专利名称：光学记录媒介、管理其缺陷区的方法、其记录方法及其记录/再现装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种管理可以高速记录的光学记录媒介的缺陷区的方法，其记录/再现方法，及其记录/再现装置。
背景技术：
最近，期望开发和营销能存储大容量高清晰度视频数据和高声音品质音频数据的例如光盘的新高密度光学记录媒介，例如可重写蓝光盘(BD-RE)。
如图所示1的BD-RE被划分以向其分配引入区、数据区和引出区。以及，内备用区(ISA)和外备用区(OSA)分别被分配给数据区的前端和后端。
BD-RE按与预定记录单元相对应的簇单元在其上记录数据。由于可重写光盘的特性，BD-RE能重复地在特定区域中记录数据。因此在这种情况下，能在记录数据期间检测数据区上是否存在如图1所示的缺陷区。在检测到缺陷区的情况下，用于缺陷区的位置信息(地址-A，地址-B)和通过将记录于备用区中的另一位置信息(地址-a，地址-b)替换作为管理信息被记录并存储于引入区内的缺陷管理区(DMA)的缺陷列表(DFL)中，并且对把应当记录于相应缺陷区中的数据执行替换记录实现在例如内备用区(ISA)的备用区上的一系列替换记录操作。
当前，高速(至少2x-速度)可记录BD-RE和高速可记录BD-WO(蓝光单次写入盘)的标准正在讨论中。并且，在盘的RPM、最佳写入功率、写入脉冲等方面，高速可记录盘与1x-速度可记录盘相当不同。
此外，一般，高速记录区域产生比低速记录(例如，1x-速度记录)更多的缺陷区。这种缺陷区降低了相应盘的整体性能并导致相应系统的超负荷。
在当前讨论的高速可记录BD-RE或BD-WO的情况下，用于缺陷区的有效管理方案严重地需要应对高速度。并且，该有效管理方案应提供作为特定信息以确保互易的兼容性。
发明内容
因此，本发明针对一种管理高速可记录光盘的缺陷区的方法、其记录/再现方法及其记录再现装置，它们基本消除了由于相关技术的限制和缺陷引起的一个或多个问题。
本发明的目的在于提供一种通过应对高速的特定信息管理缺陷区的新方法，通过这种方法有效地记录和管理用于缺陷区的信息并且通过这种方法通过新缺陷区管理方案有效地进行光盘的记录/再现。
本发明的另一目的在于提供一种应对记录速度的新缺陷区管理方案，通过该方案根据特定方法在盘内管理区上进行缺陷区信息的管理以提供盘之间的互易兼容。
本发明的又一目的在于提供一种使用缺陷区管理方案的记录/再现方法及其装置。
本发明的其它优点、目的和特点将部分在以下描述中阐述且部分将通过以下内容的审查或者通过本发明的实施而得知对于本领域普通技术人员显而易见。本发明的目的和其它优点将通过以下描述及其权利要求书以及附图中特别指出的结构得以实现和获得。
为了实现这些目的和其它优点且根据本发明的用途，如这里体现和广泛描述的，在具备用于高速可记录盘内的缺陷管理的缺陷管理区的光盘中，一种根据本发明的管理光学记录媒介中的缺陷区的方法，包括以下步骤检查在第二记录速度下是否发现缺陷区，在第一记录速度下是否发现所述缺陷区，所述第二记录速度低于所述第一记录速度；以及基于检查步骤确定是否用替换区替代所述缺陷区。
在本发明的另一方面中，一种管理光学记录媒介的缺陷区的方法，包括以下步骤记录第一条目，它包括在第一记录速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的第一区域的第一位置信息，所述第二速度低于所述第一速度；以及记录第二条目，它包括在第一速度和第二速度下都被判定为缺陷区的第二区域的第二位置信息。
在本发明的另一方面中，一种管理光学记录媒介的缺陷区的方法，包括验证在以可应用的最大速度进行记录时是否产生缺陷区；如果在所述可应用的最大速度下产生缺陷区，则通过将记录速度变成低于所述可应用的最大速度的中间速度至少一次，重新验证相应区域的缺陷是否存在；如果在所述中间速度下产生缺陷区，则通过将所述记录速度变成最小速度，重新验证相应区域的缺陷是否存在；以及根据第一到第三步骤中的每一个的结果，在光学记录媒介的特定区域处记录被判定为缺陷区的区域的位置信息。
在本发明的另一方面中，一种记录媒介，包括缺陷管理区，它用于管理缺陷区；以及数据区，其中记录数据，其中所述缺陷管理区至少包括第一条目以便记录在第一速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的位置信息，所述第一速度高于所述第二速度。
