专利名称：用于检测光学储存媒体的预刻凹洞信号或标头区域的工作周期比控制回路与相关装置的制作方法
技术领域：
本发明是有关光学储存技术，尤指用于检测预刻凹洞信号或标头区域的工作周期比控制回路与相关装置。
背景技术：
在诸如DVD-R、DVD-RW光盘片等某些可录式光学储存媒体中，实体地址(physical address)信息是以预刻凹洞(pre-pit)的形式记录在光盘片的平坦区部分(land portion)。这些设置在平坦区上的预刻凹洞，又称之为平坦区预刻凹洞(land pre-pit，LPP)。
当要将数据写入一DVD-R/RW光盘片或要从一DVD-R/RW光盘片上读取数据时，需通过检测这些平坦区预刻凹洞的方式来获得盘片上的实体地址信息。现有技术检测平坦区预刻凹洞的方式如下首先，从DVD-R/RW光盘片上撷取出一推挽信号(push-pull signal)。接着，利用一截波器(slicer)依据一预设切割准位来切割该推挽信号，以产生一二元信号，该二元信号又称为平坦区预刻凹洞信号(LPP signal)。依据该截波器所产生的平坦区预刻凹洞信号，便可译码出该DVD-R/RW光盘片的地址信息，并产生数据写入或其它运作所需的写入时脉信号。由此可知，预刻凹洞的检测运作会大幅影响DVD-R/RW光盘片的存取效能。
然而，如所属技术领域中具有通常知识者所悉知，在推挽信号中与预刻凹洞相对应的信号部位的准位并不是固定不变的。相反地，与预刻凹洞相对应的信号部位的准位，会随着光学读取单元的实际读取情况，例如所在的寻轨位置等，而有所变动。因此，在设定该截波器切割该推挽信号的切割准位时，常会遭遇到困难。
不同于DVD-R/RW光盘片，DVD-RAM光盘片上的地址和位置信息，例如轨道和区段(sector)号码等等，是记录在设置在相邻两区段间的标头区域(headerregion)内。众所周知，由于标头区域中记录有标头信息所对应的高频信号，因此，自DVD-RAM光盘片撷取的推挽信号具有对应标头区域的部位很显著的波形变化。
在实际应用上，必须要确实地检测出DVD-RAM光盘片上的标头位置，才能有效控制DVD-RAM光盘片的转速，也才能精确地读出标头位置所记录的信息。
发明内容
因此本发明的目的之一在于提供用于检测光学储存媒体的预刻凹洞信号或标头区域的工作周期比控制回路与相关装置，以提升检测的准确度。
本发明的实施例中揭示了一种预刻凹洞信号产生装置，其包含有一第一截波器，用于依据一第一参考准位产生与一推挽信号相对应的一截波信号；一工作周期比控制电路，耦接于该第一截波器，用于调整该第一参考准位或该推挽信号，以将该截波信号的工作周期比控制于一预定比率；一参考准位产生器，耦接于该工作周期比控制电路，用于产生与该第一参考准位相对应的一第二参考准位；以及一第二截波器，耦接于该参考准位产生器，用于依据该第二参考准位产生与该推挽信号相对应的一第一预刻凹洞信号。
本发明的实施例另揭示了一种用于检测一光学储存媒体的一标头区域的检测装置，该检测装置包含有一第一截波器，用于依据一第一参考准位产生与撷取自该光学储存媒体的一推挽信号相对应的一第一截波信号；一第一工作周期比控制电路，耦接于该第一截波器，用于调整该第一参考准位或该推挽信号，以将该第一截波信号的工作周期比控制在一第一预定比率；一第一参考准位产生器，耦接于该第一工作周期比控制电路，用于产生与该第一参考准位相对应的一第二参考准位；一第二截波器，用于依据一第三参考准位产生与该推挽信号相对应的一第二截波信号；一第二工作周期比控制电路，耦接于该第二截波器，用于调整该第三参考准位或该推挽信号，以将该第二截波信号的工作周期比控制在大于该第一预定比率的一第二预定比率；一第二参考准位产生器，耦接于该第二工作周期比控制电路，用于产生与该第三参考准位相对应的一第四参考准位；以及一标头区域检测模块，耦接于该第一、第二参考准位产生器，用以依据该第二、第四参考准位来检测该推挽信号的一标头区域。
在本发明的实施例中还揭示了一种检测装置，用于检测一光学储存媒体的一标头区域，该检测装置包含有一截波器，用于依据一第一参考准位产生与撷取自该光学储存媒体的一推挽信号相对应的一截波信号；一工作周期比控制电路，耦接于该截波器，用于调整该第一参考准位或该推挽信号，以将该截波信号的工作周期比控制于一预定比率；一参考准位产生器，耦接于该工作周期比控制电路，用于产生与该第一参考准位相对应的一第二参考准位；以及一标头区域检测模块，耦接于该参考准位产生器，用以依据该第二参考准位与对应于该第二参考准位的一第三参考准位来检测该推挽信号的一标头区域。
此外，本发明的实施例中另揭示了一种工作周期比控制回路，其包含有一截波器，用来依据一参考准位切割一输入信号，以产生一截波信号；以及一工作周期比控制电路，耦接于该截波器，用来调整该参考准位或该输入信号，以将该截波信号的工作周期比控制在一预定比率；其中该预定比率不是大于0.6就是小于0.4。
图1为本发明一实施例的预刻凹洞信号产生装置简化后的方块图。
图2为图1的预刻凹洞信号产生装置的一第一实施例的方块图。
图3为本发明一实施例的包含有预刻凹洞信息的一推挽信号的示意图。
图4为图1的预刻凹洞信号产生装置的一第二实施例的方块图。
图5为本发明另一实施例的预刻凹洞信号产生装置的方块图。
图6为图5的工作周期比控制电路的一第一实施例的方块图。
图7为图5的工作周期比控制电路的一第二实施例的方块图。
图8为本发明用来检测光学储存媒体的一标头区域的检测装置的一实施例。
图9为图8的检测装置的一实施例的方块图。
图10为本发明检测一标头区域的一实施例的示意图。
图11为图9的检测装置简化后的一实施例的方块图。
