数据记录评价方法以及光盘记录再生装置的制作方法

专利名称：数据记录评价方法以及光盘记录再生装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用来评价对光盘的数据记录的技术。
技术背景可录蓝光光盘(称作BD-R)或可录HD-DVD光盘(High Definition-DVD，高清晰 度DVD)(称作HD-DVD-R)等光盘(称作光盘)具有在透光性盘状基板的其中一面上 形成有记录层、反射层、以及视需要形成保护层的结构。而且，在形成有记录层以及反 射层的所述基板的其中一面上，形成有称作沟槽(groove)的螺旋状或同心圆状凹槽， 相邻接沟槽之间形成为被称作岸台(land)的凸部。此种光盘中，利用光盘记录再生装 置，使记录用激光沿着凹槽进行循轨，并且照射于沟槽上的记录层，形成凹坑(pit), 由此进行记录。通过照射再生用激光，并使反射光转换为再生信号，而以此凹坑的长度 nT (将基准通道时钟间的比特长度设为T， n整数倍的长度为nT)、凹坑和凹坑之间的 一部分(以下称作间隔)长度nT、及它们的排列进行再生。进行此种记录以及再生的光盘的记录再生装置，例如设计为能够适用于因驱动器、 光盘(也称作媒体)、记录速度等而使每次记录于个别光盘时均不同的记录条件。为了 均能对应所述记录条件，所述记录再生装置中，采用最佳设定激光强度(以下，称作记 录功率)的方法。作为此方法，采用有将OPC (Optimal Power Calibration,最优功率校 准)作为一个选择方法的装置。此OPC在数据记录之前，于记录光盘内的测试区(Power Calibration Area,功率校准区)内使记录功率变化进行测试记录。其次，和预先记录的 初始条件进行比较，选择设定此测试记录结果中记录品质良好的最佳记录功率。使用经 设定的最佳记录功率的记录用激光对光盘的数据记录区域进行记录。接着，采用如下处 理，根据再生有记录波形的波形而计算出各种评价指标，并以此评价指标值能够达到目 标值或接近目标值的方式，决定最佳记录功率后，进行最佳记录修正，作为根据改变记 录功率条件后记录再生信号的变化表示记录状态的参数。此类方法存在有多种形式，而进行简单说明中，包括使用PRML (Partial Response Maximum Likelihood,局部响应最大似然)信号处理方式技术的示例。此PRML信号处 理方式，对相对于用来实现无失真条件频率响应残留有代码间干扰的不完全频率响应进 行处理，并和最大似然解码技术相组合，消除代码间干扰，防止信号品质下降。
例如，日本专利特开2004—335079号公报中，揭示了设定最适合最大似然解码法 的记录参数的技术。具体而言，对每一预定的标志长和其前方的间隔长的组合、以及标 志长和其后方的间隔长的组合，分别进行相当于记录标志边缘的始末端部分，且在最大 似然解码法中误差产生概率高的部分的最大似然解码结果的可靠性值I Pa — Pb I —Pstd 的运算，再根据其运算结果，求出使边缘移位位置最优化的记录参数，并对反映出所求 记录参数的内容进行记录。而且，日木专利特开2003 — 303417号公报中揭示如下技术，即便高密度记录中也 不受噪音影响，而是高精度地使记录策略优化。具体而言，设定脉冲响应，以使下述再 生波形和将记录数据和脉冲响应进行巻积运算所得的波形之差最小，由此优化记录策 略，所述再生波形是在光记录媒体卜.记录再生记录数据中叠加有高频脉冲的记录脉冲信 号而获得的再生波形。此时，在光记录媒体的同一轨道上记录同一记录脉冲波形3次以 上，再将按照每一取样顺序使经再生的再生波形的取样值平均化的值用作再生波形的数 据。由于使用平均化数据，因此可以除去随机噪音对再生波形的影响。另外，日本专利特开2003 — 151219号公报中揭示了再生信号的品质评价的相关技 术。具体而言，使用经预定的再生信号、和此再生信号的信号波形图形相对应的第1图 形、以及此第1图形以外且和再生信号的信号波形图形相对应的任意图形(第2或第3 图形)。首先，求出再生信号和第1图形间的距离Eo与再生信号和任意图形间的距离 Ee间的距离差D-Ee — Eo。其次，对多个再生信号的样本求出距离差D的分布。接着， 根据所求出的距离差D的平均M和所求出的距离差D的分布标准偏差o之比，设定再 生信号的品质评价参数(M/0)。继而，根据由品质评价参数表示的评价指标值(Mgn) 来判断再生信号的品质。而且，日本专利特开2003—141823号公报中揭示过如下技术，目卩，根据可适当地 预测使用最大似然解码所得的二值化结果的误差率的指标，评价信号品质。具体而言， 于时刻k (k为任意整数)中具有多个状态，且自时刻k一j (j为2以上的整数)状态开 始至时刻k状态为止具有可取得n (n为2以上的整数)种状态过渡排列的状态过渡项， 并推测n种状态过渡排列中最或然状态过渡排列的最大似然解码方式中，将n种状态过 渡排列过渡排列中最或然状态过渡排列过渡排列中自时刻k一j状态开始至时刻k状态为 止的状态过渡或然值设为PA，将第二或然状态过渡排列中自时刻k一;j状态开始至时刻 k状态为止的状态过渡或然值设为PB，将时刻k一j开始至时刻k为止的解码结果可靠 性设为I PA — PB I时，以预定时间或预定次数求出I PA — PB I的值，并求出其偏差， 以此获得表示和最大似然解码的二值化结果的误差率相关的信号品质的指标。 另外，日本专利特开2002—197660号公报中曾揭示下述记录状态检测技术，艮卩， 在使用维特比检测器使经高密度记录的信息再生时，可以检测出和通道匹配的记录状 态。具体而言，自光盘装置读出的再生信号经带限滤波器以及均衡器修正为特定的通道 特性后，以PLL (Phase-Locked Loop,锁相环)电路产生的同步时钟的时序，并通过 A/D (Analog to Digital,模拟/数字)转换器读入为数字信号Xi。将x,输入至维特比检测 器而获得维特比检测输出信号。将维特比检测输出输入至基准等级判定器以及误差计算 电路中。误差计算电路计算数字信号x,和维特比检测输出的差Ei，再输出至记录状态检 测电路。记录状态检测电路使用基准等级判定器的输出，检测振幅或振幅准位以及不对 称性，输出检测信息。[专利文献l]日本专利特开20(M—335079号公报[专利文献2]日本专利特开2003 — 303417号公报[专利文献3]日本专利特开2003 — 151219号公报[专利文献4]日本专利特开2003—141823号公报[专利文献5]日本专利特开2002_ 197660号公报发明内容如上所述，对数据记录进行评价的技术存在多样化，但却并非将对数据记录整体的 评价和对个别记录图形的数据记录的评价适当地联系起来。因此，本发明的目的在于，提供一种导入新评价指标对数据记录进行综合评价的技术。而且，本发明的其他目的在于，提供一种导入新评价指标对个别记录图形适当进行 评价的技术。另外，本发明的其他目的在于，提供一种将数据记录的综合评价和个别记录图形数 据记录的评价适当联系起来的技术。另外，本发明的其他目的在于，提供一种根据数据记录的评价对记录条件或记录参 数进行适当调整的技术。本发明的数据记录评价方法包括下述步骤再生对光盘进行数据记录后的结果的特 定期间，并基于所述再生检测再生信号之步骤；根据经检测出的所述再生信号，指定含 有代码的预定检测图形之步骤；检测和所述检测图形相对应的所述再生信号的信号状态 之步骤；以及第l计算步骤，根据经检测的所述信号状态、以及由所述检测图形指定的 基准状态，计算第1评价指标值。
