光盘库装置的光盘检查方法和光盘库装置制造方法
光盘库装置的光盘检查方法和光盘库装置制造方法
【专利摘要】本发明的目的为在装载多个光驱动器的光盘库装置中降低温度变化导致的记录再现性能的劣化。在本发明的光盘库装置中，分析光盘的品质劣化的原因，为了实施与该原因相应的恢复，测量上述光盘库装置内的温度，基于上述测量到的温度，决定检查上述光盘的检查周期，根据上述决定的周期，由上述光驱动器进行对储存在上述光盘库装置中的已记录的上述光盘的记录品质的检查。
【专利说明】光盘库装置的光盘检查方法和光盘库装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及装载有多个光盘装置的光盘库装置的光盘检查方法。
【背景技术】
[0002]与本发明相关的【背景技术】例如有专利文献I中记载的技术。专利文献I中记载了如下内容:“测定光盘的记录品质并生成盘管理信息和测定履历信息，进一步地，基于这些盘管理信息和测定履历信息决定下次记录品质的测定时间。在所决定的该测定时间到来时，光盘管理装置再次测定光盘的记录品质”。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1:日本特开2008-204580号公报
【发明内容】
[0006]发明要解决的课题
[0007]上述专利文献I中有根据光盘的记录品质的测定结果所示的劣化程度来决定测定时间的记载。但在实际的光盘中不仅有记录品质的随时间劣化，例如还有因伤痕或尘埃的影响而被判定为记录品质劣化的情况。
[0008]本发明鉴于以上而完成，本发明的目的为对光盘库装置分析光盘品质劣化的原因并实施与其原因相应的恢复。
[0009]用于解决课题的方案
[0010]为了解决上述问题，作为一个例子，本发明的装载有光盘和光驱动器的光盘库装置的光盘检查方法中，测量光盘库装置内的温度，根据测量到的温度决定检查光盘的检查周期，根据决定的周期，由光驱动器进行对储存在光盘库装置中的已记录的光盘的记录品质的检查。
[0011]发明效果
[0012]通过本发明能够对光盘库装置根据光盘的品质劣化的原因实施合适的恢复处理。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1是第一实施例中决定光盘的检查周期的流程图。
[0014]图2是第一实施例中的光盘库装置的框图。
[0015]图3是第一实施例中的光驱动器的框图。
[0016]图4是第三实施例中的光盘库装置的框图。
[0017]图5是表示环境温度与检查周期的图。
[0018]图6是表示光盘的寿命预测的图。
[0019]图7是表示环境温度与光盘寿命的关系的图。
[0020]图8是说明第一实施例中的光盘检查的流程图。
[0021]图9是说明第二实施例中的光盘检查的流程图。
[0022]图10是说明第三实施例中的光盘检查的流程图。
[0023]图11是说明第四实施例中的光盘检查的流程图。
[0024]图12是第五实施例中的光盘库装置的框图。
[0025]图13是表示第六实施例中的光盘上的记录区域的图。
[0026]图14是表示记录功率与记录品质的关系的图。
[0027]图15是表示记录功率与记录品质的关系的图。
[0028]图16是表示记录功率与再现信号的波形对称性指标的关系的图。
[0029]图17是说明使用检查用光盘的检查方法的流程图。
[0030]图18是表示记录功率与品质检查值的关系的图。
[0031]图19是表示用于尘埃检查的光盘检查区域的图。
[0032]图20是表示用于尘埃检查的光盘检查区域的图。
[0033]符号说明:
[0034]10......光盘库装置
[0035]11......库控制部
[0036]14......主机接口
[0037]15……光驱动器选择部
[0038]16......驱动器接口
[0039]32……光拾取器
[0040]33......控制器接口
[0041]40......光盘
[0042]50......盘旋转机构
[0043]51......滑动机构
【具体实施方式】
[0044]以下利用【专利附图】
【附图说明】依照本发明的光盘库装置的实施例。
[0045]【实施例1】
[0046]参考附图对作为本发明的第一实施例的光盘库装置的结构和动作进行详述。其中，作为光盘，本实施例使用蓝光光盘，但并不限于此。可为蓝光光盘之外的全息记录等的光盘，或可装载其它可更换介质及其记录再现装置。
[0047]图2是第一实施例中的光盘库装置的框图。本实施例的光盘库装置10由库控制部
