专利名称：光功率测量方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光功率测量方法及装置，特别是涉及一种使用部分反射部分透光板的光功率测量方法及装置。
背景技术：
刻录器是一种目前常用的储存装置，且通过刻录器将数据烧入光盘片，使用者可以非常方便地将数据储存起来。而刻录器主要是使用一光学读取头(optical pickup unit，简称OPU)模块射出一光线，光线蚀刻光盘片且在光盘片上形成一圈圈的凹洞(pit)，这些一圈圈的凹洞即代表了储存在光盘片上的数据。
至于刻录器如何以光学读取头模块在光盘片上刻录数据，则请参考图1，图1绘示的是刻录机的立体侧视图。在图1中，刻录器100具有外壳120以及装置在外壳120内的光学读取头模块125、传动模块135以及托盘装置145等。
当要进行刻录动作时，可将光盘片147通过刻录器100的托盘装置145将光盘片送入光学读取头模块125上方，以进行刻录。
请同时参考图2，图2绘示的是刻录机100剖面的示意图。当刻录器100要开始以光学读取头模块125将数据烧入光盘147时，光学读取头模块125激光二极管149会射出光线152，光线152再透过光学读取头模块125中的光学读取头物镜151聚焦于光盘片147上。而光线152的聚焦点如何落在光盘片147上的动作，则倚靠光学读取头模块中的聚焦装置根据光线152在光盘片147上的反射，调整光学读取头上下移动，以使光线152的聚焦点X能够顺利聚焦落在光盘片147上。
且在刻录的同时，光盘片147会旋转，且传动装置135中的齿条153将带动光学读取头模块125沿着导杆155前后移动，因此光学读取头模块125所射出的光线，将可以光盘片147上形成一圈圈的凹洞。
然而，一台刻录器除了要能够刻录，最重要的是光学读取头模块125所发出的光线，其在光盘片147上的光功率能足够且稳定，以刻录出正确的数据在光盘片上。因此，请参考图3，图3绘示的是现有测试刻录机100的测量装置的简单示意图。当实际在测量图1刻录机100时，需将功率测量装置200以脚架205架设在导杆155上，以使光功率测量装置200位于光学读取头模块125上方的一个相对位置，即如图2所示。而此光功率测量装置200主要包括有一颗感光二极管210以及一测量光功率的控制电路220。因此，当光学读取头模块125所射出的光线152打在感光二极管210上时，感光二极管210根据光线152的强度产生相对应的感应电流，而这些感应电流即可透过线路230传送给控制电路220，以进行光功率测量。最后，控制电路220根据这些感应电流大小测量出光线225的光功率大小。
不幸的是，以图3现有光功率测量装置进行测量时却有以下诸多缺点1.在测量光功率期间，聚焦装置由于无法如图1具有如光盘片145的设置，因此熟悉此技术人员可知，聚焦装置无法根据光线152在光盘片145上的反射而致动。也因此，若光学读取头模块125与感光二极管210间的距离L不适当，将导致光强度颇大的光线152将聚焦在感光二极管210附近或直接聚焦在感光二极管210上，而使光线152打在感光二极管210上的面积变的很小，也就是光线152打在感光二极管210上单位面积的光强度很大，进而破坏感光二极管152。
2.测量时，因无法进行对焦，所以一般是不启动聚焦装置，而以光学读取头模块125的未驱动聚焦的状态进行测量，当以相同的光功率测量装置200去测量不同的光学读取头模块125时，不同的光学读取头模块125由于制作工艺及材料特性关系，在不受聚焦装置调整时，不同的光学读取头模块125间可能会有一些差距。因此相同的光功率测量装置200无法精确地测量出不同的光学读取头模块125其射出光线152的光功率。
3.在测量时，由于没有光盘片147的设置且聚焦装置也无法致动，因此无法较真实测量出当光学读取头模块125将光线152打在图一光盘片147上时，光线152在光盘片147上的光功率大小。
发明内容
本发明的目的在于提出一种光功率测量方法及装置，可真实测量出光学读取头模块将光线打在光盘片上时，此光线在光盘片上的光功率大小，且可避免光学读取头模块所射出的光线会破坏在光功率测量装置上的感光二极管。