可通过计算出此种第1评价指标值，而对预定的检测图形，判断是否在和基准状态 的关系中进行了适当的数据记录。g卩，可以适当地判断对个别记录图形的评价。而且，此数据记录评价方法也可以进一步包括第2计算步骤，在所述预定检测图形 为多个时，使用和预定的各个检测图形相关的第l评价指标值，计算第2评价指标值。 可通过以此种方式计算第2评价指标值，而对各种记录图形进行综合评价数据记录。另外，此数据记录评价方法也可以进一步包括第1更改步骤，根据第2评价指标值， 更改数据记录的记录条件。可以根据第2评价指标值，以综合形式适当调整数据记录的 记录条件。而且，所述第2计算步骤也可以包含下述步骤，累加计算预定的检测图形的出现概 率和跟此出现概率一致的每一检测图形的第1记录条件的评价指标值之多个乘积。其原 因在于，对更多出现的检测图形加大权重，使对数据记录的影响综合反映到第2评价指 标值中。另外，本发明的数据记录评价方法也可以进一步包括下述步骤判断所述第2评价 指标值是否超过预定阈值；以及当所述第2评价指标值超过所述预定阔值时，根据相应 的所述第1记录状态评价指标值，指定对所述第2评价指标值造成一定程度以上影响(例 如特定值以上或特定个数较多者)的所述检测图形。由此可以指定出现问题的记录图形。而且，本发明的数据记录评价方法也可以进一步包括第2更改步骤，根据和经指定 的所述检测图形相关的第1评价指标值，更改数据记录时使用的记录参数。由此可以有 效地进行记录参数调整。另外，有时所述检测图形至少由 一个标志以及间隔构成。而且，有时所述预定检测图形的出现频率为预定值以上。当出现频率过低时，为了 减少处理负荷而从处理对象中除去此预定检测图形。并且，所述第1更改步骤也可以含有下述步骤，根据表示记录条件、和通过再生所 述记录条件中的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的第2评价指标值之关系的 数据，指定所述第2评价指标值达到最佳值时的记录条件。例如，可以在数据记录开始 前，指定数据记录时的最佳记录条件。另外，所述第1更改步骤也可以包含下述步骤，使用表示记录条件、和由再生所述记录条件中的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的第2评价指标值的关系的数据以及当前第2评价指标值，计算当前记录条件的修正量。如上所述，进行数据记录时，也可以在调整记录条件时使用第2评价指标值。另外，表示记录条件和根据再生此记录条件中的数据记录结果的特定期间所得的数
据而计算出的第2评价指标值之关系的数据，有时为测试记录时获得的数据。其原因在 于，如果正在进行测试记录，则可以使记录条件变化，并计算出各记录条件的相关第2 评价指标值。并且，所述第2更改步骤也可以含有下述步骤，根据表示记录参数、和由再生使用 有所述记录参数的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的第1评价指标值的关系 的数据，指定第1评价指标值达到最佳值时的记录参数。而且，所述第2更改步骤也可以包含下述步骤，使用表示记录参数、和由再生使用 有所述记录参数的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的第1评价指标值的关系 的数据及当前第l评价指标值，计算当前记录参数的修正量。另外，表示记录参数、与由再生使用有所述记录参数的数据记录结果的特定期间所 得的数据计算出的第1评价指标值的关系的数据是测试记录时获得的数据。而且，所述第1计算步骤也可以包含下述步骤，计算经检测的所述信号状态与由预 定检测图形指定的基准状态之差的大小。由此，也可以充分地对应使用PRML信号处理 方式的高密度记录再生用光盘记录再生系统(符合Blu-ray规格或HD-DVD规格的系 统)。本发明的高密度记录再生用光盘记录再生系统(称作光盘记录再生装置)具备下述 机构再生对光盘进行数据记录结果的预定期间，并指定再生信号中的预定检测图形之 机构；检测与所述检测图形相对应的再生信号的信号状态之机构以及根据经检测的所 述信号状态以及由所述检测图形指定的基准状态，计算第l评价指标值之机构。另外，本发明的光盘记录再生系统也可以进一步具备第2计算机构，在所述预定检 测图形为多个时，使用各所述检测图形相关的第1评价指标值，计算第2评价指标值。另外，本发明的光盘记录再生装置也可以还具备第1更改机构，根据第2评价指标 值，更改数据记录的记录条件。而且，所述第2计算机构累加算出预定检测图形的出现概率和第l评价指标值之多 个乘积。另外，本发明的光盘记录再生装置可以还具有下述机构判断第2评价指标值是否 超过预定阈值的机构；以及当第2评价指标值超过预定阈值时，根据相应的第l评价指 标值，指定对第2评价指标值造成一定程度以上影响的检测图形的机构。而且，本发明的光盘记录再生装置可以还具备第2更改机构，根据经指定的所述检 测图形相关的第1评价指标值，更改数据记录时使用的记录参数。本发明的第1光信息记录媒体中，记录有第2评价指标值的阈值，所述第2评价指
标值的阈值由累加计算下述第1评价指标值与下述检测图形的出现概率之多个乘积而 得，而上述第1评价指标值与对应于由再生信号指定的检测图形的再生信号之信号状态 和由所述检测图形指定的基准状态之背离相对应。本发明的第2光信息记录媒体中，记录有表示下述第2评价指标值与作为计算所述 第2评价指标值的基础的数据记录的记录条件之关系的数据，其中所述第2评价指标值 由累加计算下述第1评价指标值和所述检测图形的出现概率之多个乘积而得，上述第1 评价指标值与对应于由再生信号指定的检测图形的所述再生信号的信号状态和由所述 检测图形指定的基准状态之背离相对应。本发明的第3光信息记录媒体中，记录有表示如下第l评价指标值与作为计算所述 第1评价指标值的基础的数据记录的记录参数之关系的数据，其中所述第1评价指标值 与对应于由再生信号指定的检测图形的所述再生信号之信号状态和由所述检测图形指 定的基准状态之背离相对应。可以制作用以使处理器实行本发明的数据记录评价方法的程式，而此程式存储在例 如软盘、CD-ROM (Compact Disc-Read Only Memory,只读光盘存储器)等光盘、磁光 盘、半导体存储器、硬盘等存储媒体或存储装置、或者处理器的非挥发性存储器中。而 且，此程式有时可以通过网络以数字信号发布。另外，处理中途的数据暂时保管于处理 器的存储器等存储装置中。[发明的效果]根据本发明，可以导入新评价指标，综合评价数据记录。而且，根据本发明的其他形态，可以导入新评价指标，对个别记录图形适当地进行 评价。另外，根据本发明的其他形态，可以将数据记录的综合评价和对个别记录图形的数 据记录评价适当地联系起来。另外，根据本发明的其他形态，可以根据数据记录的评价适当地调整记录条件或记 录参数。


