专利名称：半导体存储介质的寿命显示方法、系统及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电数字数据处理领域，尤其涉及一种半导体存储介质的寿命显 示方法、系统及装置。
背景技术：
现在半导体存储介质的使用非常广泛，如常见的u盘闪存盘、闪存卡以及 手机、数码相冲几等产品上也都使用了半导体存储介质，并且半导体存储介质已 经进入到电脑和服务器等领域，有接替硬盘的发展趋势。随着技术和工艺的不 断进步和成熟，半导体存储介质的容量也变得越来越大，与此同时，半导体存 储介质的存储密度也越来越大，它的使用寿命也变得越来越短。半导体存储介 质的寿命信息包括半导体存储介质的最大寿命、半导体存储介质的平均寿命、 寿命阈值和/或所有物理块的寿命。所有这些寿命值在擦写过程中会不断变化，
它们可以存;^丈在半导体存储介质本身，也可以暂存在半导体存储i殳备的内存， 还可以存在别的存储介质中。
以闪存介质为例，每个块的可擦写次数一般都只有几千次，有的甚至只有 几百次、几十次。所以用户在使用时不知道半导体存储介质寿命何时达到极限， 这样很可能导致一些重要数据的丢失。所以需要一种方法让用户知道半导体存 储介质的老化程度并在达到使用极限之前做出提示或警告。
发明内容
本发明的目的之一是提供一种半导体存储介质的寿命显示方法、系统及装 置，显示用户半导体存储介质的寿命。
本发明的寿命显示方法采用如下技术方案，包括步骤 获取半导体存储介质寿命信息；
显示半导体存储介质寿命信息。
本发明还提供一种半导体存储设备寿命显示系统，所述寿命显示系统包括 主机系统和半导体存储设备，半导体存储设备包括主控、内存和半导体存储介 质，主控分别连接内存和半导体存储介质，主机系统通过主控获取半导体存储
设备寿命信息；主机系统显示获取的半导体存储设备寿命信息。
本发明还提供一种半导体存储设备寿命显示装置，用于显示半导体存储介质的寿命信息，所述寿命显示装置包括显示模块、主控芯片、内存和半导体存 储介质，主控芯片分别连接显示模块、内存和半导体存储介质，主控芯片获取半导体存储介质寿命信息；主控芯片根据获取的半导体存储介质寿命信息控制 显示模块进行显示。^卜质秀^，的万式禾头J见十寻侔存储介 命的提示，使用户知道半导体存储介质的老化程度并在达到使用极P艮之前做出 提示，在使用时知道半导体存储介质寿命何时达到极限，这样可以在存储设备 老化前对重要数据及时进行备份，保护了数据的安全性，避免了数据的丟失。
图l是本发明第 一 实施例的显示方法流程图； 图2是本发明第二实施例的获取的半导体存储介质寿命信息流程图 图3是本发明第二实施例的显示的半导体存储介质寿命信息流程图 图4是本发明第三实施例的显示的半导体存储介质寿命信息流程图 图5是本发明第三实施例加入预警步骤后的流程图； 图6是本发明第四实施例的显示系统结构图； 图7是本发明第五实施例的显示装置结构示意图。本发明目的、功能及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。务沐实施方式本发明通过获取半导体存储介质信息，根据获取的半导体存储介质信息的 结果进行显示，实现了半导体存储介质的寿命的提示。如图2所示，本实施例的半导体存储介质的寿命显示方法包括步骤 SllO、获取半导体存储介质寿命信息； S120、显示半导体存储介质寿命信息。本实施例获取现有的半导体存储介质中为了实现平衡算法而记录的半导体 存储介质的寿命信息，然后将所获取的半导体存储介质寿命信息直接或转换后 进行显示，达到用户可以识别半导体存储介质的寿命信息的目的，使用户能够 掌握半导体存储介质的老化情况。基于第一实施例，本发明提出第二实施例。图3和图4示出了本发明的第二实施例，如图3所示，所述步骤S110获取半导体存储介质寿命信息包括步骤 Slll、发出寿命信息读取命令； SI 12、读取半导体存储介质中的寿命信息； S113、返回读取的寿命信息。
