专利名称：信息记录媒体和信息记录设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及跟踪伺服控制设备、跟踪伺服控制方法和跟踪伺服控制程序。
背景技术：
一些记录光盘存在预先形成以便生成地址信号、在平台轨道(land track)上的LPP(Land Pre-pits(平台预置坑))。在这样的光盘当中，一种光盘存在如专利文件1(文件1已
公开日本专利第2002-56542号)所公开的、使凹槽变形形成的LPP。另一种光盘存在如专利文件2(文件2已
公开日本专利第2000-195058号)所公开的、在相邻凹槽之间形成的LPP。
在这样的不同光盘中，可以在LPP附近形成信息坑，或者，记录在LPP附近的信息坑可以用于再现。
检测光盘上被错误地读作再生信号的信息坑的位置的已知方法利用如专利文件3(文件3已
公开日本专利第2002-202919号)所公开的ECC(纠错码)块进行检错/纠错。
发明内容
在如上所述的相关技术中，当LPP在光束的照射区内时，由于跟踪补偿值是常数，因此在再现信息坑时，可能得不到正确的再生信号。
本发明的目的是提供跟踪补偿值被设置成在存在LPP和凹槽轨道的光盘中获得正确再生信号的跟踪伺服控制设备、跟踪伺服控制方法、跟踪伺服控制程序和跟踪伺服控制信息记录媒体。
本发明的上面目的可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制设备配有第一生成设备，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成设备，用于当在光束的照射范围之外形成预置坑时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算设备，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
根据本发明，利用在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射范围之外形成LPP时基于反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使第一再生信号的幅度值和第二再生信号的幅度值之差最小。
根据本发明，改变跟踪补偿值(offset value)，使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号之间的幅度变化最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的另一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使第一再生信号的下峰值和第二再生信号的下峰值(lower peak value)之差最小。
根据本发明，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号之间的底值变化最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使第一再生信号的上峰值和第二再生信号的上峰值(upper peak value)之差最小。
根据本发明，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号之间的底值和峰值变化最小，从而构成当再生信号的幅度不改变时，再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使从第一再生信号获得的信息的错误计数和从第二再生信号获得的信息的错误计数之和最小。
根据本发明，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号的出错次数，并在照射范围之外形成LPP时基于反射光的再生信号的出错次数之和最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的上面目的可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制设备配有第一生成设备，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成在一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成设备，用于当在光束的照射范围之内形成在另一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算设备，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
根据本发明，采用在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使第一再生信号的幅度值和第二再生信号的幅度值之差最小。
根据本发明，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的幅度变化最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号与最少出错次数相联系的跟踪伺服控制设备。
本发明的另一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备进一步配有第三生成设备，用于当在光束的照射范围之外形成预置坑时，根据来自记录媒体的反射光生成第三再生信号，其中，计算设备计算补偿值，以便使第三再生信号的上峰值与第一再生信号的上峰值和第二再生信号的上峰值的平均值之差最小。
根据本发明，将跟踪补偿值设置成，相对于在光束的照射范围内不包含LPP的情况下再生信号的峰值，在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的峰值变化量的平均值可能最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备进一步配有第三生成设备，用于当在光束的照射范围之外形成预置坑时，根据来自记录媒体的反射光生成第三再生信号，其中，计算设备计算补偿值，以便使第三再生信号的下峰值与第一再生信号的下峰值和第二再生信号的下峰值的平均值之差最小。
根据本发明，将跟踪补偿值设置成，相对于在光束的照射范围内不包含LPP的情况下再生信号的峰值和底值，在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的峰值和底值变化量的平均值可能最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使第三再生信号的下峰值与第一再生信号的下峰值和第二再生信号的下峰值的平均值之差最小。
根据本发明，将跟踪补偿值设置成，相对于在光束的照射范围内不包含LPP的情况下再生信号的峰值和底值，在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的峰值和底值变化量的平均值可能最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备计算补偿值，以便使从第一再生信号获得的数据的错误计数和从第二再生信号获得的数据的错误计数之和最小。
根据本发明，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号的出错次数，形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号的出错次数之和最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备对补偿值的计算是采用在形成信息坑的连续区中形成的信息坑进行的。
根据本发明，在具有这种配置的跟踪伺服控制设备中，高速检测最佳跟踪补偿值。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备对补偿值的计算是采用在记录媒体的链接区中形成的信息坑进行的。
根据本发明，进行最佳跟踪补偿，使用户意识不到检测最佳跟踪补偿值的时间。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备对补偿值的计算是采用在调整光束的光通量的预置区中形成的信息坑进行的。
根据本发明，当启动跟踪伺服控制设备时，检测最佳跟踪补偿值。此外，检测最佳跟踪补偿值与只写媒体还是记录媒体无关。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，计算设备对补偿值的计算是采用在形成信息坑的记录媒体的一个区域中形成的信息坑进行的，信息坑经历检错/纠错码的检错/纠错。