本发明的目的是这样实现的，即提供一种光功率测量方法，此方法主要适用于具有光学读取头模块的光学装置，而光学装置根据光学读取头模块射出光线的反射来调整光学读取头模块，此方法包括下列步骤提供感光装置以及部分反射部分透光板，且部分反射部分透光板位于感光装置与光学读取头模块之间。
由光学读取头模块朝向感光装置射出光线，光线从部分反射部分透光板反射为第一光线，而光盘装置根据第一光线调整光学读取头模块，以控制光线的焦点位置。
由感光装置接收并测量光线由部分反射部分透光板透过的第二光线，以得到光学读取头模块所射光线的光功率。
在本发明较佳实施例中，光学装置为使用聚焦装置调整光学读取头模块。且聚焦装置将调整光学读取头模块所射光线之焦点位置落在部分反射部分穿透板上。
且假设第一光线反射情况不佳，可根据光学装置根据第一光线控制聚焦装置产生的有效回授最小值以及感光装置对第二光线的实际测量最小值去改变部分反射部分透光板其反射与穿透间的比例。
本发明的另一个目的是提供一种光功率测量装置，其包括有感光装置、部分反射部分透光板以及测量电路。其中感光装置根据入射光线的强度以产生感应电流。而部分反射部分透光板位于入射光线源头与感光装置之间。至于测量电路则连接于感光装置，且可根据感光装置所产生的感应电流得到入射光线的光功率。
若此光功率测量装置运用在测量光盘装置的光学读取头模块所射光线的光功率时，此光功率测量装置还需要一个架设机构，其用以架设于光学读取头模块上的一个相对固定位置。而在测量时，光学读取头模块所射光线部分遇到部分穿透部分反射部分透光板反射成为第一光线，光学读取头模块所射光线部分穿透部分反射部分透光板成为第二光线。因此，测量时，光盘装置可根据第一光线，控制光学读取头模块相对于部分反射部分透光板的距离，同时光功率测量装置测量第二光线，以得到光学读取头模块所射光线的光功率。
综合上述，本发明提出一种光功率测量方法与装置，通过在入射光源与感光装置间特别设置一部分反射部分透光板，因此本发明可真实测量出光学读取头模块将光线打在光盘片上时，此光线在光盘片上的光功率大小，且可避免光学读取头模块所射出的光线会破坏在光功率测量装置上的感光二极管。
图1为刻录机的立体侧视图；图2为刻录机剖面的简单示意图；图3为现有测试刻录机100的测量装置的示意图；图4为本发明较佳实施例的光功率测量装置的剖面示意图。
具体实施例方式
本发明基于当以图1现有光功率测量装置对刻录器中光学读取头模块进行光功率测量时，光学读取头模块所射出的光线容易破坏光功率测量装置中的感光二极管，且现有光功率测量装置会受限于光学读取头不同标尺的限制而无法适用于各家厂商的刻录器。况且，以现有光功率测量装置对光学读取头模块进行光功率测量时，更无法精准测量出光学读取头模块所射出光线在光盘片上的真正光功率。
因此，本发明考虑以在现有光功率测量装置上以一组件作为代替光盘片之用，期望在测量时能同时致动刻录器的聚焦装置，而能真实测量出光学读取头模块所射光线在光盘片上的光功率。此外，通过这样的概念，相信能推广作为一些通过光学读取头模块所射光线反射以定位光学读取头模块的光学装置的光功率测量。
故本发明先提出一种光功率测量方法，主要为适用于具有光学读取头模块的光学装置，且此光学装置是根据光学读取头模块射出光线遇到光盘片反射来调整光学读取头模块。此方法包括下列步骤先提供感光装置以及一块部分反射部分的透光板，且此部分反射部分透光板是位于感光装置与光学读取头模块之间。
光学读取头模块为朝向感光装置射出光线，当光线先遇到此部分反射部分透光的透光板而反射出第一光线时，光学装置根据此第一光线调整光学读取头模块，以控制光学读取头射出光线的聚焦点位置。
在当光学读取头模块射出光线先遇到此部分反射部分透光的透光板而反射出第一光线的同时，光学读取头模块射出光线的部分将通过部分反射部分透光的透光板而成为第二光线，而此时感光装置接收并测量此第二光线，以得到光学读取头射出光线的光功率。
因此，当对光学读取头模块进行光功率测量时，可使得光学装置能同时接受部分反射部分透光的透光板取代光盘片所反射的第一光线，而定位光学读取头模块所射光线的聚焦点位置，且同时感光装置能接收透过部分反射部分透光透光板的第二光线，以换算测量出光学读取头模块所射光线的光功率。