图12为图8的检测装置简化后的一实施例的方块图。
附图标号100、200、400、500 预刻凹洞信号产生装置110、140、150、510、540、550、810、840、 截波器872、874120、520、820、850、920、950 工作周期比控制电路122、210、410、522、922、952 工作周期检测器124、220、524、710 调整装置130、230、530、830、860、930、960参考准位产生器212 取样单元214 计数器222、612、924、954 决定单元224、234、238、614、926、934、956、964、1120 数字至模拟转换器232、236、932、962、1110、1210 运算单元300 推挽信号312、314 平坦区预刻凹洞信号322、324、326、328 噪声412 低通滤波器414 比较器
420 电荷泵600、700 作周期比控制电路616 增益放大器712 电阻单元714 电容单元800、900、1100、1200 检测装置870 标头区域检测模块876 判断单元1000 推挽信号1010 标头区域具体实施方式
在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。所属领域中具有通常知识者应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及后续的请求项当中所提及的“包含”为一开放式的用语，故应解释成“包含但不限定于”。此外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述一第一装置耦接于一第二装置，则代表该第一装置可直接电气连接于该第二装置，或通过其它装置或连接手段间接地电气连接至该第二装置。
请参考图1，其显示本发明一实施例的预刻凹洞信号产生装置(pre-pit signalgenerating device)100简化后的方块图。如图所示，预刻凹洞信号产生装置100包含有一第一截波器(slicer)110、一工作周期比控制电路(duty ratio controller)120、一参考准位产生器130，一第二截波器140、以及一第三截波器150。第一截波器110是用于依据一第一参考准位RL1，切割自一光学储存媒体(如DVD-R或DVD-RW光盘)中撷取出的推挽信号(push-pull signal)，以产生一截波信号(sliced signal)。该截波信号为一二元信号(binary signal)。工作周期比控制电路120耦接于第一截波器110，用来检测第一截波器110所产生的该截波信号的工作周期比(duty ratio)，并调整该第一参考准位RL1以将该截波信号的工作周期比控制于一预定比率。本实施例的工作周期比控制电路120包含有一工作周期检测器(duty detector)122，以及耦接于工作周期检测器122的一调整装置(adjusting device)124。工作周期检测器122是用来检测该截波信号的工作周期比，而调整装置124则会依据工作周期检测器122的检测结果来调整该第一参考准位RL1。从一角度而言，第一截波器110与工作周期比控制电路120两者的组合可以实现一工作周期比控制回路(duty ratio control loop)的功能。实作上，工作周期比控制电路120可以用模拟技术、数字技术，或模拟技术组合数字技术来实现。
第一截波器110所输入的推挽信号为一混合信号(composite signal)，其中，光学储存媒体的平坦区预刻凹洞信息叠合(piggyback)在摆动信号(wobblesignal)成分上。本实施例的工作周期比控制电路120利用回授控制的方式，适应性地(adaptively)调整该第一参考准位RL1，以使得该第一参考准位RL1保持在该推挽信号的摆动信号成分的峰值(peak level)之下。要达成此目的，可将该预定比率设为一小于0.4的值。例如，该预定比率可以是选取自0.05到0.4此一范围中的数值。较佳者，该预定比率介于0.1到0.2之间。请注意，倘若该推挽信号在输入第一截波器110之前先经过反相处理，则该预定比率可设为一大于0.6的数值，例如，该预定比率可以是选自0.6到0.95此一范围中的数值，或者是设为0.8到0.9之间的数值。
参考准位产生器130耦接于工作周期比控制电路120，用来产生与该第一参考准位RL1相对应的一第二参考准位RL2。举例而言，在一实施例中，该第二参考准位RL2较该第一参考准位RL1高一第一增量。参考准位产生器130可直接将该第一增量与该第一参考准位RL1相加，以产生该第二参考准位RL2。在本实施例中，参考准位产生器130还会产生与该第一参考准位RL1相对应的一第三参考准位RL3。进一步而言，该第三参考准位RL3在本实施例中较该第一参考准位RL1高一第二增量。同样地，参考准位产生器130可直接将该第二增量与该第一参考准位RL1相加，以产生该第三参考准位RL3。倘若该推挽信号在输入第一截波器110之前先经过了反相处理，则参考准位产生器130所产生的第二参考准位RL2与第三参考准位RL3会低于该第一参考准位RL1。
如图1所示，第二截波器140以及第三截波器150皆耦接于参考准位产生器130。第二截波器140是用来依据该第二参考准位RL2产生与该推挽信号相对应的一第一预刻凹洞信号PPS1。第三截波器150则是用来依据该第三参考准位RL3产生与该推挽信号相对应的一第二预刻凹洞信号PPS2。在本例中，第二截波器140会依据该第二参考准位RL2来切割该推挽信号，以产生该第一预刻凹洞信号PPS1，而第三截波器150则会依据该第三参考准位RL3来切割该推挽信号，以产生该第二预刻凹洞信号PPS2。
