光盘设备的制作方法

专利名称：光盘设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于读取记录在光盘上的信息的光盘设备，尤其涉及一 种能够校正因为光盘的翘曲而出现的彗形像差的光盘设备。
背景技术：
近年来，广泛地传播并普遍使用诸如压縮盘(以下称为"CD")以及数 字通用盘(以下称为"DVD")这样的光盘。此外，还采用光盘设备作为读 取和播放记录在光盘上的信息(例如声音信息或视频信息)的设备。例如， CD播放器、DVD播放器或者连接个人计算机的CD-ROM驱动器就是广为 人知的光盘设备。
光盘设备包括光学拾取装置，用于向光盘投射光束并读取信息。光学拾 取装置向安装在转盘上旋转的光盘的信息记录表面投射光束。此外，通过光 接收元件(例如设置在光学拾取装置中的光电二极管)接收光盘的反射光。 此外，通过光接收元件将光转换为电信号，基于获得的电信号，记录在光盘 上的信息被输出。
为了准确地读取光盘信息，光盘的信息记录表面与光束的聚焦点必须在 光盘上的信息读取位置达到一致。因此，光盘的信息记录表面与设置在光学 拾取装置中的物镜之间的距离必须保持预定的位置关系。为了保持适当的距 离，在光学拾取装置中设置致动器，用于在相对于信息记录表面垂直或水平 的方向上驱动物镜。此外，还设置用于驱动致动器的聚焦伺服机构，以使得 物镜与信息记录表面之间的距离可以保持恒定。
由于各种因素，光盘的信息记录表面有时候会出现翘曲。此外，在光盘 已被安装在转盘上时，其外周附近的部分由于自身的重量有时候会下垂。当 翘曲或下垂轻微时，光束的光轴与信息记录表面能够维持基本上垂直的关 系。因此，能够通过设置在光学拾取装置中的上述致动器，以在与信息记录 表面垂直的方向上驱动物镜的方式来读取信息。
但是，当信息记录表面的翘曲或下垂严重，或者当盘的旋转轴倾斜时， 光束的光轴与信息记录表面有时候严重偏离它们之间的垂直关系。这导致盘 上应当被读取的信息轨道不能读出的缺陷。为了消除此缺陷，现有技术的光 盘设备中设置有倾斜伺服机构(即倾斜校正部)，其能够检测光盘的倾斜， 以保持光束的光轴与信息记录表面之间的垂直关系。
例如，倾斜伺服机构能够基于安装在光盘设备中的倾斜传感器所感测的
倾斜现象(appearance)的程度，来调节光学拾取装置或者物镜的倾斜。但 是，当再次将这样的传感器安装在光盘设备中时，就会出现这样的问题光 盘设备的内部结构容易变复杂，而且其制造成本增加。
关于上述问题，专利文献1 (JP-A-2000-311369)公开了一种倾斜校正 装置，其能够不受电性偏移和光学偏移的影响而进行倾斜校正，并且能够不 受出轨校正(detrack correction)的影响，独立地只进行倾斜校正。
专利文献1的倾斜校正装置包括光电传感器，用于接收光点反射的光； 获取器件，用于从光电传感器获取输出的差信号；以及倾斜控制器件，利用 所获得的差信号的幅度作为指数，控制信息介质与光头(head)之间的相对 倾斜，以使得该指数可接近极值。
此外，关于上述问题，专利文献2 GP-A-2002-083438)公开了一种光 学记录/播放设备，能够检测出用于倾斜校正的检测信号，不需要对光盘采取 任何特别措施，也不需要采用任何特殊器件或部件用于驱动，并且不会扰乱 用户的使用感觉(use sense)。
专利文献2的光学记录/播放设备包括用于将光线会聚在介质上的器 件，该介质设置有第一区和第二区，第一区具有凹部或槽，第二区为平坦的。 此外，该设备利用光线会聚器件形成的光点对介质进行聚焦伺服控制。当进 行控制时，该设备操作倾斜校正部，使得在介质的反射光的检测电平 (detection level)中，第一区中反射光的检测电平与第二区中反射光的检测 电平之间的差可达到最大值。
此外，关于上述问题，专利文献3 (JP-A-2006-196100)公开了一种倾 斜调节装置，其在光学拾取装置的倾斜调节过程中，即使当循迹误差(tracking error)信号和RF信号的信号电平低，以及循迹误差信号和RF信号幅度的最 大值与最小值之间的差值小时，也能够提高近似精度。
专利文献3的倾斜调节装置能够检测使循迹误差信号幅度最大化的倾斜 程度，同时改变光学拾取装置的倾斜程度。在这种情况下，当光盘为未记录 盘时，在循迹关闭状态下改变光学拾取装置的倾斜程度，当光盘为已记录盘 时，在循迹打开状态下改变光学拾取装置的倾斜程度。顺便提及，当循迹误 差信号幅度的最大值与最小值之间的差值小时，循迹误差信号的信号电平被 放大到预定信号电平，从而检测出使循迹误差信号幅度最大化的倾斜程度。
