专利名称：优化写策略的方法和使用该方法的光学记录设备的制作方法
技术领域：
本发明的方面涉及一种写策略(WS)优化方法和使用该方法的光学记录设备。更具体地，本发明的方面涉及一种通过执行自适应WS学习来优化WS的方法和使用该方法的光学记录设备。
背景技术：
在向所安装光盘的用户数据区记录用户数据之前，光学记录设备执行WS学习。执行WS学习来得到最优WS。为了改善数据记录性能，WS学习在用户数据记录过程之前进行，并且根据最优WS记录用户数据。
在光学记录设备中安装(插入)光盘时执行WS学习，并且在用户数据记录操作期间不执行。其意思是安装光盘时得到的WS在后来不改变。但是，在安装光盘时得到的WS并不总是适合用户数据记录操作。更具体地，如果不适当地执行WS学习，或如果光盘的介质特性因在用户数据区内执行多次记录操作而改变，在安装光盘时得到的WS则不一定保持最优WS。为了得到最优WS，不得不修改WS。
在光盘的测试记录区执行WS学习。在光盘上提供测试记录区，并供WS学习专用。一旦将记录区的测试记录区用于了测试记录，就不能再将其用于测试记录了。即，在从未被用于测试记录的测试记录区的未用点执行WS学习。
另一方面，有一种允许向用户数据区多次重写用户数据的光盘。这种光盘被称作可重写光盘。与普通光盘相似，可重写光盘具有测试记录区来执行WS学习，并且在从未被用于测试记录的测试记录区的未用点执行WS学习。但是，因为在从未被用于测试记录的测试记录区内执行WS学习，所以得到的WS不会适合向已被多次用于数据记录的用户数据区记录用户数据的情况。
即，在已被多次用于数据记录的用户数据区的介质特性和从未被用于数据记录的测试记录区之间的介质特性之间有差别。这种差别由多次记录操作引起的用户数据区的介质中的改变而产生。因此，如果通过在测试记录区执行WS学习而得到WS，其可能不适合向已被多次用于数据记录的用户数据区记录用户数据的情况。如果数据重写操作的次数增加，这就更有问题了。
发明内容
本发明的方面提供一种通过在发生于用户数据记录操作之间的间隔期间执行WS学习来优化写策略(WS)方法，以及使用该方法的光学记录设备。
根据本发明的一方面，一种写策略(WS)优化方法包括向可重写光盘记录用户数据的缓冲部分；在完成了缓冲用户数据的记录时，执行WS学习；以及根据由所执行WS学习得到的WS记录后来的缓冲用户数据。
根据本发明的一方面，但非必要地，执行WS学习直到完全缓冲了稍后要记录的用户数据。
根据本发明的一方面，WS优化方法还包括检查是否正常记录了与已被完全记录的部分用户数据有关的记录信息，其中，如果确定非正常记录了记录信息，则执行WS学习。
根据本发明的一方面，其中执行WS学习包括将其中记录记录信息的记录信息区和测试记录区之一确定为执行WS学习的WS学习区；以及在所确定WS学习区执行WS学习。
根据本发明的一方面，确定WS学习区包括将包括不会被用于记录用户数据的记录信息区的不可用块的区域确定为WS学习区。
根据本发明的一方面，确定WS学习区包括将包括已被用于记录记录信息预定次数的记录信息区的块的区域确定为WS学习区。
根据本发明的一方面，确定WS学习区包括如果未用块的数量大于或等于预定数量，确定包括未用块的区为WS学习区。
根据本发明的一方面，确定WS学习区包括如果未用块的数量少于预定数量，确定测试记录区为WS学习区。
根据本发明的一方面，光学记录设备包括向可重写光盘记录缓冲用户数据的光学检波器；驱动光学检波器的光学检波器驱动单元；以及控制光学检波器驱动单元的控制器，以便光学检波器在完全记录了缓冲用户数据时执行写策略(WS)学习，并稍后根据由WS学习得到的WS记录后来的缓冲用户数据。
根据本发明的一方面，执行WS学习，直到完全缓冲了稍后要记录的后来的缓冲用户数据为止。
根据本发明的一方面，光学记录设备还包括检查是否正常记录了与已被完全记录的用户数据有关的记录信息的检查单元，其中控制器控制光学检波器驱动单元，因此，如果检查单元确定非正常记录了记录信息，光学检波器执行WS学习。