图1是振幅准位的时间过渡的示意图。图2是表示记录图形和出现概率的关系的图。图3是表示有效图形和PRerrorJtl及图形有效率的关系的图。图4是表示记录功率和DCJ及PRerror ttl的关系的图。
图5是表示记录功率和SER及PRerror—ttl的关系的图。图6是表示记录参数dTtop2T和SER及PRerror—ttl的关系的图。图7是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图8是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图9是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图10是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图11是使记录图形变化后PRerror_ptn (p)变化的示意图。图12是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图13是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图14A是使记录图形变化后PRerrorjtn (p)变化的示意图。图14B是表示dTtop2T和PRerror_ptn (p)的关系的图。图15是本发明实施形态中光记录再生系统的功能框图。图16是用于在数据记录前优化记录条件的处理流程的示意图。图17是用于在数据记录前优化记录参数的处理流程的示意图。图18是用于在数据记录中修正记录条件的处理流程的示意图。图19是记录条件修正量决定处理的处理流程的示意图。图20是用于在数据记录中修正记录参数的处理流程的示意图。图21是记录参数修正量决定处理的处理流程的示意图。图22是将基准数据存储于光盘时数据结构之一例的示意图。[符号的说明]1光学单元(PU)3前置均衡器(Pre-EQ)5ADC7均衡器9维特比译码器11控制部13记录波形产生部15光盘111代码识别部113检测指示部115检测部
运算部具体实施方式
[发明的原理] (1)不同图形的PRerror图1中表示包括例如在4T标志(4T长度的标志，也将此标志称作凹坑)两侧邻接 着3T间隔(3T长度的间隔，也将此间隔称作岸台)的图形在内， 一并读取预定检测图 形时的振幅准位。此图1中，纵轴表示振幅准位，横轴表示受到邻接3T间隔影响的4T 标志的延伸方向上的位置信息的数据样本。邻接间隔的影响随着离开4T标志的中央位 置而变大。在如上所述的图形中，理想的检测信号(理想信号)即基准状态为如下之值， 此值当使用Blu-ray规格所用的PR (1， 2， 2， 1)时，例如以标志长度为标志部分的反 射光量大于间隔部分的反射光量的媒体条件之例中，B口， 「LowtoHigh」条件下将由分 布值(1， 3， 5， 6， 5， 3， 1)所得的理想信号转换为振幅准位后绘制而成。相对于此， 实际检测信号中4T标志的中央位置的振幅准位达到峰值，但在离开此中央位置的位置 处受到邻接间隔影响的振幅准位的值转换为和理想信号值相同的比例后，绘制出实际检 测信号。如图1所示，所述值依赖于硬盘、媒体(也称作光盘)、记录条件，而和基准 状态产生背离。因此，使用式(1)，指定理想信号和检测信号的背离量(第l评价指标 值)，进行记录状态的评价(第l计算步骤)。此处，D (x)表示检测信号的值，R (x)表示理想信号的值，x表示数据分布编号， a表示运算开始数据编号，n表示运算数据样本数[个]，p表示记录图形类别(编号)。另外，所述说明中，使用Blu-ray规格的PR (1， 2， 2， 1)进行了说明，但也可以 使用HD-DVD规格所用的PR (1， 2， 2， 2， 1)等。并且，也可以采用和此处所示之例 不同的标志部分反射光量小于间隔部分反射光量的媒体条件、即「HightoLow」条件。 而且，所述图形为一例，也可使用式(1)对其他图形进行评价。例如，若采用2T间隔 或标志、2T标志或间隔、2T间隔或标志的集合代码图形(也称作集合记录图形)，2T 间隔或标志、3T标志或间隔、2T间隔或标志的集合记录图形，2T间隔或标志、4T标 志或间隔、2T间隔或标志的集合记录图形，3T间隔或标志、2T标志或间隔、3T间隔[数1]
或标志的集合记录图形，4T间隔或标志、2T标志或间隔、4T间隔或标志的集合记录图 形，4T间隔或标志、3T标志或间隔、4T间隔或标志的集合记录图形等，则可正确无误 地实现本发明目的。例如，使用a=l且n=7，并以峰值为中心的7点，计算作为第1评价指标值的 PRerrorjtn(p)，但也可以使用a=3且n=3以峰值为中心的3点，计算PRerror—ptn(p)。 而且，p是为了指定集合记录图形而分配的编号，其数值为评价所需的集合记录图形数， 且随着集合记录图形的单位结构被定义为多少个代码排列而变化。此处需要注意的是， 在所述计算中，图1之例必须将间隔_标志—间隔和标志—间隔—标志同时反映成1个集合 记录图形。即，nT相同的集合记录图形中，同时反映标志和间隔则可以获得更好的结果。 以上使用三个nT集合记录图形进行了说明，但无论二个nT集合记录图形、四个nT集 合记录图形还是五个nT集合记录图形，只要是出现概率对误差有影响的集合记录图形， 则可以实现本发明的目的。另外，式(1)表示对记录图形p进行1次检测时的运算，实际上，考虑到记录或 检测不均的影响，最好取多个(cnt (p))值的平均值。cnt (p)是特定长度的样本数据 中所获得的集合记录图形p的检测计数值，在导出最终PRerro匸ptn (p)值时，优选使 用如下值，将每次检测中计算出的PRerror_ptn (p)作为PRerror_ptn (p， cnt (p))记 录到存储器后，进行平均化处理。 (2)综合评价指标PRerror_ttl其次，就使用所述PRerror—ptn (p)对再生信号进行综合评价的方法进行说明。在预定数据范围内，集合记录图形p的出现频率各不相同，对记录特性的影响程度 也各不相同。g卩，出现频率越高的记录图形越容易影响记录特性。因此，对再生信号的 记录特性进行综合评价时，优选使用集合记录图形p的特性值PRerrorjtn (p)及预定 数据范围内的记录图形p的出现概率(或出现频率)，计算出对再生信号记录特性进行 综合定量的作为第2评价指标值的PRerrorJtl (也称作第2计算步骤)。具体而言，根 据下式计算PRerror—ttl。<formula>formula see original document page 13</formula>
图2表示多个集合记录图形和其出现概率之关系的一例。图2中，纵轴表示将全部 记录图形设为100%时的出现概率，横轴表示以3个集合代码[T]的排列为1个集合记录