但是，专利文献1-3中所公开的装置中进行的倾斜调节处理需要重复进 行处理时间周期较长的检测处理(例如，当物镜的倾斜程度改变时，检测循 迹误差信号幅度的处理)多次，还需要根据检测处理结果获得适当的倾斜校 正程度。因此会出现这样的问题完成倾斜调节处理的时间周期变长，检测 处理的内容容易变复杂。

发明内容
本发明的目的是提供一种光盘设备，其不需要再增加倾斜传感器或者用 于倾斜伺服的类似装置就能够获得适当的倾斜校正程度，并且处理容易，时 间周期短。
为了实现上述目的，本发明的光盘设备包括物镜，用于向光盘的记录 表面投射光束，并接收所述光盘的反射光；致动器，用于在所述光盘的径向 上移动所述物镜；光接收部，用于将从所述光盘反射的反射光转换为电信号； 以及倾斜校正部，基于所述光接收部将接收的反射光转换为电信号获得的反 射信号以及包含在所述反射信号中的循迹误差信号，校正所述光盘出现的倾 斜；其特征在于所述倾斜校正部包括倾斜现象程度检测部，当利用所述致 动器在所述光盘的径向上移动所述物镜时，通过所述光接收部检测所述反射 信号和所述循迹误差信号，在预定期间内检测所述反射信号的值达到最大值 的时刻与所述循迹误差信号的值变为零的时刻之间的时间差，以及检测所述 时间差除以所述循迹误差信号的一个周期的时间期间获得的值，并将其作为 倾斜现象程度；相关信息记录部，其中记录相关信息，所述相关信息表示倾 斜现象程度与所述倾斜校正部降低所述倾斜现象程度所需的倾斜校正程度 之间的关系；以及校正程度指令部，从所述相关信息记录部读取所述相关信 息，基于所述相关信息和所述倾斜现象程度检测部检测的倾斜现象程度，确
定倾斜校正程度，以及将所确定的倾斜校正程度提供给所述倾斜校正部；所
述倾斜校正部基于所述校正程度指令部给出的倾斜校正程度校正所述光盘 出现的倾斜
根据上述构造，本发明的光盘设备包括物镜、在光盘的径向上移动物镜 的致动器以及进行光电转换的光电检测器(即光接收部)。光电检测器将从 全部光接收区接收的所有光线经光电转换获得的反射信号和利用多个分开 的光接收区获得的循迹误差信号输出。倾斜校正电路(即倾斜校正部)利用 上述信号进行各种控制。
此外，根据上述构造，本发明的光盘设备包括的倾斜现象程度检测电路 (即倾斜现象程度检测部)在预定时间内，例如当启动光盘的旋转加速过程 时，在光盘的径向上移动物镜的同时检测全部反射信号和循迹误差信号。此 外，倾斜现象程度检测电路检测反射信号的值达到最大值的时刻与循迹误差 信号的值变为零的时刻之间的时间差。此外，倾斜现象程度检测电路获取所 述时间差除以所述循迹误差信号的一个周期的时间期间获得的值，并将其作 为倾斜现象程度。
此外，根据上述构造，本发明的光盘设备预先将相关信息记录在例如
ROM这样的记录介质(即相关信息记录部)中，相关信息中倾斜现象程度 与降低所述倾斜现象程度所需的倾斜校正程度相关联。校正程度指令电路 (即校正程度指令部)读取所述相关信息，比较所读取的相关信息与倾斜现 象程度检测电路所检测的当前倾斜现象程度，确定所需的倾斜校正程度。所 确定的倾斜校正程度提供给倾斜校正电路，用于倾斜校正电路进行倾斜校 正。
此外，本发明的光盘设备其特征在于致动器包括倾斜和移动机构，能 够改变物镜的径向倾斜角，倾斜校正部基于校正程度指令部给出的倾斜校正 程度，确定致动器的驱动信号电平，以倾斜和移动物镜。
根据上述构造，在本发明的光盘设备中，致动器具有倾斜和移动的功能， 以改变物镜的径向倾斜角。此外，倾斜校正部根据倾斜校正确定用于指示致 动器倾斜和移动物镜的驱动信号的大小，以进行倾斜校正。
此外，本发明的光盘设备其特征在于还包括液晶器件，用于校正像差； 倾斜校正部基于所述校正程度指令部给出的倾斜校正程度确定要施加在所述液晶器件中的电极上的电压，以校正像差。
根据上述构造，本发明的光盘设备包括液晶器件，用于校正由于光盘的 倾斜造成的彗形像差(即像差)。此外，倾斜校正电路根据倾斜校正程度确 定要施加在液晶器件中的电极上的电压的大小，以减少彗形像差，从而校正 倾斜。


图1为示出本发明的光盘设备的方框图2为示出本发明的光学拾取装置的光学系统的方框图3为示出本发明的光盘设备的旋转加速过程(spinup process)的处理 流程的流程图4为示出本发明的光盘设备的寻轨过程(seekprocess)的处理流程的 流程图5为示出本发明的光盘设备的倾斜校正过程的处理流程的流程图6A为示出未出现倾斜时光盘的记录表面的模式图(model diagram);