该第二参考准位RL2与该第三参考准位RL3的值，是分别取决于该第一预刻凹洞信号PPS1与该第二预刻凹洞信号PPS2的用途。例如，假设该第一预刻凹洞信号PPS1是用来译码该光学储存媒体的地址信息，而该第二预刻凹洞信号PPS2用来产生写入时脉信号或再生时脉信号。在此情况下，该第二参考准位RL2应尽可能设得越低越好，以确实检测出平坦区预刻凹洞的信息。另一方面，该第三参考准位RL3则应尽可能设得越高越好，以降低噪声的影响，进而提升该第二预刻凹洞信号PPS2的抗噪声能力。要达到前述目的，可将该第一增量值设为小于该第二增量值。
图2为预刻凹洞信号产生装置100的一第一实施例200的方块图。如图2所示，预刻凹洞信号产生装置200包含有第一截波器110、一工作周期检测器210、一调整装置220、一参考准位产生器230、第二截波器140、以及第三截波器150，其中，工作周期检测器210以及调整装置220两者的组合用于作为一工作周期比控制电路。
在此实施例中，工作周期检测器210包含有一取样单元(sampling unit)212，耦接于第一截波器110的输出端；以及一计数器214，耦接于取样单元212与调整装置220。调整装置220包含有一决定单元(decision unit)222以及一第一数字至模拟转换器(DAC)224。决定单元222耦接于工作周期检测器210，用来依据工作周期检测器21 0的检测结果产生一第一控制值CV1。第一数字至模拟转换器224耦接于决定单元222与第一截波器110之间，用来依据该第一控制值CV1产生及调整该第一参考准位RL1。以下，将进一步说明工作周期检测器210与调整装置220的运作方式。
工作周期检测器210中的取样单元212是用于依据一预定取样时脉信号来取样该截波信号，以产生一取样信号(sampled signal)，计数器214则是用于计数该取样信号在一预定时段中的脉波数。该预定取样时脉信号可以是一信道位时脉信号(channel bit clock)、依据该信道位时脉信号进行除频所产生的一除频信号、或其它任何可供用来取样该截波信号的时脉信号。
在一较佳实施例中，工作周期检测器210中的计数器214在开始进行计数之前，会先加载一预定初始值，其中，该预定初始值为计数器214的计数上限与一预定临界值的差量。如此一来，若计数器214在该预定时段中计数该取样信号的脉波所得的计数值超过该预定临界值，便会发生计数器溢位。在本例中，计数器214在发生溢位时会产生一上升信号Up，用以表示该第一参考准位RL1需向上调整。相反地，若计数器214没有发生溢位的情形，则会产生一下降信号Dn，用以表示该第一参考准位RL1需向下调整。实作上，计数器214所加载的预定初始值的大小，可依据该光学储存媒体的转速而调整。
在另一实施例中，工作周期检测器210中的计数器214会计数该取样信号的脉波数来产生一计数值。接着，工作周期检测器210会利用一计算单元(未显示)来计算该计数值与该预定临界值的差异。
由前述的说明可知，工作周期检测器210的检测结果可有各种不同的表达方式，例如，可用计数器214所产生的上升/下降信号的形式来表达，或是用计数器214的计数值与该预定临界值两者的差异来表达。从一角度而言，工作周期检测器210的检测结果取决于计数器214。
如前所述，本实施例中的调整装置220包含有决定单元222以及第一数字至模拟转换器224。实作上，决定单元222可以是一双向计数器(backward-forwardcounter)，用以依据工作周期检测器210的检测结果(例如前述的上升/下降信号或该差异)来产生一计数值作为该第一控制值CV1。举例而言，该双向计数器可在接收到工作周期检测器210的计数器214所产生的一上升信号Up时，将该第一控制值CV1加一，而在接收到一下降信号Dn时，将该第一控制值CV1减一。
在另一实施例中，决定单元222是以一数字积分器(digital integrator)来实现，用以依据工作周期检测器210所产生的上升/下降信号或该差异来进行积分运算，以产生该第一控制值CV1。
此外，也可在决定单元222的后级设置一无限脉冲响应(infinite impulseresponse，IIR)滤波器，以使该第一控制值CV1的变化较为平缓。以下，将对参考准位产生器230的实施方式作进一步说明。
如图2所示，参考准位产生器230包含有一第一运算单元(computing unit)232，耦接于决定单元222，用来将该第一控制值CV1增加一第一偏移量(offset)A1，以产生一第二控制值CV2；一第二数字至模拟转换器234，耦接于第一运算单元232与第二截波器140之间，用来依据该第二控制值CV2产生并调整该第二参考准位RL2；一第二运算单元236耦接于决定单元222，用来将该第一控制值CV1增加一第二偏移量A2，以产生一第三控制值CV3；以及一第三数字至模拟转换器238，耦接于第二运算单元236与第三截波器150之间，用来依据该第三控制值CV3产生并调整该第三参考准位RL3。在实作上，第一、第二运算单元232及236可用加法器来实现。
图3所示为包含有预刻凹洞信息的一推挽信号300的一实施例的波形示意图。在推挽信号300当中，有两个平坦区预刻凹洞信号(LPP signal)312与314叠合在推挽信号300的摆动信号成分上。至于信号322、324、326以及328，则为推挽信号300当中的噪声。如图3所示，工作周期比控制电路120所产生的该第一参考准位RL1并非固定不变。这是因为工作周期比控制电路120会调整该第一参考准位RL1，以将第一截波器110所输出的该截波信号的工作周期比控制于该预定比率。因此，该第一参考准位RL1会随着推挽信号300的波形而有所调整。