在本发明的另一方面中，一种用于在光学记录媒介上记录数据的方法，包括以下步骤接收用于特定区域的记录命令；验证在第一速度下在所述特定区域上是否产生缺陷区；如果在高速下产生缺陷区，则通过将记录速度变成第二速度来重新验证相应区域的缺陷是否存在，所述第二速度低于所述第一速度；作为重新验证步骤的结果，将要记录于在第一和第二速度下都被判定为缺陷区的第一区域中的数据记录到替换区中；以及在第一速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的第二区域上以第二速度记录数据。
在本发明的另一方面中，一种用于在光学记录媒介上记录数据的方法，包括以下步骤通过从光学记录媒介内的缺陷管理区中读取缺陷区的位置信息和相应缺陷区的记录速度信息，确定可应用于光学记录媒介内的特定区域的记录速度；以及如果接收到用于特定区域的记录命令，则以确定的记录速度进行数据的记录。
在本发明的另一方面中，一种用于在光学记录媒介上记录或再现数据的装置，包括拾取单元，它在光学记录媒介上记录或读取数据；以及控制器，它验证在第一速度下在特定区域上是否产生缺陷区，如果在第一速度下产生缺陷区则通过将记录速度变成第二速度来重新验证相应区域的缺陷是否存在，控制拾取器将要记录于在第一和第二速度下都被判定为缺陷区的第一区域的数据记录在替换区中，并控制所述拾取器在第一速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的第二区域上以第二速度记录数据。
可以理解，本发明的以上一般描述和以下详细描述是示例性和说明性的，并旨在提供所声明的本发明的进一步说明。
包含附图以提供本发明的进一步理解，且附图被结合并构成本申请的一部分，示出本发明的实施例并与描述一起用于说明本发明的原理。附图中图1是可重写光盘的示意图。
图2是用于说明根据本发明的应对记录速度的缺陷管理方法的光盘的示图。
图3是用于说明根据本发明的应对记录速度的缺陷管理方法的概念性流程。
图4和5是用于说明根据本发明第一实施例的应对记录速度的缺陷管理方法的示图。
图6和7是用于说明根据本发明第二实施例的应对记录速度的缺陷管理方法的示图。
图8和9是用于说明根据本发明第三实施例的应对记录速度的缺陷管理方法的示图。
图10是可应用于本发明的缺陷列表的示意性结构图。
图11是用于说明根据本发明的应对记录速度的缺陷管理方法的另一概念性流程。以及图12是可应用于本发明的应对记录速度的缺陷管理的记录/再现装置的框图。
具体实施例方式
现在将详细参考本发明的较佳实施例，其示例在附图中示出。只要可能，相同的标号将贯穿附图用于表示相同或相似的部分。
将参考以下附图详细说明根据本发明的管理可以高速记录的光盘的缺陷区的方法、其记录/再现方法及其记录/再现装置。
首先，虽然本发明中使用的术语可能选自当前公知的一些，但在某些情况下一些术语由申请人任意选择以使它们的意思在以下描述中详细说明。因此，本发明应用申请人选择的相应术语的预期意思来代替术语本身的简单名称或意思来理解。
为便于说明，采用BD系列的蓝光盘(BD)作为高速可记录盘的示例。然而，显然，本发明的概念可应用于各种高密度的高速可记录光盘。
本发明的特点在于提出了一种高速可记录光盘中的新的缺陷区管理方案。较佳地，以下说明在描述中所使用的“缺陷区”和“缺陷区管理”的意思。
首先，本发明中的“缺陷区”表示盘内的一特定区域，由于稍后的特殊原因它很可能发展为无法纠正的区域。在当前步骤中，“缺陷区”意味着其中相应区域的数据被充分保留的区域。“管理缺陷区”意味着以将特定区域指定为缺陷区的方式增强盘内记录的数据的可靠性的一种管理方案，其中在该特定区域中相应数据被记录或将被记录并在变成不可纠正的区域之前将这些数据传递到盘内的替换区。特别是，在记录或再现数据本身明显有意义(诸如PC数据)的信息的情况下，将高度需要缺陷区管理。
因此，为被判定为“缺陷区”的情况准备一参考是很重要的。通过应用稍许较高的标准可以对“缺陷区”的较低出现作出这种参考，以降低系统设计者设计的系统负荷(为防止频繁的替换记录)，或者相反地，通过应用稍许较低的标准来指明更多的“缺陷区”，以确保数据的更高的可靠性，从而将数据安全地传递到替换区。
对于用于缺陷区判定的参考，各种盘标准分别提出了不同的参考。并且，记录单元内出现的错误量通常被用作参考。例如，如果发生超出特定数量的错误，则被判定为“缺陷区”并进行替换记录以便将数据记录于替换区内。如果错误未能出现超过该特定数量，则它不被判定为“缺陷区”且相应的错误利用ECC(纠错码)等进行纠错。因此，通过考虑最佳系统和数据保护，系统设计者定义将应用于系统的对“记录单元内的错误量总计达特定数量”的参考，从而能判定相应的记录单元是否被确定为“缺陷区”还是“正常区”。
