专利名称：存储设备旋转振动测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种存储设备测试系统及方法，特别是关于一种存储设备旋转振动测 试系统及方法。
背景技术：
在信息技术迅速发展的今天，数据存储需求日益增加，存储器(例如硬盘)向着高 容量、高转速的趋势发展。为了存储更多的数据，存储设备中包含的存储器越来越多。这种 情况下，在对一个存储设备读/写数据时，该存储设备内安装的存储器容易受到自身的旋 转振动(例如硬盘驱动器产生的旋转振动)或者该存储设备的风扇的旋转振动的影响而出 现不稳定的状态，从而影响该存储设备的性能。为了正确评估存储器及风扇的旋转振动对存储设备造成的影响，需要对存储设备 进行旋转振动测试，以便采取适当的措施降低旋转振动带来的影响。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种存储设备旋转振动测试系统，能够快速有效地对 存储设备实施旋转振动测试。此外，还有必要提供一种存储设备旋转振动测试方法，能够快速有效地对存储设 备实施旋转振动测试。一种存储设备旋转振动测试系统，运行于与存储设备通信连接的主机中，所述存 储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该系统包括设置模块，用于设置存储设备 的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试 时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风 扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待 测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块， 用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性 能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。—种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一 个风扇，该方法包括步骤设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待 测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；从待测的存储器中选择一个存储器；从待 测的风扇转速中选择一个风扇转速；控制风扇以该选择的转速运转；从待测的工作负载中 选择一个工作负载；对存储设备产生该选择的工作负载；根据设置的测试时间，在选择的 风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；存储选择的存储器的读写性能的 测试数据；若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤；若有其他待测的风扇 转速，则返回选择风扇转速的步骤；及若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。本发明设置存储设备的测试参数，根据设置的测试参数模拟各种工作环境，从而 快速有效地实现对存储设备的旋转振动测试。
图1为本发明存储设备旋转振动测试系统较佳实施例的运行环境示意图。图2为本发明存储设备旋转振动测试系统的功能模块图。图3为本发明存储设备旋转振动测试方法较佳实施例的流程图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种存储设备旋转振动测试系统，运行于主机中，所述存储设备包括至少一个存储 器以及至少一个风扇，其特征在于，该系统包括设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风 扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择 的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该 选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的 存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
2.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，该系统还包括输出 模块，用于输出选择的存储器的读写性能的测试数据。
3.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，所述存储器包括硬 盘、光盘以及磁带。
4.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，所述测试模块通过 测试选择的存储设备的每秒读/写操作次数来获知选择的存储器的读写性能。
5.一种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个 风扇，其特征在于，该方法包括步骤设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的 工作负载以及测试时间；从待测的存储器中选择一个存储器； 从待测的风扇转速中选择一个风扇转速； 控制风扇以该选择的转速运转； 从待测的工作负载中选择一个工作负载； 对存储设备产生该选择的工作负载；根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；存储选择的存储器的读写性能的测试数据； 若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤； 若有其他待测的风扇转速，则返回选择风扇转速的步骤；及 若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。
6.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，该方法还包括步骤 输出选择的存储器的读写性能的测试数据。
7.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，所述存储器包括硬 盘、光盘以及磁带。
8.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，所述根据设置的测 试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能的步骤中，通过测试选择的存储设备的每秒读/写操作次数来获知选择的存储器的读写性能。
全文摘要
一种存储设备旋转振动测试系统，所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇，该系统包括设置模块，用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
文档编号G11B20/18GK102087855SQ20091031103
公开日2011年6月8日 申请日期2009年12月8日 优先权日2009年12月8日
发明者林圣涵 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司