如图3所示，该第二参考准位RL2与该第三参考准位RL3两者皆超过推挽信号300的摆动信号成分的峰值(peak level)。在本例中，第二数字至模拟转换器234所产生的该第二参考准位RL2会较该第一参考准位RL1高一第一增量x1，而第三数字至模拟转换器238所产生的该第三参考准位RL3，则会较该第一参考准位RL1高一第二增量x2，且该第二增量x2大于该第一增量x1。要达到此效果，可以将第一运算单元232中的第一偏移量A1设定成小于第二运算单元236中的第二偏移量A2。
利用这样的设计，后级电路便可从该第一预刻凹洞信号PPS1中确实地检测出该光学储存媒体的平坦区预刻凹洞位置，以提高译码该光学储存媒体的地址信息的效能。同时，也可大幅提升用来产生时脉信号的该第二预刻凹洞信号PPS2的抗噪声能力。
请参考图4，为预刻凹洞信号产生装置100的一第二实施例400的方块图。由于预刻凹洞信号产生装置400类似于前述的实施例，因此，运作与实施方式与前述实施例相同的组件仍标以相同的标号，以方便说明。
在预刻凹洞信号产生装置400中，工作周期检测器410与调整装置420两者的组合是用来作为一工作周期比控制电路。如图所示，工作周期检测器410包含有一低通滤波器(low-pass filter，LPF)412，用来对第一截波器110所输出的该截波信号进行低通滤波处理，以产生一滤波信号(filtered signal)；一比较器(comparator，简称为CMP)414，耦接于低通滤波器412，用来比较该滤波信号与一默认值，以决定要输出一上升信号Up或是一下降信号Dn。在本实施例中，调整装置420是利用一电荷泵(charge pump)来实现，用以依据来自比较器414的上升/下降信号产生一第一参考准位RL1。实作上，也可改用一模拟积分器(analog integrator)来实现调整装置420。预刻凹洞信号产生装置400中其它组件的运作方式与前述实施例相同，为简洁起见，在此不重复赘述。
在前述实施例中，第二截波器140与第三截波器150是分别用来产生预刻凹洞信号PPS1与PPS2。此仅为一实施例，而非限制本发明的实施方式。实作上，前揭的预刻凹洞信号产生装置也可仅在参考准位产生器的后级设置一单一截波器，用以依据与该第一参考准位RL1相对应的一参考准位RL4来切割该推挽信号，以产生一预刻凹洞信号，并用于地址信息译码及产生写入时脉/再生时脉信号。较佳者，该参考准位RL4是设在该第二、第三参考准位RL2与RL3之间。
请注意，前述实施例中的工作周期比控制电路是通过适应性调整该第一参考准位RL1的方式，来控制该第一截波器所产生的截波信号的工作周期比。此仅为一种实施例，而非限缩本发明的实际操作方式。在实作上，工作周期比控制电路也可改为调整输入该第一截波器的推挽信号，来达成控制该截波信号的工作周期比的目的。
举例而言，图5绘示了本发明另一实施例的预刻凹洞信号产生装置500的方块图。预刻凹洞信号产生装置500包含有一第一截波器510、一工作周期比控制电路520、一参考准位产生器530、一第二截波器540、以及一第三截波器550。与前述实施例类似，第一截波器510会依据一第一参考准位RL1’来切割一推挽信号，以产生一截波信号。本实施例与前述实施例的不同点之一，在于本实施例中的工作周期比控制电路520是利用回授控制的方式，调整输入第一截波器510的推挽信号，以控制第一截波器510所产生的截波信号的工作周期比。
如图所示，工作周期比控制电路520包含有一工作周期检测器522，用来检测该截波信号的工作周期比；以及一耦接于工作周期检测器522的调整装置524，用来依据工作周期检测器522的检测结果调整该推挽信号，以控制该截波信号的工作周期比。工作周期检测器522的运作及实施方式与前述的工作周期检测器122、210、或410类似，故在此不重复说明。实作上，调整装置524可依据工作周期检测器522的检测结果，调整该推挽信号的增益或直流准位并输出至第一截波器510。所属技术领域中具有通常知识者应可理解，调整装置524所产生的一调整后的信号仍然是一模拟格式的推挽信号。为了后续说明上的方便，调整装置524所产生的调整后的推挽信号标示为S1。以下，将结合图6及图7来进一步说明工作周期比控制电路520的不同实施方式。
图6所示为工作周期比控制电路520的一第一实施例600的方块图。工作周期比控制电路600包含有工作周期检测器522以及一调整装置610。在本例中，调整装置610包含一耦接于工作周期检测器522的决定单元612；一耦接于决定单元612的数字至模拟转换器614；以及一耦接于数字至模拟转换器614的增益放大器(gain amplifier)616。决定单元612是用来依据工作周期检测器522的检测结果产生一控制值，而数字至模拟转换器614则会依据该控制值来控制增益放大器616调整该推挽信号的信号增益。
举例而言，当工作周期检测器522的检测结果表示该截波信号的工作周期比高于该预定比率时，决定单元612与数字至模拟转换器614会控制增益放大器616调降该推挽信号的信号增益。相反地，倘若工作周期检测器522的检测结果表示该截波信号的工作周期比低于该预定比率，则决定单元612与数字至模拟转换器614会控制增益放大器616调升该推挽信号的信号增益。调整后的推挽信号S1会输入至第一截波器510。通过利用回授(feedback)控制手段来调整该推挽信号的增益，调整装置610便能将第一截波器510所产生的该截波信号的工作周期比控制在一理想比率。