在判定缺陷区时，本发明旨在提出一种通过采用上述缺陷区判定方法(例如，“记录单元内错误量总计达特定数量”为多少？)附加地应对记录速度的缺陷区判定方法。这是因为根据记录速度不同而存在记录单元内出现的错误量不同以影响“缺陷区”的判定。在高速下进行记录时通常产生更多的“缺陷区”，这是因为由于在高速下整体系统变得不稳定所以在高速下记录单元内出现的错误量增加超过低速下的。
图2和图3是用于说明根据本发明的应对记录速度的缺陷区管理方法概念的光盘结构示意图和流程图。
图2示出了根据本发明的执行光盘上的记录的流程。
参考图2，在盘数据区内进行记录时，优选以可应用的高速在特定部分上进行记录，随后验证是否在相应部分中生成缺陷区。例如，该特定部分被称作“验证单元”并且是包括约9个记录单元的一个验证单元，如图2所示。然而，为便于说明而设定记录单元的数量(9个)，且该数量可以不同地进行设定。
如果缺陷区不能以相应的高速生成，类似于图2中的验证单元(1)，则对下一个验证单元(2)重复以上步骤。如果从验证单元(2)中生成缺陷区，则以低速降低记录速度，随后再次验证缺陷区的存在或不存在。如果在以低速进行记录的情况下相应区域被判定为缺陷区，则该相应区域被判定为用于与备用区进行替换记录的先前缺陷区且随后在其上执行缺陷区管理。
然而，在验证单元(n)的情况下，如果尽管在高速下判定一区域为缺陷区但在低速下判定其为非缺陷区，则该相应区域不由备用区替换，在被认作非缺陷的该相应区域上以低速进行记录，并且相应区域的位置信息和速度信息记录于缺陷管理区DMA中以便被管理。因此，根据记录速度变化被判定为非缺陷区的区域作为正常区域处理，但一起管理用于非缺陷区的判定的相应记录速度信息。因此，相应区域能以相应记录速度被记录，从而可以减少由于替换记录引起的系统负荷并维持数据可靠性。可以按各种方式执行缺陷区验证方法。如果数据可靠性安全是重要的，则采用“写入后验证”。“写入后验证”是可任选的系统项。显然，各种验证方案都可应用于本发明。
图3示出了本发明的技术背景。
参考图3，如果如图2中所说明地在以高速进行记录的过程中生成缺陷区，通过将记录速度降低到较低的速度来重新验证相应区域中是否存在缺陷。如果以低速被判定为缺陷区，则将缺陷信息(RAD型可重新分配缺陷)作为表示正常替换记录的信息记录于缺陷管理区内的缺陷列表DFL中。如果在低速下未被判定为缺陷区，则不执行替换记录而将与正常替换的缺陷信息类型不同的另一缺陷信息记录于缺陷管理区内的缺陷列表DFL中(NDR型低记录速度下非缺陷)。
同时，通过参考图4到12，以下详细说明支持本发明技术背景的缺陷区管理方法和缺陷信息记录方法。
以下首先说明在缺陷列表(DFL)中记录缺陷管理区内的缺陷区的位置信息的一般方法。
缺陷列表包括一列表，且该列表包括多个条目，其中每一个条目都由其中缺陷区的8个字节的记录位置信息构成。一个条目包括记录用于标识缺陷区类型的标识信息的字段状态1和状态2，其中通常记录被判定为数据区内的缺陷区的位置的“缺陷簇第一PSN”字段，以及其中记录替换缺陷区的区域位置的“替换簇第一PSN”字段。然而，仅为了先前BD-RE的兼容性，字段名使用相同的字段名。因此，相应字段中写入的内容会与一般情况的哪些不同，这在以下通过本发明的实施例详细说明。
图4和5是根据本发明第一实施例的用于记录以管理缺陷区的位置信息的示图，其中缺陷区的位置信息按作为最小记录单元的簇被记录。
参考图4，在数据区内存在两种类型的缺陷区。一种缺陷区类型对应于在高速和低速两者下都被判定为缺陷区的情况(A，B)，而另一种缺陷区类型对应于在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的情况(C，D)。