根据本发明，可以采用ECC来检测最佳跟踪补偿值，从而用更简单的配置检测最佳跟踪补偿值。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，信息坑的形成模式不变。
根据本发明，由于信息坑的形成模式不变，容易检测到最佳跟踪补偿值。
本发明的又一个方面可以通过本发明的跟踪伺服控制设备实现。本发明的跟踪伺服控制设备是这样的，其中，信息坑用于记录借助于检错/纠错码记录的信息，记录媒体上信息坑的位置通过检错/纠错码来指定。
根据本发明，信息记录专用设备或信息记录或再现设备可以检测最佳跟踪补偿值。
本发明上面的目的可以通过本发明的跟踪伺服控制方法实现。进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制方法配有第一生成步骤，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成步骤，用于当在光束的照射范围之外形成预置坑时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算步骤，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
根据本发明，采用在光束的照射区中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而提供再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制方法。
本发明的上面目的可以通过本发明的跟踪伺服控制方法实现。进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制方法配有第一生成步骤，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成在一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成步骤，用于当在光束的照射范围之内形成在另一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算步骤，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
根据本发明，采用在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，形成在另一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而提供再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制方法。
图1是根据第一实施例的信息记录和再现设备的方块图；图2A是RF(射频)信号波形的示意图，其中，跟踪补偿值是-0.086μm(微米)；
图2B是RF信号波形的示意图，其中，(b)中的跟踪补偿值是0μm；图2C是RF信号波形的示意图，其中，(c)中跟踪补偿值是+0.086μm；图3A是示出光束照射区和LPP之间的位置关系的视图，其中，跟踪补偿值是-0.086μm；图3B是示出光束照射区和LPP之间的位置关系的视图，其中，跟踪补偿值是0μm；图3C是示出光束照射区和LPP之间的位置关系的视图，其中，跟踪补偿值是+0.086μm；图4是代表RF变化量和PI(内部奇偶校验)错误的个数之间的关系的曲线图；图5是检测最佳跟踪补偿值的流程图；图6是高速检测最佳跟踪补偿值的流程图；图7是示出LPP和光束照射区之间的位置关系的视图；图8A是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的示意图，其中，跟踪补偿值是-0.086μm；图8B是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的示意图，其中，跟踪补偿值是0μm；图8C是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的示意图，其中，跟踪补偿值是+0.086μm；图9是示出LPP和光束照射区之间的位置关系的视图；图10A是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的视图，其中，跟踪补偿值是-0.086μm；图10B是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的视图，其中，跟踪补偿值是0μm；图10C是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的视图，其中，跟踪补偿值是+0.086μm；图11是代表RF变化量和PI错误的个数之间的关系的曲线图；图12是检测跟踪补偿值的流程图；图13是根据第三实施例的信息记录和再现设备的方块图；图14是根据第三实施例检测最佳跟踪补偿值的流程图；图15是根据第三实施例示出外LPP中RF信号Sf、门信号Sg1以及峰和底值之间的关系的视图；图16是根据第三实施例示出内LPP中RF信号Sf、门信号Sg2、峰值和底值之间的关系的视图；图17是最佳跟踪补偿值检测块的视图；图18是示出跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的表格；图19A是代表跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图，其中，表示了外LPP中错误的个数；图19B是代表跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图，其中，表示了内LPP中错误的个数；图19C是代表跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图，其中，表示了内LPP和外LPP中错误的总数；图20是根据第三实施例示出最佳跟踪补偿值的流程图；图21是创建跟踪补偿参考表的流程图；图22是示出跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的表格；图23A是代表跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图，其中，用(a)表示外LPP中错误的个数；图23B是代表跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图，其中，表示了内LPP中错误的个数；图23C是代表跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图，其中，表示了内LPP和外LPP中错误的总数；图24是根据错误的个数，检测链接区中的最佳跟踪补偿值的流程图；和图25是根据幅度，检测链接区中的最佳跟踪补偿值的流程图。
具体实施例方式
下面描述根据本发明的信息记录和再现设备的优选实施例。
(1)第一实施例图1是根据第一实施例的信息记录和再现设备的方块图。
这个实施例的信息记录和再现设备包括光拾取器2、RF放大电路3、LPP检测电路4、门电路5、二值化电路6、均衡器电路7、RF幅度测量电路8、CPU(中央处理单元)9、跟踪伺服电路10以及致动器驱动电路11。
当将信息记录在光盘1上时，将跟踪控制信号Sa从CPU 9发送到跟踪伺服电路10，跟踪伺服电路10根据跟踪控制信号Sa，将信号传递给致动器驱动电路11。致动器驱动电路11根据控制信号Sc驱动光拾取器2，将光拾取器2移动到光盘1的所需位置上。然后，将信息信号Sc从CPU 9发送到光拾取器2，并根据发送给光拾取器2的信息信号Sc，将光束12施加在光盘1上，从而在光盘1上形成信息坑。
此外，当再现在光盘1上形成的信息坑时，将跟踪控制信号Sa从CPU 9发送到跟踪伺服电路10，跟踪伺服电路10根据跟踪控制信号Sa，将控制信号Sb传递给致动器驱动电路11。致动器驱动电路11根据控制信号Sb驱动光拾取器2，将光拾取器2移动到光盘1的所需位置上。如果光束12从光拾取器2照射在光盘1上，与信息坑的存在与否相对应地生成反射光。在光拾取器2中将反射光从光信号转换成电信号，将转换的电信号作为再生信号Sd传递给RF放大电路3。让再生信号Sd在RF放大电路3中得到放大，在均衡器电路7中经受均衡处理，并作为RF信号Sf输出。在二值化电路6中将RF信号Sf二值化，取作到CPU 9的二值化信号Se。让二值化信号Se在CPU9中得到解调并经历检错/纠错生成数据。
将发送到RF放大电路3的再生信号Sd传递给LPP检测电路4，以检测LPP的存在与否。如果检测到LPP，在门电路5中生成测量LPP附近的再生信号Sd的门信号。此外，将RF信号Sf发送给RF幅度测量电路8，RF幅度测量电路8在出现在门电路5中生成的门信号Sg的间隔内测量RF信号Sf的幅度，并且将结果发送给CPU 9。