根据本发明的一方面，光学记录设备还包括将其中记录记录信息的记录信息区和测试记录区之一确定为执行WS学习的WS学习区的确定单元，其中控制器控制光学检波器驱动单元，以便光学检波器在所确定WS学习区执行WS学习。
根据本发明的一方面，确定单元将包括不会被用于记录用户数据的记录信息区的未用块的区确定为WS学习区。
根据本发明的一方面，确定单元将包括已被用于记录了记录信息预定次数的记录信息区的块的区域确定为WS学习区。
根据本发明的一方面，如果未用块的数量大于或等于预定数量，确定单元将包括未用块的区确定为WS学习区。
根据本发明的一方面，如果未用块的数量少于预定数量，确定单元将测试记录区确定为WS学习区。
在随后的描述中将部分地提出发明的附加方面和/或优点，并且部分地从描述中将显而易见，或者可以通过发明的实施了解。
通过以下结合附图的实施例的描述，本发明的这些和/或其它方面及优点将会更加明显和更加易于理解，其中
图1是演示可应用于本发明的一方面的可重写光盘的格式的视图；图2是演示根据本发明的实施例，通过执行自适应WS学习来优化WS的光学记录设备的方框图；以及图3是演示一种根据本发明的实施例，通过执行自适应WS学习来优化WS的方法的流程图。
具体实施例方式
在下文中，将参考附图更加详细地描述本发明的方面，其中相似的参考数字表示相似的元件。为了解释本发明，下面通过参考图来描述实施例。
图1是演示被应用于本发明的一方面的可重写光盘的格式的视图。参考图1，可重写光盘(下文中称作“光盘”)从内往外具有内部驱动区(IDA)100、引入区(LIA)200、用户数据区(UDA)300、引出区(LOA)400和外部驱动器区(ODA)500。UDA 300上记录诸如音频/视频(AV)数据的用户数据(UD)。
IDA 100、LIA 200、LOA 400和ODA 500上记录与光盘的管理、重现和记录操作有关的数据。IDA 100具有测试区(TA)600和记录信息区(RIA)700。TA 600用于写策略(WS)学习。RIA700记录与记录到UDA 300的用户数据有关的记录信息(RI)。RIA 700包括多个记录信息块(RIB)(第一到第N RIB 750)。虽然在所示例子中将RIA 700描述为包括记录信息块750，但应该理解，根据发明的其它方面，RIA 700能够包括其它信息、块和/或区。
与用户数据的记录并行地执行记录信息的记录。具体地，如果已向UDA 300记录了预定数量的用户数据，最初将与当前所记录的用户数据有关的信息记录到RIB 750作为记录信息。如果后来向UDA 300另外记录了预定数量的用户数据，将与当前所记录的用户数据有关的信息记录到RIB 750作为新的记录信息。即，在记录用户信息的过程中继续更新记录信息。
因为记录信息与所记录的用户数据有关，所以记录信息是重现用户数据的重要因素。因此，如果正常执行了用户数据记录，但没有正常执行RI初始记录或重写(下文中称为“RI记录”)，则不可能重现用户数据。因此，当完成记录信息的记录时，必须确定是否正常执行了记录信息的记录。如果确定在某一RIB 750正常执行了记录信息的记录，则将这一RIB 750继续用于RIB记录。但是，如果在某一RIB 750没有正常执行记录信息的记录，则不再将这一RIB 750用于记录信息的记录，并安排下一记录信息来执行记录信息的记录。
例如，如果在第一RIB 750执行了记录信息的记录并确定其为非正常，则安排第二RIB 750来执行记录信息的记录。
因此，位于当前正在记录记录信息的当前RIB 750之前的RIB 750已被多次用于记录信息的记录。所以，不会再将这些之前使用过的RIB750用于用户数据的记录。例如，如果当前在第六RIB 750执行记录信息的记录，则已经多次将第一到第五RIB 750用于记录记录信息了。因此，不会再将第一到第五RIB 750用于与当前用户数据的记录有关的记录信息。
因为已经多次将位于当前RIB 750之前的RIB 750用于记录信息的记录了，所以它们的介质特性与UDA 300的、因用户数据的多次重写操作而改变的介质特性相似。因此，位于当前RIB 750之前的RIB 750具有适合执行WS的介质特性，以便更加接近地近似已被盖写多次的UDA300的介质特性。
