光盘6的信息记录层反射的光束中全息件2的第一区域2a衍射的第一光束用检测装置7的第一光接收部7a形成会聚光斑，全息件2的第二区域2b衍射的第二光束用检测装置7的第二光接收部7b形成会聚光斑，全息件2的第三区域2c衍射的第三光束用检测装置8的第三光接收部8a形成会聚光斑，全息件2的第四区域2d衍射的第四光束用检测装置8的第四光接收部8b形成会聚光斑。
这里，检测装置7，8的细节参考图3在下面详细说明。
如图3所示，检测装置7并列形成上述2个光接收部(第一光接收部7a、第二光接收部7b)，检测装置8并列形成上述2个光接收部(第三光接收部8a、第四光接收部8b)。
第一光接收部7a、第二光接收部7b分别具有两个分割的光检测器11a，11b和12a，12b。并且，各光接收部配置成在各光检测器的分割线上形成第一、第二光束的会聚光斑，将光束变换为电信号。
第三光接收部8a、第四光接收部8b分别具有光检测器13，14，将第三和第四光束变换为电信号。
上述各光检测器得到的电信号由驱动控制器51(图1)用于2要素物镜9的焦点位置偏离和来自光盘6的信息再现。例如，上述电信号变换为输出到信息再现电路60(图1)的再现信号RF。此时，光盘6上记录的再现信号RF按从各光检测器输出的电信号的总和给出。
上述构成的光记录再现装置中，为了将从2要素物镜9射出的光束会聚在光盘6上形成的轨道上，进行跟踪驱动控制。即，驱动跟踪·致动器64(图1)，使2要素物镜9在光盘6的径向(半径方向)上移动，将光束会聚在轨道上。
这里，表示会聚光束从轨道偏离向径向的量的跟踪偏差(跟踪误差)信号TES使用分别从检测装置8的第三光接收部8a的光检测器13和第四光接收部8b的光检测器14输出的电信号13S，14S用下式表示TES＝13S-14S .................(2)通过该上式(2)求出跟踪偏差信号TES、计测跟踪偏差的方法通过轨道和会聚光斑的位置关系，利用径向上产生反射衍射光图案的不平衡的现象，叫做所谓的推挽方式。因此，为计测该不平衡量，希望分割全息件2具有的第三区域2c和第四区域2d的第二直线CL2和径向正交。
使用来自上述各光检测器的电信号如下进行2要素物镜9的焦点偏差校正。
信息记录层上焦点不一致时，检测装置7的第一光接收部7a、第二光接收部7b中，分别接收的光束偏向某一方的光检测器。
因此，来自把来自全息件2的第一区域2a的衍射光变换为电信号的光检测器11a，11b的电信号作为11aS，11bS，第一焦点误差信号F1按下式给出F1＝11aS-11bS .....................(3)来自把来自全息件2的第二区域2b的衍射光变换为电信号的光检测器12a，12b的电信号作为12aS，12bS，第二焦点误差信号F2按下式给出F2＝12aS-12bS .....................(4)
此时，信息记录层上焦点不一致时，F1，F2的各焦点误差信号的输出值与焦点位置偏差量相当。
因此，为了使焦点位置与信息记录层一致，可在光轴OZ方向移动2要素物镜9，使得第一、第二焦点误差信号F1、F2的输出常常为0。
上述所示的方法中，检测焦点偏差的作法一般叫做刀刃(knife edge)法。这里，焦点位置偏差表示从半导体激光器1侧通过2要素物镜9的光束会聚的焦点与光盘6的信息记录层的位置的离开量。
本发明中，作为检测焦点偏差的方法，不限于刀刃法，例如可使用从焦点位置前后的光束大小变化来检测焦点位置偏差的光束大小法，但本实施例中，说明使用刀刃法检测焦点位置偏差的方法。
通常，焦点位置偏差信号FES的检测中，由于利用光束的有效直径整个区域，在本实施例中，FES的生成式使用上述焦点误差信号F1，F2，为FES＝F1+F2 ........................(5)接着，说明上述会聚光学系统产生的球面像差的检测。
上述会聚光学系统中因光盘6的盖层玻璃6a的厚度变化等产生球面像差。产生球面像差时，焦点位置偏差信号FES中产生偏置，因此即便检测出的焦点位置偏差信号FES输出0，信息记录层上光束和最佳像点也不一致，不能进行信息记录再现。