(a)测量原理下面描述第一实施例的测量原理。
图2是在RF幅度测量电路8中测量其幅度的RF信号波形的示意图。图2的RF信号波形是再现长度长达3T的信息坑的RF信号波形(T表示时钟周期的最小单位时间，3T表示在凹槽轨道G1上形成的信息坑当中长度最短的信息坑)。图3是示出光束照射区、LPP(像专利文件1中那样的LPP)和与图2的每个RF信号波形相对应的3T信息坑之间的位置关系的视图。在图2A的再生信号波形中，具有如箭头所指的幅度的波形是在光束照射区S1从A点移动到B点的时候，再现记录在如图3A所示的凹槽轨道G1上、长度为3T的信息坑(下文称为3T信息坑)T1到T3的再生信号波形。图2B的再生信号波形是在光束照射区S1从A点移动到B点的时候，再现如图3B所示的LPP的再生信号波形。图2C的再生信号波形是在光束照射区S1从A点移动到B点的时候，再现如图3C所示的LPP的再生信号波形。
图3A示出了在凹槽轨道G1上形成的3T信息坑的中心线3TO相对于图3A中凹槽轨道G1的中心线G1O向左移动了长度R的状态。也就是说，使一排3T信息坑向左移动长度R，记录在那里。在下文中，描述R＝0.086μm的例子。在图3A中，由于在凹槽轨道G1上形成的3T信息坑的中心线3TO相对于凹槽轨道G1的中心虚线G1O，向与如箭头所指的LPP形成方向相反的方向移动，补偿值被表示成-0.086μm。在这种情况下，关于记录在LPP的形成位置上的信息坑，由于LPP内的平台到凹槽的凹陷部分等量地增大了，所以要记录的信息坑的切除量增加了，从而形成比任何其它信息坑更细小的信息坑。在这种状态下，在再现的时候，再现3T信息坑的信息的光束照射区S1中的中心点O在凹槽轨道G1上沿着从A到B的方向移动，与凹槽轨道G1的中心线G1O重合。因此，当光束照射区S1来到形成LPP的位置时，来自光束照射区S1的反射光的数量变化较少，从而在图2A的RF信号幅度中，与反射光的数量相对应的T2附近的幅度减少了。当这个光束照射区S1的中心O与LPP最接近时，图2A中RF信号的幅度减少得最利害。当光束照射区S1从A移动到B时，来自光束照射区S1的RF信号幅度随着它与LPP越来越近而逐渐减少，并且随着它离LPP越来越远而逐渐增加。
图3B示出了在凹槽轨道G1上形成的3T信息坑的光束照射区S1的中心点O、形成3T信息坑的凹槽轨道G1的中心线G1O以及3T信息坑的中心线3TO重合的例子。在这种情况下，LPP的存在不影响图2B中相应RF信号的幅度。这是因为，当在LPP上形成3T信息坑T2时，在其它3T信息坑T1和T3之外信息坑2T沿着LPP形成方向的扩展量与由于内部平台的凹陷所致的信息坑T2的切除量是相同的。也就是说，由于3T信息坑T2是这样形成的，在LPP形成方向的凸出和在相反方向的凹进可能互补，光束照射区S1和3T信息坑T2重叠的区域与其它3T信息坑T1和T3与光束照射区S1重叠的区域没有什么不同。
图3C示出了在凹槽轨道G1上形成的3T信息坑的中心线3TO相对于图3A中凹槽轨道G1的中心线G1O向右移动了0.086μm的状态。中心线3TO沿着与如图3A所示的LPP形成方向相同的方向移动，被表示成+0.086μm。也就是说，使一排3T信息坑向右移动0.086μm的长度，记录在那里。在这种情况下，记录在LPP的形成位置上的信息坑等量地存在LPP内的平台到凹槽的小凹陷部分，而要记录的信息坑的切除量增加了。另一方面，由于要记录的信息坑在LPP形成方向扩展了，形成比任何其它信息坑更厚的信息坑。在这种状态下，在再现的时候，光束照射区S1中的中心O在凹槽轨道G1的中心线G1O上从A移动到B。因此，光束照射区S1来到形成LPP的位置，来自光束照射区S1的反射光的数量变化较大，从而在图2C的RF信号幅度中，与反射光的数量相对应的T2附近的幅度增加了。当这个光束照射区S1的中心O与LPP最接近时，图2A中RF信号的幅度增加得最利害。当光束照射区S1从A移动到B时，来自光束照射区S1的RF信号幅度随着它与LPP越来越近而逐渐增加，而随着它离LPP越来越远而逐渐减少。
于是，图3B示出了RF信号不受LPP影响的最佳记录状态。另一方面，在图3A和3C中，要记录的信息坑沿着LPP形成方向的扩展量与由于内部平台的凹陷所致的信息坑的切除量是失衡的，使得RF信号幅度仅仅在那个部分中呈现不同电平。
图4是示出有关RF变化量和如专利文件3所述的PI(内部奇偶校验)错误的个数之间的关系的实验结果的曲线图。RF变化值被定义成从再现光束12的照射区中不包含LPP的信息坑的RF信号的幅度值减去再现光束12的照射区中包含LPP的信息坑的RF信号的幅度值。此外，在那时再现光束12的照射区中包含LPP的信息坑的RF信号在二值化电路6中被二值化，在CPU 9中被解调，并且经历检错/纠错(ECC)处理时发现的错误的个数当中，与PI(内部奇偶校验)一起出现的错误的个数被定义成PI错误数。
图2A的RF变化量是0.8段(1段对应于图2A的一个刻度，下文简写为div)。从实验中得出，那时的PI错误数是619。图2B的变化量是0.0(div)，那时的PI错误数是15。图2C的变化量是-0.4(div)，那时的PI错误数是928。如图4中的点所指，当RF变化量是0.2(div)时，PI错误数是18，当RF变化量是-0.3(div)时，PI错误数是181，这两者都未在图2中示出。从图4中可以看出，当RF变化量接近零时，PI错误数最少。
根据上面的测量原理，在再现形成的3T信息坑的过程中，CPU 9通过改变跟踪补偿值测量RF变化量，并且设置RF变化量为零的跟踪补偿值，从而可以确定数据错误数最少的用于记录的跟踪补偿值。
(b)实施例下面参照图5的流程图，借助于图1的配置描述第一实施例的操作。
图5示出了检测最佳跟踪补偿值的流程图。
在步骤S1中，开始检测最佳跟踪补偿值。
在步骤S2中，将信息记录和再现设备的光拾取器2移动到光盘1上的功率校准区上。功率校准区指的是位于光盘1的内周边、用于调整从光拾取器2辐射的光束的强度的区域。
在步骤S3中，信息记录和再现设备通过改变功率校准区中从光拾取器2发射的光束12的强度在光盘1上形成信息坑，并再现信息坑，从而找出和确定形成信息坑的光束12的最佳强度。
在步骤S4中，将光拾取器2移动到所需位置，例如，未记录区上，采用在步骤S3中确定的最佳功率，形成和再现3T信息坑。
在步骤S5中，在再现在步骤S4中形成的信息坑时的再生信号当中，在RF幅度测量电路8中测量再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信息坑的再生信号的幅度以及再现光束12的照射区中包含LPP的3T信息坑的再生信号的幅度，而在CPU 9中计算RF变化量，RF变化量是再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信息坑的再生信号的幅度与再现光束12的照射区中包含LPP的3T信息坑的再生信号的幅度之间的幅度差。将计算结果存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S6中，当当前测量的RF变化量大于以前测量的RF变化量时，RF变化量是正的，操作转到步骤S7，或者，当当前测量的RF变化量小于以前测量的RF变化量时，RF变化量是负的，操作转到步骤S8。
在步骤S7中，从当前跟踪补偿值中减去预置值(通过相减，光束照射区S1的中心点O相对于图3A中凹槽轨道G1的中心线GO向左移动)。相减值可以被设置成小于凹槽轨道之间的距离的任何值。在本实施例中，采用例如0.01μm。利用在步骤S3中确定的最佳功率值记录信息。此后，操作转到步骤S5。
在步骤S8中，如果步骤S6中的RF变化量是负的，操作转到步骤S9，或者，如果RF变化量是正的，操作转到步骤S10。
在步骤S9中，将预置值加入当前跟踪补偿值中(通过相加，光束照射区S1的中心点O相对于图3A中凹槽轨道G1的中心线GO向右移动)。相加值可以被设置成小于凹槽轨道之间的距离的任何值。在本实施例中，采用例如0.01μm。通过将0.01μm加入当前跟踪补偿值中，并利用在步骤S3中确定的最佳功率值记录信息。此后，操作转到步骤S5。
在步骤S10中，RF变化量变成零时的跟踪补偿值被确定为最佳跟踪补偿值。
在步骤S11中，利用在步骤S10中确定的最佳跟踪补偿值，开始记录要记录在光盘1上的信息。
在步骤S12中，当在光盘1上没有记录数据时，结束最佳记录。
在图5中，通过在步骤S6和S8中检验RF变化量改变来跟踪补偿值，从而使信息得到记录和再现。
(c)第一实施例的变种下面参照图6描述第一实施例的变种，其中，利用预定范围内的跟踪补偿值连续形成信息坑，并连续再现连续形成的信息坑以确定最佳跟踪补偿值。
图6示出了检测最佳跟踪补偿值的流程图。
在步骤S14中，将信息记录和再现设备的光拾取器2移动到光盘1上的功率校准区上。功率校准区指的是位于光盘1的内周边、用于调整从光拾取器2辐射的光束的强度的区域。
