专利名称：光盘非对称性的测试装置和方法
光盘非对称性的测试装置和方法
背景技术：
本发明涉及光盘，特别是一种光盘非对称性的测试装置与方法。
背景技术：
在有机染料数字光存储中，写入信息时记录介质产生不可逆的物理化学变化，形 成永久性的记录。写入时毫瓦级的激光束在记录介质膜层上聚焦形成高能量密度微光斑， 在极短时间内把光照微区内的膜层温度升高到数百度，使膜面性质发生改变或完全破坏， 形成稳定的记录信息点，即坑道。坑道不同的长度代表了不同的记录信息。在光盘的复制过程中，坑道的长度随着环境温度，有机染料的敏感性，刻录激光的 波长等的影响，很容易发生不好的变化。为了保证每个坑道长度符合3T 11T，14T的要求， 需要进行严格控制刻录环境，尤其是光盘复制系统的驱动功率。在光盘复制系统内部，有一 个专门不断调整最优驱动功率的过程，使激光束刻录的坑道长度符合要求。光盘的非对称性描述了光盘在刻录的过程中长短坑信号的对称情况。它代表了光 盘的刻录工艺，拥有好的非对称性的盘片，误码率和抖晃都会相应降低，便于读出。所以对 非对称性的检测具有非常重要的意义，非对称性在实际生产中经常作为评判光盘复制工艺 的一个重要指标。在DVD标准中，非对称性被定义为ASYM= [(I14H+I14L)/2-(I3H+I3L)/2]/I14(A)其中(Ι14Η+Ι14 )/2表示14T信号的中间值，(Ι3Η+Ι3 )/2表示3T信号的中间值，114表 示14T信号的峰峰值，即(I3h-I3l)。对于DVD盘片来说，ASYM的值必须处于-0. 05和+0. 15 之间，否则便表明光盘刻录质量不符合非对称性要求。上述各T(3T，14Τ)是指3Τ 11Τ，14Τ所代表的模拟信号。由于编码的时候游程 长度的限制，光盘的记录信息只能通过3Τ 11Τ，14Τ代表的十种长度的坑道来表示。T为 1倍速的转速所代表的周期。典型的包含3Τ 11Τ，14Τ的RF信号波形如图5所示。目前市面上对光盘非对称性的测量都是集成在其它测量的基础之上，而一台集成 测量的整机价格非常昂贵。而本专利旨在提供一种单独测量非对称性的装置与方法，价格 便宜，容易实现。
发明内容
本发明旨在提供一种光盘非对称性的测试装置与方法，以实现对DVD盘片的非对 称性的测量，该装置应具有原理简单，实现方便，实用可靠，能灵活扩展功能和性价比高的 优点。本发明的技术解决方案如下一种光盘非对称性的测试装置，特点在于该装置由RF信号读出系统、均衡器、比 较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值 保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器和数 据处理系统构成，上述元部件的位置关系如下
所述的RF信号读出系统的输出端与所述的均衡器的输入端相连，该均衡器有六 个输出端，分别连接所述的比较电平发生器的输入端、高通滤波器的输入端、上半波提取器 的第一输入端、下半波提取器的第一输入端、第一峰值探测器的输入端和第一谷值探测器 的输入端；所述的高通滤波器的输出端接所述第一比较器的第二输入端；所述的第一比较器的第一输入端与所述的比较电平发生器的输出端相连，该比较 器有四个输出端，分别与所述的上半波提取器的第二个输入端、所述的下半波提取器的第 二个输入端、所述的峰值保持器的第二输入端、所述反向器的输入端相连；所述的反向器的输出端接所述的谷值保持器的第二输入端；所述上半波提取器的输出端接所述的峰值保持器的第一输入端，该峰值保持器的 输出端接所述第二谷值探测器的输入端；所述下半波提取器的输出端接所述的谷值保持器的第一输入端，该谷值保持器的 输出端接所述第二峰值探测器的输入端；