到目前为止，描述了可应用于本发明的一方面的光盘的格式。光盘的例子有可重写致密盘(CD)、数字视频盘(DVD)、蓝光光盘(BD)、高级光盘(Advanced Optical Discs，AODs)和HD-DVD。任何其它类型的可重写光盘可以用于本发明的实施例中。
相似地，应该理解可以根据光盘类型，将其它术语用于光盘的各个区。例如，虽然将术语RIA 700用于图1中所示的DVD-RW，但其它术语包括分别用于DVD+RW和DVD-RAM的内容区表(TCZ)和盘标识区(DIZ)。下文中，虽然用术语RIA 700描述，但应该理解可以将发明的方面类似地应用于TCZ和DIZ。此外，虽然在图1中使用术语TA 110，但是可以将其它术语分别用于DVD-RW和DVD+RW，包括功率校准区(PCA)和内部盘测试区(IDTZ)。下文中，虽然用术语TA 600描述，但是应该理解可以将发明的方面相似地应用于PCA和IDTZ。
图2是演示根据本发明的实施例的光学记录设备的方框图。虽然被称为记录设备，并且不是在所有方面都是必要的，但是应该理解在发明的其它方面，该设备还可以执行重现操作。该光学记录设备通过执行自适应WS学习来优化WS。这里，自适应WS学习是在用户数据记录操作之间发生的间隔期间另外执行的WS学习，并从而优化WS。如图2中所示，光学记录设备包括检波器110、检波器驱动单元120、具有缓冲器135的记录处理单元130、重现处理单元140、RIA分析单元150、RIA检查单元160、WS学习区确定单元170、控制器180和存储器190。
检波器110由检波器驱动单元120驱动，从已安装的光盘D中读取数据，并向重现处理单元140输出与所读数据对应的电信号。重现处理单元140处理从检波器110接受到的电信号。检波器110向光盘D记录在由记录处理单元130信号处理之后被用户数据缓冲器135缓冲的用户数据。RIA分析单元150根据从重现处理单元140输出的信号分析RIA 700，并输出分析结果。
RIA检查单元160根据从RIA分析单元150输出的RIA分析结果检查是否正常执行了记录信息的记录，并向WS学习区确定单元170和控制器180传送检查结果。WS学习区确定单元170根据从RIA分析单元150输出的RIA分析结果，在RIA和TA 600之间选择一个作为WS学习区。在所选的WS学习区执行上述的自适应WS学习。
控制器180根据RIA检查单元160的检查结果确定是否执行自适应WS学习。如果确定要执行自适应WS学习，控制器180控制检波器驱动单元120，以便检波器110在所选WS学习区执行WS学习，并向存储器190存储通过执行WS学习而得到的WS。控制器180控制检波器驱动单元120，以便检波器110随后根据存储在存储器190中的WS执行另外的用户数据的记录。
图3是演示一种根据本发明的实施例的通过执行自适应WS学习来优化WS的方法的流程图。参考图3，在操作S210，控制器180存储根据在光盘D的TA 600中执行的WS学习而得到的WS。更具体地，操作S210包括控制器180控制检波器驱动单元120，以便检波器110在光盘D的TA600中执行WS学习，以及向存储器190存储根据WS学习得到的WS。在操作S220，控制器180确定在记录处理单元130的用户数据缓冲器135中是否缓冲了一定量的用户数据。
如果在操作S220确定已缓冲了一定量的用户数据，控制器180控制检波器驱动单元120，从而在操作S230，检波器110根据所存储的WS记录用户数据。更具体地，在操作S230，控制器180控制检波器驱动单元120，以便检波器110根据存储在存储器190中的WS记录用户数据。
如果完成了缓冲用户数据的记录操作，控制器180控制记录信息在操作S240被记录。更具体地，在操作S240，控制器180控制检波器驱动单元120，以便检波器110向对应RIB 750记录与所记录用户数据有关的记录信息。在操作S250，RIA检查单元160根据从RIA分析单元150输出的RIA 700分析结果检查是否正常记录了RI。向WS学习区确定单元170和控制器180传送操作S250的检查结果。