如图4所示，所述显示半导体存储介质寿命信息包括步骤
5121、 显示读取的寿命信息。
上述半导体存储介质的寿命信息包括最大寿命值、平均寿命值、寿命阈值 和所有物理块的寿命值，其中最大寿命值、平均寿命值、寿命阈值都是固定长 度的信息，而所有物理块的寿命值跟物理块的个数有关，每个物理块都有且仅 有一个寿命值与^目对应。例如显示整个半导体存储介质的最大寿命值为8000,
当前平均寿命值为2300,寿命阈值为300，当显示所有物理块寿命时一般使用 一组数据如2250、 2310、 2261......来对应显示每个物理块的寿命， 一般情况下，
各物理块的寿命值的差距都在阈值的范围内。显示这些最大寿命值、平均寿命 值、寿命阈值和/或所有物理块的寿命值时，显示内容可以说明半导体存储介质 的寿命，但是寿命值显示对寿命的表达不够直观，用户需要根据显示的数值计 算半导体存储介质的寿命，所以进一步提出第三实施例。
如图5所示，本发明的第三实施例在第一实施例的基础上，在获取半导体 存储介质寿命信息之后，显示半导体存储介质寿命信息包括步骤
5122、 根据读取的寿命信息计算寿命使用比率；
5123、 显示寿命使用比率。
上述寿命使用比率包括半导体存储设备的平均寿命所占最大寿命的比率、 半导体存储设备各物理块寿命所占最大寿命的比率和/或半导体存储设备各物理
块寿命所占最大寿命的比率的变化范围。
上述半导体存储介质的平均寿命所占最大寿命的比率是指半导体存储设备 的平均寿命所占最大寿命的百分比，是一个比值，说明当前使用寿命占总的使 用周期的比值。通过这个值和已经使用的时间，使用者可以估算到大概还可以 用多久。比如说，半导体存储设备已经用了 3年了，而半导体存储设备的平均 寿命所占最大寿命的比率是50%,则可以推真出，如果按照以前的使用频率， 该半导体存储设备大概还可以使用3年。
上述半导体存储介质中各个物理块寿命所占最大寿命的比率是指半导体存 储设备中每个物理块寿命所占最大寿命的百分比，是一个比率分布，显示时， 可以是单独的分开显示，也可以是以图线或者表格等一些更加直观的方式显示。
上述半导体存储介质中各个物理块寿命所占最大寿命的比率的变化范围， 一般地，是指所有物理块寿命中最小的一个和最大的一个与半导体存储设备最大寿命的比率的变化范围。例如，从半导体存储设备获取的信息如下半导体 存储设备的最大寿命是5000，平均寿命是500，寿命阈值为100，所有物理块中 最小的寿命为400，最大的为550，因为400/5000=8%, 550/5000=11%,所以此 比率的变化范围为8%~11%。特殊地，是指在平均寿命阈值波动范围内比率的 变化范围，根据规律，绝大部分物理块的寿命都会落在上述变化范围。仍以上 面为例，因为平均寿命/半导体存储设备最大寿命=500/5000=10%，阈值/半导体 存储设备最大寿命=100/5000=2%， 10%-2%=8% (若算得此比率差值小于0,则 此值取0 ), 10%+2%=12%，所以此比率的变化范围为8% 12%。本第三实施例直接显示当前半导体存储介质的各寿命值与最大寿命之间的直观，方便^户的使用。" '"''、'上述第二和第三实施例在进行寿命值和寿命比率显示时，可以是数字显示， 也可以用图形、图线或者表格等一些更加直观的方式显示。如图6所示，上述实施例在步骤S120显示半导体存储介质寿命信息后还可 以根据步骤S110中获得的半导体存储介质寿命信息进行预警步骤S130,即当获 得的半导体存储介质寿命信息超过某一设定的预警值时进行报警。本发明的第四实施例提供一种半导体存储设备寿命显示系统，用于显示半 导体存储设备的寿命信息，如图7所示，所述寿命显示系统包括主机系统31和 半导体存储设备32,半导体存储设备32包括主控321、内存322和半导体存储 介质323，主控321分别主机系统31、连接内存322和半导体存储介质323，主 机系统31通过主控321获取半导体存储介质323寿命信息；主机系统31显示 获取的半导体存储介质323寿命信息。