所述第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器和第二峰值探测器的输 出端都连接至所述的数据处理系统。所述的RF信号读出系统由市场上普通的商用光驱构成。所述的比较电平发生器的构成是从输入到输出包括依次连接的第二高通滤波 器、第二比较器、积分器和比较电平调整器，所述比较电平调整器的输出反馈端连接到所述 第二比较器的第二输入端，所述比较电平调整器稳定后的输出即是所述的比较电平发生器 的输出。利用上述光盘非对称性测试装置进行光盘非对称性的测量方法，该方法包括如下 步骤①将待测光盘放在所述RF信号读出系统的光驱里，在光驱通电运转即读盘的时 候，从所述RF信号读出系统输出具有待测光盘信息的RF信号，该RF信号通过所述均衡器 滤去杂波平滑后得到均衡RF信号，经六个输出端分别向所述的比较电平发生器的输入端、 高通滤波器的输入端、上半波提取器的第一输入端、下半波提取器的第一输入端、第一峰值 探测器的输入端和第一谷值探测器的输入端输出所述的均衡RF信号；②所述的比较电平发生器接收所述的均衡器的均衡RF信号后生成一个稳定的比 较电平(SL)并输入所述的第一比较器；③所述的高通滤波器滤去所述均衡RF信号的直流分量后，获得去直RF信号并输 入所述的第一比较器；④所述的去直RF信号与所述的比较电平(SL)在所述的比较器进行比较若所述 的去直RF信号大于所述的比较电平(SL)便输出“1”，若所述的去直RF信号小于所述的比 较电平(SL)便输出“0”，从而得到二值化RF信号(RFS)，该二值化RF信号(RFS)分别向所 述的上半波提取器的第二个输入端、所述的下半波提取器的第二个输入端、所述的峰值保 持器的第二输入端和所述反向器的输入端输入；⑤所述的上半波提取器根据输入的所述的二值化RF信号(RFS)对所述的均衡RF 信号提取上半波当二值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，便开始提取所述均衡RF信号值， 当二值化RF信号(RFS)为逻辑“0”时便停止提取并保持电平值，得到RF信号的上半波；
⑥所述的下半波提取器根据输入的所述的二值化RF信号(RFS)对所述的均衡RF 信号提取下半波当二值化RF信号(RFS)为逻辑“0”时，便开始提取所述均衡RF信号值， 当二值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时便停止提取并保持电平值，得到RF信号的下半波；⑦所述峰值保持器对所述的RF信号的上半波进行峰值采样保持处理当所述二 值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，对所述的RF信号的上半波进行峰值采样，当二值化RF 信号(RFS)为逻辑“0”时，对前一次提取的峰值进行保持；⑧所述二值化RF信号(RFS)通过所述的反向器生成逻辑反向的二值化RF信号 (RFS’)，该逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )控制所述谷值保持器的对所述的RF信号的 下半波进行谷值采样保持处理当所述的逻辑反向的二值化RF信号(RFS’)为逻辑“1”时， 对所述RF信号的下半波进行谷值采样，当所述逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )为逻辑 “0”时，对前一次提取的谷值进行保持；⑨所述峰值保持器的输出通过所述第二谷值探测器得到3T信号的峰值I3h，所述 谷值保持器的输出通过所述第二峰值探测器得到3T信号的谷值1%，所述均衡RF信号直接 通过所述第一峰值探测器得到14T信号的峰值I14h，所述均衡RF信号直接通过所述第一谷 值探测器得到14T信号的谷值Ι1Λ，将所述的I3H、I%、I14H和Iltt输入所述数据处理系统，该 数据处理系统根据下列公式计算待测光盘的非对称性ASYM ASYM = [ (I14H+I14L) /2- (I3H+I3L) /2]/I14,其中(Ι14Η+Ι14 )/2表示14T信号的中间值，(Ι3Η+Ι3 )/2表示3Τ信号的中间值，I14 表示14Τ信号的峰峰值，即I311-Ip所述的比较电平发生器生成比较电平(SL)的过程如下所述均衡后的RF信号通过所述第二高通滤波器滤去直流分量，得到所谓的预处 理RF信号，该预处理RF信号经所述的第二比较器、积分器和比较电平调整器后输出一个 