换句话说，感光装置所测量到第二光线的光功率其实与光学读取头所射光线打在部分反射部分透光的透光板有关。因此，此光功率测量方法即是光学装置中光学读取头模块所射光线打在障碍物的情况下，测量出光学读取头模块所射光线的光功率，而能较真实的测量出光学读取头模块所射光线打在光盘片上的光功率。
然而，若将本发明所提出的光功率测量方法具体实施于测量刻录器(或其它任何光驱时)的光功率时，请参考图4，图4绘示的是本发明较佳实施例的光功率测量装置的剖面简单示意图。在图4中，光功率测量装置300主要包括有架设机构310、部分反射部分透光板320、感光二极管330以及测量电路340。其中，部分反射部分透光板320、感光二极管330以及测量电路340都位于架设机构310内，且面对光源，特别将部分反射部分透光板320设置于感光二极管330前方，实际使用时部分反射部分透光板320将透过架设机构310脚架380上的扣合结构385扣合于刻录器350内的导杆390上，而使部分反射部分透光板320位于刻录器350中光学读取头模块360上的相对固定位置。
当以光功率测量装置300测量刻录器350中光学读取头模块360的光学读取头361所射光线365透过光学读取头物镜367射出的功率时，光线365会视部分反射部分透光板320反射与穿透比例(通常由多层材质所决定)部分反射、部分穿透于部分反射部分透光板320，且分别形成第一光线375、第二光线377。
熟悉刻录器技术人员可知，刻录机350将可根据第一光线375的反射而控制聚焦装置上下调整光学读取头，使光学读取头模块360所射光线365能透过光学读取头物镜367固定聚焦于部分反射部分透光板320的Z点上。此时，发光二极管330接受穿透于部分反射部分透光板320的第二光线377而产生感应电流，且这些感应电流透过线路379传送到测量电路340上。最后，测量电路340即可根据第二光线377与光线365间的关系，即光线365穿透部分反射部分透光板320的比例，推算出光线365的光功率大小，也就是刻录器350中光学读取头模块360所能产生的光功率大小。
本发明部分反射部分透光板320的反射率设定为N，即光功率测量装置300可根据此参数N进行调整，以达成预期的功效。参数N应与光功率测量装置300根据第一光线375光线控制聚焦装置所产生的有效回授最小值有关，以及感光二极管330对第二光线377的实际测量最小值有关。因此假设测量出的激光光功率值为P，则实际真正的光功率则应为P除以(1-N)。
而参数N可适用的范围表示为Nmin 1＝(聚焦装置产生的有效回授最小值)/(光学读取头361所射光线365的最小值)×100％Nmin 2＝1-(感光二极管330可测量的最大值)/(光学读取头361所射光线365的最大值)×100％Nmax＝1-(感光二极管330的可测量最小值)/(光学读取头361所射光线365的最小值)×100％其中参数N的下限取Nmin 1和Nmin 2的大者为下限值，而参数N的上限则为Nmax，即部分反射部分透光板320的反射率需设定于经此计算出的上限值和下限值之间。
且部分反射部分透光板320穿透与反射间之比例相当于N。因此，当参数N值大小为一不适当值时，可改变部分反射部分透光板320穿透与反射间的比例，以使光功率测量装置300达成预期的功效。
综合上述，本发明提出一种光功率测量方法及装置，通过在感测装置前方设置部分反射部分透光板，以模拟光线所接触的障碍物，而运用于像利用于光学装置由光学读取头模块所射光线的反射以调整光学读取头模块位置而控制光学读取头模块所射光线的聚焦点位置，这样的机制。因此当本发明运用在刻录机光功率测量时，可真实测量出光学读取头模块将光线打在光盘片上时，此光线在光盘片上的光功率大小，且可避免光学读取头模块所射出的光线会破坏在光功率测量装置上的感光二极管。
以上所述的仅为本发明的较佳实施例，当不能以之限制本发明的范围，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化及修饰，仍将不失本发明的要义所在，也不脱离本发明的精神和范围，故都应视为本发明的进一步实施状况。
权利要求
