专利名称：电子零件托盘组件的制作方法
技术领域：
本实用新型的技术领域涉及承载电子零件(例如:记忆卡)的托盘组件。
背景技术：
记忆卡检测机的主要功能包括检测记忆卡的电性效能或容量，而依据检测结果可进行记忆卡容量分类、等级分类或良莠品分类等。而分类后的挑拣方式可分为自动化及半自动化，所谓的自动化是在记忆卡检测机中附设自动化挑拣装置，依照检测结果将特定的记忆卡从检测托盘中挑拣出来并各别汇集。所谓的半自动化，则是由操作人员以手工方式将特定记忆卡挑拣出来。若是半自动化挑拣，记忆卡检测机必需提供检测结果供操作人员判读，最典型的一种方式，是在一萤幕上显示检测结果，操作人员可参照萤幕上的提示，从对应的检测托盘上挑出特定的记忆卡。检测托盘上设有矩阵排列的槽，每一槽中可放置一记忆卡，检测托盘承载着记忆卡进行检测，检测探针接触记忆卡，从而获得记忆卡的电性资讯。检测探针的接触对记忆卡形成一下压的力量，使记忆卡沉入检测托盘的槽中，以致后续以人手挑拣时，难以顺利的从槽中取出记忆卡。此外，操作人员依据记忆卡检测机的荧幕所提供的检测结果来挑拣取出特定的记忆卡时，因缺乏视觉辨识的辅助，容易发生挑拣错误的问题。
实用新型内容本实用新型的目的在于解决记忆卡于受测时因受检测探针的接触推压而沉入检测托盘的槽中，以致人手难以取出的问题。以及操作人员挑拣取出特定的记忆卡时，因缺乏视觉识别的辅助，以致挑拣错误率增加的问题。为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案:一种电子零件托盘组件，它包含:—顶推载盘，该顶推载盘具有一平板型的基座，该基座上矩阵排列设有数个顶推柱及导光结构；一检测托盘，具有一板状的本体，该本体的上表面矩阵排列设有数个承置槽，每一承置槽中可放置一电子零件；该本体相对于每一承置槽均设有一穿孔，该本体于每一承置槽的邻侧各设一透光结构；该检测托盘被置于该顶推载盘上，该顶推柱将该电子零件往上推顶，该导光结构和该透光结构的位置呈上下对应。所述顶推柱为向上凸出于基座的柱体，该顶推柱的外部具有一支撑缘，该支撑缘支撑该检测托盘的底面。所述导光结构为穿透该基座的孔。所述顶推柱的顶端设一推触元件，该推触元件是以软弹性材料或塑料制成。所述顶推柱具有一内透光结构。所述内透光结构为贯穿该顶推柱和该基座的孔。所述顶推柱的顶端设一推触元件，该推触元件是可透光的。[0015]所述基座边缘以垂直侧壁围构出一容纳该检测托盘的托盘槽。所述顶推载盘相对的二垂直侧壁各设一开口。所述检测托盘的透光结构为穿透该本体的孔。本实用新型的有益效果是:当检测托盘被放置于顶推载盘上，通过所述顶推柱，将电子元件往上推，解决电子零件因检测过程中受探针的接触推压沉入承置槽中而难以手工取出的问题，方便操作人员以手动取出电子零件。通过所述顶推载盘的导光结构和检测托盘的透光结构，使操作人员可依照显示器的直观式介面所显示的特定光色来挑拣电子零件。通过所述顶推载盘的内透光结构，使操作人员在挑拣取出电子零件的同时可再一次比对确认该特定光色，以提高挑拣电子零件的正确率。
图1为本实用新型顶推载盘的立体外观图。图2为本实用新型顶推载盘的俯视平面图。图3为本实用新型顶推载盘的剖面图。图4为本实用新型检测托盘的立体外观图。图5为本实用新型检测托盘的俯视平面图。图6为本实用新型检测托盘的剖面图。图7为本实用新型顶推载盘与检测托盘的立体分解图。图8为本实用新型顶推载盘与检测托盘的组合剖面图。图9为本实用新型顶推载盘与检测托盘的局剖剖面暨组合动作示意图。图10为本实用新型显示器的直观式介面示意图。附图标号:10:检测托盘；11:本体；12:承置槽；13:电子零件；14:穿孔；15:透光结构；30:顶推载盘；31:基座；32:垂直侧壁；33:托盘槽；34:开口 ；35:顶推柱；36:导光结构；37:支撑缘；38:推触元件；39:内透光结构；50:显示器；51:直观式介面；53:轮廓；54:框格。
具体实施方式
以下仅以实施例说明本实用新型可能的实施态样，然而并非用以限制本实用新型所欲保护的范畴，先予叙明。请参阅图7和图8，本实用新型的电子零件托盘组件包括一检测托盘10和一顶推载盘30。请参阅图1、图2和图3，该顶推载盘30具有一平板型的基座31，该基座31边缘以垂直侧壁32围构出一可容纳该检测托盘10的托盘槽33。为了便于从该顶推载盘30上取放该检测托盘10，于相对的二垂直侧壁32各设一开口 34，以便人手接触位于该基座31中的检测托盘10。该基座31上以矩阵排列的方式设有多数个顶推柱35及导光结构36。该顶推柱35是向上凸出于基座31的柱体。该导光结构36邻近该顶推柱35，该导光结构36为穿透该基座31的孔。[0036]请参阅图9，每一顶推柱35通过柱身直径差异的手段形成一支撑缘37，用以支持该检测托盘10的底面。每一顶推柱35的顶端设一推触元件38，该推触元件38是以软弹性材料或塑料制成。每一顶推柱35都具有一内透光结构39，该内透光结构39是贯穿该顶推柱35和该基座31的孔。配合该内透光结构39，该推触元件37为可透光的。此外，所述的内透光结构39亦可由可透光的顶推柱35来实现，亦即该顶推柱35是由透光材料制成。请参阅图4、图5和图6，该检测托盘10，具有一板状的本体11，该本体11的上表面以矩阵方式排列数个的承置槽12，每一承置槽12中可放置一尺寸面积以及厚度相合的电子零件13 (例如:记忆卡)。