具体来说，主机系统31通过SCSI、 ATA、 SATA、 PCI、 PCIExpress、 EMMC、 LBA、 TCP/IP等协议向主控321发送命令， 要求获取相关信息，主控321接收命令后，从半导体存储介质323中分别读取 相关信息，并通过相应的协议返回给主机系统31,完成相应操作。获取半导体存储设备寿命信息时，对于暂存在内存322的信息，主控321分别将其返回给主机系统31。而对于只存放在半导体存储介质323本身的信息， 主控321需要发送命令从相应位置读取。例如，半导体存储设备32的最大寿命、 平均寿命、寿命阈值都已经存在内存322中，则主控321只需要将这些信息按 照与主机系统31达成的协议， 一起或者分别返回给主机系统31，或者与所有物 理块的寿命值一起返回。如果物理块的寿命未存在内存322中，则需要分别从 半导体存储介质323中分别读取这些值，然后再按照与主机系统31达成的协议 返回。 '由于实际操作中主机系统31发送给主控321的只有逻辑地址，主控321根据接收到的逻辑地址找到具体的物理地址，继而进行相应的操作。因此需要通 过逻辑块来获取物理块的寿命。而要实现从逻辑地址到物理地址的转换，需要 建立映射关系。建立一个结构体来记录每个逻辑块到物理块的映射关系，此结 构体叫做逻辑块映射表。每个逻辑块都会对应一个或多个物理块，则此逻辑块 映射表中就需要记录这些物理块的块号和寿命。逻辑块映射表保存在半导体存储设备特定的位置。当需要访问相应逻辑块时，主控321就会从半导体存储介 质323中将其读出来。因此，我们只要读取逻辑块中至少一个字节的数据，就 能够得到其对应的逻辑块映射表，从而得到该逻辑块包含的物理块以及对应的 寿命。我们可以只通过主控321读取半导体存储设备32的逻辑块中至少一个字 节数据，而不将这些数据返回给主机系统31,从而获得相应物理块及其寿命，此时主控321读取半导体:储设备;2的逻;辱块中至少一^^字节数据，获得 相应物理块及其寿命，这样依次读取所有逻辑块来获得所有逻辑块对应的物理 块的寿命。另外，并不是所有的物理块都对应到逻辑块上，有些物理块需要用来记录 一些特殊的信息，如逻辑块映射表等；有些块可能是为了加快读写速度，作为 緩存块或者交换块使用。其中，半导体存储设备32的配置信息应该是存在固定的位置，也就是固定 的物理块，半导体存储设备32在上电使用的时候就会通过主控芯片内的固件程 序找到这些块，并读出相应的信息。这样的块在生产出厂之后应该是不会再对 它们进行擦写操作的，所以它们对应的寿命就是0，或者是l，如果寿命有增加， 那也会产生相应的记录，这些我们都可以根据读得的信息直接获取。对于记录逻辑块映射表等映射关系的物理块，我们也可以采用直接读映射 表的方式获取这些物理块的寿命信息。对于某些半导体存储设备它的映射表信 息包括几级表，如一级表、二级表、三级表等， 一级表记录设备的信息，二级 表记录设备中某一逻辑区域的信息，三级表记录逻辑区域中某一逻辑块的信息。 这几级表呈树状结构，根据一级表可以找到二级表，根据二级表可以找到三级 表，以此类推，并且每一个表都记录着该表由哪些物理块一起来记录，以及每 个物理块对应的寿命。主控内的固件程序至少找到一级表，读取该一级表，即 可通过一级表找到下面所有的二级表，再找到所有的三级表，通过这些表获取 所有记录这些映射表信息的物理块的寿命信息。对于用作緩存块或者交换块使用的物理块，它们的信息记录在如上面所说 的某级表中，如一级表，用来记录该半导体存储设备中现在有多少緩存块或者 交换块，以及它们的块号和对应的寿命。这样，就可以采用如上面所说的方式， 通过相应的映射表获取这些块号和对应的寿命。返回给主机系统31时，可以将物理块的寿命信息单个返回，也可以分批返 回，还可以全部一起返回。
另外，也可以通过主机系统31发送命令，通过依次读取所有半导体存储设 备32中逻辑块来获得所有逻辑块对应的物理块的寿命信息。读取和返回信息时， 可以每次只有一个物理块的寿命信息，也可以每次几个，还可以一次将所有的 物理块的寿命信息都返回。