图形时的记录图形类别。此横轴的记号中，2表示第一个(前方)表示X的间隔或标志 代码，y以及z分别表示第二个(中央)标志或间隔代码y[T]以及第三个(后方)间隔 或标志代码z[T]，此y以及z值是以Bki-ray规格中采用的l-7PP调变方式表示的2至 8[T](含有同步代码时为9[T])，图2中，越向右侧则其值越大。根据图2可知，代码越 短则出现概率越高，因此，使用短代码的集合记录图形则出现概率变高。相反，使用长 代码的记录图形则出现概率变低。若如上所述代码短的标志或间隔反复出现，则显示会 因再生信号的振幅准位较小，而易于产生误差。此为本发明中采用出现概率的理由。如上所述，出现概率较高，则可以说明此记录图形的记录特性、即PRerror—ptn (p) 式值的大小对整个记录特性的影响较大。反过来考虑，对于出现概率极低的集合记录图 形而言，其记录特性(所述PRerrorjt (p))的值的大小几乎未反映到整个记录特性中， 因此可以不予考虑。因此，如图2所示，可以将预定的出现概率作为规定值，并仅将此规定值以上的记 录图形作为有效图形，对再生信号的记录特性进行综合定量。由此，结果可以保持需要 获得的特性值(PRerr0r_ttl)精度不变，减少此特性值的运算负荷。图3中，在使所述出现概率规定值变化的情况下，对预定的测定范围内的所有记录 图形总数中有效图形的总数比例(图形有效率)的变化以及此时PRerrorJtl变化的各值 进行绘图，表示出它们的关系。图3中，左侧纵轴表示PRerror一ttl的值，右侧纵轴表示 图形有效率，横轴表示有效图形的规定值(阈值)。根据图3可以确认，即使不使用出现概率低于预定规定值的记录图形来计算特性值 PRerror一ttl，也可以设定能够确保PRerror—ttl精度的规定值。艮卩，在图3的验证结果中， 即便使预定的规定值为0.3%， PRerror一ttl也几乎不产生变化。而且，由于有效图形率约 为70%，因此可减少约30%的运算负荷。如上所述，可无需对所有记录图形计算PRerrorjtn (p)，而是例如通过对出现概率 为0.3%以上的记录图形计算PRerrorjtn (p)，来确保精度，并且可以计算出综合评价 指标PRerror—ttl。其次，将记录功率连续变化后PRerror—ttl的变化和作为现行评价指标的DC抖动(也 称作DCJ)以及误码率(也称作SER)进行比较，并示于图4以及图5。图4中，左侧 纵轴表示DCJ[。/。]，右侧纵轴表示PRerror_ttl，横轴表示记录功率[mW]。图5中，左侧 纵轴表示SER，右侧纵轴表示PRerror_ttl，横轴表示记录功率[mW]。根据图4以及图5可知，本评价值PRerror一ttl是和现行评价指标(DCJ以及SER)密切相关的指标。因此，根据此评价值PRerrorJtl的变化来调整记录条件，可以改善记
录特性(将实施此调整称作第1更改步骤)。具体而言，在可以对多个记录条件计算 PRerror—ttl的情况下，采用及设定PRerrorJtl变为最小的记录条件，便可获得最佳记录 特性。而且，虽然以下将进行详细描述，但即使无法对多个记录条件计算PRerror—ttl的 情况下，也可以使用根据检测结果计算出的PRerror—ttl，调整记录条件。对于此第1更 改步骤来说，实际操作中，若考虑图4以及图5的数据，将作为第2评价指标值的 PRerror—ttl设为在固定值以下范围内变小，则可以将光盘的记录品质保持为较高状态。 例如，图4中，若DCJ[。/。]约为7%以下，则可以获得符合目的之结果。而且，若PRerror—tt 大致为0.17以下，则同样可以获得符合目的之结果。而且，例如图5中，若SER约为 2.0E—04以下，则可以获得符合目的之结果。另外，若PRerrorJtl和所述相同大致为 0.17以下，则可获得符合目的之结果。(3)不同集合记录图形对综合评价指标PRerror—ttl的影响量评价其次，就通过对构成PRerror—ttl的不同集合记录图形的影响量(PRerror_ptn (p)) 进行比较，而对各种记录图形评价记录状态的方法进行说明。在将信号以代码写入至光盘时， 一面控制激光强度一面执行写入。为了以固定宽度 写入长度为nT代码的标志中例如3T标志以上长度的标志，并非将激光分割为单一矩形 波，而是分割为多个短矩形波，进行热控制，而在写入结束时有时会有热量残存。将以 此种方式写入时利用调变波形进行操作的方式称作激光法则(light strategy)。而且，开 始写入时， 一面对从前端脉冲的开始位置(称作dTtop)的基准位置(0)前后移动的移 位量进行控制， 一面进行激光照射，以便能够从目标位置开始以固定宽度写入长度nT 的标志。图6中表示在特定的法则参数dTtop2T中，仅使间隔2T后方的中央y产生变化后 PRerror—ttl和SER的变化。图6中，左侧纵轴表示PRerror—ttl，右侧纵轴表示SER，横 轴表示dTt叩2T。如上所述，可以确认，相对于dTtop2T的变化，PRerror_ttl以及SER 均呈现相同U字状具有最小值的变化。而且可知，实际的PRerror_ttl以及SER的最小 值均处于-1附近。检测出其值，并使之反映到离开前端脉冲的开始位置(称作dTtop) 的基准位置的偏移量中。另夕卜，图7至图10是表示图6中构成dTtop2T的修正量二0时的PRerror_ttl的不同 记录图形的影响量(PRen:orjto (p))的普通实验数据。图7表示作为Pit一f图形，主 代码为标志nT[T]，邻接代码为前方间隔nT[T]时的各PRerror_ptn (p)。另外，图8表 示作为Pit—r图形，主代码为标志nT[T]，邻接代码为后方间隔nT[T]时的各PRerror_ptn (p)。图9表示作为Land_f图形，主代码为间隔nT[T]，邻接代码为前方标志nT[T]时
的各PRerroi^ptn (p)。图10表示作为Land一r图形，主代码为间隔nT[T]，邻接代码为 后方标志nT[T]时的各PRerror_ptn (p)。图7至图10中，含有标志2T或间隔2T这种短代码的图形的影响量大的原因在于， 2T代码难以形成开口而容易背离理想状态，以及含有此代码的图形的出现概率较高。如上所述，可通过构成综合评价指标值PRerrorJtl的PRerror_ptn (p)，评价各集合 记录图形。另外，图7至图10中，由于图中表现的问题，仅表示主代码和单侧邻接代码(前 方或后方)的组合图形的影响量，但在实际系统中，更优选对主代码和两侧邻接代码(前 方以及后方)组合的集合图形进行评价。另外，可包括视情况组合有邻接代码更前方或 更后方代码的图形。其次，对dTtop2T连续变化(-2至+l)后不同图形的影响量(PRerror_ptn (p))的 变化进行说明。图11至图14A表示显著表现出dTt叩2T的变化影响的Pit—f图形(主代 码为标志nT[T]，邻接代码为前方间隔nT[T])的变化。根据图11至图14A可知，dTtop2T的变动对间隔2T后的标志2T此类和记录图形 相对应的PRerrorjtn (p)的影响较大。特别是dTtop2T=-2时(图11)，影响显著增大。其次，图14B表示间隔2T后的标志2T此类记录图形的PRerror一ptn (p)的变动相 对于dTtop2T此类记录参数的变动。图14B中，纵轴表示PRerror_ptn (p)，横轴表示 dTtop2T。