图6B为示出未出现倾斜时从光盘的记录表面获得的全部反射信号的模 式图6C为示出未出现倾斜时从光盘的记录表面获得的TE信号的模式图7A为示出当出现倾斜时光盘的记录表面的模式图7B为示出当出现倾斜时从光盘的记录表面获得的全部反射信号的模 式图7C为示出当出现倾斜时从光盘的记录表面获得的TE信号的模式图；1
图8A为示出当出现倾斜时从光盘的记录表面获得的全部反射信号随时 间的变化的模式图8B为示出当出现倾斜时从光盘的记录表面获得的TE信号随时间的变
化的模式图9为示出本发明的倾斜校正过程中采用的相关信息的示意图10为示出现有技术光盘设备的旋转加速过程的处理流程的流程图11为示出现有技术光盘设备的寻轨过程的处理流程的流程图。
具体实施例方式
以下参照附图描述本发明的实施例。顺便提及，这里所述的实施例仅为 实例，本发明并不受限于这些实施例。
图1为根据本发明一实施例的光盘播放器(diskplayer) 100 (即光盘设 备)的方框图。光盘播放器100包括光学拾取装置1、 RF放大器31、 DSP (数字信号处理器)32、播放处理电路(playback process circuit) 33、输出 电路34、系统控制器41、驱动器42、进给马达51、主轴马达52、显示单元 61以及操控单元(manipulation unit) 71。
光学拾取装置1向光盘91投射光束，并读取记录在光盘91 (CD、 DVD 或者BD)上的各种信息项(informationitem)，例如声音信息和视频信息。 该光学拾取装置1设置有用于CD的激光二极管、用于DVD的激光二极管 以及用于BD的激光二极管。
RF放大器31、 DSP (数字信号处理器)32、播放处理电路33以及输出 电路34用于将从光学拾取装置1获得的声音信息和视频信息等转换为声音 和图像，然后将声音和图像分别输出到扬声器和监视器(未示出)。
RF放大器31将来自光学拾取装置1的声音信号和图像信号等放大。DSP 32和播放处理电路33对来自RF放大器31的信号进行各种信息处理(例如 视频处理)，以用于播放。输出电路34进行D/A转换等处理，以将来自播 放处理电路33的信号输出到扬声器和监视器(未示出)。
系统控制器41和驱动器42用于基于通过操控单元71接收的操控指令 (instruction manipulation)，来控制光学拾取装置1、进给马达51以及主轴 马达52的操作。系统控制器41接收来自操控单元71的信息，将该信息传 送给DSP32，并将来自DSP32的信息传送给显示单元61。驱动器42基于 来自DSP32的指令控制光学拾取装置1、进给马达51以及主轴马达52的操 作。
进给马达51由驱动器42驱动，而驱动器42基于DSP 32的指令操作。 这样，光学拾取装置1沿光盘91的径向移动。主轴马达52通过驱动器42 在光盘91的旋转方向上驱动光盘91。此外，驱动器42基于DSP32的指令 对光学拾取装置1中所包括的物镜17进行聚焦控制。
操控单元71供用户向光盘播放器100发出各种指令，例如播放光盘91 。
显示单元61利用液晶面板等器件向用户显示保留在光盘播放器100中的各 种信息项。
图2为示出根据本发明一实施例的光学拾取装置1的光学系统的示意 图。光学拾取装置l向光盘91 (例如CD)投射光束并接收反射光。这样就 可以读取记录在光盘91的记录表面上的信息。顺便提及，光盘91 (其中的 信息项能够被光学拾取装置1读取)的种类不限于本实施例中所指出的种类， 而是能够在不脱离本发明范围的界限内作出各种改变。
光学拾取装置1包括第一光源lla、第二光源llb、 二向棱镜12、准直 透镜13、分束器14、立镜(upstandmirror) 15、液晶器件16、物镜l7、检 测透镜18、光电检测器I9 (即光接收部)、致动器21、信号产生电路22、 倾斜校正电路23 (即倾斜校正部)、循迹控制电路24、倾斜现象程度检测 电路25 (即倾斜现象程度检测部)、相关信息记录单元26 (即相关信息记 录部)以及校正程度指令电路27 (即校正程度指令部)。下面描述构成光学 拾取装置1的各个部分的细节。
第一光源1 la为能够发射与DVD对应的650 nm波段光束的半导体激光 器。第二光源llb为能够发射与BD对应的405 nm波段光束的半导体激光器。 顺便提及，本实施例中，光源lla和光源llb均采用仅发射单波长光束的半 导体激光器。但是，本发明不限于这种半导体激光器，也可以采用例如具有 两个光发射点的双波长整体式半导体激光器，从而能够发射两种波长的光 束。
二向棱镜12使得用于DVD的第一光源lla发射的光束透射通过，而将 用于BD的第二光源llb发射的光束反射。此外，二向棱镜12使得第一光源 lla和第二光源lib发射的光束的光轴一致。透射通过二向棱镜12或者被二 向棱镜12反射的光束被传输到准直透镜13。