因此，将在簇-A和簇-B中记录的数据分别通过备用区内区域-a和区域-b中的替换而记录。对于为此的缺陷区信息，“状态1＝0000”被记录作为RAD(可重新分配缺陷)类型条目，它指定缺陷区的信息被正常替换，区域-A和区域-B的位置信息被记录于“缺陷簇第一PSN”字段，且相应区域-a和区域-b的位置信息被记录于“替换簇第一PSN”字段中以便被管理。同时，在区域-C和区域-D上不进行替换记录，它们仅在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为正常区，从而区域-C和区域-D的缺陷信息记录方法应不同于区域-A和区域-B的。因此，提供“状态1＝1001”以定义作为NDR(在低记录速度下非缺陷)的条目，区域-C和区域-D的位置信息被记录在“缺陷簇第一PSN”字段中，且由于不存在替换区，所以被判定为非缺陷区的情况的记录速度信息被记录在“替换簇第一PSN”字段中。当相应光盘稍后被重载时，记录/再现单元(图12中的‘10’)引用相应的管理信息并通过引用相应条目中记录的记录速度信息在区域-C和区域-D上执行记录，以便从区域-C和区域-D中不产生缺陷区。因此，能降低缺陷区产生的概率。此外，还可能将所产生的缺陷区的高速信息记录作为“替换簇第一PSN”字段中记录的记录速度信息。由于系统还能由高速信息通知缺陷区按条目中写入的速度生成，能够以低于写入的速度的预定速度进行记录。
图5示出了将条目标识为图4情况下的缺陷信息的表。
参考图5，如果“状态1＝0000”，它表示相应区域是正常替换的缺陷区(RAD条目)。如果“状态1＝1001”，它表示相应区域在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区(NDR条目)并且表示判定非缺陷区情况下的记录速度信息(即低速的信息)被记录在相应NDR条目内。
图6和7是根据本发明第二实施例的用于记录以管理缺陷区的位置信息的示图，其中用于缺陷区的位置信息按作为连续最小记录单元的簇被记录。
参考图6，在数据区中存在两种缺陷区。一种缺陷区类型对应于在高速和低速两者下被判定为缺陷区的情况(A，B)，而另一种缺陷区类型对应于在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的情况(C，D)。
因此，要记录于簇-A和簇-B中的数据分别通过备用区内的区域-a和区域-b中的替换得以记录。对于为此的缺陷区信息，“状态1＝0000”被记录为RAD(可重新分配的缺陷)类型条目，它指明缺陷区的信息被正常替换，区域-A和区域-B的位置信息被记录于“缺陷簇第一PSN”字段中，并且相应区域-a和区域-b的位置信息被记录于“替换簇第一PSN”字段中以便被管理。同时，在区域-C和区域-D上不进行替换记录，它们仅在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为正常区域，从而区域-C和区域-D的缺陷信息记录方法应不同于区域-A和区域-B的。并且，可以看到区域-C对应于多个簇被判定为相同区域的情况而区域-D是仅对应于一个簇的区域。因此，可以定义提供“状态1＝1001”来指示NDR(低记录速度下非缺陷)类型以及表示相应区域的连续记录单元数的二进制值被写入“状态2”字段。例如，4个簇在区域-C中连续，记录“状态2＝0100”。区域-D由一个簇构成，记录“状态2＝0001”。其余字段类似于本发明的第一实施例进行记录。作为连续记录单元的起始簇的区域-C和区域-D的位置信息被记录在“缺陷簇第一PSN”字段中，且由于不存在替换的区域，被判定为正常区的情况的记录速度信息记录于“替换簇第一PSN”字段中。当相应的光盘稍后被重载以便在区域-C和区域-D上进行记录时，记录/再现单元(图12中的10)通过引用相应条目中记录的记录速度信息来执行该记录，以便从缺陷管理信息内的大小信息所指示的连续簇中不产生缺陷区。因此，能降低缺陷区产生的概率。此外，还可能将所产生的缺陷区的高速信息记录为“替换簇第一PSN”字段中记录的记录速度信息。由于系统还能由高速信息通知以条目中写入的速度生成缺陷区，所以能以低于写入的速度的预定速度进行记录。
图7示出了将条目标识为图6情况中的缺陷信息的表。
参考图5，如果“状态1＝0000”，它表示相应区域是正常替换的缺陷区(RAD条目)。如果“状态1＝1001”，它表示相应区域在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区(NDR条目)，并表示连续簇的大小信息记录于NDR条目内的“状态2“字段中，以及表示判定非缺陷区的情况下的记录速度信息(即用于低速的信息)记录于相应NDR条目内的“替换簇第一PSN”字段中。
与根据本发明的第一实施例相比，根据本发明的第二实施例的特点在于能降低条目的数量。
图8和9是根据本发明第三实施例的用于记录以管理缺陷区的位置信息的示图，其中仅在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的区域的位置信息由其中记录的一区段指定。