图7所示为工作周期比控制电路520的一第二实施例700的方块图。在工作周期比控制电路700中，调整装置710包含有决定单元612、数字至模拟转换器614、一电阻单元712、以及一电容单元714。电容单元714是用来隔绝该推挽信号的直流成分。在本例中，调整后的推挽信号S1的直流准位取决于数字至模拟转换器614的输出。换言之，调整装置710是利用回授控制的方式来调整输入至第一截波器510的推挽信号的直流准位，以控制第一截波器510所产生的该截波信号的工作周期比。
与前述的实施例类似，调整装置610或710当中的决定单元612与数字至模拟转换器614可改用电荷泵或模拟积分器来实现。
在预刻凹洞信号产生装置500中，参考准位产生器530是用来产生与该第一参考准位RL1’相对应的一第二参考准位RL2’与一第三参考准位RL3’。在本实施中，该第二参考准位RL2’较该第一参考准位RL1’高一第一增量，而该第三参考准位RL3’则较该第一参考准位RL1’高一第二增量。与前述说明类似，倘若该推挽信号在输入调整装置524前经过反相处理，或是调整后的推挽信号S1在输入第一截波器510前经过反相处理，则参考准位产生器530所产生的该第二参考准位RL2’与该第三参考准位RL3’会低于该第一参考准位RL1’。参考准位产生器530的运作方式与前述的参考准位产生器130实质上相同。
接下来，第二截波器540会依据该第二参考准位RL2’产生与该推挽信号相对应的一第一预刻凹洞信号PPS1’，而第三截波器550则会依据该第三参考准位RL3’产生与该推挽信号相对应的一第二预刻凹洞信号PPS2’。举例而言，在本例中，第二截波器540会依据该第二参考准位RL2’来切割工作周期比控制电路520所产生的调整后的推挽信号S1，以产生该第一预刻凹洞信号PPS1’，而第三截波器550则会依据该第三参考准位RL3’来切割调整后的推挽信号S1，以产生该第二预刻凹洞信号PPS2’。
如前所述，在前揭的预刻凹洞信号产生装置中，该第一截波器与工作周期比控制电路两者的组合，是用来作为一工作周期比控制回路。在实际应用上，前揭的工作周期比控制回路的架构，也可应用在检测光学储存媒体(例如DVD-RAM光盘片)的标头区域(header region)上。
请参考图8与图10。图8为依据本发明一实施例所绘示，用来检测一光学储存媒体的一标头区域的检测装置800的方块图。图10则为本发明检测一标头区域的一实施例的示意图。如图10所示，由于推挽信号1000的一标头区域1010中会记录有标头信息的高频信号，因此，在标头区域1010部位的波形有很显著的变化。
检测装置800包含有一第一截波器810，用来依据一第一参考准位RL_a切割自该光学储存媒体撷取出的一推挽信号，以产生一第一截波信号；一第一工作周期比控制电路820，耦接于第一截波器810，用来调整该第一参考准位RL_a以将该第一截波信号的工作周期比控制在一第一预定比率；以及一第一参考准位产生器830，耦接于第一工作周期比控制电路820，用来产生较该第一参考准位RL_a高一第一偏移量h1的一第二参考准位RL_b。很明显地，第一截波器810与第一工作周期比控制电路820两者的组合，用来作为一控制该第一截波信号的工作周期比的工作周期比控制回路。
检测装置800还包含有一第二截波器840，用来依据一第三参考准位RL_c切割该推挽信号以产生一第二截波信号；一第二工作周期比控制电路850，耦接于第二截波器840，用来调整该第三参考准位RL_c以将该第二截波信号的工作周期比控制在大于该第一预定比率的一第二预定比率；以及一第二参考准位产生器860，耦接于第二工作周期比控制电路850，用来产生较该第三参考准位RL_c高一第二偏移量h2的一第四参考准位RL_d。相似地，第二截波器840与第二工作周期比控制电路850两者的组合，用来作为一控制该第二截波信号的工作周期比的工作周期比控制回路。
在本实施例中，该第一参考准位RL_a接近于该推挽信号中的摆动信号部分的峰值(peak level)，而该第三参考准位RL_c则接近于该摆动信号部分的谷值(bottom level)。要达成此目的，可将该第一预定比率设成一小于0.4的数值，而将该第二预定比率设成一大于0.6的数值。例如，该第一预定比率可设定在0.05至0.4的范围内，而该第二预定比率则可设定在0.6至0.95的范围内。较佳者，该第一预定比率设定在0.1与0.2之间，而该第二预定比率则设定在0.8与0.9之间。
此外，检测装置800还包含一标头区域检测模块(header region detectingmodule)870，耦接于第一、第二参考准位产生器830与860，用以依据该第二、第四参考准位RL_b与RL_d来检测该推挽信号的一标头区域。在本实施例中，标头区域检测模块870包含有一第三截波器872，耦接于第一参考准位产生器830，用来依据该第二参考准位RL_b切割该推挽信号，以产生一第一检测信号HD1；一第四截波器874，耦接于第二参考准位产生器860，用来依据该第四参考准位RL_d切割该推挽信号，以产生一第二检测信号HD2；以及一判断单元(determining unit)876，耦接于第三、第四截波器872与874，用来依据该第一、第二检测信号HD1与HD2产生一标头信号(header signal)HS。
在本实施例中，该第一检测信号HD1当中的高准位部分是表示标头区域1010的左半部，而该第二检测信号HD2当中的高准位部分则是表示标头区域1010的右半部。因此，举例而言，判断单元876可利用一或门(OR gate)来实现，用以对该第一、第二检测信号HD1与HD2进行逻辑或运算，以产生该标头信号HS。如此一来，该标头信号HS的高准位部分即代表标头区域1010的位置。