准直透镜13将通过二向棱镜12的光束转换为平行光。这里，"平行光" 表示第一光源lla和第二光源lib发射的光束的所有光路与准直透镜13的 光轴基本上平行的光线。经准直透镜13转换为平行光的光束被传输到分束 器14。
分束器14充当分光元件，其将入射光束分离，并使得从准直透镜13传 输的光束透射通过，从而将透射光束导向光盘91一侧；同时，分束器14将
从光盘91反射的反射光线反射，从而将反射光线导向光电检测器19 一侧。透射通过分束器14的光束被传输到立镜15。
立镜15将透射通过分束器14的光束反射，从而将反射光束导向光盘91 。 该立镜15处于这样的状态它相对于来自分束器14的光束的光轴倾斜45。， 而经立镜15反射的光束的光轴与光盘91的记录表面基本上垂直。经立镜15 反射的光束被传输到液晶器件16。
液晶器件16利用这样一种性质控制其折射率的变化通过向夹在透明 电极(未示出)之间的液晶(未示出)上施加电压，液晶分子会改变它们的 定位方向。这样，就能够控制透射通过液晶器件16的光束的相位。因为布 置了液晶器件16，就可以校正由于保护光盘91的记录表面的保护层的厚度 差异、光盘91的径向倾斜等原因造成的球面像差或者彗形像差。通过液晶 器件16的光束被传输到物镜17。
物镜17将透射通过液晶器件16的光束会聚在光盘91的记录表面上。 此外，物镜17制作为通过下文所述的致动器21，可以在例如图2所示的上、 下方向和左、右方向上移动，并且是基于聚焦伺服信号和循迹伺服信号控制 其位置。
顺便提及，在本实施例中，液晶器件16也是安装在致动器21上，从而 能够和物镜17 —起移动。但是，液晶器件16不必总是安装在致动器21上， 根据光学系统的构造，液晶器件6的构造可变。
从光盘91反射的反射光依次通过物镜17和液晶器件16，被立镜15反 射后再被分束器14反射，然后被检测透镜18会聚在设置于光电检测器19 上的光接收元件上。
光电检测器19利用光接收元件(例如光电二极管)将接收的光信息转 换为电信号。经转换获得的电信号被传输给下文所述的信号产生电路22，用 于产生各种信号。
致动器21根据驱动器42产生并输出的透镜驱动信号，进行循迹操作， 在光盘91的径向上移动物镜17。这里，虽然不限于此，但致动器21可以在 其中使驱动电流(即透镜驱动信号)流过由永磁体(未示出)形成的磁场内 的线圈(未示出)，从而通过洛伦兹力驱动物镜17。
此外，致动器21还进行倾斜操作以及聚焦操作，该倾斜操作倾斜并移动物镜17，使得从物镜17投射的激光束的光轴可摆动，该聚焦操作移动物
镜17，使得物镜17靠近或远离光盘91 。
信号产生电路22接收光电检测器19的输出信号，并且由该输出信号产 生各种信号，例如记录在光盘91的记录表面上的数据的播放信号、用于进 行聚焦控制的聚焦伺服信号以及用于进行循迹控制的TE信号(即循迹误差 信号)。产生的信号分别输出到对应的功能部分。
倾斜校正电路23接收来自光盘91的全部反射信号(即反射信号)以及 TE信号(当信号产生电路22产生上述信号以后)，并基于这些信号确定倾 斜校正程度。此外，倾斜校正电路23基于所确定的倾斜校正程度，通过驱 动液晶器件16或者致动器21进行倾斜校正。
循迹控制电路24接收信号产生电路22产生的TE信号，基于此信号进 行物镜17的循迹控制。具体而言，循迹控制电路24根据TE信号或者从寻 轨控制电路(未示出)接收的轨道跳动信号(trackjump signal)，确定物镜 17的径向位置，并利用致动器21在径向上移动物镜17。
当处于循迹控制停止的状态，在光学拾取装置1已在光盘91的径向上 移动的情况下，倾斜现象程度检测电路25根据全部反射信号值变为最大的 时刻与TE信号值变为零的时刻之间的时间差，来检测倾斜现象的程度。顺 便提及，下面将描述检测倾斜现象程度的过程的细节。
相关信息记录单元26中记录信息(即相关信息)，该信息表示由倾斜 现象程度检测电路25检测的倾斜现象程度与将该倾斜现象程度归零必需的 校正程度(即倾斜校正程度)之间的关系。具体而言，使用表示倾斜现象程 度At与倾斜校正程度之间比例关系的图形信息，如图9所示。或者，也可以 采用这样的方案使用记录相关联的倾斜现象程度与倾斜校正程度的表格信 息。顺便提及，该信息优选为例如基于对光盘播放器100进行的多次测试的 测试结果而生成。