在操作S260，如果确定非正常记录了记录信息，WS学习区确定单元170确定不可用RIB的数量。不可用RIB已被多次用于记录RI，因而不会被用于记录用户数据。积累了足够的不可用RIB时，就指示了多次记录。如此，不可用RIB的数量既指示什么时候应该执行最优WS，又指示不可用RIB组成具有与已被多次用于重写操作的UDA 300的介质特性相似的介质特性的区。如此，不可用RIB本身变成比测试区600更适合的WS学习区。相反地，积累了更少的不可用RIB时，测试区600具有与UDA300相似的介质特性，并可以是与不可用RIB一样合适的WS学习区。
更具体地，在操作S270，WS学习区确定单元170通过使用与用于记录作为RIA分析单元150的RIA分析结果输出的RI的RIB有关的信息确定不可用RIB的数量。例如，如果要用第六RIB 750记录记录信息，第一到第五RIB 750已经多次被用于记录记录信息，从而不会被用于记录用户数据。因此，WS学习区确定单元170确定有5个不可用RIB。
在操作S280，如果不可用RIB的数量大于或等于5，则在操作S290，WS学习区确定单元170选择具有不可用RIB的区作为WS学习区。例如，如果有5个不可用RIB(第一到第五RIB)，则所选WS学习区是第一到第五RIB。但是，尽管将5用作预定数量，应该理解根据光学记录介质的介质特性，作为盖写次数的函数，其它数量可以是预定数量。还应该理解，根据发明的方面，WS学习区不需要是之前所用的所有RIB，而可以只是之前所用RIB中的所选的、最大可能地近似UDA 300的介质特性的那些。
在操作S310，控制器180存储通过在操作290确定的WS学习区中执行WS学习得到的WS，从而更新预存储的WS。因为操作S310与操作S210实质上相同，故省略其描述。如果不可用RIB的数量大于或等于预定数量，例如5，则说明已多次向光盘D的UDA 300重写了用户数据。即，随着用户数据重写操作次数的增加，不可用RIB 750的数量也增加。UDA300的介质特性与不可用RIB 750的相似，而非TA 600的介质特性。因此，不可用RIB 750是更加适合执行WS学习的区，并且使用不可用RIB750得到的WS是更加适合的、将要应用于用户数据记录的WS。
如果在操作S280不可用RIB的数量小于5，WS学习区确定单元170在操作S305选择TA 600作为WS学习区。在操作S310，控制器180存储在所确定的TA 600中通过执行WS学习得到的WS，从而更新之前存储的WS。这是因为对于该例子，由少于5个的不可用RIB所占的区不足以执行WS学习。但是，应该理解，在发明的其它方面，由少于预定数量的不可用RIB所占的区可能足以执行WS，因此除TA 600之外或取代TA 600，仍然能够将不可用RIB用作WS学习区。
此外，如果不可用RIB的数量少于预定数量(本例中的5)，说明在UDA 300中执行的用户数据重写操作的次数相对较少。因此，UDA 300的介质特性与TA 600的相似，而非不可用RIB的介质特性。因此，通常TA 600是更加适合执行WS学习的区，并且使用TA 600得到的WS是更加适合的、将要应用于用户数据记录的WS。但是，应该理解，在发明的所有方面，TA 600可能不是更加合适的。
在操作S310之后，操作S220再次开始。即，根据在操作S310得到和存储的WS，记录在操作S230之后缓冲在UD缓冲器135中的用户数据。执行操作S240到S310，直到在操作S230记录了用户数据之后在用户数据缓冲器135中缓冲了下一用户数据。换句话说，执行操作S240到S310，直到在操作S230记录了用户数据之后用户数据缓冲器135中装满了下一用户数据。由于当前光学记录设备的高速数据记录率，这是可能的。即，因为在某一时间，流出的将要记录的用户数据量大于流进用户数据缓冲器135的用户数据量，所以光学记录设备具有在记录一定量用户数据的时间和缓冲一定量的下一用户数据的时间之间的间隔。在该间隔期间，执行操作S240到S310。以这种方式，将WS保持为最优WS，而不中断记录过程。因此，根据发明的一方面，在执行记录时，WS优化策略实时地执行WS优化(即，不中断记录过程)。但是，应该理解不需要实时地执行WS优化策略，而可以在记录操作之间执行，而不是在记录操作的间隔期间。此外，应该理解根据发明的方面，不需要针对每个间隔都执行优化策略，而可以在所选的间隔中执行。