而且，菱形点表示实际计算值，曲线表示根据实际计算值进行2次曲线回归 所得的结果。若使用此种数据，则可以使用PRerrorjtn(p)优化、或调整记录参数dTt叩2T (将实施此调整称作第2更改步骤)。另夕卜，上文描述了 dTtop2T作为变化参数的示例，当然也可以适用于各种记录参数。 而且，图11至图14A中，可看出前方间隔后的标志在组合图形中的影响量的变化，此 组合图形的选择由记录参数决定。而且，当特定记录图形的PRerror—ptn (p)显示较大 值而判断为需要处理时，也可以指定能够和调整对象相对应的记录参数。[实施形态]图15表示本发明实施形态的光盘记录再生系统的功能框图。本实施形态的光记录 再生系统具有光学单元(PU) 1，用于对光盘15照射激光进行记录或再生；前置均衡 器(Pre-EQ) 3，实行波形等效处理，使来自光学单元1所含有的光电检测器的电信号 易于转换为下一步骤的数字信号；ADC (Analog Digital Converter,模数转换器)5，将 模拟信号转换为数字信号；均衡器7，将经二值化处理的数字信号均衡为如下波形，相 对于残留代码间干扰的不完全频率响应，nT标志长度方向上中央位置的振幅准位达到峰
值，而沿着离开中央位置的位置处受到邻接nT间隔影响的振幅准位的值达到和理想信 号波形相同的比例；维特比译码器9，从由均衡器7转换而得以波形均衡处理的再生信 号中选择解码为最或然标准信号系列，输出未受噪音影响的接近理想信号的最大似然解 码信号(返回为经二值化处理的数字信号的信号)；控制部11，使用来自所述均衡器7 以及所述维特比译码器9的输出，实施处理；以及记录波形产生部13，根据控制部11 的设定输出而产生用于写入数据(Write数据)的记录波形并输出至光学单元1。另外，高密度光记录再生系统连接于未图示的显示装置或个人电脑，视情况不同， 有时也连接于网络，并和1个或多个电脑等进行通讯。控制部ll具有代码识别部lll，使均衡器7的输出(使波形得到线性均衡处理后 的再生RF信号)和维特比译码器9的输出(最大似然解码的代码数据)相对应；检测 指示部113，当根据来自代码识别部111的代码数据，检测到预定的检测图形、例如受 到邻接nT间隔影响的nT标志振幅准位的记录状态的出现时，则特定指示对振幅准位进 行检测；检测部115，根据来自检测指示部113的指示，对来自代码识别部111的RF 信号，检测处理振幅准位的信号状态；以及运算部117，具有存储器(未图示)且根据 来自检测部115的输出而产生基准状态，实施下文描述的运算，对记录波形产生部13 进行设定。运算部117，例如有时可通过组合用来实施下述功能的程式和处理器而实现。 此时，有时也在处理器内的存储器中存储程式。其次，使用图16至图21，对光记录再生系统的处理内容进行说明。首先，对最初 在进行数据记录之前实行且使用设于光盘15最内周的试写区域的记录条件优化处理进 行说明。首先，依照图16，对作为图15的一部分动作的制成振幅准位的参考信号的步骤进行说明。例如，控制部11的运算部117将个别光盘的作为参数的预定记录条件设定在记录波形产生部13中(步骤S1)。接着，记录波形产生部13根据所设定的记录条件，通过PU1将经预定的记录图形写入到光盘15的试写区域中(步骤S3)。继而，利用PU1、前置均衡器3、均衡器7以及维特比译码器9读取步骤S3中经实施的写入结果，并利用代码识别部111使均衡器7的输出和维特比译码器9的输出相对应。检测指示部113根据设定，对所有检测图形(经检测的代码[T]列。若经正确解码则和记录图形相同)或检测到预定的有效图形时，指示检测部H5检测RF信号的振幅准位。检测部115根据检测指示部113的指示信号，检测RF信号的振幅准位，并将检测结果输出至运算部117。接着，运算部117对各检测图形p计算PRerror—ptn (p)后，存储于存储器等存储装置中(步骤S5)。如上所述，由于对检测图形p进行多次检测，故对PRerror—ptn (p)计 算平均值。另外，运算部117中存储有随后将使用的特定检测图形pc的相关振幅准位。 也可以仅存储峰值。此后，运算部117针对步骤S5中计算出的各检测图形p,使用PRerrOT_ptn (p)以 及预先存储在存储器中的各检测图形p的出现概率，计算PRerrorJtl，并对应步骤Sl 中设定的记录条件，存储在存储器等存储装置中(步骤S7)。此数据也可以用于数据记 录中记录条件的调整。接着，运算部U7判断是否参照设定有预定的所有记录条件、例如测试记录(步骤 S9)，若存在未设定的记录条件则返回步骤Sl。另一方面，当预定的所有记录条件的相 关设定结束后，则根据相对于各记录条件的PRerror—ttl，将PRerror—ttl达到最小值的记 录条件指定为最佳记录条件(步骤Sll)。例如，如图4所示，可以指定PRerror—ttl达到 最小值的记录功率等，因此可以采用此记录功率等。接着，运算部117在记录波形产生部13中设定此最佳记录条件(步骤S13)。而且， 将最佳记录条件中的特定记录图形Pc的相关振幅准位作为参考信号存储在存储器等存 储装置中(步骤S15)。此数据可以在数据记录中对记录条件进行调整时使用。如果实施所述处理，则可以根据PRerror—ttl，对使用试写区域的记录条件进行优化 处理，而能够将记录功率等设定为最佳记录条件。其次，作为对试写区域的记录条件进行优化处理的第2例，依照图17，对使用个别 PRerr0r_ptn (p)时制成振幅准位的参考信号的步骤进行说明。例如，控制部11的运算部117在记录波形产生部13中设定预定记录参数(步骤S21)。 接着，记录波形产生部13依照经设定的记录参数，通过PU1对光盘15的试写区域写入 预定的记录图形(步骤S23)。接着，利用PU1、前置均衡器3、均衡器7以及维特比译 码器9,读取步骤S23中实施的写入结果，并利用代码识别部lll，使均衡器7的输出 和维特比译码器9的输出相对应。检测指示部113针对预定的检测图形p，指示检测部 115检测RF信号的振幅准位。检测部115遵从检测指示部113检测RF信号的振幅准位， 并将检测结果输出至运算部117。接着，运算部117对所述检测图形p计算PRerrorjtn (p)，和步骤S21中设定的记录参数相对应地存储在存储器等存储装置中(步骤S25)。 此数据用于数据记录中记录参数的调整。如上所述，由于检测图形p进行多次检测，因 此对PRerror—ptn (p)计算平均值。而且，运算部117存储此检测图形p的相关振幅准 位。也可以仅存储峰值。接着，运算部117判断是否设定有记录参数经预定的所有值(步骤S27)，若存在未设定的记录条件则返回步骤S21。另一方面，当对记录参数经预定的所有值的设定结束 后，则运算部117根据和记录参数的各值对应的各PRerror_ptn (p)，将PRerror_ptn (p)达到最小值的记录参数值指定为最佳值(步骤S29)。如上所述，每个检测图形p均有适 于进行调整的记录参数，因此，在步骤S29中，将此适于进行调整的记录参数指定为最 佳值。