电平(SL’)，该电平(SL’)的电压反馈至所述的第二比较器，该第二比较器对所述电平 (SL')的电压和所述的预处理RF信号进行比较若所述的预处理RF信的值大于所述的电 平(SL’ )的电压值，则输出“1”，若所述的预处理RF信号的值小于所述的电平(SL’ )的电 压值，则输出“0”，所述的积分器对“1”和“0”进行积分，所述的比较电平调整器根据积分结 果不断调整所述的比较电平(SL)所述积分器的输出为正，则将所述的电平(SL’ )的电压 值增大，所述积分器的输出为负，则将所述的电平(SL’)的电压值减小，当所述积分器的输 出为0时，则所述的比较电平调整器输出一个稳定的电平，即所述的比较电平(SL)。由于14Τ信号的幅值是最大的，所以不需要进行中间转化处理。I14h是均衡后RF 信号的峰值，I14L均衡后RF信号的谷值。本发明的技术效果本发明所述的均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、 下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二 谷值探测器、第二峰值探测器可在一片可编程逻辑门阵列上实现。本发明测量目的明确，当今市面上所有的光盘测试装置均为集成的测试装置，同 时测量很多参数，因而测试时间缓慢，价格昂贵，当只需要光盘非对称性的参数时，便出现 浪费。商用光驱读出，可编程逻辑阵列处理的方式在不降低精度的基础上极大地降低了成 本，提高了效率。
所以本发明具有原理简单，实现方便，可靠实用，能灵活扩展功能和性价比高的优点ο
图1是本发明光盘非对称性的测试装置的结构框图。图2是本发明光盘非对称性的测试装置中比较电平发生器的结构框图。图3为从均衡RF信号中获取I3h过程的波形对比示意图。图4为从均衡RF信号中获取过程的波形对比示意图。图5是包含3T 11T，14T的RF信号波形示意图
具体实施例方式下面结合实例及附图对本发明做进一步说明，但不应以此限制本发明的保护范围。先请参阅图1，图1为本发明光盘非对称性的测试装置的结构框图。由图可见，本 发明光盘非对称性的测试装置，由RF信号读出系统1、均衡器2、比较电平发生器3、第一比 较器4、高通滤波器5、上半波提取器6、下半波提取器7、峰值保持器8、谷值保持器9、反向 器10、第一峰值探测器11、第一谷值探测器12、第二谷值探测器13、第二峰值探测器14和 数据处理系统15构成，上述元部件的位置关系如下所述的RF信号读出系统1的输出端与所述的均衡器2的输入端相连，该均衡器2 有六个输出端，分别连接所述的比较电平发生器3的输入端、高通滤波器5的输入端、上半 波提取器6的第一输入端、下半波提取器7的第一输入端、第一峰值探测器11的输入端和 第一谷值探测器12的输入端；所述的高通滤波器5的输出端接所述第一比较器4的第二输入端；所述的第一比较器4的第一输入端与所述的比较电平发生器3的输出端相连，该 比较器4有四个输出端，分别与所述的上半波提取器6的第二个输入端、所述的下半波提取 器7的第二个输入端、所述的峰值保持器8的第二输入端、所述反向器10的输入端相连；所述的反向器10的输出端接所述的谷值保持器9的第二输入端；所述上半波提取器6的输出端接所述的峰值保持器8的第一输入端，该峰值保持 器8的输出端接所述第二谷值探测器13的输入端；所述下半波提取器7的输出端接所述的谷值保持器9的第一输入端，该谷值保持 器9的输出端接所述第二峰值探测器14的输入端；所述第一峰值探测器11、第一谷值探测器12、第二谷值探测器13和第二峰值探测 器14的输出端都连接至所述的数据处理系统15。本实施例中的所述RF信号读出系统1由市场上普通的商用光驱构成，将待测盘片 放置到光驱里，在普通商用光驱通电运转即读盘的时候，从处理芯片的RF信号端和地线端 各接出一条输出线，两条输出线之间的电压值便为本发明所需要的RF信号。所述的比较电平发生器3的构成(参见图2)是从输入到输出包括依次连接的第 二高通滤波器17、第二比较器18、积分器19和比较电平调整器20，所述比较电平调整器20 的输出反馈连接到所述第二比较器18的第二输入端，所述比较电平调整器20稳定后的输出即是所述的比较电平发生器3的输出。