图9所绘示为检测装置800的一实施例检测装置900的方块图。检测装置900包含有第一截波器810、一第一工作周期比控制电路920、一第一参考准位产生器930、第二截波器840、一第二工作周期比控制电路950、一第二参考准位产生器960、以及标头区域检测模块870。
在本实施例中，第一工作周期比控制电路920包含有一工作周期检测器922，用来检测第一截波器810所输出的截波信号的工作周期比；一决定单元924，用来依据工作周期检测器922的检测结果产生一第一控制值C1；以及一数字至模拟转换器926，用来依据该第一控制值C1产生并调整第一参考准位RL_a。第一参考准位产生器930则包含一运算单元932，用来将该第一控制值C1增加一偏移量B1，以产生一第二控制值C2；以及一数字至模拟转换器934，用来依据该第二控制值C2产生并调整第二参考准位RL_b。第一工作周期比控制电路920与第一参考准位产生器930的运作及实施方式，类似于前述的实施例，为简洁起见，在此不重复赘述。
第二工作周期比控制电路950包含有一工作周期检测器952，用来检测第二截波器840所输出的截波信号的工作周期比；一决定单元954，用来依据工作周期检测器952的检测结果产生一第三控制值C3；以及一数字至模拟转换器956，用来依据该第三控制值C3产生并调整第三参考准位RL_c。第二参考准位产生器960则包含一运算单元962，用来将该第三控制值C3减去一偏移量B2，以产生一第四控制值C4；以及一数字至模拟转换器964，用来依据该第四控制值C4产生并调整第四参考准位RL_d。
在实作上，检测装置800中的第一工作周期比控制电路820或第二工作周期比控制电路850，也可改用如前述图4所揭示的模拟架构来实现。
由图10可以发现，该第二参考准位RL_b与该第四参考准位RL_d约略对称于推挽信号1000的直流准位。因此，前述检测装置800或900中的对称架构可进一步简化，以降低电路的复杂度。
举例而言，图11所绘示为检测装置900简化后的一实施例检测装置1100的方块图。如图所示，检测装置1100是利用一运算单元1110与一数字至模拟转换器1120来产生欲输入第四截波器874的一参考准位RL_d’。本实施例中的数字至模拟转换器1120实质上相同于第一参考准位产生器930中的数字至模拟转换器934。在图11中，CX代表与数字至模拟转换器934或1120的全幅工作范围(full scale)相对应的一数字控制值。运算单元1110会通过计算该数字控制值CX减去与该第二参考准位RL_b相对应的该第二控制值C2的差量，来产生一控制值。接着，数字至模拟转换器1120会依据运算单元1110所产生的该控制值来产生该参考准位RL_d’。如此一来，该参考准位RL_d’与该第二参考准位RL_b将会约略对称于推挽信号1000的直流准位。
图12所示则为检测装置800简化后的一实施例检测装置1200的方块图。在图12中，Vmax代表推挽信号1000的最大振幅。在本实施例中，检测装置1200利用一运算单元1210从两倍该最大振幅Vmax中减去该第二参考准位RL_b，以产生一参考准位RL_d”。如此一来，该参考准位RL_d”与该第二参考准位RL_b将会约略对称于推挽信号1000的直流准位。
在实作上，前述检测装置800、900、1100、或1200当中的工作周期比控制回路，也可改用图5所揭示的架构来实现。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种预刻凹洞信号产生装置，其包含有一第一截波器，用来依据一第一参考准位产生与一推挽信号相对应的一截波信号；一工作周期比控制电路，耦接于所述的第一截波器，用来调整所述的第一参考准位或所述的推挽信号，以将所述的截波信号的工作周期比控制于一预定比率；一参考准位产生器，耦接于所述的工作周期比控制电路，用来产生与所述的第一参考准位相对应的一第二参考准位；以及一第二截波器，耦接于所述的参考准位产生器，用来依据所述的第二参考准位产生与所述的推挽信号相对应的一第一预刻凹洞信号。
2.如权利要求1所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的参考准位产生器还会产生与所述的第一参考准位相对应的一第三参考准位，且所述的预刻凹洞信号产生装置另包含有一第三截波器，耦接于所述的参考准位产生器，用来依据所述的第三参考准位产生与所述的推挽信号相对应的一第二预刻凹洞信号。
3.如权利要求2所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的第一预刻凹洞信号是用来译码一光学储存媒体的地址信息，而所述的第二预刻凹洞信号是用来产生一写入时脉信号或再生时脉信号。
4.如权利要求1所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的工作周期比控制电路包含有一工作周期检测器，耦接于所述的第一截波器，用来检测所述的截波信号的工作周期比；以及一调整装置，耦接于所述的工作周期检测器，用以依据所述的工作周期检测器的检测结果来调整所述的第一参考准位或所述的推挽信号。
5.如权利要求4所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的工作周期检测器包含有一取样单元，用来取样所述的截波信号以产生一取样信号；以及一计数器，耦接于所述的取样单元与所述的调整装置，用来计数所述的取样信号以决定所述的检测结果。