例如，如图14B所示，由于可接着间隔2T，对标志2T的检测图形p，指定PRsrror_ptn (p)达到最小值的dTtop2T的值(-1)，因此采用此dTtop2T值。接着，运算部117将所指定的最佳值设定在记录波形产生部13中(步骤S31)。而 且，将最佳值的所述检测图形p相关的振幅准位作为参考信号，存储在存储器等存储装 置中(步骤S33)。此数据用于数据记录中记录参数的调整。若实施此种处理，则可以根据PRerrorjtn (p)，对使用有试写区域的记录参数进行 优化处理，使至少一部分记录参数优化。其次，对于开始数据记录后调整记录条件时的处理，使用图18以及图19，就第1 例加以说明。首先，参照图15并根据图18进行说明。记录波形产生部13根据经设定的记录条 件，通过PU1写入需要写入的数据(步骤S41)。此处，假设进行特定量的数据或特定 时间的写入。接着，使用PU1、前置均衡器3、均衡器7以及维特比译码器9，读取步 骤S41中实施的写入结果，并利用代码识别部111使均衡器7的输出和维特比译码器9 的输出相对应。检测指示部113根据设定，对所有检测图形，或检测到预定有效图形时， 指示检测部115检测RF信号的振幅准位。检测部115遵从检测指示部113，检测RF信 号的振幅准位，并将检测结果输出至运算部117。接着，运算部117对各检测图形p计 算PRerrOT_ptn (p)，并存储在存储器等存储装置中(步骤S45)。如上所述，由于检测 图形p进行多次检测，因此对PRerror—ptn (p)计算平均值。而且，运算部117存储随后使用的最佳记录条件中特定的检测图形Pc的相关振幅准位值。也可以仅存储此值的峰值。此后，运算部117使用PRerrorjtn (p)、以及预先存储在存储器中的各检测图形p 的出现概率，对步骤S45中计算出的各检测图形p，计算PRerror—ttl，并存储在存储器 等存储装置中(步骤S47)。接着，运算部117判断PRerror_ttl是否超过预定阈值(步骤S49)。当PRerror_ttl未达预定阈值时，则由于此次无需对记录条件进行调整，而进入步骤S55。另一方面，当PRerror_ttl超过预定阈值时，则运算部117实施作为PRerror—ttl基础记录条件的修正量的决定处理(步骤S51)。使用图19，对作为所述记录条件的修正量的决定处理进行说明。首先，运算部117
对特定检测图形Pc,计算理想信号的振幅准位和例如图16中说明的由步骤S15指定的 参考信号之差(步骤S61)。如上所述，既可以计算峰值的差，也可以累加除峰值以外部 分的差。另外，由于步骤S49中判断出PRerrorJtl超过预定阈值，因此振幅准位和参考 信号之差不会为0。接着，运算部117判断差是否为正(步骤S63)。若差为正，则根据PRerror—ttl和记 录条件的关系(图16中步骤S7的结果)，指定差为正且对应于步骤S47中计算的 PRerrorJtl值的记录条件(步骤S65)。在如图4所示的情况下，PRerror—ttl值在记录功 率为3.3mW时最小，无论低于或高于此3.3 mW， PRerror_ttl的值均会增大。因此，当 步骤S47中计算出的PRerror—ttl值为例如0.15时，相应的记录功率约为3.1 mW或约为 3.7 mW。修正方向以及修正量视记录功率为其中何种情况而不同。若为3.1mW，则使 之增力Q0.2mW。若为3.7mW,则使之减少0.4mW。记录功率为其中何种情况，由进行 数据记录的媒体特性、记录条件、检测图形中的至少一个条件决定。例如，对于个别光 盘而言，根据预先记录的类型识别码，判断相对于记录功率增加，增加还是减少振幅准 位。接着，例如，因记录功率增加而增加振幅准位且所述差为正时，则记录功率过高。 即，可以判断处于和约3.7mW相同的状态。因此，使记录功率减少0.4mW。另一方面， 当因记录功率增加而减少振幅准位且所述差为正时，则记录功率过低。即，可以判断处 于和约3.1 mW相同的状态。因此，使记录功率增加0.2mW。另夕卜，也可以不根据类型 识别码进行判断，而是在测试记录时判别实际情况，根据此判别结果进行判断。预先指 定此种关系后，步骤S65将指定适于何种记录条件。继而，运算部117计算经指定的记录条件和最佳记录条件的差作为修正量(步骤 S69)。接着返回原处理。另一方面，若差为负，则根据PRerror—ttl和记录条件的关系，指定差为负且和步骤 S47中计算出的PRerror一ttl值相对应的记录条件(步骤S67)。例如，当根据光盘的类型 识别码，判断出振幅准位随着记录功率增加而增加，且所述差为负时，则可以判断记录 功率过低，即处于和约3.1 mW相同的状态。因此，使记录功率增加0.2 mW。另一方面， 根据光盘的类型识别码，判断出振幅准位随着记录功率增加而减少，且所述差为负时， 则可以判断记录功率过高，即处于和约3.7mW相同的状态。因此，使记录功率减少0.4 mW。预先指定此种关系后，步骤S67将指定适于何种记录条件。接着，进入步骤S69。返回图18的说明，继续说明处理。运算部117将步骤S51中决定的记录条件的修 正量设定在记录波形产生部113中(步骤S53)。接着，判断数据记录是否结束(步骤 S55),当数据记录未结束时，则返回步骤S41。另一方面，当数据记录结束时则结束处理。由于实施以上处理，故即便在数据记录中也能够对记录条件进行调整。 其次，使用图20以及图21，对以PRerror_ptn (p)为基础修正记录参数时的处理 进行说明。首先，根据图20进行说明。记录波形产生部13根据经设定的记录条件，通过PU1 写入需要写入的数据(步骤S71)。此处，假设进行特定量数据或特定时间的写入。接着， 利用PU1、前置均衡器3、均衡器7以及维特比译码器9，读取步骤S71中实施的写入 结果，并使用代码识别部lll，使均衡器7的输出和维特比译码器9的输出相互对应。 检测指示部113根据设定，对所有检测图形，或者检测到预定有效图形时，指示检测部 115检测RF (Radio Frequency,射频)信号的振幅准位。检测部115遵从检测指示部113 而检测RF信号的振幅准位，并将检测结果输出至运算部117。接着，运算部117对各 检测图形p计算PRerr0r_ptn (p)，并存储在存储器等存储装置中(步骤S73)。如上所 述，由于检测图形p进行多次检测，因此对PRerrorjtn (p)计算平均值。而且，运算 部117存储随后使用的特定检测图形pe的相关振幅准位值。也可以仅存储此值的峰值。此后，运算部117使用PRerrorj5tn (p)以及预先存储在存储器中的各检测图形p 的出现概率，对步骤S73中计算出的各检测图形p，计算PRerrorJtl，并存储在存储器 等存储装置中(步骤S75)。接着，运算部117判断PRerror—ttl是否超过预定阈值(步骤S77)。当PRerror_ttl 未达预定阈值时，由于此次无需对记录条件进行调整而进入步骤S87。另一方面，当 PRerror—ttl超过预定阈值时，则运算部117指定超过预定阈值的PRerr0r_ptn (p)(步骤 S79)。 PRerror—ttl也可以是并非超过预定阈值，而是预定的较大数值。接着，指定对应 于经指定的PRerrorjtn (p)的相关检测图形p的记录参数(步骤S81)。例如，间隔2T 之后设有标志2T的图形的情况下，如同dTtop2T2T，预先和图形ID相对应地存储在例 如存储器等中，并使用此对应关系。接着，运算部117实施PRerrorjtn(p)基础记录参数修正量的决定处理(步骤S83)。使用图21，对记录参数修正量的决定处理进行说明。首先，运算部117计算特定检 测图形pe的相关振幅准位和例如步骤S33中经指定的参考信号之差(步骤S91)。如上 所述，也可以仅计算峰值之差，或者累加峰值以外部分之差。另外，由于步骤S77中判 断出PRerror—ttl超过预定阈值，因此振幅准位和参考信号的差不会为0。接着，运算部117判断差是否为正(步骤S93)。若差为正，则根据PRerrorjtn (p)和记录参数的关系(步骤S25的结果)，指定差为正且和步骤S79中指定的PRerror一ptn