此外，移置检波器110以执行操作S310需要少量时间。这是因为在执行操作S240和S250时，检波器110已经位于光盘D的RIA 700。换句话说，因为在操作S310要在所选WS学习区执行WS的RIA 700或TA 600(其与RIA 700相邻)与用于执行操作S240和S250的RIA 700相同或非常接近，所以只需要少量时间移置检波器110以在操作S310执行WS学习。因此，根据发明的一方面，在记录过程期间，检波器110有最少量的移动时间。
根据上述的本发明的实施例，在用户数据记录操作中的间隔期间执行WS学习，从而在执行记录操作时得到最优WS。但是，应该理解可以在其它时间执行WS学习，例如在记录设备中首次安装具有现有数据的光盘D时。
在上述实施例中，根据是否正常记录了记录信息确定是否在间隔期间执行WS学习。即，如果非正常记录了记录信息，则在间隔期间执行WS学习，而如果正常记录了记录信息，则在间隔期间不执行WS学习。这是因为非正常的记录信息的记录操作可能是由不合适的WS引起的。但是，不应该将其看作限制。因此，应该理解，除非正常记录信息以外或取代非正常记录信息，可以根据其它因素确定是否在间隔期间执行WS学习。例如，可以根据用户数据记录操作的次数、所记录用户数据的总量和所设置时间是否已过去来执行WS学习。
如上所述，根据不可用RIB的数量是否大于或等于5来确定WS学习区。如果不可用RIB的数量少于5，确定TA为WS学习区。但是，为本示例提供的用于确定WS学习区的数量5是任意值，可以使用其它任何数量。此外，预定数量不需要是任意的，而可以根据从统计上更可能提供UDA 300的条件和不可用RIB的数量之间的一致性的数量来选择。
如上所述，在UD记录操作中的间隔期间执行WS学习，从而实时地得到最优WS。因此，如果在安装光盘D时得到不合适的WS，或不适当地更新了WS，实时执行的另外的WS学习可以纠正不合适的WS。
虽然UDA 300的介质特性由于多次记录操作而改变，但是因为在其介质特性与UDA 300的相似的RIA 700中执行WS学习，所以可以得到最优WS，从而可以改善数据记录性能。
虽然没有要求，但是应该理解，可以将被编码在一个或多个计算机可读介质上的计算机软件与一个或多个通用或专用计算机共同使用来实现本发明的整个或部分方法。
前述的实施例和优点只是范例，而不可解释为限制本发明。本教义可应用于其它类型的设备，并且不需要在执行记录和重现两种操作的设备上执行。此外，本发明的实施例的描述是为了演示之用，并不限制其权利要求或等同物的范围，并且对于本领域的技术人员，许多替换、修改和改变将会明晰可见。
权利要求
1.一种写策略(WS)优化方法，包括向可重写光盘记录缓冲的用户数据；在完成了缓冲用户数据的记录时，执行WS学习以得到另一WS；以及根据另一WS记录另外的用户数据，其中在记录了用户数据之后缓冲另外的用户数据。
2.根据权利要求1所述的WS优化方法，其中执行WS学习包括在缓冲另外的用户数据的同时执行WS学习，并且直到完全缓冲了另外的用户数据为止。
3.根据权利要求1所述的WS优化方法，还包括检查是否向可重写光盘正常记录了与所记录用户数据有关的记录信息，其中执行WS学习包括当非正常记录记录信息时，执行WS学习。
4.根据权利要求1所述的WS优化方法，其中执行WS学习包括在存储与所记录用户数据有关的记录信息的记录信息区和除记录信息区之外的测试记录区之间选择一个作为执行WS学习的WS学习区；以及在所选WS学习区执行WS学习。
5.根据权利要求4所述的WS优化方法，其中记录信息区包括用于存储记录信息的块，以及选择WS学习区包括选择记录信息区的、不会被用于记录另外的用户数据的至少一个所指示块，作为WS学习区。