11、换盘机构12、容纳多个光盘40的数据盘储存部13、备用盘储存部132、废盘储存部133、主机接口 14、光驱动器选择部15、驱动器接口 16、光盘监测部17、存储器18、温度计19和多个光驱动器30所构成。
[0048]光盘库装置10经由主机接口 14与主机20连接，接收数据记录或再现等各种命令和待记录的数据，发送命令的执行结果和再现的数据。
[0049]数据盘储存部13配备多个插槽，每个插槽内能够储存一个光盘40。
[0050]备用盘储存部132在光盘库装置10的通常动作中不使用，在光盘通过检查被判定为超出劣化检测阈值的情况下提供光盘40。
[0051]废盘储存部133为光盘库装置10在盘检查中判断为超出劣化检测阈值的光盘40的储存部。
[0052]库控制部11具有控制光盘库装置10的全部动作的功能。在对储存在数据盘储存部13中储存的光盘40进行数据存取时，即存储在光盘40中的数据的再现时或对光盘40写入数据时，使换盘机构12动作，从数据盘储存部13取出规定的光盘40，搬送到进行数据存取的光驱动器30并装载。或者相反地，对一定时间未有数据存取的光盘40从进行数据存取的光驱动器30弹出，通过换盘机构12搬送到数据盘储存部13的规定插槽并储存。此夕卜，光驱动器选择部15经由驱动器接口 16与各光驱动器30相连接，规定的光驱动器30接收记录或再现等各种命令。
[0053]光盘监测部17执行光盘40的状态管理，存储器18保存光盘监测部17检测出的记录在各光盘40中的数据管理信息、各光盘40的记录品质、光盘40的检查周期、环境温度坐寸ο
[0054]温度计19监测光盘库装置10的内部温度。当库控制部11对温度计19进行环境温度取得请求指示时，温度计19向库控制部11发送当前的环境温度的测量结果。光盘监测部17定期地从库控制部11接收温度的测量结果并保存在存储器18中。
[0055]图3是第一实施例中的光驱动器30的框图。本实施例的光驱动器30由光驱动器控制部31、光拾取器32、控制器接口 33、盘旋转机构50、滑动机构51、伺服控制部52、伺服信号生成部53、再现信号生成部54、再现信号二进制化部55、记录品质检查部56、编码部57、和解码部58所构成。
[0056]光驱动器控制部31控制光驱动器30的全部动作。即，通过伺服控制部52进行盘旋转机构50中装入的光盘40的旋转控制，驱动滑动机构51进行使光拾取器32在光盘40的半径方向上移位的寻轨控制和进给控制，驱动光拾取器32的物镜进行聚焦控制和跟踪控制。
[0057]此外，光驱动器控制部31控制光拾取器32的激光器发光。在记录时，由编码部57将从库控制部11经由控制器接口 33发送来的记录数据信号转换成基于规定的调制规则的NRZI信号，供给到光驱动器控制部31，光驱动器控制部31转换成与该NRZI信号对应的记录策略(发光脉冲串)，使激光器根据规定光强度和脉冲串发光。
[0058]来自光盘40的发射光量被光拾取器32的光检测器接收而被转换成电信号,发送到伺服信号生成部53和再现信号生成部54。伺服信号生成部53根据适合装入的光盘40的检测方法来选择、生成各种伺服信号，供给到光驱动器控制部31。伺服信号至少包含聚焦误差信号和跟踪误差信号。光驱动器控制部31基于这些伺服信号通过上述伺服控制部52驱动物镜，进行聚焦伺服和跟踪伺服。
[0059]再现信号生成部54配备波形均衡电路和A/D转换器，对从光拾取器32供给的模拟的再现信号进行规定的波形均衡化后，进行采样和量化，转换成数字信号，供给到再现信号二进制化部55。
[0060]再现信号二进制化部55配备横向滤波器和维特比(Viterbi)解码电路。从再现信号生成部54供给的数字信号由横向滤波器均衡化为规定的PR类别，由维特比解码电路进行最大似然解码，将该均衡波形转换成基于规定的调制规则的NRZI信号。由再现信号二进制化单元55生成的NRZI信号通过解码部58进行数据的解调处理，转换成再现数据信号，经由控制器接口 33发送到库控制部11。
[0061]记录品质检查部56能够进行数据的纠错处理等，检查再现错误率。此外，能够检查作为记录品质指标的再现信号的波形对称性指标β和信号振幅的调制度M或者作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动(jitter)等。
[0062]光盘库装置10定期地检查光盘40的品质，生成盘管理信息和检查履历信息，通过光盘监测部17将各信息保存在存储器18中。本光盘库装置10定期地对储存在数据盘储存部13中的所有已记录的光盘40进行品质检查，在检查结果超过检查阈值的情况下，对储存在备用盘储存部132中的光盘40进行记录在该光盘的数据的重写。以下对该动作详细地进行说明。