在步骤S15中，信息记录和再现设备通过改变功率校准区中从光拾取器2发射的光束12的强度在光盘1上形成信息坑，并再现信息坑，从而找出和确定形成信息坑的光束12的最佳强度。
在步骤S16中，将光拾取器2移动到所需位置(例如，光盘1上的未记录区)，并采用在步骤S15中确定的最佳功率，通过改变跟踪补偿值在数个连续扇区上形成信息坑。跟踪补偿值可以在凹槽轨道之间的范围内每隔一定间隔改变。这里，跟踪补偿值每次0.01μm分17步(step)改变，以形成信息坑。此后，再现形成的信息坑。
在步骤S17中，在再现在步骤S16中形成的信息坑时的再生信号当中，在RF幅度测量电路8中针对每个跟踪补偿值测量再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信号的再生信号的幅度，以及再现光束12的照射区中包含LPP的3T信号的再生信号的幅度，并在CPU 9中计算RF变化量，RF变化量是再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信号的再生信号的幅度与再现光束12的照射区中包含LPP的3T信号的再生信号的幅度之间的幅度差。并且，将每个跟踪补偿值的RF变化量存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S18中，通过比较操作获取在步骤S17中获得和记录在CPU 9的存储器中的RF变化量的最小那一个。因此，将使RF变化量最小的跟踪补偿值确定为最佳跟踪补偿值。
在步骤S19中，利用最佳功率值和最佳跟踪补偿值记录记录数据。
在步骤S20中，如果没有记录数据，结束记录。
如上所述，在将地址信号事先刻在平台上作为LPP的记录盘中，跟踪补偿值被改变成使光束12的照射区中包含LPP的再生信号的幅度与光束12的照射区中不包含LPP的再生信号的幅度之差较小，从而可以减少光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数。
此外，信息坑是通过对连续扇区的每一个改变跟踪补偿值形成的，并再现形成的信息坑的再生信号的RF变化量最小的补偿值被设置成最佳跟踪补偿值，从而可以高速检索最佳跟踪补偿值。
此外，在本实施例中，即使在包括光拾取器2的光学系统中跟踪是失衡的，也可以减少光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数。
(2)第二实施例下面描述在与如专利文件1所述和如图3所示的LPP不同类型的、如专利文件2所述的LPP中优化跟踪补偿值的第二实施例。首先，描述测量原理。
(a)测量原理根据第二实施例的信息记录和再现设备的配置与如图1所示相同，因此，不对其作详细描述。
图7示出了与如图3所示的LPP不同类型的、如专利文件2所述的LPP与光束照射区之间的位置关系。从光拾取器2辐射的光束12是会聚的，并施加在凹槽轨道G2上形成的信息坑上。测量施加的光的反射光，作为再生信号的RF信号波形。在图7中，LPP在凹槽轨道G2的左侧(下文称这个LPP为内LPP)。图8示出了通过改变跟踪补偿值使光束12从图7中凹槽轨道G2的左侧移动到右侧形成和再现信息坑时的RF信号波形。
图8示出了跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系。
图8A示出了图7中光束照射区S1的中心点O相对于形成3T信息坑的凹槽轨道G1的中心线GO向左移动了长度R的状态。R是预定量，例如，0.086μm。下面将描述R＝0.086μm的例子。R的值可以在凹槽轨道之间的距离的范围内任意选择。图8A示出了当将-0.086μm作为跟踪补偿值加入时(在图8中，外LPP形成方向是正的，它的反方向是负的)，再现光束照射区S1中包含内LPP的3T信息坑T4的RF信号波形。这表明，将光束12相对于凹槽轨道G2向左移动0.086μm，以便形成和再现图7中的信息坑。由于再现光束照射区中包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号幅度T4比再现光束照射区中不包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号幅度T5失真得更严重(3TRF幅度＝3div)，所以出现490个PI错误。
图8B示出了当将0μm作为跟踪补偿值加入时，即，当没有加入跟踪补偿值时，内LPP附近的RF信号波形。可以得出，再现光束照射区中包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号幅度几乎与再现光束照射区中不包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号幅度相等，并且几乎没有内LPP的影响(3TRF幅度＝2.4div)。因此，PI出错次数是122，相当小。
图8C示出了当将+0.086μm作为跟踪补偿值加入时，再现光束照射区中包含和不包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号波形。在图7中，当记录和再现时，光束12向凹槽轨道G2的右侧移动。由于再现光束照射区中包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号幅度T4比再现光束照射区中不包含内LPP的3T信息坑的3TRF信号幅度T5失真得更严重(3TRF幅度＝2.2div)，所以出现639个PI错误。
图9示出了光束12的照射范围S1位于LPPT5的左侧的状态。在图9中，LPP在35信息坑T5的右侧(下文称这个LPP为外LPP)。
图10A到10C示出了通过改变跟踪补偿值使光束12从图9中凹槽轨道G2的左侧移动到右侧形成和再现信息坑时的RF信号波形。
图10A到10C是示出跟踪补偿值和RF信号波形之间的关系的视图。
图10A示出了图9中光束照射区S1的中心点O相对于形成3T信息坑的凹槽轨道G2的中心线GO2向左移动了长度R的状态。R是预定量。下面将描述R＝0.086μm的例子。R的值可以在凹槽轨道之间的距离的范围内任意选择。图10A示出了当将-0.086μm作为跟踪补偿值加入时(在图9中，外LPP形成方向是正的，它的反方向是负的)，再现光束照射区S1中包含外LPP的3T信息坑T5的RF信号波形。由于再现光束12的照射区S1中包含外LPP的信息坑的3TRF信号幅度比再现光束12的照射区中不包含外LPP的信息坑的3TRF幅度失真得更严重(3TRF幅度＝2.2div)，所以出现490个PI错误。
图10B示出了当将0μm作为跟踪补偿值加入时，即，当没有加入跟踪补偿值时，外LPP附近的RF信号波形。光束照射区S1中包含外LPP的3TRF信号幅度几乎与光束照射区中不包含内LPP的3TRF信号幅度相等，并且在再生信号上几乎没有外LPP的影响(3TRF幅度＝2.4div)。因此，PI出错次数是122，相当小。
图10C示出了当将+0.086μm作为跟踪补偿值加入时，外LPP附近的RF信号波形。在图9中，在使光束12向凹槽轨道G2的右侧移动了+0.086μm之后，进行记录和再现。光束照射区中包含外LPP的3TRF信号幅度比光束照射区中不包含外LPP的3TRF信号幅度失真得更严重(3TRF幅度＝3.0div)。因此，出现639个PI错误。
图11是示出RF变化量和PI错误的个数之间的关系的曲线图。这里所使用的RF变化量指的是在如图8和10所示的RF信号波形当中，在相同跟踪补偿值上，从如图8所示光束照射区中包含内LPP的3TRF幅度中减去如图10所示光束照射区中包含外LPP的3TRF幅度的值。当将-0.086μm作为跟踪补偿值加入时，如图8A所示光束照射区中包含内LPP的3TRF幅度是3div。当将-0.086μm作为跟踪补偿值加入时，如图10A所示光束照射区中包含外LPP的3TRF幅度是2.2div。于是，RF变化量是3div-2.2div＝0.8div。此时，图8A中PI错误的个数与图10A中PI错误的个数之和是490。在图11中的点a上，对于0.8div的RF变化量，PI错误的个数是490。类似地，在点b上，当作为从如图8B所示光束照射区中包含内LPP的3TRF幅度2.4div中减去如图10B所示光束照射区中包含外LPP的3TRF幅度2.4div的结果，RF变化量是0时，PI错误的个数之和是122。类似地，在点c上，当作为从如图8C所示光束照射区中包含内LPP的3TRF幅度2.2div中减去如图10C所示光束照射区中包含外LPP的3TRF幅度3.0div的结果，RF变化量是-0.8div时，PI错误的个数之和是639。尽管在图8和10中未示出，但在点d上，对于跟踪补偿值是-0.04μm时的RF变化量0.5div，PI错误的个数之和是180，而在点e上，对于跟踪补偿值是+0.04μm时的RF变化量-0.5div，PI错误的个数之和是278。