参考图8，数据区中存在两种缺陷区区段。一种缺陷区区段类型对应于在高速和低速两者下都被判定为缺陷区的情况(区段A-C，验证单元(k))，而另一缺陷区区段类型对应于在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的情况(区段E-F，验证单元(n))。
首先，作为重新验证在高速下被判定为缺陷区的区段A-C的结果，在低速下，区域-A、区域-B和区域-C被判定为缺陷区而区域-D在低速下被判定为非缺陷区。在这种情况下，用于相应区段的缺陷信息在缺陷管理区中单独地按簇记录。
然而，作为重新验证在高速下被判定为缺陷区的区段E-F的结果，在低速下，所有簇都被判定为非缺陷区。在这种情况下，为整体的相应区段(区域-E到区域-F)记录一个缺陷信息。
因此，簇-A、簇-B和簇-C中要记录的数据分别在备用区内区域-a、区域-b和区域-c中通过替换而被记录。对于为此的缺陷区信息，将“状态1＝0000”记录作为RAD(可重新分配的缺陷)类型条目，它指明缺陷区信息被正常替换，区域-A、区域-B和区域-C的位置信息被记录于“缺陷簇第一PSN”字段中，且相应的区域-a、区域-b和区域-c的位置信息被记录于“替换簇第一PSN”字段中以便被管理。
同时，在区段A-C内，在仅在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为正常区域的区域-D上不进行替换记录，从而区域-D的缺陷信息记录方法应与区域-A、区域-B和区域-C的不同。因此，提供“状态1＝0001”来指示NDR(低记录速度下非缺陷)类型并设定“状态2＝0000”来通知相应区域由一个条目记录作为一个簇。
然而，为了对其进行表示，区段E-F需要一对条目(对条目)。在第一条目中，“状态2＝0001”通知一对条目的第一个且分别表示同一区段的开始和结束簇的区域-E和区域-F的位置信息分别记录于“缺陷簇第一PSN”字段和“替换簇第一PSN”字段中。在第二条目中，“状态2＝0010”通知一对条目的第二个且用于导致无缺陷区的低速的记录速度信息被重复地记录于“缺陷簇第一PSN”字段和“替换簇第一PSN”字段中。然而，第二条目的“替换簇第一PSN”字段可被设定为“00h”，代替重复地记录该记录速度信息。
此外，还可能将将产生的缺陷区的高速信息记录为第二条目的“缺陷簇第一PSN”字段中记录的记录速度信息。由于系统还能由高速信息通知以条目中写入的速度从相应区段中产生缺陷区，所以能以低于写入的速度的预定速度进行记录。
图9示出了用于将一条目标识为图8情况下的缺陷信息的表。
参考图9，如果“状态1＝0000”，它表示相应区域是一正常替换的缺陷区(RAD条目)。如果“状态1＝1001”，它表示相应区域在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区(NDR条目)。如果“状态2＝0000”，它表示一个应对每个簇的条目。如果“状态2＝0001”，它表示指示特定区段的一对条目中的第一个条目。如果“状态2＝0010”，它表示指示特定区段的一对条目中的第二个条目。
本发明的第三实施例不仅能应对每个区段以使系统按簇改变记录速度还能降低负荷。
图10是可应用于本发明的缺陷列表的示意性结构示图。
参考图10，用于通知在相应DFL中记录的缺陷条目中存在多少特定类型条目的信息包含在DFL的首部中。因此，通过将RAD-条目和NDR-条目的数量记录在首部信息中，促进系统优先地从DFL首部信息中识别条目数量。
图11是用于说明根据本发明的应对记录速度的缺陷管理方法的另一概念流程图，其中扩展了图3的概念流程图。
参考图11，接收到记录命令的记录/再现装置(图12中的10)以盘可用的最大速度Vmax开始记录并保持以Vmax进行记录，除非在记录期间产生缺陷区。如果验证缺陷区，则记录/再现装置以低于最大速度Vmax的低速Vnext重新验证相应区域的缺陷是否存在(步骤1)。
如果在以Vnext记录的情况下判定相应区域不是缺陷区，则利用图4、图6和图8中的根据本发明第一到第三实施例的方法之一，相应区域的位置信息以及在Vnext下缺陷区不存在的记录速度信息被记录到DFL。这样，如本发明第一到第三实施例中所说明的，“Vmax”可作为记录速度信息记录到DFL，代替Vnext。在以Vnext进行记录时，如果相应区域类似于以Vmax进行记录那样被判定为缺陷区，则以与盘可用的1x速度相对应的Vnom重新验证该相应区域中是否存在缺陷(步骤2)。