[0063]图1是第一实施例中光盘库装置10决定光盘40的检查周期的流程图。库控制部11定期地通过温度计19测量光盘库装置10的温度(S10)。温度测量后，光盘监测部17参考当前环境温度和表示该环境温度下光盘40的劣化进度的关系的表格(S11)。图5是环境温度与检查周期的表格。库控制部11根据图5中记录的温度范围设定检查周期(S12)。此夕卜，对温度测量的结果与检查周期的变更方法在后面说明。此外，根据适当地更新后的记录品质检查计划，对储存在光盘库装置10中的所有已记录的光盘40依次进行检查。
[0064]接着，对库控制部11中记录品质检查计划的更新方法利用图6至图7进行说明。
[0065]图6是表示根据阿伦尼斯模型等推算的光盘寿命预测的图。阿伦尼斯模型为温度作为活性化能量的化学反应模型，通过环境温度变化来进行估测材料的故障预测。图6表示高温(35°C)环境下品质检查值的推移和低温(25°C)环境下品质检查值的推移。在高温环境下，由于活性化能量比低温环境下更高，化学反应进行更快，因此光盘的劣化进度较快。在考虑长期保存的情况下，预计在35°C环境下保管的光盘比在25°C环境下保管的光盘更快地发生再现错误。因此，通过使在25°C环境下的各光盘40的检查期间b比从光盘库装置10中达到推荐进行光盘40的重写的检测阈值到实际产生再现错误的期间B更短，能够通过品质检查正确地实施重写，确保作为光盘库装置10的可靠性。并且这对于35°C环境也同样，以比从达到推荐光盘40重写的检测阈值到发生再现错误的期间A更短的检查期间a实施各光盘的检查。通过本方法，光盘库装置10能够不发生再现错误而向主机20发出重写请求的警告并适当地实施重写。此外，作为表示品质的是通过纠错所计算出的错误率或错误数，但也可使用间接地表示该趋势的再现信号的波形对称性指标β、信号振幅的调制度M或作为二进制化信号在时间轴上的摆动的抖动等。
[0066]在本发明中，光盘的劣化检测阈值的确定、再现错误以及分别到达它们的到达时间即预测劣化时间是重要的要素。图7表示环境温度与光盘寿命的关系。环境温度为光盘管理中的气温，光盘寿命为通常表示以纠错的错误率难以确保兼容性为目标的数值，在本发明中，在蓝光光盘的情况下，以4.2Χ10_3为劣化检测阈值。此外，再现错误依赖于错误的发生原因，采用2.0X10'但这些数值并不限于上述数值。可根据光驱动器的再现性能、光盘库装置的控制方法替换这些数值。在图7中为在环境温度80°C、70°C、60°C三点检查实际到达劣化检测阈值的时间的结果。在这些环境温度下，绘制光盘的错误率达到4.2X 1-3的时间。展示了对这三点作拟合直线并外延得到25°C的寿命预测时间的结果。例如，在图7 中，根据 80°C:0.19 年、70。。:0.46 年、60°C:1.18 年这一结果，得到 25°C:50.0 年。接着求出与到达再现极限(再现错误)的数值的关系。在25°C的情况下，若为经过60年达到再现错误的错误率，则预测相对于检测阈值经过1.2倍的时间后将发生错误。即，只要在达到劣化检测阈值开始的1.2倍的期间完成所有已记录的光盘的检查，则可在任何光盘因随时间劣化而发生再现错误之前检测。
[0067]此外，在图5中以表格表示环境温度与检查周期的关系，而如图7所示，绝对温度与寿命的关系为直线近似式。因此，可将该直线近似式保存在存储器中，根据环境温度的测量而适当地变更检查周期。此外，在温度变化较大的保存环境或运输环境中，除了利用温度平均值的估算，也可考虑以该测量期间内的峰值温度为主的情况。因此，可为利用该测量期间的最大值的计算，或可为对各温度区间的平均值和最大值进行加权的计算方法。
[0068]根据以上的条件，光盘监测部17基于检测温度计算检查周期并更新光盘的检查周期。假定作为光盘的保存环境的最差条件(最高温度条件)为80°C的情况下，预测从所述检测阈值到发生再现错误的劣化期间为约两周。因此，光盘的检查周期的更新期望使用至少每周一次左右的平均值。这是因为如果小于一天，则预想到会高灵敏度地检测到一天的气温变动的影响或光盘运输时等特殊状态。而且因为光盘是适合于长期保存的介质，如果为每周一次以上的频度高的周期，则有可能对光盘库装置的正常动作产生影响。库控制部11用于光盘检查的占用率期望至多为1%左右。这是因为，通过在光盘库装置的使用中使光盘的检查不为主要用途或者抑制使用率，能够充分利用光盘的长期保存的特性。此外，1%的占用率为一台光驱动器一周时间约检查一个光盘的比例。