1.一种光功率测量方法，该方法适用于具有一光学读取头模块的一光盘装置，而该光盘装置根据该光学读取头模块射出一光线的反射以调整该光学读取头模块，该方法包括提供一感光装置以及一部分反射部分透光板，该感光装置以设置于该光学读取模块上的一相对位置，该部分反射部分透光板位于该感光装置与该光学读取头模块之间；由该光学读取头模块朝向该感光装置射出光线，该光线由该部分反射部分透光板反射一第一光线，该光盘装置根据该第一光线调整该光学读取头模块，以控制该光线的一焦点位置；以及由感光装置接收并测量该光线由该部分反射部分透光板透过的一第二光线，以得到该光线的光功率。
2.如权利要求1所述的光功率测量方法，其中该方法还包括提供一聚焦装置，以调整该光学读取头模块。
3.如权利要求2所述的光功率测量方法，其中该方法还包括使得该部分反射部分透光板位于该焦点位置上。
4.如权利要求2所述的光功率测量方法，其中该方法还包括若该第一光线反射状况不佳，调整该该部分反射部分透光板的反射与透光间比例。
5.如权利要求4所述的光功率测量方法，其中该光线与该第一光线间之反射率N的设定根据Nmin1＝(该聚焦装置的有效回授最小值)/(该光学读取头模块所射光线的最小值)Nmin2＝1-(该感光装置可测量的最大值)/(该光学读取头模块所射光线的最大值)Nmax＝1-(该感光装置的可测量最小值)/(该光学读取头模块所射光线的最小值其中N的下限取Nmin1和Nmin2的大者为下限值，而N的上限则为Nmax
6.如权利要求1所述的光功率测量方法，其中该方法还包括根据该光线透过该部分反射部分透光透板的透光率，计算得到该光线的该光功率。
7.一种光功率测量装置，包括一感光装置，根据一光线的强度以产生一感应电流；一部分反射部分透光板，位于该光线的源头与该感光装置之间；以及一测量电路，连接于该感光装置，可根据该感应电流以得到该光线的一光功率。
8.如权利要求7所述的光功率测量装置，其中该部分反射部分透光透镜的材质为一背光模块的材质。
9.如权利要求7所述的光功率测量装置，其中该感光装置为一感光二极管。
10.一种用以测量一光盘装置中的光学读取头模块的一光线强度的光功率测量装置，该装置包括一架设机构，用以架设于光学读取头模块上的一相对固定位置；一部分反射部分透光板，设置于该架设机构上，测量时，该光线部分由该部分反射部分透光板反射为一第一光线，该光线部分穿透该部分反射部分透光板成为一第二光线；一感光装置，设置于该架设机构上，用以接收该第二光线以产生一感应讯号；以及一测量电路，连接于该感光装置，用以接收该感应信号；其中该光盘装置根据该第一光线，控制该光学读取头模块相对于该部分反射部分透光板的距离。
11.如权利要求10所述的刻录器的光功率测量装置，其中该距离为该光学读取头模块的聚焦距离。
12.如权利要求10所述的刻录器的光功率测量装置，其中该感光装置为一感光二极管。
13.如权利要求11所述的光功率测量装置，其中该光盘装置还包括一聚焦装置，用以根据该第二光线调整该光学读取头模块，使得该部分反射部分透光板位于该聚焦距离上。
14.如权利要求13所述的光功率测量装置，其中该部分反射部分透光板的反射率N的设定根据Nmin1＝(该聚焦装置的有效回授最小值)/(该光学读取头模块所射光线之最小值)Nmin2＝1-(该感光装置可测量的最大值)/(该光学读取头模块所射光线的最大值)Nmax＝1-(该感光装置的可测量最小值)/(该光学读取头模块所射光线的最小值其中N的下限取Nmin1和Nmin2的大者为下限值，而N的上限则为Nmax
全文摘要
一种光功率测量方法及装置，其方法包括提供感光装置以及部分反射部分透光板，且部分反射部分透光板位于感光装置与光学读取头模块之间，当光学读取头模块朝向感光装置射出光线，光线从部分反射部分透光板反射为第一光线，而光盘装置根据第一光线调整光学读取头模块，以控制光线的焦点位置，且同时感光装置接收并测量光线由部分反射部分透光板透过的第二光线，以得到光学读取头模块所射光线的光功率。
文档编号G11B7/13GK1581311SQ0315257
公开日2005年2月16日 申请日期2003年8月4日 优先权日2003年8月4日
发明者萧麟, 刘兴华 申请人:明基电通股份有限公司