(p)的值相对应的记录参数之值(步骤S95)。当如图14B所示时，PRerror_ptn (p) 值在dTtop2T约为-0.1时最小，而此最小值以外的数值，无论减少还是增加dTtop2T， PRerrorjtn均会增加。因此，当步骤S73中计算出的PRerror_ptn (p)的值为例如0.01 时，相应的dTtop2T约为-1或约为0.7。光记录功率值的修正方向以及修正量因此值不 同而不同。若为-1，则使之增加0.9。若为0.7，则使之减少0.8。此dTtop2T值为何种情 况，由进行数据记录的媒体特性、记录条件、检测图形中的至少一个条件决定。关于媒 体特性，优选以如下方式进行判别。例如，在步骤S25 (参照图17)中对记录参数的各 值，存储检测图形p的相关振幅准位，通过多次实施步骤S25，判别当记录参数增加时 增加还是减少振幅准位并加以保持，再使用此判别结果。例如，根据判别结果判断出振 幅准位随着dTt叩2T增加而增加，且所述差为正时，则可以判断dTt叩2T过高，即处于 和0.7相同的状态。因此，使dTt叩2T减少0.8。另一方面，当根据判别结果判断出振幅 准位随着dTtop2T增加而减少，且所述差为正时，则可以判断dTt叩2T过低，即处于和 约-l相同的状态。因此，使dTtop2T增加0.9。预先指定此种关系后，步骤S95将指定 适于何种记录条件。并且，运算部117计算经指定的记录参数的值和记录参数的最佳值之差作为修正量 (步骤S99)。接着返回原处理。另一方面，若差为负，则根据PRerrorjtn (p)和记录参数的关系，指定差为负且 和PRerrorjtn (p)值相对应的记录参数的值(步骤S97)。例如，根据事前的判别结果， 判断出振幅准位随着dTtop2T增加而增加，且所述差为负时，则可以判断dTt叩2T过低， 即处于和约-1相同的状态。因此，使dTtop2T值增加0.9。另一方面，根据事前的判别 结果，判断出振幅准位随着dTtop2T值增加而减少，且所述差为负时，则可以判断dTtop2T 的值过高，即处于和约0.7相同的状态。因此，使dTtop2T的值减少0.8。预先指定此种 关系后，步骤S97将指定适于何种记录条件。接着，进入步骤S99。返回图20的说明，运算部117将步骤S83中决定的记录参数修正量设定在记录波 形产生部113中(步骤S85)。接着，判断数据记录是否结束(步骤S87)，当数据记录 未结束时则返回步骤S71。另一方面，当数据记录结束时，则使结束处理。由于实施如上所述的处理，故即使数据记录中也可以对记录参数进行调整。另外，关于图19或图21的处理流程中参考信号的值、图4或图14B的PRerror—ttl和记录条件的关系或PRerror_ptn (p)和记录参数的关系，表示了图16或图17的处理流程中进行获取的示例，但也可以预先存储在存储器中。当光盘记录再生装置连接于网络时，也可以从其他电脑中获取数据。另外，也可以在图16或图17的处理流程中，修 正或更新预先存储在存储器等中的数据。而且，图19及图21中表示暂时中断数据记录的情况，但也可以在数据记录的同时 调整记录条件或记录参数。另外，图16及图17中，表示以一个记录条件等记录数据后进行再生，进而以其他记录条件等记录数据后进行再生的示例，也可以一次在所有记录条件下进行数据记录 后，进行再生。可以视需要改变其他处理流程。以上说明本发明实施形态，但本发明并非限定于此。例如，图15所示的光盘记录 再生装置的功能框图为一个示例，只要可以实现所述功能，则并不限定于图15的功能 框结构。而且，以上表示调整dTtop2T值的示例，反之需要对后方间隔进行调整时，则如同 调整作为记录脉冲下降参数的Tlp那样，根据检测图形预先指定适当的记录参数进行调 整。以上所述实施形态中，例示了在内置于运算部117中的存储器或运算部117外部的 存储器中存储数据记录中用于记录条件等进行调整处理的阈值等基准数据，但并非必须 保持在存储器中。例如，也可以保持在光盘15中。当保持在光盘15中时，则保持在图 22所示的Lead-in (导入)区域。Lead-in区域大致分为系统Lead-in区域、连接区域 (connection area)、数据Lead-in区域，系统Lead-in区域包括初始区(intial zone)、缓 冲区(buffer zone)、控制数据区(control data zone)、以及缓冲区。另外，连接区域含 有连接区(connection zone)。另外，数据Lead-in区域含有防护轨道区(guard track zone)、 光盘测试区(disc test zone)、驱动器测试区(drive test zone)、防护轨道区、RMD( Recording management data、记录管理数据)复制区(duplication zone)、记录管理区(Recording management zone)、 R-物理格式信息区(R-physical format information zone)、 以及参考 代码区 (reference code zone )。本实施形态中，使系统Lead-in区域的控制数据区包含记录条件数据区(recording condition data zone ) 170。使此记录条件数据区no保持由存储器保持的基准数据，并在需要时读出此基准数据。对于此应记录的值，可以一律记录光盘15的平均值，也可以记录对此光盘15进行出货前测试所对应的值。由于光盘15保持对应进行如此记录的光盘15的对应值，因此有时也可以减少驱动 器侧的处理负荷。另外，有时也可以视需要，修正使用光盘15中保持的值。
权利要求
1.一种数据记录评价方法，其特征在于，包括下述步骤再生对光盘进行数据记录后的结果的特定期间，并检测基于所述再生之再生信号之步骤；根据经检测出的所述再生信号，指定含有预定代码的检测图形之步骤；检测和所述检测图形相对应的所述再生信号的信号状态之步骤；以及第1计算步骤，根据经检测的所述信号状态、以及由所述检测图形指定的基准状态，计算第1评价指标值。
2. 根据权利要求1所述的数据记录评价方法，其特征在于，还包括第2计算步骤，在 所述检测图形为多个时，使用根据各个所述多个检测图形计算出的所述第l评价指 标值，计算第2评价指标值。