6.如权利要求4所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的工作周期检测器包含有一低通滤波器，用来对所述的截波信号进行低通滤波，以产生一滤波信号；以及一比较器，耦接于所述的低通滤波器与所述的调整装置，用来比较所述的滤波信号与一默认值，以决定所述的检测结果。
7.如权利要求4所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的调整装置为一电荷泵或一模拟积分器。
8.如权利要求4所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的调整装置包含有一决定单元，耦接于所述的工作周期检测器，用来依据所述的工作周期检测器的检测结果产生一第一控制值；以及一第一数字至模拟转换器，耦接于所述的决定单元，用来依据所述的第一控制值调整所述的第一参考准位。
9.如权利要求8所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的决定单元为一计数器或一数字积分器。
10.如权利要求8所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的参考准位产生器包含有一第一运算单元，耦接于所述的决定单元，用来将所述的第一控制值调整一第一偏移量以产生一第二控制值；以及一第二数字至模拟转换器，耦接于所述的第一运算单元，用来依据所述的第二控制值调整所述的第二参考准位。
11.如权利要求8所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的参考准位产生器包含有一第二运算单元，耦接于所述的决定单元，用来将所述的第一控制值调整一第二偏移量以产生一第三控制值；以及一第三数字至模拟转换器，耦接于所述的第二运算单元，用来依据所述的第三控制值调整一第三参考准位。
12.如权利要求11所述的预刻凹洞信号产生装置，其进一步包含一第三截波器，耦接于所述的第三数字至模拟转换器，用来依据所述的第三参考准位产生与所述的推挽信号相对应的一第二预刻凹洞信号。
13.如权利要求4所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的调整装置是依据所述的工作周期检测器的检测结果来调整所述的推挽信号的增益或直流准位。
14.如权利要求13所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的调整装置包含有一决定单元，耦接于所述的工作周期检测器，用来依据所述的工作周期检测器的检测结果产生一控制值；一增益放大器，耦接于所述的第一截波器；以及一第一数字至模拟转换器，耦接于所述的决定单元与所述的增益放大器之间，用来依据所述的控制值控制所述的增益放大器以调整所述的推挽信号的增益。
15.如权利要求13所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的调整装置包含有一决定单元，耦接于所述的工作周期检测器，用来依据该工作周期检测器的检测结果产生一控制值；一第一数字至模拟转换器，耦接于所述的决定单元，用来依据所述的控制值产生一直流信号；一电阻单元，具有一第一端与一第二端，且该第一端耦接于所述的第一数字至模拟转换器，而该第二端耦接于所述的第一截波器；以及一电容单元，具有一第一端与一第二端，且该第一端耦接于所述的推挽信号，而该第二端耦接于所述的电阻单元的第二端。
16.如权利要求13所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的第二截波器是依据所述的第二参考准位切割所述的调整装置所输出的一调整后的推挽信号，以产生所述的第一预刻凹洞信号。
17.如权利要求1所述的预刻凹洞信号产生装置，其中所述的预定比率不是低于0.4就是大于0.6。
18.一种检测装置，用来检测一光学储存媒体的一标头区域，该检测装置包含有一第一截波器，用来依据一第一参考准位产生与撷取自所述的光学储存媒体的一推挽信号相对应的一第一截波信号；一第一工作周期比控制电路，耦接于所述的第一截波器，用来调整所述的第一参考准位或所述的推挽信号，以将所述的第一截波信号的工作周期比控制在一第一预定比率；一第一参考准位产生器，耦接于所述的第一工作周期比控制电路，用来产生与所述的第一参考准位相对应的一第二参考准位；一第二截波器，用来依据一第三参考准位产生与所述的推挽信号相对应的一第二截波信号；一第二工作周期比控制电路，耦接于所述的第二截波器，用来调整所述的第三参考准位或所述的推挽信号，以将所述的第二截波信号的工作周期比控制在大于所述的第一预定比率的一第二预定比率；一第二参考准位产生器，耦接于所述的第二工作周期比控制电路，用来产生与所述的第三参考准位相对应的一第四参考准位；以及一标头区域检测模块，耦接于所述的第一、第二参考准位产生器，用以依据所述的第二、第四参考准位来检测所述的推挽信号的一标头区域。
19.如权利要求18所述的检测装置，其中所述的标头区域检测模块包含有一第三截波器，耦接于所述的第一参考准位产生器，用来依据所述的第二参考准位产生与所述的推挽信号相对应的一第一检测信号；一第四截波器，耦接于所述的第二参考准位产生器，用来依据所述的第四参考准位产生与所述的推挽信号相对应的一第二检测信号；以及一判断单元，耦接于所述的第三、第四截波器，用来依据所述的第一、第二检测信号产生一标头信号。