产生球面像差时，在光束内周部和外周部焦点位置不同。因此，通过检测出光束内周部和外周部的焦点偏差，可检测出会聚光学系统产生的球面像差。本实施例中，第一焦点误差信号F1、第二焦点误差信号F2分别检测出在光束内周部和外周部的焦点偏差，因此球面像差信号SAES的生成式不是SAES＝F1........................(6)而为SAES＝F2........................(6)从第一焦点误差信号F1、第二焦点误差信号F2之一方的信号检测出。
但是，产生球面像差和焦点偏差时，表示球面像差信号的第一焦点误差信号F1或第二焦点误差信号F2由于焦点偏差而变化，不能正确检测出球面像差。
因此，需要极力抑制焦点偏差的影响并检测出球面像差，但是为抑制焦点偏差的影响，球面像差信号SAES为
SAES＝F1-(F1+F2)×K1 (K1为系数).......(8)或SAES＝F2-(F1+F2)×K2 (K2为系数).......(8)此时，常数K1，K2决定为即便产生焦点偏差，SAES的变化也变小。
本实施例中，利用刀刃法检测出球面像差，但例如即便使用光束大小法也可检测出球面像差。为最灵敏地检测出球面像差，分割光束内周部和外周部的全息件2的第二圆弧E2的直径设定为物镜的有效直径的大致70％。
上述方法检测出球面像差，进行球面像差校正，使得球面像差变小。
一般地，光盘6中形成未图示的信息记录再现需要的槽、脊或坑，槽宽度、脊宽度、坑宽度形成得比照射的光束的光斑直径小。
因此，如图6所示，照射到光盘6并由信息记录再现6c或6d反射的光束的反射光中包含槽、脊或坑产生的次数不同的衍射光(0次光、±1次光等)，这样的反射光重叠返回到物镜(2要素物镜9)时，产生球面像差时，0次光、±1次光重叠的部分中，产生衍射光图案的变化，不是一样的强度分布。
因此，光束内周部和光束外周部产生强度变化，使用光束内周部或外周部的光束检测出球面像差的上述情况下，不能正确检测出球面像差。这样，衍射光的影响使球面像差信号的灵敏度恶化。
因此，球面像差检测在光盘6的信息记录层的光束反射产生的衍射光的影响非常小的状态下检测，则可灵敏地检测出球面像差。为减小衍射光的影响，用光盘6的衍射光产生少的平坦区域反射的光束来检测球面像差。
这里，光盘6的平坦区域(平坦部)反射光束时和光盘6的脊槽反射光束时的球面像差信号和光盘6的盖层玻璃6a的厚度误差的关系如图4所示。
从图4的曲线可知，显然，与平坦部反射的情况下的球面像差信号SAES的灵敏度相比，脊槽反射时的球面像差信号SAES的灵敏度降低。即，像脊槽这样，在进行反射受到衍射光严重影响的状态下检测的球面像差信号SAES降低灵敏度。
如上述说明可见，用平坦部反射的光束可灵敏地检测球面像差。
因此，球面像差检测的平坦部可预先设定在光盘6的任意位置上，可利用光盘6上已经存在的平坦区域。例如，像DVD-RAM这样，如图5所示的记录区域之间存在的镜面区域、最内周部和最外周部的没有脊、槽和坑的区域可用作球面像差的平坦部。该镜面区域、没有脊、槽和坑的区域中，光束反射时，检测出球面像差，则可灵敏地检测球面像差。
DVD-RAM的情况下，即便存在坑，再现信息的轨道上没有坑的状态连续，而且相邻的轨道上不存在坑，则可以是与平坦部大致相同的状态的区域。这些区域可用作检测球面像差的平坦部。
这样，为从光盘6的平坦部反射的光束检测球面像差，需要知道光束在光盘6的平坦部反射。
作为知道光束在光盘6的平坦部反射的方法，例如考虑预先在光盘6上记录特定平坦部的位置的信息。例如，考虑光盘6的记录信息的区域的标题部中记录检测球面像差用的特定平坦部位置的信息。此时，仅读取标题部，就可知道多少光束由平坦部反射。
作为知道光束在光盘6的平坦部反射的其他方法，有通过光盘6的反射强度不同特定平坦部，已知在该平坦部反射光束的方法。
例如，不产生衍射光时，反射的光束的强度比产生衍射光时大。即，认为光盘6的平坦部反射的光束几乎不产生衍射光，因此光束强度比脊、槽和坑反射的光束大。因此，光束的反射强度比基准大时，光束判断为在光盘6的平坦部反射，此时，可进行球面像差的检测。