从图11中可明显看出，PI错误的总数在为0的RF变化量附近最少。于是，通过将跟踪补偿值设置成0，在读取信息坑时错误的个数最少。
根据上面的测量原理，考虑到LPP在凹槽轨道的两侧，在LPP出现在光束照射区中凹槽轨道的左侧的情况下和在LPP出现在光束照射区中凹槽轨道的右侧的情况下，在最小RF变化量上的跟踪补偿值被定义成最佳跟踪补偿值，从而获得最佳跟踪补偿值。
(b)实施例下面参照图12的流程图，借助于图1的配置描述第二实施例的操作。
图12示出了检测跟踪补偿值的流程图。
在步骤S80中，将信息记录和再现设备的光拾取器2移动到光盘1上的功率校准区上。功率校准区指的是位于光盘1的内周边、用于调整从光拾取器2辐射的光束的强度的区域。
在步骤S81中，信息记录和再现设备通过改变功率校准区中从光拾取器2发射的光束12的强度在光盘1上形成信息坑，并再现信息坑，从而找出和确定形成信息坑的光束12的最佳强度。
在步骤S82中，将光拾取器2移动到所需位置(例如，光盘1的未记录区)，并且采用在步骤S81中确定的最佳功率，通过改变跟踪补偿值在数个连续扇区上形成信息坑。跟踪补偿值可以在凹槽轨道之间的范围内每隔一定间隔改变。这里，跟踪补偿值每次0.01μm分17步改变，以形成信息坑。此后，再现形成的信息坑。
在步骤S83中，在再现在步骤S82中形成的信息坑时的再生信号当中，在RF幅度测量电路8中针对每个跟踪补偿值测量再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信号的再生信号的幅度，以及再现光束12的照射区中包含内LPP的3T信号的再生信号的幅度，并在CPU 9中计算RF变化量RFI，RF变化量RFI是再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信号的再生信号的幅度与再现光束12的照射区中包含内LPP的3T信号的再生信号的幅度之间的幅度差。并且，将每个跟踪补偿值的RF变化量RFI存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S84中，在再现在步骤S82中形成的信息坑时的再生信号当中，在RF幅度测量电路8中针对每个跟踪补偿值测量再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信号的再生信号的幅度，以及再现光束12的照射区中包含外LPP的3T信号的再生信号的幅度，并在CPU 9中计算RF变化量RFO，RF变化量RFO是再现光束12的照射区中不包含LPP的3T信号的再生信号的幅度与再现光束12的照射区中包含外LPP的3T信号的再生信号的幅度之间的幅度差。并且，将每个跟踪补偿值的RF变化量RFO存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S85中，对于每个跟踪补偿值，从参数RFO中减去参数RFI，并且将等于相减结果的绝对值的RF变化量RF作为参数RF存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S86中，通过比较操作获取在步骤S85中获得和记录在CPU 9的存储器中的参数RF的最小那一个。因此，将与等于最小RF变化量的参数RF相对应的跟踪补偿值确定为最佳跟踪补偿值。
在步骤S87中，利用最佳功率值和最佳跟踪补偿值记录记录数据。
在步骤S88中，如果没有记录数据，结束记录。
如上所述，在将地址信号事先刻在平台上作为LPP的记录盘中，在来自不同方向的光束12的照射区中包含LPP的情况下跟踪补偿值被改变成使RF变化量最小，从而可以减少光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数。
此外，对于本实施例，即使在包括光拾取器2的光学系统中失去了跟踪平衡，也可以减少光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数。
(3)第三实施例图13示出了根据第三实施例的信息记录和再现设备的配置。这里不给出与图1相同的部分的详细描述。
LPP检测电路4包括外LPP检测电路41和内LPP检测电路42。外LPP检测电路41是从作为跟踪误差信号的推挽信号Sh中检测对于在凹槽上形成的信息坑位于盘的外周边上的LPP的电路。内LPP检测电路42是检测对于在凹槽上形成的信息坑位于盘的内周边上的LPP的电路。
RF幅度测量电路8包括峰保持电路81、底保持电路83以及A/D转换电路82和84。
峰保持电路81是保持从光盘1读取的RF信号的信号波形的峰部分的电路。保持值在A/D转换电路82中被转换成数字信号，然后输入到CPU 9。底保持电路83是保持从光盘1读取的RF信号的信号波形的底部分的电路。保持值在A/D转换电路84中被转换成数字信号，然后输入到CPU 9。
LPP检测电路4检测光盘1上光束照射区中的LPP，CPU 9在LPP检测定时之前和之后从A/D转换电路82和84的数字信号输出中计算再生信号波形的峰值和底值。
图14示出了根据第三实施例检测最佳跟踪补偿值的流程图。
在步骤S64中，开始检测最佳跟踪补偿值。
在步骤S65中，将光拾取器2移动到功率校准区上。
在步骤S66中，通过将光拾取器2移动到功率校准区上确定从光拾取器2辐射的光束12的强度的最佳值。将扇区号S设置成1。
在步骤S67中，将光拾取器2移动到所需位置(例如，光盘1上的未记录区)，并且采用在步骤S65中确定的最佳功率，通过改变跟踪补偿值在数个连续扇区上形成信息坑。跟踪补偿值可以在凹槽轨道之间的范围内每隔一定间隔改变。这里，跟踪补偿值每次0.01μm分16步从-0.08μm改变到+0.07μm，形成信息坑。此后，再现形成的信息坑。此时，每个跟踪补偿值形成信息坑的距离是任意的，但是，在这里，每个跟踪补偿值为例如一个扇区形成信息坑。也就是说，16个扇区用于从-0.08μm到+0.07μm的16个跟踪补偿步。在这种情况下，形成的信息坑模式可以是任意坑模式，但是，在这里，作为一个例子，采用信息坑模式之间的距离最小的3T连续模式，形成信息坑。
在步骤S68中，再现在步骤S67中记录在跟踪补偿值相同的一个扇区中的3T信息坑的连续模式(pattern)。
在步骤S69中，在峰保持电路81中从在步骤S68中再现的信号中检测在与来自门电路5的门信号Sg1相对应的间隔内在光束12的照射区中不包含LPP的RF信号Sf的峰值P1。在A/D转换电路82中将它的检测值转换成数字信号，并作为参数P1存储在CPU 9内的存储器中。此外，在底保持电路83中检测在与来自门电路5的门信号Sg2相对应的间隔内在光束12的照射区中不包含LPP的RF信号Sf的底值B1。在A/D转换电路84中将它的检测值转换成数字信号，并作为参数B1存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S70中，以与步骤S69中的操作相同的方式，从在步骤S68中再现的信号中检测光束12的照射区中包含内LPP的RF信号Sf的峰值和底值，其中，将峰值作为参数P2I和将底值作为参数B2I存储在CPU 9内的存储器中。
图16示出了对于内LPP，推挽信号Sh、RF信号Sf、门信号Sg2、峰值P2I和底值B2I之间的关系。在图16中，上包络信号P1指的是在RF信号Sf上端的包络曲线，而下包络信号B1指的是在RF信号Sf下端的包络曲线。包络信号由包括晶体管和电容器的电路生成。推挽信号Sh在存在内LPP的时刻向上凸，而门信号SG2是通过二值化内LPP生成的。在由二极管和电容器组成的峰保持电路81和底保持电路83中保持在通过内LPP生成的门信号Sg2从Sg2s到Sg2e的间隔内RF信号Sf的上包络信号P1和下包含信号B1的上峰值。峰保持电路81保持RF信号Sf的上包络信号的峰值P2I。并且，将峰值P2I存储成参数P2I。此外，底保持电路83保持RF信号Sf的下包络信号的底值B2I。并且，将底值B2I存储成参数B2I。
在步骤S71中，以与步骤S69中的操作相同的方式，从在步骤S68中再现的信号中检测光束12的照射区中包含外LPP的RF信号Sf的峰值和底值，其中，将峰值作为参数P2O和将底值作为参数B2O存储在CPU 9内的存储器中。
图15示出了对于外LPP，推挽信号Sh、RF信号Sf、门信号Sg1、峰值P2O和底值B2O之间的关系。在图15中，上包络信号P1指的是在RF信号Sf上端的包络曲线，而下包络信号B1指的是在RF信号Sf下端的包络曲线。推挽信号Sh在存在外LPP的时刻向下凸，而门信号SG1是通过二值化外LPP生成的。在由二极管和电容器组成的峰保持电路81和底保持电路83中保持在通过外LPP生成的门信号Sg1从Sg1s到Sg1e的间隔内RF信号Sf的上包络信号P1和下包含信号B1的下峰值。峰保持电路81保持RF信号Sf的上包络信号的峰值P2O。并且，将峰值P2O存储成参数P2O。此外，底保持电路83保持RF信号Sf的下包络信号的底值B2O。并且，将底值B2O存储成参数B2O。