校正程度指令电路27从相关信息记录单元26读取相关信息，并参照所 读取的相关信息以及从倾斜现象程度检测电路25接收的倾斜现象程度。此 外，校正程度指令电路27获取将从倾斜现象程度检测电路25接收的倾斜现 象程度归零所需的倾斜校正程度。所获取的倾斜校正程度提供给倾斜校正电 路23。倾斜校正电路23基于给出的倾斜校正程度，调节物镜17的倾斜或者 待施加于液晶器件16的电压大小。
以下参照图6A、图6B、图6C、图7A以及图7B描述由于本实施例中 的光学拾取装置1的移动而造成的输出信号的变化。图6A、图6B和图6C 示出当光学拾取装置l从光盘91的径向中心向其径向外缘(即沿着箭头a所 示的方向)移动时，从信号产生电路22输出的全部反射信号以及TE信号关 于光盘91的信息记录表面的变化。顺便提及，在这种情况下，循迹控制电 路24的循迹控制保持停止。
"全部反射信号"表示光电检测器19检测的所有光量的总和的变化。 通常，当物镜17的中心轴与存在于光盘91的信息记录表面上的轨道的中心 一致时，全部反射信号达到最大值。此外，"TE信号"表示循迹误差现象 程度的变化，循迹误差现象程度根据将光电检测器19分区得到的各个光接 收区所接收的光量的差计算出来。通常，当物镜17的中心轴与轨道的中心 一致时，TE信号变为零。但是，当光盘91出现倾斜时，以上结论不再适用。
图6A示出光盘91的信息记录表面的截面图。图6B示出当光学拾取装 置1在图示箭头a的方向上移动时从信息记录表面检测到的全部反射信号的 变化。图6C示出当光学拾取装置1在图示箭头a的方向上移动时从信息记录 表面检测到的TE信号的变化。
各个示意图中共同所绘出的虚线CNT表示光盘91各个轨道的中心位 置。在图6A、图6B和图6C中，光盘91没有倾斜，图6A中信息记录表面 与光盘91的径向平行。因此，当物镜17的中心轴与虚线CNT—致时，也 就是与各个轨道的中心位置一致时，全部反射信号达到最大值，而TE信号 变为零。
图7A、图7B和图7C示出当光学拾取装置1从光盘91的径向中心向其 径向外缘(即沿着箭头oc所示的方向)移动时，全部反射信号(图7B)以及 TE信号(图7C)关于光盘91的信息记录表面(图7A)的变化。
与图6A不同，在图7A中，光盘91倾斜，因此信息记录表面与光盘91 的径向不平行。在这种情况下，与图6B同样地，当物镜17的中心轴与虚线 CNT—致时，全部反射信号达到最大值。但是，与图6C不同，TE信号在偏 离虚线CNT的位置(图7C的实例中，在位于虚线CNT右侧的虚线TE0处) 变为零。这样，当光盘91倾斜时，全部反射信号达到最大值的径向位置与TE信号变为零的径向位置之间出现偏差。
图8A和图8B示出在出现图7A所示的倾斜并且循迹控制停止的状态下， 当光学拾取装置1从光盘91的径向中心向其径向外缘移动时，各个信号基 于时间轴的变化。
图8A示出当光学拾取装置1在光盘91的径向上移动时，从信息记录表 面检测的全部反射信号基于时间轴的变化。图8B示出当光学拾取装置1在 光盘91的径向上移动时，从信息记录表面检测的TE信号基于时间轴的变化。 顺便提及，图8A和图8B中的时间轴为共同的，'因此其中的虚线，例如图 8A和图8B中共同示出的虚线tl表示同样的时间。
在图8A和图8B中，虚线tl表示全部反射信号达到最大值的时间，也 就是物镜17的中心轴通过图7A中的虚线CNT的位置的时间。虚线t2表示 TE信号变为零的时间，也就是物镜17的中心轴通过图7A中的虚线TE0的 位置的时间。此外，周期T表示TE信号变化一个周期的期间长度。在图8A 和图8B所示的实例中，图7A所示的倾斜在信息记录表面中出现，因此虚线 tl和t2不一致。
以下参照图1和图2的方框图以及图10和图11的流程图描述现有技术 的光盘播放器100的倾斜校正过程。这里，将旋转加速过程(spinupprocess) 和寻轨过程(seekprocess)作为现有技术中倾斜校正过程产生的过程来进行 示例。
图10为示出当现有技术的光盘播放器100进行光盘91的旋转加速过程 时处理流程的流程图。"旋转加速过程"用于使光盘91进入允许光盘访问 (例如读取或写入)的状态。
例如当系统控制器41感测到光盘91插入光盘播放器100时，启动旋转 加速过程。在步骤S110，当感测到光盘91插入后，系统控制器41启动进给 马达51和主轴马达52。
在下一步骤S120，光学拾取装置1的第一光源1 la或者第二光源1 lb开 始向光盘91投射光束。光电检测器19对产生的反射光进行光电转换，由此 所获得的信号被传输到RF放大器31和DSP32。在步骤S130，进给马达51 基于以上信号启动聚焦控制。此外，在步骤S140，循迹控制电路24和进给 马达51基于以上信号启动循迹控制。当启动聚焦控制和循迹控制后，在步骤S150，进行处理以获得在上述两