这样，能设置步骤2中根据系统的与Vnext相对应的多个记录速度。例如，将“Vmax＝16x速度”，“Vnext1＝8x速度”，“Vnext2＝4x速度”，“Vnext3＝2x速度”设置为记录速度，且在以“Vnom＝1x速度”的最终记录速度验证相应区域之前将步骤2重复若干次。
最后，如果在以Vnom记录的情况下将相应区域判定为非缺陷区，则利用根据图4、图6和图8中本发明第一到第三实施例的方法之一，将相应区域的位置信息以及Vnom下非缺陷区存在的记录速度信息被记录到DFL。这样，如本发明的第一到第三实施例中所说明的，“Vnext”可以作为记录速度信息被记录到DFL，代替Vnom。在以Vnom进行记录时，如果相应区域类似于以Vnext记录那样被判定为非缺陷区，则相应区域的数据被传递到替换区用于替换记录并将缺陷区的位置信息和替换区的位置信息记录到DFL(步骤3)。
图12示出了用于可应用于本发明的光盘的记录/再现装置。
参考图12，根据本发明的记录/再现装置包括在光盘上进行记录/再现的记录器/再现器10以及控制该记录器/再现器10的控制单元20。控制单元20提供用于特定区域的记录或再现命令，且记录器/再现器10根据控制单元20的命令在该特定区域上进行记录/再现。特别是，记录器/再现器10包括与外部装置进行通信的接口单元12、直接将数据记录到光盘上或再现数据的拾取单元11、从拾取单元11接收再现信号以便恢复成必要的信号值或为传递将要记录的信号调制为光盘上记录的信号的数据处理器13、从光盘中正确地读出信号或者控制拾取单元11将信号正确地记录到光盘上的伺服单元14、临时存储包括管理信息和数据的各种信息的存储器15以及负责控制记录器/再现器10内的上述元件的微计算机16。以下详细说明根据本发明的光盘的记录过程。
工业应用性首先，一旦将光盘载入记录/再现装置，盘内的整个盘管理信息被读出以便临时存储在记录器/再现器10的存储器15中。并且，各种盘管理信息被用于光盘的记录/再现。特别是，本发明的缺陷管理区内记录的缺陷列表(DFL)包含在存储器15中存储的管理信息中。因此，将DFL内缺陷区的位置信息和替换区的位置信息读出以存入存储器15。在特定缺陷信息(NDR类型)的情况下，将记录速度信息读出，也存入存储器15。如果盘是全新盘，诸如NDR类型条目和RAD类型条目的缺陷信息将不存在于缺陷管理区内的DFL中。
如果意图在光盘内的特定区域上进行记录，则控制单元20将该意愿译成写入命令随后将它连同用于记录目标区的写入位置信息的数据一起传递给记录器/再现器10。在接收到写入命令后，微计算机16通过存储器15中存储的缺陷管理信息判定相应的记录速度，该速度将由控制单元应用于光盘内的记录目标区。特别是，如果将记录目标区记录作为缺陷信息(NDR类型)，则相应缺陷信息内记录的记录速度信息将被用于判定为用于该相应区域的记录速度。如果记录目标区域未被记录作为缺陷信息(NDR类型)，则将可应用于盘和系统的高速度判定作为记录速度。
随后，验证在以所判定的高速进行记录时是否产生缺陷区。如果作为验证结果在高速下产生缺陷区，则将记录速度变成低速，随后重新验证是否从相应区域中产生缺陷区。对于在高速和低速下都被判定为缺陷区的区域，将被写入相应区域的数据会通过替换而记录于替换区。对于在高速下判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的区域，以低速进行记录。并且，按照图4、图6和图8中示出的本发明的实施例之一的方式，将记录中产生的缺陷区记录在缺陷管理区中。然而，如果初始判定的记录速度是低速，则不采用以上说明的缺陷区管理方案。取而代之，采用在整个缺陷区上进行替换记录的缺陷区管理方法以应对记录速度。
因此，本发明提出了一种应对可高速记录的光盘中的记录速度的缺陷管理方案，从而提供了缺陷区的精确判定以降低缺陷区产生的频率。特别是，本发明提供了特定区段的最佳记录速度信息，因此能减少总体系统负荷。此外，由于最佳记录速度可应用于特定区段中的重新记录，所以能确保数据的高可靠性。
本领域的熟练技术人员显见的是，本发明中可以进行各种修改和变型。因此，本发明旨在覆盖本发明的修改和变型，只要它们在所附权利要求书及其等效物的范围内。
权利要求