上述获取半导体存储设备寿命信息包括获取半导体存储设备的最大寿命、 半导体存储设备的平均寿命、寿命阈值和/或半导体存储设备所有物理块的寿命。
所述显示半导体存储设备寿命信息包括显示半导体存储设备的最大寿命、 半导体存储设备的平均寿命、寿命阈值和/或半导体存储设备所有物理块的寿命。
所述主机系统31中还可包括一计算模块，计算模块根据读取的寿命信息计 算寿命使用比率。寿命使用比率包括半导体存储设备的平均寿命所占最大寿命 的比率、半导体存储设备各物理块寿命所占最大寿命的比率和/或半导体存储设 备各物理块寿命所占最大寿命的比率的变化范围。
上述半导体存储设备的平均寿命所占最大寿命的比率是指半导体存储设备 的平均寿命所占最大寿命的百分比，是一个比值，说明当前使用寿命占总的使 用周期的比值，通过这个值和已经使用的时间，使用者可以估算到，大概还可 以用多久。
例如，半导体存储设备已经用了 3年，而半导体存储设备的平均寿命所占 最大寿命的比率是50%,则可以推算出，如果按照以前的使用频率，该半导体 存储设备大概还可以使用3年。
上述半导体存储设备中各物理块寿命所占最大寿命的比率是指半导体存储 设备中每个物理块寿命所占最大寿命的百分比，是一个比率分布，显示时，可 以是将每个物理块的寿命比例单独的分开显示，也可以是以图线或者表格等一 些更加直观的方式显示。
上述半导体存储设备中各个物理块寿命所占最大寿命的比率的变化范围， 一般地，是指所有物理块寿命中最小的一个和最大的一个与半导体存储设备最 大寿命的比率的变化范围。
例如，从半导体存储设备获取的信息如下将平均寿命值除以最大寿命， 并用所有物理块中的最大寿命除以半导体存储设备的最大寿命，则得到该半导 体存储设备的寿命比率的变化范围。
例如，半导体存储设备的最大寿命是5000，平均寿命是500，阈值为100, 所有物理块中最小的寿命为400，最大的为550，因为400/5000=8%, 550/5000=11%,所以此比率的变化范围为8% 11%。特殊地，是指在平均寿命 阈值波动范围内比率的变化范围，就是图1中Zl和Z2所指的位置，根据规律，绝大部分物理块的寿命都会落在上述变化范围。仍以上面为例，因为平均寿命/半导体存储设备最大寿命=500/5000=10%,阈值/半导体存储设备最大寿命 =100/5000=2%, 10%-2%=8%(若算得此值小于0,则此值取0), 10%+2%=12%， 所以此比率的变化范围为80/。 12%。本实施例中的主机系统31在获取半导体存储设备32的寿命信息后，除显 示获取的寿命信息外，还可根据获取的寿命信息进行预警，即当获得的寿命信 息超过某一设定的预警值时进行报警。上述的第四实施例所述主机系统可以是半导体存储设备(如闪存硬盘)所 在的计算机、服务器等，也可以是区别于该半导体存储设备所在设备的另外一 个设备。该设备能够访问半导体存储设备，访问可以包括数据线、网络、红夕卜、 无线等等能在两个设备之间传递信息的方式。例如一台计算机通过网络访问另 外一台计算机，计算机通过数据线访问U盘闪存盘、手机、数码相机等，此时 访问其它设备的计算机就可以看作是主机系统。本发明的第五实施例提供了一种半导体存储设备寿命显示装置，用于显示 半导体存储介质的寿命信息，如图8所示，所述半导体存储设备寿命显示装置 包括主控芯片51、内存52、半导体存储介质53和显示模块54，主控芯片51获 取半导体存储介质53寿命信息；主控芯片51与半导体存储介质53通过内存52 进行数据交换；主控芯片51控制显示模块54显示获取的半导体存储介质53的 寿命信息。获取半导体存储介质53寿命信息时，对于暂存在内存52的信息，主控芯 片51不需要再进行读取。而对于只存放在半导体存储介质53本身的信息，主 控芯片51需要发送命令从相应位置读取。比如说，半导体存储介质53的最大 寿命、平均寿命、寿命阈值都已经存在内存52中。