个控制处理中要用到的控制参数。例如在循迹控制中，基于信号产生电路22 输出的TE信号获得用于确定光学拾取装置1的径向位置的控制参数。
随后，在步骤S160，进行处理以获得倾斜校正程度。该处理以这样的方
式进行当物镜17的倾斜角在预定范围内变化时，或者当要提供给液晶器
件16的电压变化时，倾斜校正电路23检测信号产生电路22输出的全部反 射信号和TE信号。
当包含在全部反射信号中的播放信号达到最佳值时，倾斜校正电路23 基于物镜17的倾斜角或者提供给液晶器件16的电压获得倾斜校正程度。所 获得的倾斜校正程度暂时记录在存储器等器件中。顺便提及，为了提高精度， 优选重复多次获得倾斜校正程度的处理，并对所获得的倾斜校正程度取平均 值。
随后，在步骤S170，倾斜校正电路23基于记录的倾斜校正程度，通过 控制液晶器件16或者致动器21来进行倾斜校正。随后，在步骤S180，光学 拾取装置1开始从光盘91的信息记录表面读取地址信息。之后，断续进行 地址信息的读取，以允许对于光盘91的光盘访问。然后，旋转加速过程结 束。
图11为示出当现有技术的光盘播放器100对光盘91进行寻轨过程时的 处理流程的流程图。例如当系统控制器41感测到用于从光盘91读取特定信 息的播放过程指令时，启动寻轨过程。当启动寻轨过程后，在步骤S210，系 统控制器41首先获取光学拾取装置1投射光束的当前轨道的地址信息(即 当前地址)。此外，在步骤S220，系统控制器41确定当前地址与指示的地 址(即目标地址)是否一致。
如果一致，就不必进行寻轨过程，因此，该过程结束。如果不一致，则 在步骤S230，系统控制器41确定目标地址与当前地址之间的差是否超过预 先设定的预定值。顺便提及，关于该预定值的适用值，例如可提及这样一种 方法将地址差转换为轨道数目，根据轨道数目将地址差的预定值设定在大 约100。
如果没有超过预定值，则在步骤S235，跳过当前轨道，以进行短距离寻 轨过程。在短距离寻轨过程中，不必再进行倾斜校正过程，因此在轨道跳动后，处理流程再次转移到步骤S210。此外，再次检查当前地址与目标地址之 间的距离。
相反地，如果在步骤S230超过预定值，则启动长距离寻轨过程。当进 行长距离寻轨过程时，需要再进行倾斜校正过程。因此，在步骤S240，首先 停止循迹控制电路24的循迹控制。随后，在步骤S250，系统控制器41改变 光盘91的旋转数，在步骤S260，系统控制器41移动光学拾取装置1的螺纹 (thread)，在步骤S270,系统控制器41根据光盘91的径向位置进行倾斜 校正过程。
顺便提及，步骤S270的倾斜校正过程的内容与图10中步骤S160和步 骤S170的内容相同，因此省略其描述。完成倾斜校正后，在步骤S280，启 动循迹控制电路24的循迹控制。此外，处理流程再次转移到步骤S210。这 样，系统控制器41再次检查当前地址与目标地址之间的距离。
以下参照图1和图2的方框图以及图3和图4的流程图描述根据本发明 实施例的光盘播放器100中倾斜校正过程产生的处理。图3为示出当本发明 的光盘播放器100进行光盘91的旋转加速过程时的处理流程的流程图。顺 便提及，与现有技术的处理流程的处理步骤内容相同的处理步骤采用与图10 中相同的步骤标号。
步骤SllO至S130分别进行与现有技术的光盘播放器100同样的处理， 因此省略其描述。在步骤S130之后的步骤S135，进行本发明的倾斜校正流 程。顺便提及，下面将描述本发明的倾斜校正流程的细节。
在进行倾斜校正流程之后，以与现有技术同样的方式进行步骤S140和 S150的处理。但是，由于在步骤S135进行了倾斜校正流程，所以不必进行 现有技术的步骤S160和S170，故可省略这些步骤。最后，在步骤S180，系 统控制器41启动地址读取处理，由此结束该处理流程。
图4为示出当根据本发明实施例的光盘播放器100对光盘91进行寻轨 过程时的处理流程的流程图。顺便提及，与现有技术的处理流程的处理步骤 内容相同的处理步骤采用与图11中相同的步骤标号。
步骤S210至S260分别进行与现有技术的光盘播放器100同样的处理， 因此省略其描述。本发明中，在步骤S260之后的步骤S265，进行本发明的 倾斜校正流程。顺便提及，下面将描述倾斜校正流程的细节。
由于在步骤S265进行了倾斜校正流程，所以不必进行现有技术光盘播
放器100执行的步骤S270，故可省略该步骤。最后，在步骤S280，循迹控 制电路24启动循迹控制，由此处理流程转移到步骤S210。