1.一种管理光学记录媒介中的缺陷区的方法，包括以下步骤检查在第二记录速度下是否发现缺陷区，在第一记录速度下是否发现所述缺陷区，所述第二记录速度低于所述第一记录速度；以及基于所述检查步骤确定是否用替换区替换所述缺陷区。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，如果在第二记录速度下发现缺陷区，则将要在缺陷区中记录的数据记录于替换区中。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括记录管理信息以指示所述缺陷区的位置以及所述替换区的位置。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述管理信息还包括用替换区替换缺陷区的状态信息。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，如果在第二记录速度下未发现缺陷区，则将要在缺陷区中记录的数据记录于相应区域中。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括记录管理信息以指示缺陷区的至少一个位置。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息还包括缺陷区未被替换的状态信息。
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息还包括第二速度的速度信息。
9.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息还包括第一速度的速度信息。
10.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息作为一个条目按最小记录单元进行记录。
11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述最小记录单元是一个簇。
12.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息作为一个条目按连续的最小记录单元进行记录。
13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述条目包括指明所述连续最小记录单元数量的信息。
14.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述最小记录单元是一个簇。
15.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述位置信息包括缺陷区的起始位置和缺陷区的终止位置。
16.如权利要求15所述的方法，其特征在于，所述管理信息还包括第一记录速度或第二记录速度的速度信息。
17.如权利要求16所述的方法，其特征在于，所述缺陷区的起始位置和终止位置以及所述速度信息通过多个条目被记录。
18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，多个条目包括包含所述起始位置和终止位置的第一条目以及包括相应区域的速度信息的第二条目。
19.如权利要求18所述的方法，其特征在于，用于标识第一和第二条目的标识信息被记录在相应的条目内。
20.一种管理光学记录媒介的缺陷区的方法，包括以下步骤记录第一条目，它包括在第一记录速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的第一区域的第一位置信息，所述第二速度低于所述第一速度；以及记录第二条目，它包括在第一速度和第二速度下都被判定为缺陷区的第二区域的第二位置信息。
21.如权利要求20所述的方法，其特征在于，还包括记录标识第一和第二条目的每一个中的相应条目的标识信息。
22.如权利要求21所述的方法，其特征在于，所述第一条目还包括被判定为非缺陷区的第一区域的记录速度信息。
23.如权利要求21所述的方法，其特征在于，所述第二条目还包括用于替换区的位置信息，通知要在缺陷区中记录的数据被记录于替换区内。
24.一种管理光学记录媒介的缺陷区的方法，包括验证在以可应用的最大速度进行记录时是否产生缺陷区；如果在所述可应用的最大速度下产生缺陷区，则通过将记录速度变成低于所述可应用的最大速度的中间速度至少一次，重新验证相应区域的缺陷是否存在；如果在所述中间速度下产生缺陷区，则通过将所述记录速度变成最小速度，重新验证相应区域的缺陷是否存在；以及根据第一到第三步骤中的每一个的结果，在光学记录媒介的特定区域处记录被判定为缺陷区的区域的位置信息。