利用上述光盘非对称性测试装置进行光盘非对称性的测量方法，该方法包括如下 步骤①将待测光盘放在所述RF信号读出系统1的光驱里，在光驱通电运转即读盘的时 候，从所述RF信号读出系统1输出具有待测光盘信息的RF信号，该RF信号通过所述均衡 器2滤去杂波平滑后获得均衡RF信号，该均衡RF信号经六个输出端分别向所述的比较电 平发生器3的输入端、高通滤波器5的输入端、上半波提取器6的第一输入端、下半波提取 器7的第一输入端、第一峰值探测器11的输入端和第一谷值探测器12的输入端输入；②所述的比较电平发生器3接收所述的均衡器2的均衡RF信号后生成一个稳定 的比较电平SL并输入所述的第一比较器4 ；③所述的高通滤波器5滤去所述均衡RF信号的直流分量后，获得去直RF信号并 输入所述的第一比较器4;
④所述的去直RF信号与所述的比较电平SL在所述的比较器4进行比较若所述 的去直RF信号大于所述的比较电平SL便输出“1”，若所述的去直RF信号小于所述的比较 电平SL便输出“0”，从而得到二值化RF信号RFS，该二值化RF信号RFS分别向所述的上半 波提取器6的第二个输入端、所述的下半波提取器7的第二个输入端、所述的峰值保持器8 的第二输入端和所述反向器10的输入端输入；⑤所述的上半波提取器6根据输入的所述的二值化RF信号RFS对所述的均衡RF 信号提取上半波当二值化RF信号RFS为逻辑“ 1 ”时，便开始提取所述均衡RF信号的上半 波，当二值化RF信号RFS为逻辑“0”时，便停止提取并保持电平值，得到RF信号的上半波；⑥所述的下半波提取器7根据输入的所述的二值化RF信号RFS对所述的均衡RF 信号提取下半波当二值化RF信号RFS为逻辑“0”时，便开始提取所述均衡RF信号值，当 二值化RF信号RFS为逻辑“1”时，便停止提取并保持电平值，得到RF信号的下半波；⑦所述峰值保持器8对所述的RF信号的上半波进行峰值采样保持处理当所述二 值化RF信号RFS为逻辑“ 1，，时，对所述的RF信号的上半波进行峰值采样，当二值化RF信 号RFS为逻辑“0”时，对前一次提取的峰值进行保持；⑧所述二值化RF信号RFS通过所述的反向器10生成逻辑反向的二值化RF信号 RFS'，该逻辑反向的二值化RF信号RFS’控制所述谷值保持器9的对所述的RF信号的下半 波进行谷值采样保持处理当所述的逻辑反向的二值化RF信号RFS’为逻辑“1”时，对所述 RF信号的下半波进行谷值采样，当所述逻辑反向的二值化RF信号RFS’为逻辑“0”时，对前 一次提取的谷值进行保持；⑨所述峰值保持器8的输出通过所述第二谷值探测器13得到3T信号的峰值I3H， 所述谷值保持器9的输出通过所述第二峰值探测器14得到3T信号的谷值1%，所述均衡RF 信号直接通过所述第一峰值探测器11得到14T信号的峰值I14h，所述均衡RF信号直接通过 所述第一谷值探测器12得到14T信号的谷值Ig，将所述的I3H、I3L> I14h和Ig输入所述数 据处理系统15，该数据处理系统15根据下列公式计算待测光盘的非对称性ASYM ASYM = [ (I14H+I14L) /2- (I3H+I3L) /2]/I14,其中(I14h+I14l)/2表示14T信号的中间值，(Ι3Η+Ι3 )/2表示3Τ信号的中间值，I14 表示14Τ信号的峰峰值，即I311-Ip
请参见图2，所述的比较电平发生器3生成所述的比较电平SL的过程如下所述均衡RF信号16通过所述第二高通滤波器17滤去直流分量，得到所谓的预处 理RF信号，该预处理RF信号经所述的第二比较器18、积分器19和比较电平调整器20后输 出一个电平SL’，该电平SL’的电压反馈至所述的第二比较器18，该第二比较器(18)对所 述电平SL’的电压值和所述的预处理RF信号进行比较若所述的预处理RF信的值大于所 述的电平SL’的电压值，则输出“1”，若所述的预处理RF信号的值小于所述的电平SL’的电 压值，则输出“0”，所述的积分器19对“1”和“0”进行积分，所述的比较电平调整器20根 据积分结果不断调整所述的比较电平SL’:所述积分器19的输出为正，则将所述的电平SL’ 的电压值增大，所述积分器19的输出为负，则将所述的电平SL’的电压值减小，当所述积分 器19的输出为0时，则所述的比较电平调整器20输出一个稳定的电平，即所述的比较电平 SL0所述均衡后的RF信号16通过所述第二通滤波器17滤去直流分量，所述第二高通 滤波器17的参数与所述的第一高通滤波器5的参数一致。