如果物理块的寿命信息未存 在内存52中，则需要分别从半导体存储介质53中分别读取这些值。由于实际操作中主控芯片51是根据半导体存储设备的逻辑地址找到具体的 物理地址，继而进行相应的操作的。因此，需要通过逻辑块来获取物理块的寿 命。要实现从逻辑地址到物理地址的转换，需要有种映射关系。建立一个结构 体来记录每个逻辑块到物理块的映射关系，在此，把此结构体叫做逻辑块映射 表。每个逻辑块都会对应一个或者多个物理块，则此逻辑块映射表中就需要记 录这些物理块的块号和寿命。逻辑块映射表保存在半导体存储介质特定的位置。 当需要辑块中至少一个字节的数据，就能够得到其对应的逻辑块映射表，从而得到该 逻辑块包含的物理块以及对应的寿命。此时主控芯片51读取半导体存储设备的逻辑块中至少一个字节数据，获得 相应物理块及其寿命，这样依次读取所有逻辑块来获得所有逻辑块对应的物理 块的寿命。另外，并不是所有的物理块都对应到逻辑块上，有些物理块需要用来记录 一些特殊的信息，如半导体存储设备寿命显示装置的一些配置信息和逻辑块映 射表等；有些块是为了加快读写速度，作为緩存块或者交换块使用。其中，半导体存储设备寿命显示装置的配置信息应该是存在固定的位置， 也就是固定的物理块，半导体存储设备寿命显示装置在上电使用的时候就会通 过主控芯片内的固件程序找到这些块，并读出相应的信息。这样的块在生产出 厂之后应该是不会再对它们进行擦写操作的，所以它们对应的寿命就是0，或者 是l，如果进行了擦写操作，则也会产生相应的记录，这些我们都可以根据读得 的信息直接获取。对于记录逻辑块映射表等映射关系的物理块，我们可以参考前面获取逻辑 块对应物理块寿命的方式。读某一逻辑块信息时，相应的逻辑块映射表会读到 内存中，同时，记录该映射表的块的信息也会读到内存中，这些信息可以包括 有几个物理块记录该映射表、这些物理块的块号和对应的寿命等。通过读内存 就可以获取这些物理块对应的寿命信息了。另外，我们也可以采用直接读映射 表的方式获取这些物理块的寿命信息。对于某些半导体存储设备寿命显示装置， 它的映射表信息包括几级表，如一级表、二级表、三级表等， 一级表记录半导 体存储设备的信息，二级表记录设备中某一逻辑区域的信息，三级表记录逻辑 区域中某一逻辑块的信息。这几级表呈树状结构，根据一级表可以找到二级表， 根据二级表可以找到三级表，以此类推，并且每一个表都记录着该表由哪些物 理块一起来记录，以及每个物理块对应的寿命。半导体存储设备寿命显示装置 在上电使用的时候会通过主控芯片内的固件程序至少找到一级表，将它读到内 存里面，即可通过一级表找到下面所有的二级表，再找到所有的三级表，通过 这些表获取所有记录这些映射表信息的物理块的寿命信息。对于用作緩存块或者交换块使用的物理块，它们的信息记录在如上面所说 的某级表中，如一级表，用来记录该半导体存储设备中现在有多少緩存块或者 交换块，以及它们的块号和对应的寿命。这样，就可以采用如上面所说的方式， 通过相应的映射表获取这些块号和对应的寿命。另外，也可以通过主控芯片51发送命令，通过依次读取所有逻辑块来获得 所有逻辑块对应的物理块的寿命。所述获取半导体存储介质寿命信息包括获取半导体存储介质的最大寿命、半导体存储介质的平均寿命、寿命阈值和/或所有物理块的寿命。所述显示半导体存储介质寿命信息包括显示半导体存储介质的最大寿命、 半导体存储介质的平均寿命、寿命阈值和/或所有物理块的寿命。所述主控芯片51中还可包括一计算模块，计算模块根据读取的寿命信息计 算寿命使用比率。寿命使用比率包括半导体存储介质的平均寿命所占最大寿命 的比率、半导体存储介质各物理块寿命所占最大寿命的比率和/或半导体存储介 质各物理块寿命所占最大寿命的比率的变化范围。本实施例中的主控芯片51在获取半导体存储设备的寿命信息后，除显示获 取半导体存储设备的寿命信息外，还可根据获取的半导体存储设备的寿命信息进行预警，即当获得的寿命信息超过某一设定的预警值时进行报警。