25.如权利要求24所述的方法，其特征在于，对于在第一步骤处被判定为缺陷区而在第二步骤处被判定为非缺陷区的区域，相应区域的位置信息被记录在特定区域处。
26.如权利要求25所述的方法，其特征在于，应用于第二步骤的记录速度信息被进一步记录在所述特定区域处。
27.如权利要求25所述的方法，其特征在于，应用于第一步骤的记录速度信息被进一步记录在所述特定区域处。
28.如权利要求24所述的方法，其特征在于，对于在第一和第二步骤处被判定为缺陷区而在第二步骤处被判定为非缺陷区的区域，将相应区域的位置信息记录于特定区域处。
29.如权利要求28所述的方法，其特征在于，应用于第三步骤的记录速度信息被进一步记录于所述特定区域。
30.如权利要求28所述的方法，其特征在于，应用于第二步骤的记录速度信息被进一步记录于所述特定区域。
31.如权利要求24所述的方法，其特征在于，对于在第一到第三步骤处都被判定为缺陷区的区域，将相应区域的位置信息记录于所述特定区域。
32.如权利要求31所述的方法，其特征在于，进一步将用于缺陷区的替换区的另一位置信息记录于所述特定区域。
33.一种记录媒介，包括缺陷管理区，它用于管理缺陷区；以及数据区，其中记录数据，其中所述缺陷管理区至少包括第一条目以便记录在第一速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的位置信息，所述第一速度高于所述第二速度。
34.如权利要求33所述的记录媒介，其特征在于，所述第一条目还包括第一或第二记录速度的速度信息。
35.如权利要求34所述的记录媒介，其特征在于，所述第一条目还包括缺陷区未被替换的状态信息。
36.如权利要求33所述的记录媒介，其特征在于，还包括缺陷管理区内提供的第二条目，以便记录在第一和第二速度下都被判定为缺陷区的另一位置信息。
37.如权利要求36所述的记录媒介，其特征在于，所述第二条目还包括第一或第二记录速度的速度信息。
38.如权利要求36所述的记录媒介，其特征在于，所述第二条目还包括用于缺陷区的替换区的位置信息。
39.如权利要求36所述的记录媒介，其特征在于，所述第二条目还包括用替换区替换缺陷区的状态信息。
40.一种用于在光学记录媒介上记录数据的方法，包括以下步骤接收用于特定区域的记录命令；验证在第一速度下在所述特定区域上是否产生缺陷区；如果在高速下产生缺陷区，则通过将记录速度变成第二速度来重新验证相应区域的缺陷是否存在，所述第二速度低于所述第一速度；作为重新验证步骤的结果，将要记录于在第一和第二速度下都被判定为缺陷区的第一区域中的数据记录到替换区中；以及在第一速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的第二区域上以第二速度记录数据。
41.一种用于在光学记录媒介上记录数据的方法，包括以下步骤通过从光学记录媒介内的缺陷管理区中读取缺陷区的位置信息和相应缺陷区的记录速度信息，确定可应用于光学记录媒介内的特定区域的记录速度；以及如果接收到用于特定区域的记录命令，则以确定的记录速度进行数据的记录。
42.一种用于在光学记录媒介上记录或再现数据的装置，包括拾取单元，它在光学记录媒介上记录或读取数据；以及控制器，它验证在第一速度下在特定区域上是否产生缺陷区，如果在第一速度下产生缺陷区则通过将记录速度变成第二速度来重新验证相应区域的缺陷是否存在，控制拾取器将要记录于在第一和第二速度下都被判定为缺陷区的第一区域的数据记录在替换区中，并控制所述拾取器在第一速度下被判定为缺陷区而在第二速度下被判定为非缺陷区的第二区域上以第二速度记录数据。
全文摘要
本发明提供了一种管理可高速记录的光盘的缺陷区的方法、其记录/再现方法及其记录/再现装置，通过它们提供缺陷区的精确判定。此外，最佳记录速度可应用于特定区域中的重新记录，从而能确保数据的高可靠性。在具备用于高速可记录光盘内的缺陷管理的缺陷管理区的光盘中，本发明包括验证在以高速进行记录时是否产生缺陷区，如果在高速下产生缺陷区则通过将记录速度变成低速来重新验证相应区域的缺陷的是否存在，并在缺陷管理区中记录以管理在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的区域的位置信息。
文档编号G11B7/007GK1823372SQ200480020123
公开日2006年8月23日 申请日期2004年7月15日 优先权日2003年7月15日
发明者金进镛, 徐相运 申请人:Lg电子株式会社