所述的比较电平SL为比较电平调整器20的输出，这个SL电平也同时反馈到所述 第二比较器18的第二个输入端与预处理后的RF信号进行比较。在电路启动的时候，根据 经验，将所述SL电平预设为0V，并且预设一个调整幅度，一般为0. OOlV (实践中可根据需要 自行选择合适的调整幅度)，作为所述比较电平调整器20每次调整所述SL电平时所采用的 加减幅度。所述比较电平发生器工作时，所述预处理后的RF信号与所述比较电平调整器20 反馈输入的所述电平电压值SL’通过所述第二比较器18进行比较，所述预处理后的RF信 号大于所述SL’电平的电压值时，所述第二比较器18便输出“1”，反之则输出“0”。利用所 述积分器19对“ 1 ”或“0”进行积分，其积分结果会是一条开始在零上下波动，后来平稳地 为零的曲线。所述比较电平调整器20根据积分结果不断调整所述SL电平，即所述积分器 19的输出为正则将所述比较电平SL增大一个调整幅度值，本发明中为0. OOlV ；反之则将所 述比较电平SL减小0. 001V,当稳定后便可输出所述的比较电平SL。上述“稳定”是指以此 时的比较电平SL为二值化的比较值，所述积分器19的输出为零。图3列示了 I3h的测试过程。图3. 1为原始RF信号经过所述均衡器2后得到的均 衡RF信号，图3. 2为将所述均衡RF信号经过所述高通滤波器5与所述比较电平SL通过所 述比较器4比较后得到的二值化RF信号RFS，图3. 3为所述上半波提取器6提取的所述均 衡RF信号的上半周，可以看到各波的下半周被去除。图3. 4为所述峰值保持器8对所述均 衡RF信号的上半周的处理结果，各波峰的结果被提取出来。在提取出来的各波的峰值中， 包含有3T 11T，14T等十种峰值，其中3T的峰值I3h是其中最小的，所以利用所述第二谷 值探测器13处理便可以得到图3. 5所示的I3H。图4列示了 的测试过程。图4. 1为原始RF信号经过所述均衡器2后得到的均衡RF信号，图4. 2为将二值化RF信号RFS经过所述反向器10之后得到的Ikfs信号，图4. 3 为所述半波提取器7提取的所述均衡RF信号的下半周，可以看到各波的上半周被去除。图 4. 4为所述峰值保持器9对所述均衡RF信号的下半周的处理结果，各波谷的结果被提取出 来。在提取出来的各波的谷值中，包含有3T 11T，14T等十种谷值，其中3T的谷值是 其中最大的，所以利用所述第二峰值探测器14处理便可以得到图4. 5所示的1%。
由于I14h和Iltt为整个均衡RF信号峰值和谷值，所以对所述均衡后的RF信号经所 述的第一峰值探测器11和第一谷值探测器12直接进行峰值和谷值探测便可以得到I14h和
Il4L。所述的数据处理系统15接收所述的第二谷值探测器13的I3h、第二峰值探测器14 的Ip第一峰值探测器11的I14h，第一谷值探测器12的Ι1Λ，并利用下列公式可计算待测光 盘的非对称性ASYM <formula>formula see original document page 11</formula>其中(I14H+I14L)/2表示14T信号的中间值，(I3H+I3l)/2表示3T信号的中间值，I14 表示14T信号的峰峰值，即I311-Ip
权利要求