以下参照图1和图2的方框图、图5的流程图以及图8A和图8B的模式 图描述根据本发明实施例的光盘播放器100的倾斜校正流程。顺便提及，该 倾斜校正流程是这样一种处理流程，其详细示出图3中的步骤S135和图4 中的步骤S265的内容。由于步骤S135和步骤S265的处理内容相同，所以 结合图5所示的一个流程图来描述。
图5的处理流程以这样的方式启动在图3的步骤S135或者图4的步 骤S265指示倾斜校正流程的启动。首先，在步骤S310，系统控制器41检查 光盘播放器100是否处于循迹控制电路24的循迹控制停止并且进给马达51 等的聚焦控制在进行的状态。当不是处于上述状态时，停止循迹控制和/或启 动聚焦控制，从而使光盘播放器100进入上述状态。
随后，在步骤S320，当光学拾取装置1通过进给马达51在光盘91的径 向上移动时，倾斜现象程度检测电路25向信息记录表面投射光束。此外， 利用光电检测器19和信号产生电路22启动全部反射信号和TE信号的测量。
随后，在步骤S330，倾斜现象程度检测电路25根据TE信号的波形测 量单个周期的长度。在图8B所示的实例中，图8B中的周期T为TE信号单 个周期的长度。
随后，在步骤S340，倾斜现象程度检测电路25获取由信号产生电路22 得到的全部反射信号的值达到最大值的时间(=tl)。在图8A和图8B所示的 实例中，图8A和图8B共有的虚线tl表示上述时间。顺便提及，如图8B所 示，新的时间tl是随着时间流逝相继被感测的(在图中向右观察)。因此， 倾斜现象程度检测电路25总是保存最新的时间tl，并且优选将过去的预定 时间周期内检测到的多个时间tl记录在存储器等器件中。
随后，在步骤S350，倾斜现象程度检测电路25获取由信号产生电路22 得到的TE信号变为零的时间(-t2)。在图8A和图8B所示的实例中，图8A 和图8B共有的虚线t2表示上述时间。与时间tl类似，新的时间t2也是随 着时间被感测。因此，倾斜现象程度检测电路25总是保存最新的时间t2， 并且优选将过去的预定时间周期内检测到的多个时间t2记录在存储器等器件中。
随后，在步骤S360，倾斜现象程度检测电路25根据获得的周期T和时 间tl、 t2计算倾斜现象程度(^At)。具体而言，倾斜现象程度At按照以下的公
式计算
At = (t2 —tl)/(周期T)
顺便提及，当对于时间t2存在多个时间tl时，优选使用时间差的绝对 值小的时间tl。在图8B所示的实例中，位于虚线t2左侧的虚线tl对应于优 选的时间tl，而位于虚线t2右侧的虚线tl被忽略。其原因在于位于虚线 t2右侧的虚线tl代表在不同轨道处全部反射信号的值达到最大值的时间。
随后，在步骤S370，倾斜现象程度检测电路25确定步骤S320至S360 的处理是否已进行了预先设定的预定次数。如果确定处理没有进行预定次 数，则处理流程转移到步骤S320，从而重复进行获得倾斜现象程度的处理。 相反地，如果确定处理进行了预定次数，则处理流程转移到后续步骤S380。
随后，在步骤S380，校正程度指令电路27从记录单元(例如存储器) 读取倾斜校正数据(即相关信息)。倾斜校正数据表示倾斜现象程度At与将 该程度At归零(即用于校正倾斜)所需的倾斜校正程度之间的关系，例如图 9所示。
"倾斜校正程度"例如表示用于改变物镜17的倾斜所要提供给致动器 21的驱动信号电平的大小，或者表示要提供给液晶器件16的电极的电压的 大小。顺便提及，在图9中，图形数据被示出作为倾斜校正数据的实例，但 是倾斜校正数据也可以采用表格数据的形式，其中倾斜现象程度At与倾斜校 正程度相关联，并且以稳定的结构示出。
随后，在步骤S390，校正程度指令电路27利用读取的倾斜校正数据， 确定用于将在步骤S360获得的程度At归零的倾斜校正程度。顺便提及，通 常将前述的步骤S360进行多次，作为步骤S370的处理的分支。因此，禾, 例如经多次而获得的程度At的平均值，来确定倾斜校正程度。或者，也可以 采用这样的方法分别确定与所有获得的倾斜现象程度At对应的倾斜校正程 度，再计算多个所确定的倾斜校正程度的平均值。
随后，在步骤S400，校正程度指令电路27将步骤S390获得的倾斜校正 程度提供给倾斜校正电路23。之后，倾斜校正电路23利用给出的倾斜校正程度进行倾斜校正。具体而言，例如，用于基于给出的倾斜校正程度来倾斜 和移动物镜17的驱动信号被传输给致动器21。或者，基于倾斜校正程度， 控制要提供给液晶器件16的电压，从而控制液晶器件16进行的彗形像差校 正的校正程度。然后，倾斜校正过程结束。