3. 根据权利要求2所述的数据记录评价方法，其特征在于，还包括第l更改步骤，根 据所述第2评价指标值，更改数据记录的记录条件。
4. 根据权利要求2所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述第2计算步骤还包含 下述步骤，累加计算所述检测图形的出现概率和同所述出现概率一致的每一检测图 形的所述第1评价指标值之多个乘积。
5. 根据权利要求2所述的数据记录评价方法，其特征在于，还包括下述步骤-判断所述第2评价指标值是否超过预定阈值；以及当所述第2评价指标值超过所述预定阈值时，根据相应的所述第1记录状态评 价指标值，指定对所述第2评价指标值造成一定程度以上影响的所述检测图形。
6. 根据权利要求5所述的数据记录评价方法，其特征在于，还包括第2更改步骤，根 据经指定的所述检测图形的有关所述第l评价指标值，更改用于数据记录的记录参 数。
7. 根据权利要求1所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述检测图形至少由一个 标志以及间隔构成。
8. 根据权利要求1所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述检测图形是出现频率 为固定值以上的检测图形。
9. 根据权利要求3所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述第1更改步骤还包含 下述步骤，根据表示记录条件、和通过再生所述记录条件下的数据记录结果所得的 数据计算出的所述第2评价指标值之关系的数据，指定所述第2评价指标值为固定 值以下范围的所述记录条件。
10. 根据权利要求3所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述第l更改步骤包含下 述步骤，使用表示记录条件、和由再生所述记录条件下的数据记录结果的特定期间所得 的数据计算出的所述第2评价指标值的关系的数据以及当前所述第2评价指标值， 计算当前记录条件的修正量。
11. 根据权利要求9所述的数据记录评价方法，其特征在于，表示所述记录条件、和由 再生所述记录条件下的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的所述第2评价 指标值的关系的数据是测试记录时获得的数据。
12. 根据权利要求6所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述第2更改步骤包含下 述步骤，根据表示记录参数、和由再生使用有所述记录参数的数据记录结果的特定 期间所得的数据计算出的所述第1评价指标值的关系的数据，指定所述第1评价指 标值为最佳值时的所述记录参数。
13. 根据权利要求6所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述第2更改步骤包含下 述步骤，使用表示记录参数、和由再生使用有所述记录参数的数据记录结果的特定 期间所得的数据计算出的所述第l评价指标值的关系的数据以及当前所述第1评价 指标值，计算当前记录参数的修正量。
14. 根据权利要求12所述的数据记录评价方法，其特征在于，表示记录参数、和由再 生使用有所述记录参数的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的所述第1评 价指标值的关系的数据是测试记录时获得的数据。
15. 根据权利要求l所述的数据记录评价方法，其特征在于，所述第l计算步骤包含下 述步骤，计算经检测的所述信号状态和由所述检测图形指定的基准状态之差的大 小。
16. —种光盘记录再生装置，其特征在于，具备下述机构再生对光盘的数据记录结果的特定期间，并指定再生信号中经预定的检测图形 之机构；检测和所述检测图形相对应的所述再生信号的信号状态之机构；以及 根据经检测的所述信号状态以及由所述检测图形指定的基准状态，计算第1评 价指标值之机构。
17. 根据权利要求16所述的光盘记录再生装置，其特征在于，还具备第2计算机构， 在所述检测图形为多个时，使用与所述各检测图形相关的所述第l评价指标值，计 算第2评价指标值。
18. 根据权利要求17所述的光盘记录再生装置，其特征在于，还具备第l更改机构， 根据所述第2评价指标值改变数据记录的记录条件。
19. 根据权利要求17所述的光盘记录再生装置，其特征在于，所述第2计算机构累加 算出所述检测图形的出现概率和同所述出现概率一致的每一检测图形的所述第1评 价指标值之多个乘积。
20. 根据权利要求17所述的光盘记录再生装置，其特征在于，还具备下述机构判断所述第2评价指标值是否超过预定阈值的机构；以及在所述第2评价指标值超过所述预定阈值时，根据相应的所述第l评价指标值， 指定对所述第2评价指标值造成一定程度以上影响的所述检测图形的机构。
21. 根据权利要求20所述的光盘记录再生装置，其特征在于，还具备第2更改机构， 其根据经指定的所述检测图形相关的所述第l评价指标值，改变数据记录时使用的 记录参数。
22. —种光信息记录媒体，其特征在于，记录有第2评价指标值的阈值，所述第2评价 指标值的阔值由累加计算第1评价指标值和检测图形的出现概率之多个乘积而得， 所述第1评价指标值与对应于由再生信号指定的所述检测图形的信号状态和由所述 检测图形指定的基准状态之背离相对应。
23. —种光记录信息媒体，其特征在于，记录有表示第2评价指标值和作为计算所述第 2评价指标值的基础的数据记录的记录条件之关系的数据，其中所述第2评价指标 值由累加计算第1评价指标值和检测图形的出现概率之多个乘积而得，所述第1评 价指标值与对应于由再生信号指定的所述检测图形的信号状态和由所述检测图形 指定的基准状态之背离相对应。
24. —种光记录信息媒体，其特征在于，记录有表示第1评价指标值和作为计算所述第 1评价指标值的基础的数据记录的记录参数之关系的数据，其中所述第1评价指标 值与对应于由再生信号指定的所述检测图形的信号状态和由所述检测图形指定的 基准状态之背离相对应。
全文摘要
本发明可以导入新评价指标，对数据记录进行综合评价，并且也可以对个别检测图形进行评价。本发明的数据记录评价方法包括下述步骤再生对光盘的数据记录结果，指定再生信号中预定的检测图形之步骤；检测和预定的检测图形相对应的再生信号的信号状态之步骤；以及第1计算步骤，根据经检测的所述信号状态以及由预定检测图形指定的基准状态，计算第1评价指标值。而且，此数据记录评价方法还包括第2计算步骤，在以上所述预定检测图形为多个的情况下，使用对各个预定检测图形的第1评价指标值，计算第2记录状态评价指标值。可以根据第1以及第2记录状态评价指标值，适当地评价数据记录。
文档编号G11B7/0045GK101211587SQ20071030223
公开日2008年7月2日 申请日期2007年12月20日 优先权日2006年12月27日
发明者关口慎生, 垣本博哉, 宫泽冬树, 小山胜弘 申请人:太阳诱电株式会社