6.根据权利要求5所述的WS优化方法，其中被选择作为WS学习区的、至少一个所指示块包括之前已被用于记录记录信息预定次数的块。
7.根据权利要求6所述的WS优化方法，其中选择WS学习区包括当所指示块的数量大于或等于预定数量时，选择所指示块作为WS学习区。
8.根据权利要求7所述的WS优化方法，其中选择WS学习区包括当所指示块的数量少于预定数量时，选择测试记录区作为WS学习区。
9.一种与可重写光盘共同使用的光学记录和/或重现设备，包括缓冲器；光学检波器，向可重写光盘记录缓冲的用户数据；光学检波器驱动单元，驱动光学检波器执行记录；以及控制器，在已向可重写光盘记录了缓冲的用户数据之后，控制光学检波器驱动单元，以使光学检波器执行写策略(WS)学习，以得到另一WS和在缓冲器中缓冲另外的用户数据，并根据另一WS记录所缓冲的另外的用户数据。
10.根据权利要求9所述的光学记录设备，其中控制器执行WS学习，直到在缓冲区中完全缓冲了要记录的另外的用户数据。
11.根据权利要求9所述的光学记录设备，还包括检查单元，用于检查是否向可重写光盘正常记录了与所记录用户数据有关的记录信息，其中控制器控制光学检波器驱动单元，因此，当检查单元确定向可重写光盘非正常记录了记录信息时，光学检波器执行WS学习。
12.根据权利要求9所述的光学记录设备，还包括确定单元，在记录与所记录用户信息有关的记录信息的记录信息区和测试记录区之间选择一个作为执行WS学习的WS学习区，其中控制器控制光学检波器驱动单元，以便光学检波器在所确定WS学习区执行WS学习。
13.根据权利要求12所述的光学记录设备，其中记录信息区包括用于记录记录信息的块，以及确定单元选择记录信息区的、不会被用于记录另外的用户数据的所指示块作为WS学习区。
14.根据权利要求13所述的光学记录设备，其中由确定单元选择的所指示块是之前已被用于记录记录信息预定次数的块。
15.根据权利要求14所述的光学记录设备，其中当所指示块的数量大于或等于预定数量时，确定单元选择所指示块作为WS学习区。
16.根据权利要求15所述的光学记录设备，其中当所指示块的数量少于预定数量时，确定单元选择测试记录区作为WS学习区。
17.一种写策略优化方法，用于开发一种用于向具有用于存储现有数据的第一区和用于存储与第一区中所记录的现有数据有关的记录信息的第二区的光学记录介质记录数据的写策略，所述方法包括检测是否达到与向第一区记录另外的数据相关的预定条件；当达到预定条件时，通过使用存储现有记录信息的第二区的部分执行写策略学习来得到用于在第一区中记录另外的数据的优化的写策略；以及当没有达到预定条件时，得到优化的写策略，而不使用第二区执行写策略学习。
18.根据权利要求17所述的写策略优化方法，其中预定条件是存储现有记录信息的第二区的所述部分的大小。
19.根据权利要求18所述的写策略优化方法，还包括根据优化的写策略在第一区记录另外的数据。
20.根据权利要求19所述的写策略优化方法，还包括使用先前的写策略记录先前的用户数据，其中执行检测大小和得到优化的写策略，从而允许使用对应的先前的和优化的写策略实时地记录先前的用户数据和另外的数据。
21.根据权利要求17所述的写策略优化方法，还包括在记录另外的数据之前以及在得到优化的写策略的同时，缓冲另外的数据。
22.根据权利要求17所述的写策略优化方法，还包括当没有达到预定条件时，使用光学记录介质的另一部分执行写策略，以开发用于在第一区记录另外的数据的优化的写策略。
23.根据权利要求22所述的写策略优化方法，其中另一部分包括不在第二区中的测试记录区，将测试记录区指定为不存储记录信息的区。
24.根据权利要求18所述的写策略优化方法，其中第二区以块的形式存储记录信息，检测所述部分的大小包括检测存储现有记录信息的所指示块的数量，当检测到的所指示块的数量达到预定数量时，当检测到的大小达到预定大小时得到优化的写策略包括使用所指示块执行写策略学习，以及当检测到的所指示块的数量少于预定数量时，当检测到的大小低于预定大小时得到优化的写策略包括得到优化的写策略，而不使用所指示块。