根据上述构造，不必像现有技术那样，通过改变倾斜校正程度多次来获 得优化播放信号的倾斜校正程度，并且能够縮短处理时间周期。此外，不需 要再增加任何器件用于倾斜校正。此外，由于处理时间周期短，所以能够随 时进行倾斜校正过程，并且能够在例如环境温度变化的时候进行。此外，能 够利用由校正程度指令电路给出的倾斜校正程度进行倾斜校正，不需要改变 已有倾斜校正电路的功能。
虽然通过优选实施例描述了本发明，但是本发明并不限于上述实施例， 在其技术原理的范围内，能够作出各种改变并实施。
因此，本发明也可以采用以下方案
(A) 在上述实施例中，旋转加速过程和寻轨过程示例作为倾斜校正流程 (图5)产生的过程，但是也可以采用这样的方案当任何其它过程中必须
进行倾斜校正时，都可以进行本发明的倾斜校正流程。
(B) 在实施例中，在进行图4所示的寻轨过程中，在步骤S260移动螺纹 之后的步骤S265进行倾斜校正流程。对此，也可以采用这样的方案紧接 着步骤S260，设定一定的时间周期(例如几个ms至几十个ms)作为稳定信 号的稳定时间(settling time)。
(C) 在实施例中，将用于倾斜和移动物镜17的致动器21以及液晶器件 16示例作为倾斜校正电路23的控制的主体。但是也可以采用这样的方案 基于本发明的倾斜校正流程所获得的倾斜校正程度，倾斜校正电路23向任 何其它倾斜校正装置发出倾斜校正指令。
(D) 在实施例中，将光盘播放器IOO示例作为具有光学拾取装置1的光 盘设备，但是也可以在任何其它具有光学拾取装置1的光盘设备、例如像 CD-R驱动器这样的光盘记录设备中实施本发明。
(E) 为了进行循迹控制，上述实施例包括信号产生电路22、倾斜校正电 路23、循迹控制电路24、倾斜现象程度检测电路25以及校正程度指令电路
27，但是也可以采用这样的方案在处理单元(例如微处理器)中运行与上 述多个电路功能相同的程序，从而实现本发明的倾斜校正过程。
权利要求
1、一种光盘设备，包括物镜，用于向光盘的记录表面投射光束，并接收所述光盘的反射光；致动器，用于在所述光盘的径向上移动所述物镜；光接收部，用于将从所述光盘反射的反射光转换为电信号；以及倾斜校正部，基于所获得的反射信号以及包含在所述反射信号中的循迹误差信号，校正所述光盘出现的倾斜，其中，所述反射信号是通过所述光接收部将接收的反射光转换为电信号获得的，所述倾斜校正部包括倾斜现象程度检测部，当利用所述致动器在所述光盘的径向上移动所述物镜时，通过所述光接收部来检测所述反射信号和所述循迹误差信号；在预定期间内检测所述反射信号的值达到最大值的时刻与所述循迹误差信号的值变为零的时刻之间的时间差；以及检测所述时间差除以所述循迹误差信号的一个周期的时间期间获得的值，并将其作为倾斜现象程度；相关信息记录部，其中记录相关信息，所述相关信息表示倾斜现象程度与所述倾斜校正部降低所述倾斜现象程度所需的倾斜校正程度之间的关系；以及校正程度指令部，从所述相关信息记录部读取所述相关信息；基于所述相关信息和所述倾斜现象程度检测部检测的倾斜现象程度，确定倾斜校正程度；以及将所确定的倾斜校正程度提供给所述倾斜校正部；其中，所述倾斜校正部基于所述校正程度指令部给出的倾斜校正程度校正所述光盘出现的倾斜。
2、 如权利要求1所述的光盘设备，其中所述致动器具有倾斜和移动的功能，以改变所述物镜的径向倾斜角；及 所述倾斜校正部基于所述校正程度指令部给出的倾斜校正程度，确定用 于所述致动器的驱动信号电平，以倾斜和移动所述物镜。
3、 如权利要求1或2所述的光盘设备，包括 液晶器件，用于校正像差；其中，所述倾斜校正部基于所述校正程度指令部给出的倾斜校正程度， 确定要施加在所述液晶器件中的电极上的电压，以校正所述像差。
全文摘要
本发明提供一种光盘设备，当在光盘的径向上移动物镜时检测全部反射信号和循迹误差信号，在预定时间期间内检测全部反射信号的值达到最大值的时刻与循迹误差信号的值变为零的时刻之间的时间差。此外，获取所述时间差除以循迹误差信号的一个周期的时间期间获得的值，作为倾斜现象程度。读取将倾斜现象程度和与其对应的倾斜校正程度相关联的相关信息，比较所读取的相关信息与倾斜现象程度检测电路所检测的当前倾斜现象程度，从而确定倾斜校正所需的倾斜校正程度。将倾斜校正程度通知倾斜校正电路，用于进行倾斜校正。本发明能够缩短处理时间，不需再增加任何器件用于倾斜校正，并能够随时进行倾斜校正过程，且不需改变已有倾斜校正电路的功能。
文档编号G11B7/095GK101197151SQ20071018652
公开日2008年6月11日 申请日期2007年12月4日 优先权日2006年12月4日
发明者清水真弥 申请人:船井电机株式会社