一种光盘非对称性的测试装置，特征在于该装置由RF信号读出系统(1)、均衡器(2)、比较电平发生器(3)、第一比较器(4)、高通滤波器(5)、上半波提取器(6)、下半波提取器(7)、峰值保持器(8)、谷值保持器(9)、反向器(10)、第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)、第二峰值探测器(14)和数据处理系统(15)构成，上述元部件的位置关系如下①所述的RF信号读出系统(1)的输出端与所述的均衡器(2)的输入端相连，该均衡器(2)有六个输出端，分别连接所述的比较电平发生器(3)的输入端、高通滤波器(5)的输入端、上半波提取器(6)的第一输入端、下半波提取器(7)的第一输入端、第一峰值探测器(11)的输入端和第一谷值探测器(12)的输入端；②所述的高通滤波器(5)的输出端接所述第一比较器(4)的第二输入端；③所述的第一比较器(4)的第一输入端与所述的比较电平发生器(3)的输出端相连，该比较器(4)有四个输出端，分别与所述的上半波提取器(6)的第二个输入端、所述的下半波提取器(7)的第二个输入端、所述的峰值保持器(8)的第二输入端、所述反向器(10)的输入端相连；④所述的反向器(10)的输出端接所述的谷值保持器(9)的第二输入端；⑤所述上半波提取器(6)的输出端接所述的峰值保持器(8)的第一输入端，该峰值保持器(8)的输出端接所述第二谷值探测器(13)的输入端；⑥所述下半波提取器(7)的输出端接所述的谷值保持器(9)的第一输入端，该谷值保持器(9)的输出端接所述第二峰值探测器(14)的输入端；⑦所述第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)和第二峰值探测器(14)的输出端都连接所述的数据处理系统(15)。
2.根据权利要求1所述的光盘非对称性的测试装置，其特征在于所述的RF信号读出系 统(1)由市场上普通的商用光驱构成。
3.根据权利要求1所述的光盘非对称性的测试装置，其特征在于所述的比较电平发生 器(3)的构成是从输入到输出包括依次连接的第二高通滤波器(17)、第二比较器(18)、积 分器(19)和比较电平调整器(20)，所述比较电平调整器(20)的输出反馈端连接所述第二 比较器(18)的第二输入端，所述比较电平调整器(20)稳定后的输出即是所述的比较电平 发生器(3)的输出。
4.利用权利要求1所述的光盘非对称性测试装置进行光盘非对称性的测量方法，其特 征在于该方法包括如下步骤①将待测光盘放在所述RF信号读出系统(1)的光驱里，在光驱通电运转即读盘的时 候，从所述RF信号读出系统(1)输出具有待测光盘信息的RF信号，该RF信号通过所述均 衡器(2)滤去杂波并平滑后获得均衡RF信号，经六个输出端分别向所述的比较电平发生器(3)的输入端、高通滤波器(5)的输入端、上半波提取器(6)的第一输入端、下半波提取器 (7)的第一输入端、第一峰值探测器(11)的输入端和第一谷值探测器(12)的输入端输出该 均衡RF信号；②所述的比较电平发生器(3)接收所述的均衡器(2)的均衡RF信号后生成一个稳定 的比较电平(SL)并输入所述的第一比较器⑷；③所述的高通滤波器(5)滤去所述均衡RF信号的直流分量后，获得去直RF信号并输入所述的第一比较器⑷；④所述的去直RF信号与所述的比较电平(SL)在所述的比较器⑷进行比较若所述 的去直流RF信号大于所述的比较电平(SL)便输出“1”，若所述的去直RF信号小于所述的 比较电平(SL)便输出“0”，从而得到二值化RF信号(RFS)，该二值化RF信号(RFS)分别向 所述的上半波提取器(6)的第二个输入端、所述的下半波提取器(7)的第二个输入端、所述 的峰值保持器(8)的第二输入端和所述反向器(10)的输入端输入；⑤所述的上半波提取器(6)根据输入的所述的二值化RF信号(RFS)对所述的均衡RF 信号提取上半波当所述的二值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，便开始提取所述均衡RF信 号的上半波，当二值化RF信号(RFS)为逻辑“0”时，便停止提取并保持电平值，得到RF信 号的上半波；⑥所述的下半波提取器(7)根据输入的所述的二值化RF信号(RFS)对所述的均衡RF 信号提取下半波当二值化RF信号(RFS)为逻辑“0”时，便开始提取所述均衡RF信号的下 