25.根据权利要求18所述的写策略优化方法，其中光学记录介质是可重写的，以及预定大小与存储现有记录信息的第二区的、在多次记录后已被盖写足够多次以获得与第一区的介质条件一致的记录介质特性的所述部分的大小一致。
26.根据权利要求17所述的写策略优化方法，其中预定条件是在向所述部分记录现有记录信息之后，确定已经非正常记录了现有记录信息。
27.根据权利要求17所述的写策略优化方法，其中预定条件是是否已在第一区执行了预定次数的重写和/或盖写。
28.根据权利要求17所述的写策略优化方法，其中预定条件是已经向第一区记录了预定量的数据的时候。
29.根据权利要求17所述的写策略优化方法，其中预定条件是在要向第一区记录另外的数据的记录过程期间，在所述记录过程期间和在记录另外的数据之前，预定量的时间已经过去的时候。
30.一种针对具有包括现有数据的第一区和存储与现有数据有关的信息的第二区的光盘的用于转移数据的光学设备，所述设备包括写策略学习区选择单元，检测达到与向第一区记录另外的数据相关的预定条件的时间，并在达到预定条件时，选择存储现有信息的第二区的部分作为写策略学习区；以及控制器，在达到预定条件时通过在所选写策略学习区执行写策略学习来得到最优写策略；在未达到预定条件时、无需使用第二区执行写策略学习来得到优化的写策略，并且根据得到的最优写策略，针对第一区转移另外的数据。
31.根据权利要求30所述的光学设备，其中预定条件是存储现有记录信息的第二区的所述部分的大小。
32.根据权利要求31所述的光学设备，其中，控制器还使用先前的写策略记录先前的用户数据，其中写策略学习区选择单元检测大小，并且控制器得到优化的写策略，从而允许使用对应的先前的和优化的写策略实时地记录先前的用户数据和另外的数据。
33.根据权利要求30所述的光学设备，还包括缓冲器，其中，在记录另外的数据之前和在得到优化的写策略的同时，控制器在缓冲器中缓冲另外的数据。
34.根据权利要求30所述的光学设备，其中在未达到预定条件时，控制器使用光学记录介质的另一部分执行写策略学习，以开发用于在第一区中记录另外的数据的优化的写策略。
35.根据权利要求34所述的光学设备，其中所述另一部分包括不在第二区中的测试记录区，将测试记录区指定为不存储记录信息的区。
36.根据权利要求31所述的光学设备，其中第二区以块的形式存储记录信息，写策略学习区选择单元通过检测存储现有记录信息的所指示块的数量来检测所述部分的大小，控制器，当检测到的所指示块的数量达到预定数量时，使用所指示块执行写策略学习，以及控制器，当检测到的所指示块的数量少于预定数量时，得到优化的写策略而不使用所指示块。
37.根据权利要求31所述的光学设备，其中光学记录介质是可重写的，以及预定大小与存储现有记录信息的第二区的、在多次记录后已被盖写足够多次以获得与第一区的介质条件一致的记录介质特性的所述部分的大小一致。
38.根据权利要求30所述的光学设备，其中预定条件是在向所述部分记录现有记录信息之后，控制器确定是否非正常记录了现有记录信息。
39.根据权利要求30所述的光学设备，其中预定条件是是否已经在第一区执行了预定次数的重写和/或盖写。
40.根据权利要求30所述的光学设备，其中预定条件是已经向第一区记录了预定量的数据的时候。
41.根据权利要求30所述的光学设备，其中预定条件是在要向第一区记录另外的数据的记录过程期间，在所述记录过程期间和在记录另外的数据之前，预定量的时间已经过去的时候。
全文摘要
提供了一种在光学记录设备中使用的、基于自适应写策略(WS)学习优化WS的方法，包括向可重写光盘记录缓冲的用户数据；当完成缓冲的用户数据的记录时，执行WS学习，并稍后根据由WS学习得到的WS记录缓冲的另外的用户数据。因此，由于在UD记录操作期间出现的间隔期间，通过执行WS学习实时地得到了最优WS，所以最优地记录了UD。
文档编号G11B7/0045GK1862670SQ20061007360
公开日2006年11月15日 申请日期2006年4月13日 优先权日2005年5月9日
发明者金旼奭, 安龙津 申请人:三星电子株式会社