该本体11相对于每一承置槽12均设有一穿孔14，该本体11于每一承置槽12的邻侧均设有一透光结构15，该透光结构15为穿透该本体11的孔。检测托盘10承载着电子零件13于检测机中进行检测，从而获得电子零件13的电性资讯。检测完成后，该检测机将检测结果显示于一平台式的显示器50，如图10，该显示器50以一直观式介面51表达检测结果。所述的直观式介面51，包括一与该顶推载盘30的外观尺寸和形状完全相符的轮廓53，在该轮廓53中具有与每一顶推柱35及承置槽12对应的框格54，该框格54显示辨识讯号，所述的辨识讯号为检测机依检测结果而定的特定光色。因此，操作人员可从该直观式介面51中各框格54所显示的特定光色而得知该检测托盘10中所有电子零件13的检测结果和分类情形。如图7、图8和图9，将顶推载盘30平放于显示器50上，上述框格54中的特定光色可从该顶推载盘30的导光结构36及内透光结构39显露。接着，将检测托盘10放置于该顶推载盘30的托盘槽33中，所述的每一顶推柱35穿过该检测托盘10的每一穿孔14，直到每一顶推柱35的支撑缘37支持该检测托盘10的底面为止。每一顶推柱35以其推触元件38接触电子元件13的底面，并将电子零件13略微往上推，使其略凸出于该顶推载盘30的上表面，解除电子零件13因检测过程中受探针的接触推压沉入承置槽12中而难以手动取出的问题。当检测托盘10与顶推载盘30结合后，显示器50的框格54的特定光色可以通过该顶推载盘30的导光结构36及检测托盘10的透光结构15显露出来，操作者即可以视觉辨识，从检测托盘10中取出特定光色所指示的电子零件13。电子零件13被取出的同时，与之对应的顶推柱35的推触元件38即显露于该检测托盘10中，该推触元件38因内透光结构39而呈现该显示器50的框格54的特定光色，因此，操作者通过该顶推载盘30的导光结构36及检测托盘10的透光结构15做第一次的辨识，取出取出特定光色所指示的电子零件的同时，通过推触元件38所显示的特定光色做第二次的比对辨识，通过两次的比对确认，确定所挑拣及取出的电子零件就是该特定光色所指不的，据此降低挑栋错误率。
权利要求1.一种电子零件托盘组件，其特征在于，它包含: 一顶推载盘，该顶推载盘具有一平板型的基座，该基座上矩阵排列设有数个顶推柱及导光结构； 一检测托盘，具有一板状的本体，该本体的上表面矩阵排列设有数个承置槽，每一承置槽中可放置一电子零件；该本体相对于每一承置槽均设有一穿孔，该本体于每一承置槽的邻侧各设一透光结构；该检测托盘被置于该顶推载盘上，该顶推柱将该电子零件往上推顶，该导光结构和该透光结构的位置呈上下对应。
2.根据权利要求1所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述顶推柱为向上凸出于基座的柱体，该顶推柱的外部具有一支撑缘，该支撑缘支撑该检测托盘的底面。
3.根据权利要求1所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述导光结构为穿透该基座的孔。
4.根据权利要求1所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述顶推柱的顶端设一推触元件，该推触元件是以软弹性材料或塑料制成。
5.根据权利要求1所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述顶推柱具有一内透光结构。
6.根据权利要求5所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述内透光结构为贯穿该顶推柱和该基座的孔。
7.根据权利要求6所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述顶推柱的顶端设一推触元件,该推触元件是可透光的。
8.根据权利要求1所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述基座边缘以垂直侧壁围构出一容纳该检测托盘的托盘槽。
9.根据权利要求8所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述顶推载盘相对的二垂直侧壁各设一开口。
10.根据权利要求1所述的电子零件托盘组件，其特征在于，所述检测托盘的透光结构为穿透该本体的孔。
专利摘要一种电子零件托盘组件，它包含一顶推载盘，该顶推载盘具有一平板型的基座，该基座上以矩阵排列设有数个顶推柱及导光结构；一检测托盘，具有一板状的本体，该本体的上表面矩阵排列设有数个承置槽，每一承置槽中可放置一电子零件；该本体相对于每一承置槽均设有一穿孔，该本体于每一承置槽的邻侧各设一透光结构；上述托盘槽容纳该检测托盘，该顶推柱将该电子零件往上推顶，该导光结构及该透光结构将一显示器的直观式介面所显示的等定光色透露出来。
文档编号G11C29/56GK203055467SQ20122068877
公开日2013年7月10日 申请日期2012年12月13日 优先权日2012年12月13日
发明者姚圳杰, 柯彦旭 申请人:益明精密科技有限公司