半波，当二值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，便停止提取并保持电平值，得到RF信号的下 半波；⑦所述峰值保持器(8)对所述的RF信号的上半波进行峰值采样保持处理当所述二值 化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，对所述的RF信号的上半波进行峰值采样，当二值化RF信 号(RFS)为逻辑“0”时，对前一次提取的峰值进行保持；⑧所述二值化RF信号(RFS)通过所述的反向器(10)生成逻辑反向的二值化RF信号 (RFS’)，该逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )控制所述谷值保持器(9)对所述的RF信号 的下半波进行谷值采样保持处理当所述的逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )为逻辑“1” 时，对所述RF信号的下半波进行谷值采样，当所述逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )为逻 辑“0”时，对前一次提取的谷值进行保持；⑨所述峰值保持器⑶的输出通过所述第二谷值探测器(13)得到3T信号的峰值I3H， 所述谷值保持器(9)的输出通过所述第二峰值探测器(14)得到3T信号的谷值1%，所述均 衡RF信号直接通过所述第一峰值探测器(11)得到14T信号的峰值I14h所述均衡RF信号 直接通过所述第一谷值探测器(12)得到14T信号的谷值Ig，将所述的I3H、I3L> I14h和Iltt 输入所述数据处理系统(15)，该数据处理系统(15)根据下列公式计算待测光盘的非对称 性 ASYM ASYM = [ (I14H+I14L) /2- (I3H+I3L) /2]/I14,其中(I14H+I14J/2表示14T信号的中间值，(Ι3Η+Ι%ν2表示3Τ信号的中间值，I14表示 14Τ信号的峰峰值，S卩Ι3Η-Ι3 。
5.根据权利要求4所述的所述的光盘非对称性测试装置进行光盘非对称性的测量方 法，其特征在于所述的比较电平发生器生成比较电平(SL)的过程如下所述均衡后的RF信号(16)通过所述第二高通滤波器(17)滤去直流分量，得到所谓的 预处理RF信号，该预处理RF信号经所述的第二比较器(18)、积分器(19)和比较电平调整 器(20)后输出一个电平(SL’)，该电平(SL’)的电压反馈至所述的第二比较器(18)，该第 二比较器(18)对所述电平(SL’)的电压和所述的预处理RF信号进行比较若所述的预处 理RF信的值大于所述的电平(SL’)的电压值，则输出“1”，若所述的预处理RF信号的值小 于所述的电平(SL’ )的电压值，则输出“0”，所述的积分器(19)对“1”和“0”进行积分，所述的比较电平调整器(20)根据积分结果不断调整所述的比较电平(SL)所述积分器(19)的输出为正，则将所述的电平(SL’)的电压值增大，所述积分器(19)的输出为负，则将所述 的电平(SL’ )的电压值减小，当所述积分器(19)的输出稳定地为0时，则所述的比较电平 调整器(20)输出一个稳定的电平，即所述的比较电平(SL)。
全文摘要
一种光盘非对称性的测试装置与方法，该装置由该装置由RF信号读出系统、均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器和数据处理系统构成，所述的均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器可在一片可编程逻辑门阵列上实现，本发明具有原理简单，实现方便，可靠实用，能灵活扩展功能和性价比高的优点。
文档编号G11B7/095GK101819787SQ20101014810
公开日2010年9月1日 申请日期2010年4月15日 优先权日2010年4月15日
发明者李曹建, 王国华, 阮昊 申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所