特定上述的平坦部的位置、用从该特定的平坦部反射的光束检测球面像差的方法中，即便在向光盘6的信息记录或从光盘6的信息再现的过程中也可进行，因此即便是信息的记录再现当中，用来自光盘6的平坦部的反射光也可灵敏地检测出球面像差。
并且，若从检测出的球面像差信号校正球面像差，则在光束状态更好的状态下进行信息的记录再现。
上述构成的光记录再现装置中，例如从光束的反射强度特定平坦部的位置时，考虑如下动作。在此，具有作为特定光盘6的平坦部的平坦部特定装置的功能的是控制信号生成电路59。
图1的控制信号生成电路59中持续观察反射强度，若反射强度为某一定值以上，则向第2要素驱动电路58输出球面像差信号SAES。第2要素驱动电路58以输入的球面像差信号SAES为基础驱动控制第2要素致动器55，使得可校正光拾取装置10的光学系统产生的球面像差。
通过上述方法，知道光盘6的镜面部反射光束的装置可以是具有多个信息记录层的光盘，因此具有多个信息记录层的光盘的各信息记录层的镜面部中实现球面像差检测。
另外，即便产生衍射光，衍射光不进入物镜的有效直径内时也可检测出球面像差。此时，由于衍生衍射光强度降低，但由于没有0次光和1次光重叠返回物镜，没有由于衍射光重叠导致的跟踪误差信号TES对球面像差信号SAES的串扰、干涉纹产生导致的球面像差信号SAES的灵敏度降低。
例如，盖层玻璃厚度误差等小时，产生的球面像差量小，因此仅在光盘读取时进行球面像差检测和校正，并且在信息记录再现中不能进行球面像差检测校正。这种方法中，省略信息记录再现中进行球面像差检测校正所需的复杂控制。
光盘中有多个信息记录层时，各信息记录层中跳跃时检测并校正球面像差。并且，信息记录再现中不能进行球面像差检测校正。此时检测出的球面像差校正量存储在存储装置中，在曾读入的信息记录层中再次跳跃时，使用存储的球面像差校正量来校正球面像差。
作为从上述检测方法检测的球面像差校正球面像差的装置，考虑通过调整2要素物镜9的第1要素2和第2要素5的间隔来进行校正的装置，但并不限于此。例如，移动准直透镜3，调整半导体激光器1和准直透镜3的间隔也可以。此时，半导体激光器1射出的通过准直透镜3的光束为非平行的，可产生球面像差。接着，通过该球面像差可校正光拾取装置的光学系统的球面像差。
另外，作为球面像差校正装置，可在2要素物镜9和准直透镜3之间插入球面像差校正机构。该球面像差校正机构在光束通过该球面像差校正机构时构成产生球面像差的光学系统。
作为上述球面像差校正机构，例如考虑使用组合具有正功率的凸透镜和负功率的凹透镜的无焦光学系统。此时，调整这2个透镜间隔，可产生消除会聚光学系统产生非球面像差的球面像差。
作为球面像差校正机构的另一构成，考虑使用组合具有正功率的2个凸透镜的无焦光学系统。此时，调整这2个透镜间隔，可产生消除会聚光学系统产生非球面像差的球面像差。
各实施例中，说明了光记录再现装置中采用本发明的例子，但并不限于此，再现光记录媒体中记录的信息的光再现装置中也可采用本发明。
本发明可应用于将DVD-ROM作为光记录媒体的DVD-ROM装置、将DVD-RAM作为光记录媒体的DVD-RAM装置、将CD-R/RW作为光记录媒体的CD-R/RW装置、将MD作为光记录媒体的MD装置、将MO作为光记录媒体的MO装置等光记录再现/再现装置。
作为光记录媒体，在DVD-ROM、DVD-RAM中，记录层或再现层由多层构成。这种情况下，每层中特定平坦部，使用来自特定的平坦部的反射光检测出光拾取装置的会聚光学系统产生的球面像差。因此各层中可灵敏地监测出球面像差，从而适当进行信息的记录/再现。
如上所述，本发明的像差检测方法构成为将通过光拾取装置上备有的会聚光学系统的光束照射到光记录媒体的平坦区域，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差。
光拾取装置的会聚光学系统产生的像差的检测通过使用来自上述光记录媒体的平坦区域的光束的反射光进行，可提高像差检测的灵敏度。
上述平坦区域是光记录媒体的再现区域或记录区域之间存在的平坦区域。