20.如权利要求19所述的检测装置，其中所述的判断单元为一或门。
21.如权利要求18所述的检测装置，其中所述的光学储存媒体为一DVD-RAM格式的光盘片。
22.如权利要求18所述的检测装置，其中所述的第一预定比率低于0.4，而所述的第二预定比率大于0.6。
23.如权利要求18所述的检测装置，其中所述的第一工作周期比控制电路是调整耦接于所述的第一截波器的推挽信号的增益或直流准位，以控制所述的第一截波信号的工作周期比。
24.如权利要求18所述的检测装置，其中所述的第二工作周期比控制电路是调整耦接于所述的第二截波器的推挽信号的增益或直流准位，以控制所述的第二截波信号的工作周期比。
25.一种检测装置，用来检测一光学储存媒体的一标头区域，该检测装置包含有一截波器，用来依据一第一参考准位产生与撷取自所述的光学储存媒体的一推挽信号相对应的一截波信号；一工作周期比控制电路，耦接于所述的截波器，用来调整所述的第一参考准位或所述的推挽信号，以将所述的截波信号的工作周期比控制于一预定比率；一参考准位产生器，耦接于所述的工作周期比控制电路，用来产生与所述的第一参考准位相对应的一第二参考准位；以及一标头区域检测模块，耦接于所述的参考准位产生器，用以依据所述的第二参考准位与对应于所述的第二参考准位的一第三参考准位来检测所述的推挽信号的一标头区域。
26.如权利要求25所述的检测装置，其中所述的工作周期比控制电路是调整耦接于所述的截波器的推挽信号的增益或直流准位，以控制所述的截波信号的工作周期比。
27.如权利要求25所述的检测装置，其另包含有一运算单元，耦接于所述的参考准位产生器与所述的标头区域检测模块，用来计算所述的推挽信号的最大振幅的两倍减去所述的第二参考准位的差量，以产生所述的第三参考准位。
28.如权利要求25所述的检测装置，其中所述的第二参考准位与所述的第三参考准位是对称于所述的推挽信号的直流准位。
29.一种工作周期比控制回路，其包含有一截波器，用来依据一参考准位切割一输入信号，以产生一截波信号；以及一工作周期比控制电路，耦接于所述的截波器，用来调整所述的参考准位或所述的输入信号，以将所述的截波信号的工作周期比控制于一预定比率；其中所述的预定比率不是大于0.6就是低于0.4。
30.如权利要求29所述的工作周期比控制回路，其中所述的工作周期比控制电路包含有一工作周期检测器，耦接于所述的截波器，用来检测所述的截波信号的工作周期比；以及一调整装置，耦接于所述的工作周期检测器与所述的截波器，用来依据所述的工作周期检测器的检测结果调整所述的参考准位或所述的输入信号。
31.如权利要求30所述的工作周期比控制回路，其中所述的工作周期检测器包含有一取样单元，用来取样所述的截波信号以产生一取样信号；以及一计数器，耦接于所述的取样单元与所述的调整装置，用来计数所述的取样信号以决定所述的检测结果。
32.如权利要求30所述的工作周期比控制回路，其中所述的工作周期检测器包含有一低通滤波器，用来对所述的截波信号进行低通滤波，以产生一滤波信号；以及一比较器，耦接于所述的低通滤波器与所述的调整装置，用来比较所述的滤波信号与一默认值，以决定所述的检测结果。
33.如权利要求30所述的工作周期比控制回路，其中所述的调整装置为一电荷泵或一模拟积分器。
34.如权利要求30所述的工作周期比控制回路，其中所述的调整装置包含有一决定单元，耦接于所述的工作周期检测器，用来依据该工作周期检测器的检测结果产生一控制值；以及一数字至模拟转换器，耦接于所述的决定单元，用来依据所述的控制值调整所述的参考准位。
35.如权利要求34所述的工作周期比控制回路，其中所述的决定单元为一计数器或一数字积分器。
36.如权利要求30所述的工作周期比控制回路，其中所述的调整装置是依据所述的工作周期检测器的检测结果调整所述的输入信号的增益。
37.如权利要求36所述的工作周期比控制回路，其中所述的调整装置包含有一决定单元，耦接于所述的工作周期检测器，用来依据该工作周期检测器的检测结果产生一控制值；一增益放大器，耦接于所述的截波器；以及一数字至模拟转换器，耦接于所述的决定单元与所述的增益放大器之间，用来依据所述的控制值控制所述的增益放大器调整所述的输入信号的增益。
38.如权利要求30所述的工作周期比控制回路，其中所述的调整装置是依据所述的工作周期检测器的检测结果来调整所述的输入信号的直流准位。
39.如权利要求38所述的工作周期比控制回路，其中所述的调整装置包含有一决定单元，耦接于所述的工作周期检测器，用来据该工作周期检测器的检测结果产生一控制值；一数字至模拟转换器，耦接于所述的决定单元，用来依据所述的控制值产生一直流信号；一电阻单元，具有一第一端与一第二端，且该第一端耦接于数字至模拟转换器，而该第二端耦接于所述的截波器；以及一电容单元，具有一第一端与一第二端，且该第一端耦接于所述的输入信号，而该第二端耦接于所述的电阻单元的第二端。
全文摘要
一种预刻凹洞信号产生装置，其包含有一第一截波器，用来依据一第一参考准位产生与一推挽信号相对应的一截波信号；一工作周期比控制电路，耦接于该第一截波器，用来调整该第一参考准位或该推挽信号，以将该截波信号的工作周期比控制于一预定比率；一参考准位产生器，耦接于该工作周期比控制电路，用来产生与该第一参考准位相对应的一第二参考准位；以及一第二截波器，耦接于该参考准位产生器，用来依据该第二参考准位产生与该推挽信号相对应的一第一预刻凹洞信号。
文档编号G11B7/09GK1941107SQ20061015996
公开日2007年4月4日 申请日期2006年9月28日 优先权日2005年9月28日
发明者谢秉谕, 陈志清 申请人:联发科技股份有限公司