在步骤S72中，在CPU 9中计算峰值变化量ΔP＝|P1-P2I|+|P1-P2O|，并且，作为参数ΔP存储在CPU 9的存储器中。
在步骤S73中，在CPU 9中计算峰值变化量ΔB＝|B1-B2I|+|B1-B2O|，并且，作为参数ΔB存储在CPU 9的存储器中。
在步骤S74中，在CPU 9中计算包络变化量ΔE＝ΔP+ΔB，并且，作为参数ΔE存储在CPU 9的存储器中。
在步骤S75中，将扇区号S加1，如果再现位置处在第18扇区(扇区号S是17)上，操作转到步骤S76，或者，如果再现位置从第2到第16扇区，操作转到步骤S68。
在步骤S76中，在CPU 9中通过比较操作获取在步骤S74中计算的16个扇区的参数的最小那一个，并且，将与参数ΔE相对应的跟踪补偿值确定为最佳跟踪补偿值。
在步骤S77中，利用在步骤S76中确定的最佳跟踪补偿值记录记录数据。
在步骤S78中，如果没有记录数据，结束记录。
如上所述，在将地址信号事先刻在平台上作为LPP的记录盘中，当在来自不同方向的光束的照射区中包含LPP时，跟踪补偿值被改变成使光束照射区中沿着一个方向包含LPP的再生信号的幅度与光束照射区中沿着另一个方向包含LPP的再生信号的幅度之间的变化最小，从而可以减少光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数。
此外，对于本实施例，即使在包括光拾取器2的光学系统中跟踪是失衡的，也可以减少光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数。
尽管在本实施例中，像如图7和8所示的LPP的配置那样采用如图13所示的模块配置，描述了图14的操作，但也可以对如图3所示的LPP采用如图13所示的模块配置，进行图14的操作。
(4)第四实施例下面描述在光盘1上作为信息坑形成通过ECC编码的信息以及再现通过ECC编码的信息以获取最佳跟踪补偿值的第四实施例。
图17是根据第四实施例的信息记录和再现设备的方块图。与图1相同的部分用相同的标号表示，并且，这里不对它们加以描述。
光拾取器2通过信息坑生成的再生信号Sd经过均衡器电路7，被二值化电路6二值化成二值化信号，在CPU 9内的8-16解调器91中得到解调。解调数据经历检错/纠错部分92，以检测出错部分。此外，CPU 9从ECC码中计算出错部分在光盘1上的位置。
LPP检测电路4包括外LPP检测电路41和内LPP检测电路42。外LPP检测电路41是从跟踪误差信号中检测对于在凹槽上形成的信息坑位于盘的外周边上的LPP的电路，而内LPP检测电路42是检测对于在凹槽上形成的信息坑位于盘的内周边上的LPP的电路。
当LPP检测电路4在光束12的照射区中检测LPP时，CPU 9确定在光束12的反射光中是否存在错误。照这样再现通过ECC编码和记录在光盘1上的信息坑，以检测外LPP和内LPP，从而，CPU 9知道在光束12的照射区中包含LPP的信息坑的再生信号是否存在错误。
下面根据在如专利文件2所述的LPP类型的情况下，跟踪补偿值与在采用跟踪补偿值形成和读取信息坑的过程中再生信号被检测为错误的错误个数之间的关系，描述实施例4的测量原理。
(a)测量原理图18示出了跟踪补偿值和在该跟踪补偿值上数据错误的个数之间的关系。
如内LPP的列所指的数据错误的个数是与图7中的信息坑T4与内LPP(IL1)之间的位置关系有关出现的错误的个数。图18的每一列表示在每次0.01μm从图7的左侧到右侧移动跟踪补偿值(μm)形成和再现信息坑的过程中的数据出错次数。跟踪补偿值可以被设置成凹槽轨道之间的距离内的任意值。在本实施例中将描述每次0.01μm改变的跟踪补偿值。当跟踪补偿值是负的时，在内LPP(IL1)上形成信息坑的一部分，使得相对于没有LPP的信息坑出现了电平变化，使数据错误的个数增加。当跟踪补偿值是正的时，信息坑的信息位置从凹槽轨道G2往平台轨道L3方向移动了一点。由于在内LPP上没有形成信息坑的一部分，几乎没有数据错误。
如外LPP的列所指的数据错误的个数是与图9中的信息坑T5与外LPP(OL1)之间的位置关系有关出现的错误的个数。图18的每一列表示在每次0.01μm从图9的左侧到右侧移动跟踪补偿值(μm)形成和再现信息坑的过程中的数据出错次数。当跟踪补偿值是负的时，信息坑的形成位置从凹槽轨道G2向平台轨道L4移动，与内LPP接触。由于在外LPP上没有形成信息坑的一部分，所以几乎没有数据错误。当跟踪补偿值是正的时，在外LPP上形成信息坑的一部分，使得在没有LPP的信息坑中出现电平变化，使数据错误的个数增加。
图19是示出图18中跟踪补偿值和在该跟踪补偿值上的数据错误个数之间的关系的曲线图。
图19A示出了跟踪补偿值和在该跟踪补偿值上在光束12的照射区中包含外LPP的再生信号的数据出错次数之间的关系，图19B示出了跟踪补偿值和在该跟踪补偿值上在光束12的照射区中包含内LPP的再生信号的数据出错次数之间的关系，而图19C示出了跟踪补偿值和在该跟踪补偿值上在内LPP和外LPP中的数据出错次数之和之间的关系。
从图19A中可以得出，在外LPP中数据错误的个数随跟踪补偿值增大而增加。从图19B中可以得出，在内LPP中数据错误的个数随跟踪补偿值减小而增加。从图19C中，当跟踪补偿值是0.02μm时，数据错误的个数之和是2(D点)。当跟踪补偿值是0.01μm和0.03μm时，数据错误的个数之和是2。最佳跟踪补偿值被设置成它们的中间值，或0.02μm。
(b)实施例图20示出了根据第三实施例示获取最佳跟踪补偿值的流程图。
在步骤S21中，开始检测最佳跟踪补偿值。
在步骤S22中，检验是否创建了如图18所示的跟踪补偿值和在该跟踪补偿值上在光束照射区S1中包含内LPP或外LPP的再生信号的数据出错次数之间的关系(下文称为跟踪补偿参考表)。如果还没有创建跟踪补偿参考表，操作转到步骤S23，或者，如果已经创建，操作转到步骤S39。
在步骤S39中，从作为参数To保存在CPU 9中的值读取当前跟踪补偿值。当信息记录和再现设备从光盘1中读取数据，或记录数据时，将跟踪补偿值To作为参数To保存在CPU 9中。
图21示出了要在步骤S23中执行的处理流。
图21是在步骤S23中创建跟踪补偿参考表的内部流。
在步骤S24中，开始跟踪补偿参考表的创建。
在步骤S25中，将光拾取器2移动到光盘2的功率校准区上。
在步骤S26中，将在第一跟踪补偿值上记录和再现的扇区的扇区号S设置成0。
尽管跟踪补偿值可以被设置成凹槽轨道之间的距离内的任意值，但在本实施例中将描述每次0.01μm从-0.08μm到+0.07μm改变跟踪补偿值的例子。此外，尽管光盘1上形成信息坑的区域可以任意设置，但在本实施例中采用例如构成1个ECC块的16个扇区。ECC块的数量和构成1个ECC块的扇区的数量不局限于本实施例的那些。
对每个扇区改变跟踪补偿值以进行记录和再现。第1跟踪补偿值To被设置成-0.08μm。
在步骤S27中，将在步骤S26中设置的跟踪补偿值To＝-0.08μm加入跟踪误差信号中。因此，光拾取器2沿着与如图7所示的外LPP形成方向相反的方向相对于与跟踪误差信号0相对应的光束照射位置移动了0.08μm。
在步骤S28中，为一个扇区记录8-16调制之后带有ECC码的信号。
在步骤S29中，将扇区号S加1，并将跟踪补偿值To加0.01μm。
在步骤S30中，确定扇区号S是否是16。如果扇区号S是16，操作转到步骤S31，或者，如果扇区号S不是16，操作返回到步骤S27，在步骤S27中，在下一个扇区中以不同跟踪补偿值记录8-16调制之后带有ECC码的信号。
在步骤S31中，再现记录信号，并对记录信号进行8-16解调和检错/纠错。
在步骤S32中，将用于再现的扇区号S设置成0。将跟踪补偿值To设置成与在步骤S26中设置的值相同的-0.08μm，并再现在步骤S28中形成的信息坑。
在步骤S33中，再现在一个扇区中形成的信息坑，并计算光束照射区中包含外LPP的再生信号的出错次数N(out)和光束照射区中包含内LPP的再生信号的出错次数N(in)。
在步骤S34中，将To值、N(out)和N(in)存储在CPU 9内的存储器中。
在步骤S35中，将扇区号S加1，并将跟踪补偿值To加0.01μm。
在步骤S36中，确定扇区号S是否是16。如果扇区号S是16，操作转到步骤S37，或者，如果扇区号S不是16，操作返回到步骤S33，在步骤S27中，以不同跟踪补偿值再现在下一个扇区中形成的信息坑。
在步骤S37中，通过为存储在存储器中的每个跟踪补偿值To比较N(out)与N(in)之和，找出N(out)与N(in)之和最小的跟踪补偿值To，并且将最佳跟踪补偿值设置成找出的值To。
在步骤S38中，结束跟踪补偿参考表创建过程。
在步骤S39中，读取当前设置的跟踪补偿值To。
在步骤S40中，进行信号再现。对再现信号进行8-16解调和检错/纠错。
在步骤S41中，从在步骤S40中经历检错/纠错的数据中计算N(out)与N(in)。