此时，光记录媒体的再现区域或记录区域之间存在的平坦区域中，在形成槽、脊或坑的区域的影响小的状态下反射光束，因此在衍射光的影响极小的状态下检测像差，结果可更灵敏地进行像差检测。
上述平坦区域是光记录媒体的最内周部或最外周部上存在的平坦区域。
此时，光记录媒体的最内周部或最外周部上存在的平坦区域中，没有槽、脊或坑，因此不受来自槽、脊或坑的衍射光的影响。从而与利用来自再现区域或记录区域中存在的平坦区域的反射光时相比，可更灵敏地检测像差。
上述平坦区域是根据上述光束在光记录媒体反射的反射光量特定的。
此时，由反射光量特定光记录媒体的平坦区域，不需要预先特定平坦区域。
并且，仅在通过反射光量特定平坦区域时，使用此时的反射光进行像差检测，则可常常更灵敏地检测像差。
如上所述，本发明的光记录再现方法，构成为使用光拾取装置对光记录媒体进行信息记录再现的同时，将通过上述光拾取装置上备有的会聚光学系统的光束照射到上述光记录媒体，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差，对上述光记录媒体进行信息的记录再现时，特定该光记录媒体中存在的平坦部，在该特定的平坦部上照射通过上述会聚光学系统的光束，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差。
特定会聚光学系统产生的像差检测用的平坦部，使用来自特定的平坦部的光束的反射光检测会聚光学系统产生的像差，因此对光记录媒体进行信息的记录再现时不进行复杂的控制，可简单且灵敏地检测会聚光学系统产生的像差。
上述平坦部从光记录媒体的再现区域或记录区域之间存在的平坦区域特定。
此时，从光记录媒体的再现区域或记录区域之间存在的区域特定的平坦部中，在形成槽、脊或坑的区域的影响小的状态下反射光束，因此在衍射光的影响极小的状态下检测像差，结果可更灵敏地进行像差检测。
上述平坦部从光记录媒体的最内周部或最外周部上存在的区域特定。
此时，从光记录媒体的最内周部或最外周部上存在的区域特定的平坦部中，没有槽、脊或坑，因此不受来自槽、脊或坑的衍射光的影响。从而与利用来自再现区域或记录区域中存在的平坦区域的反射光时相比，可更灵敏地检测像差。
上述平坦部根据来自光记录媒体的反射光强度特定。
此时，为求反射光强度，由于通用光拾取装置等的现有装置，不需要设置特定平坦部的特别机构。从而，用简单结构可在光记录媒体的信息记录再现时特定平坦部。
记录光记录媒体的再现或记录位置信息等的标题区域中记录着该光记录媒体中存在的平坦部的位置信息。
此时，对光记录媒体进行信息的记录再现时，通过在必将读入的标题区域中记录光记录媒体中存在的平坦部的位置信息，可在光记录媒体的信息记录再现时确实特定平坦部。
由此，对光记录媒体进行信息的记录再现时，可更灵敏检测出会聚光学系统产生的像差。
上述光记录媒体具有多个记录层或再现层的情况下，按每个记录层或每个再现层检测上述会聚光学系统产生的像差。
此时，每个记录层或再现层中，可更灵敏地检测出像差。因此，例如使用DVD-RAM、DVD-ROM等的具有多个记录层或再现层的光记录媒体的情况下，可进行灵敏地像差检测。
如上所述，本发明的光记录再现装置，具有对光记录媒体光学地进行信息的记录再现的光拾取装置；将通过上述光拾取装置上备有的会聚光学系统的光束照射到上述光记录媒体，使用其反射光检测上述会聚光学系统中产生的像差的像差检测装置；特定上述光记录媒体中存在的平坦部的平坦部特定装置，其特征在于上述像差检测装置根据来自上述平坦部特定装置特定的平坦部的反射光检测像差。
根据上述构成，对光记录媒体进行信息的记录再现时，像差检测装置通过平坦部特定装置特定的、来自光记录媒体存在的平坦部的反射光，即衍射光的影响小的反射光可灵敏地进行像差检测。
上述平坦部特定装置从光记录媒体的再现区域或记录区域之间存在的区域特定平坦部。
此时，从光记录媒体的再现区域或记录区域之间存在的区域特定的平坦部中，在形成槽、脊或坑的区域的影响小的状态下反射光束，因此在衍射光的影响极小的状态下检测像差，结果可更灵敏地进行像差检测。
上述平坦部特定装置从光记录媒体的最内周部或最外周部上存在的区域特定平坦部。