本实施例所述半导体存储设备寿命显示装置可以是半导体存储介质所在的 半导体存储设备，如MP3、手机、数码相机、U盘闪存盘等。本发明通过获取半导体存储介质的最大寿命、半导体存储介质的平均寿命、 寿命阈值和/或所有物理块的寿命，并对各寿命值进行处理后显示，或根据处理 结果进行预警，告知用户该半导体存储介质的老化情况，使用户能够根据半导 体存储介质的老化情况对半导体存储介质内的数据做出相应的处理，保证了数 据的安全。以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡 是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间 接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种半导体存储介质寿命显示方法，其特征在于，包括步骤获取半导体存储介质寿命信息；显示半导体存储介质寿命信息。
2、 如权利要求1所述的半导体存储介质寿命显示方法，其特征在于，所 述获取半导体存储介质寿命信息包括步骤发出寿命信息读取命令； 读取半导体存储介质中的寿命信息； 返回读取的寿命信息。
3、 如权利要求1或2所述的半导体存储介质寿命显示方法，其特征在于， 所述显示半导体存储介质寿命信息包括步骤S121、显示读取的寿命信息。
4、 如权利要求1或2所述的半导体存储介质寿命显示方法，其特征在于， 显示半导体存储介质寿命信息包括步骤根据读取的寿命信息计算寿命使用比率； 显示寿命使用比率。
5、 如权利要求4所述的半导体存储介质寿命显示方法，其特征在于，所 述寿命使用比率是一项寿命信息值与该最大寿命信息值的比率。
6、 如权利要求1或2所述的半导体存储介质寿命显示方法，其特征在于， 还包括步骤根据获取的半导体存储介质寿命信息进行预警。
7、 一种半导体存储设备寿命显示系统，其特征在于包括主机系统和与主机系统相连并进行数据交互的半导体存储设务，半 导体存储设备包括主控、内存和半导体存储介质，主控分别连接主机系统、内存和半导体存储介质，主机系统通过主控获取半导体存储设备寿命信息； 主机系统显示获取的半导体存储设备寿命信息。
8、 如权利要求7所述的半导体存储设备寿命显示系统，其特征在于所 述主机系统中包括计算模块，计算模块根据读取的寿命信息计算寿命使用比率。
9、 如权利要求7或8所述的半导体存储设备寿命显示系统，其特征在于 所述主机系统还根据获取的半导体存储设备寿命信息进行预警。
10、 一种半导体存储设备寿命显示装置，其特征在于 包括显示模块、主控芯片、内存和半导体存储介质，主控芯片分别连接显示模块、内存和半导体存储介质，主控芯片获取半导体存储介质寿命信息； 主控芯片根据获取的半导体存储介质寿命信息控制显示模块进行显示。
11、 如权利要求IO所述的半导体存储设备寿命显示装置，其特征在于 主控芯片中包括一计算单元，计算单元根据读取的寿命信息计算寿命使用比 率。
12、 如权利要求IO所述的半导体存储设备寿命显示装置，其特征在于 所述主控芯片还根据获取的半导体存储介质寿命信息进行预警。
全文摘要
半导体存储介质的寿命显示方法和使用该方法的系统及装置，所述方法包括步骤获取半导体存储介质寿命信息；显示半导体存储介质寿命信息。所述获取和显示的半导体存储介质寿命信息包括获取半导体存储介质的最大寿命、半导体存储介质的平均寿命、寿命阈值和/或所有物理块的寿命。本发明采用了显示寿命的方式来实现半导体存储介质的寿命的提示，使用户知道半导体存储介质的老化程度并在达到使用极限之前做出提示，在使用时知道半导体存储介质寿命何时达到极限，这样可以在存储设备老化前对重要数据及时进行备份，保护了数据的安全性，避免了数据的丢失。
文档编号G11C29/00GK101625900SQ200810068479
公开日2010年1月13日 申请日期2008年7月10日 优先权日2008年7月10日
发明者卢赛文 申请人:深圳市朗科科技股份有限公司