在步骤S42中，通过参照在步骤S32中创建或事先创建的跟踪补偿参考表，并采用在步骤S41中计算的每个扇区的N(out)与N(in)之和，计算使N(out)与N(in)之和最小的补偿值To。也就是说，当N(out)是0和N(in)是5，使得N(out)与N(in)之和是5时，从用视图示出图18的跟踪补偿参考表的图19A到19C中搜索相应点，以便找出点E。那时的跟踪补偿值是-0.01μm，而到提示最佳跟踪补偿值的点D的间隔是+0.03μm。于是，将+0.03μm加入当前跟踪补偿值中获得N(out)与N(in)之和最小的最佳跟踪补偿值。
图22示出了跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系。如图22所指的LPP是如专利文件1所述的类型的LPP。
在本实施例中，如内LPP的列所指的数据错误的个数是当跟踪补偿值(μm)每次例如0.01μm从图3的左侧移动到右侧时，与图3中的信息坑和在每个跟踪补偿值上的内LPP之间的位置关系有关出现的错误的个数。
当跟踪补偿值是正的时，光束12的照射区移动到图3的左侧。如果跟踪补偿值减少到负侧时，LPP内的平台到凹槽的凹陷等量地增大，使得在LPP位置上形成的信息坑的一部分被切除。因此，相对于在没有LPP的位置上形成的信息坑，出现电平变化，使数据错误的个数增加。相反，当跟踪补偿值是负的时，光束12的照射区移动到图3的右侧。如果跟踪补偿值增加到正侧时，在LPP上形成信息坑的一部分，使得相对于在没有LPP的位置上形成的信息坑，出现电平变化，使数据错误的个数增加。
图23是示出图22中跟踪补偿值和数据错误的个数之间的关系的曲线图。
图23A示出了在设置的跟踪补偿值上在光束12的照射区中包含外LPP的再生信号的数据出错次数，图23B示出了在设置的跟踪补偿值上在光束12的照射区中包含内LPP的再生信号的数据出错次数，而图23C示出了图23A和23B中的数据出错次数之和。
从图23A中可以得出，当在光束12的照射区中包括外LPP时，数据错误的个数随跟踪补偿值沿着正或负方向增大而增加。从图23B中可以得出，对于内LPP，在负侧数据错误的个数随跟踪补偿值增大而增加。由于这种类型的LPP是在凹槽附近的位置上形成的，内LPP离凹槽越来越远。从图23C中，当跟踪补偿值是0.02μm时，数据错误的个数之和是0。当跟踪补偿值是0.01μm和0.03μm时，数据错误的个数之和是0。最佳跟踪补偿值被设置成它们的中间值，或0.02μm。
如上所述，通过改变跟踪补偿值可以为每个跟踪补偿值计算带有ECC的在光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数，从而搜索到在光束12的照射区中包含LPP的再生信号的出错次数最少的跟踪补偿值。
下面参照图24和25，描述在链接区中检测最佳跟踪补偿值的例子。
链接区指的是在将要记录的连续信息记录在光盘1上的记录区之后，在记录要记录的下一个信息的记录区之前配备在光盘1上的特定区域。尽管这个链接区的长度可以任意设置，但在本实施例中采用32千字节(＝1ECC)。
图24在链接区中检测带有ECC的最佳跟踪补偿值和记录要记录的数据的流程图。
在步骤S44中，开始检测最佳跟踪补偿值和记录数据。
在步骤S45中，将光拾取器2移动到功率校准区上。
在步骤S46中，在功率校准区中确定从光拾取器2辐射的光束12的强度的最佳值。当在安装盘的过程中完成功率校准时，步骤S45和S46是多余的。
在步骤S47中，将在步骤S46中获得的最佳功率设置成记录信息坑的功率。
在步骤S48中，在记录在链接区中的16个跟踪补偿步当中，计算光束12的照射区中包含内LPP的再生信号的出错次数与光束12的照射区中包含外LPP的再生信号的出错次数之和最少的步。
在步骤S49中，确定在步骤S48中出错次数最少的跟踪补偿值，将其设置成最佳跟踪补偿值。
在步骤S50中，将要采用在步骤S49中确定的跟踪补偿值记录的数据记录在光盘1上从链接区开始连续的未记录区中。
在步骤S51中，确定是否进行在另一个链接区中再次搜索最佳跟踪补偿值的记录。如果不进行搜索最佳跟踪补偿值的记录，操作转到步骤S53，或者，如果进行搜索最佳跟踪补偿值的记录，操作转到步骤S52。
在步骤S52中，将光拾取器2移动到紧接在步骤S50中完成的最后记录区之后的未记录区，并采用在步骤S46中确定的最佳功率，通过改变跟踪补偿值在数个连续扇区上形成信息坑。跟踪补偿值可以在凹槽轨道之间的范围内每隔一定间隔改变。这里，跟踪补偿值每次0.01μm分16步从-0.08μm改变到+0.07μm，形成信息坑。此时，每个跟踪补偿值形成信息坑的距离是可选的，但是，在这里，每个跟踪补偿值在例如一个扇区上形成信息坑。也就是说，以0.01μm为一步使跟踪补偿值从-0.08μm改变到+0.07μm，以便在光盘1的一个ECC块中根据任何信号模式记录用ECC编码的信息。此时，每个跟踪补偿值记录一个扇区。于是，16个扇区用于从-0.08μm到+0.07μm的16个跟踪补偿步。由于一个ECC块由16个扇区组成，在解码再现形成的信息坑的再生信号之后进行错误检测。
在步骤S53中，由于没有要记录的数据，结束用最佳跟踪补偿值的记录。
图25示出了在链接区中采用RF信号的幅度值的变化检测最佳跟踪补偿值和记录要记录的数据的流程图。
在步骤S54中，开始检测最佳跟踪补偿值和记录数据。
在步骤S55中，将光拾取器2移动到功率校准区上。
在步骤S56中，在功率校准区中确定从光拾取器2辐射的光的功率的最佳值。当在安装盘的过程中完成功率校准时，步骤S55和S56是多余的。
在步骤S57中，将在步骤S56中获得的最佳功率设置成记录信息坑的功率。
在步骤S58中，在记录在链接区中的16个跟踪补偿步当中，计算受内LPP和外LPP影响的再生信号幅度的底值与光束12的照射区中不包含LPP的再生信号幅度的底值之间的变化量最小的步。
在步骤S59中，确定在步骤S58中再生信号幅度的底值的变化量最小的的跟踪补偿值，将其设置成最佳跟踪补偿值。
在步骤S60中，将要采用在步骤S59中确定的跟踪补偿值记录的数据记录在光盘1上从链接区开始连续的未记录区中。
在步骤S61中，确定是否进行在另一个链接区中再次搜索最佳跟踪补偿值的记录。如果不进行搜索最佳跟踪补偿值的记录，操作转到步骤S63，或者，如果进行搜索最佳跟踪补偿值的记录，操作转到步骤S62。
在步骤S62中，将光拾取器2移动到紧接在步骤S60中完成的记录区之后的未记录区，并采用在步骤S56中确定的最佳功率，通过改变跟踪补偿值在数个连续扇区上形成信息坑。跟踪补偿值可以在凹槽轨道之间的范围内每隔一定间隔改变。这里，跟踪补偿值每次0.01μm分16步从-0.08μm改变到+0.07μm，形成信息坑。此时，每个跟踪补偿值形成信息坑的距离是可选的，但是，在这里，每个跟踪补偿值在例如一个扇区上形成信息坑。也就是说，以0.01μm为一步使跟踪补偿值从-0.08μm改变到+0.07μm，以便在光盘1的一个ECC块中根据任何信号模式记录用ECC编码的信息。此时，每个跟踪补偿值记录一个扇区。于是，16个扇区用于从-0.08μm到+0.07μm的16个跟踪补偿步。由于一个ECC块由16个扇区组成，在解码再现形成的信息坑的再生信号之后进行错误检测。
在步骤S63中，由于没有要记录的数据，结束用最佳跟踪补偿值的记录。
如上所述，最佳跟踪补偿值是在光盘1的链接区中检测的，使用户在检测最佳跟踪补偿值时意识不到检测最佳跟踪补偿值的等待时间。
在具有这种配置的跟踪伺服控制设备中，利用在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射范围之外形成LPP时基于反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
此外，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号之间的幅度变化最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
并且，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号之间的底值变化最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
并且，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号之间的底值和峰值变化最小，从而构成当再生信号的幅度不改变时，再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
并且，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号的出错次数，并在照射范围之外形成LPP时基于反射光的再生信号的出错次数之和最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