此时，从光记录媒体的最内周部或最外周部上特定的平坦部没有槽、脊或坑，因此不受来自槽、脊或坑的衍射光的影响。从而与利用来自再现区域或记录区域之间存在的平坦区域的反射光时相比，可更灵敏地检测像差。
上述平坦部特定装置根据来自光记录媒体的反射光强度特定平坦部。
此时不设置特定平坦部的特别机构，可在光记录媒体的信息记录再现时特定平坦部。
发明的详细说明中的具体实施状态或实施例是为了明确本发明的技术内容，不应狭义解释为这些具体实施例，在本发明的精神和下面记载的权利要求项的范围内，可作各种变形。
权利要求
1.一种像差检测方法，其特征在于将通过光拾取装置(10)上备有的会聚光学系统(9)的光束照射到光记录媒体(6)的平坦区域，使用其反射光检测上述会聚光学系统(9)中产生的像差。
2.根据权利要求1所述的像差检测方法，其特征在于上述平坦区域是光记录媒体(6)的再现区域或记录区域之间存在的平坦区域。
3.根据权利要求1所述的像差检测方法，其特征在于上述平坦区域是光记录媒体(6)的最内周部或最外周部上存在的平坦区域。
4.根据权利要求1至3之一所述的像差检测方法，其特征在于上述平坦区域是根据上述光束在光记录媒体(6)反射的反射光量特定的区域。
5.一种光记录再现方法，使用光拾取装置(10)对光记录媒体(6)进行信息记录再现的同时，将通过上述光拾取装置(10)上备有的会聚光学系统(9)的光束照射到上述光记录媒体(6)，使用其反射光检测上述会聚光学系统(9)中产生的像差，其特征在于对上述光记录媒体(6)进行信息的记录再现时，特定该光记录媒体(6)中存在的平坦部，在该特定的平坦部上照射通过上述会聚光学系统(9)的光束，使用其反射光检测上述会聚光学系统(9)中产生的像差。
6.根据权利要求5所述的光记录再现方法，其特征在于上述平坦部从光记录媒体(6)的再现区域或记录区域之间存在的平坦区域特定。
7.根据权利要求5所述的光记录再现方法，其特征在于上述平坦部从光记录媒体(6)的最内周部或最外周部上存在的平坦区域特定。
8.根据权利要求5至7之一所述的光记录再现方法，其特征在于上述平坦部根据来自光记录媒体(6)的反射光强度特定的区域。
9.根据权利要求5所述的光记录再现方法，其特征在于记录光记录媒体(6)的再现或记录位置信息等的标题区域中记录着该光记录媒体(6)中存在的平坦部的位置信息。
10.根据权利要求5所述的光记录再现方法，其特征在于上述光记录媒体(6)具有多个记录层(6c，6d)或再现层的情况下，按每个记录层(6c，6d)或每个再现层检测上述会聚光学系统(6)产生的像差。
11.一种光记录再现装置，具有对光记录媒体(6)光学地进行信息的记录再现的光拾取装置(10)；将通过上述光拾取装置(10)上备有的会聚光学系统(9)的光束照射到上述光记录媒体(6)，使用其反射光检测上述会聚光学系统(9)中产生的像差的像差检测装置(7，8)；特定上述光记录媒体(6)中存在的平坦部的平坦部特定装置(59)，其特征在于上述像差检测装置(7，8)根据来自上述平坦部特定装置(59)特定的平坦部的反射光检测像差。
12.根据权利要求11所述的光记录再现装置，其特征在于上述平坦部特定装置(59)从光记录媒体(6)的再现区域或记录区域之间存在的区域特定平坦部。
13.根据权利要求11所述的光记录再现装置，其特征在于上述平坦部特定装置(59)从光记录媒体(6)的最内周部或最外周部上存在的区域特定平坦部。
14.根据权利要求11至13之一所述的光记录再现装置，其特征在于上述平坦部特定装置(59)根据来自光记录媒体(6)的反射光强度特定平坦部。
全文摘要
本发明的像差检测方法将通过作为光拾取装置上备有的会聚光学系统的2要素物镜的光束照射到光盘的平坦区域,使用其反射光检测上述2要素物镜中产生的像差。由此,提高会聚光学系统产生的球面像差的检测灵敏度。
文档编号G11B7/125GK1385842SQ0212172
公开日2002年12月18日 申请日期2002年5月10日 优先权日2001年5月11日
发明者多田野宏之, 中野郁雄 申请人:夏普株式会社