在具有这种配置的跟踪伺服控制设备中，采用在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
此外，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的幅度变化最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号与最少出错次数相联系的跟踪伺服控制设备。
并且，将跟踪补偿值设置成，相对于在光束的照射范围内不包含LPP的情况下再生信号的峰值，在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的峰值变化量的平均值可能最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
并且，将跟踪补偿值设置成，相对于在光束的照射范围内不包含LPP的情况下再生信号的峰值和底值，在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号之间的峰值和底值变化量的平均值可能最小，从而构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
并且，改变跟踪补偿值，以使在光束的照射范围中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的光束的反射光的再生信号的出错次数，并形成在另一个方向相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号的出错次数之和最小，从而采用该跟踪补偿值，构成再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制设备。
在具有这种配置的跟踪伺服控制设备中，高速检测最佳跟踪补偿值。
此外，进行最佳跟踪补偿，使用户意识不到检测最佳跟踪补偿值的时间。
并且，当启动跟踪伺服控制设备时，检测最佳跟踪补偿值。此外，检测最佳跟踪补偿值与只写媒体还是记录媒体无关。
并且，可以采用ECC来检测最佳跟踪补偿值，从而用更简单的配置检测最佳跟踪补偿值。
并且，由于信息坑的形成模式不变，容易检测到最佳跟踪补偿值。
对于这种配置，信息记录专用设备或信息记录或再现设备可以检测最佳跟踪补偿值。
对于本发明的方法，采用在光束的照射区中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而提供再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制方法。
此外，对于本发明的方法，采用在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而提供再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制方法。
对于本发明的方法，为信息记录专用设备或信息记录或再现设备提供了检测最佳跟踪补偿值的跟踪伺服控制方法。
对于本发明的程序，采用在光束的照射区中形成LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，并在照射区之外形成LPP时基于反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而提供再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制程序。
此外，对于本发明的程序，采用在光束的照射区中形成在一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，以及形成在另一个方向与信息坑相邻的LPP的至少一部分时基于来自光盘的反射光的再生信号，改变跟踪补偿值，从而提供再生信号出错次数最少的跟踪伺服控制程序。
对于本发明的程序，为信息再现专用设备提供了检测最佳跟踪补偿值的跟踪伺服控制程序。
对于本发明的程序，为信息记录专用设备或信息记录或再现设备提供了检测最佳跟踪补偿值的跟踪伺服控制程序。
本发明的程序可以事先记录在诸如软盘之类的信息记录媒体上，或通过因特网之类的网络分发和被通用微型计算机记录、读取和执行，从而使通用微型计算机可以像实施例中的微型计算机9那样工作。
权利要求
1.一种进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制设备，包括第一生成设备，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成在一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成设备，用于当在光束的照射范围之内形成在另一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算设备，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
2.根据权利要求1所述的跟踪伺服控制设备，其中，计算设备计算补偿值，以便使第一再生信号的幅度值和第二再生信号的幅度值之差最小。
3.根据权利要求1或2所述的跟踪伺服控制设备，进一步包括第三生成设备，用于当在光束的照射范围之外形成预置坑时，根据来自记录媒体的反射光生成第三再生信号，其中，计算设备计算补偿值，以便使第三再生信号的上峰值与第一再生信号的上峰值和第二再生信号的上峰值的平均值之差最小。
4.根据权利要求1或2所述的跟踪伺服控制设备，进一步包括第三生成设备，用于当在光束的照射范围之外形成预置坑时，根据来自记录媒体的反射光生成第三再生信号，其中，计算设备计算补偿值，以便使第三再生信号的下峰值与第一再生信号的下峰值和第二再生信号的下峰值的平均值之差最小。
5.根据权利要求3所述的跟踪伺服控制设备，其中，计算设备计算补偿值，以便使第三再生信号的下峰值与第一再生信号的下峰值和第二再生信号的下峰值的平均值之差最小。
6.根据权利要求1到5的任何一项所述的跟踪伺服控制设备，计算设备计算补偿值，以便使从第一再生信号获得的数据的错误计数和从第二再生信号获得的数据的错误计数之和最小。
7.一种进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制方法，包括第一生成步骤，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成在一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成步骤，用于当在光束的照射范围之内形成在另一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算步骤，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
8.一种用于进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制设备的跟踪伺服控制程序，该程序使包含在跟踪伺服控制设备内的计算机起如下作用第一生成设备，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成在一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成设备，用于当在光束的照射范围之内形成在另一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算设备，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。
全文摘要
一种进行跟踪伺服控制以便将光束施加在预先形成凹槽轨道和预置坑的记录媒体上的凹槽轨道上的跟踪伺服控制设备，包括第一生成设备，用于当在光束照射在凹槽轨道上的照射范围之内形成在一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第一再生信号；第二生成设备，用于当在光束的照射范围之内形成在另一个方向与信息坑相邻的预置坑的至少一部分时，根据来自记录媒体的反射光生成第二再生信号；和计算设备，用于根据生成的第一再生信号和第二再生信号计算跟踪伺服控制中的补偿值。在该跟踪伺服控制设备中，利用第一再生信号第二再生信号使跟踪伺服控制中的补偿值达到最小。
文档编号G11B7/007GK1877713SQ20061009234
公开日2006年12月13日 申请日期2003年12月25日 优先权日2003年1月22日
发明者梁川直治, 米竜大, 加藤正浩, 城田彰, 堀川邦彦, 村松英治 申请人:日本先锋公司