[0069]接着，图8是光盘检查的流程图。虽然未图示，首先在光盘监测部17中预先确定检查的顺序。例如，可为数据盘储存部13的插槽的编号管理，或可为利用光盘的固有ID的管理。接着，库控制部η基于图1所示的光盘检查周期来指示换盘机构12，将下一张待检查的光盘40搬送到光驱动器30。换盘机构12将该光盘40搬送到光驱动器30后，光驱动器30装载光盘40，开始记录品质检查(S20)。记录品质期望为除去连续发生的突发错误之外的错误率，但也可使用一般计算的错误率，或者使用作为间接指标的再现信号的波形对称性指标β、信号振幅的调制度M或作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动等。在此，记录品质检查为库控制部11依次地将上述光盘装载到光驱动器中并计算上述光盘的各纠错块单位的错误数或错误率。对于检查的光盘的结果，光盘监测部17将该光盘40的ID、各纠错块单位的错误数或错误率及其地址保存在存储器18中。但由于有存储器空间的制约，可不保存全部的纠错块单位。由于实际上关注的是品质差的块，因此可仅保存品质最差的纠错块的错误数或错误率，或者保存包括品质最差的纠错块在内的多个纠错块的错误数或错误率的结果。
[0070]接着，库控制部11进行记录品质检查的结果是否超过作为迁移阈值即劣化检查阈值的4.2X10_3的判定(S21)。此外，判定基准并不将该数值限定于上述数值。可根据光驱动器的再现性能和光盘库装置的控制方法替换这些数值。在超过劣化检测阈值的情况下，对储存在备用盘储存部132中的备用光盘40实施重写。此外，在S21中，在劣化检测阈值之下的情况下可确认至少在下一光盘检查之前的期间能够再现。因此，库控制部11指示该光盘40搬送到原来的数据盘储存部13中。
[0071]【实施例2】
[0072] 图9是表示第二实施例的流程图。以下仅对与实施例1不同的部分进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的步骤附以相同记号，省略其重复说明。
[0073]在实施例2中，在光盘检查的流程中，超过迁移阈值即劣化检测阈值时的步骤不同。在超过迁移阈值的情况下，库控制部11通过向主机发出警告，来执行对光盘库装置10的用户和管理公司的通知(S32)。本实施例对不具备备用盘储存部132和废盘储存部133的光盘库装置10以及在没有储存在备用盘储存部132中的光盘40的情况下是有效的方法。通过该警告，发出装载在所述光盘库装置10中的光盘40的状态劣化或者环境恶化、光盘库装置10的运行变得困难的提醒。在发出该警告的情况下，期望迅速地实施装载在该光盘库装置10中的光盘40的重写、交换。
[0074]【实施例3】
[0075]图4是表示第三实施例的框图，图10是表示第三实施例的流程图。以下仅对与实施例I不同的部分进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的步骤附以相同记号，省略其重复说明。
[0076]图4为对图2附加盘清洁部134后的框图。此外，图10中，在光盘检查流程中是否超过迁移阈值即劣化检测阈值的判断(S21)之后不同。在迁移阈值之下的情况下，判断为盘未劣化。但在实际中，存在从记录的初始状态开始仍在迁移阈值之下但被确认为劣化的情况。为了严密地检测出这样的要素，通过与初始记录时的检查结果或上一次检查该光盘的结果相比较，来进行详细的判断。在S411中，与第一次检查的结果即记录后立刻检查的结果或该光盘上一次的检查结果相比较，纠错数增加100字节以上的情况为急剧的变化，假定有光盘的劣化或尘埃、伤痕等干扰的影响。因此，虽然本来在迁移阈值之下，但通过事先对光盘的再现性能劣化发出盘清洁的警告，实现实际达到迁移阈值之前的对策。此外，记录品质的检查值即纠错数采用100字节，但并不限于此。例如可为根据光盘的再现能力、光盘库装置的系统控制或调制方式等导出的数值。
[0077]判断指标为两阶段，首先是该光盘是否急剧地品质劣化，其次是作为参考对比的其它光盘即全体光盘是否急剧地品质劣化。若确认该光盘急剧地品质劣化，可判断为个体原因，而若其它光盘也有同样的趋势，则可判断为全体趋势的变动原因。例如，在因周围环境的变化而在光盘库装置中进入有尘埃的情况下，根据其大小而异，会检测到大量突发错误。因而首先实施光盘的清洁，在未见改善的情况下可判断为盘上产生的伤痕或者与伤痕等同、无法除去。作为其它光盘的相对品质检查，为了测得全体的趋势而使用从检查开始后每次检查时取得的平均值。将所述光盘的纠错数的平均值与该光盘的纠错数相比较，在增加了 100字节以上的情况下为急剧的变化，判断为异常。因此，在与其它光盘的相对品质检查中确认100字节以上的增加的情况下，在S42中也与上面同样地对光盘的再现性能劣化事先发出盘清洁的警告，实现实际达到迁移阈值之前的对策。
[0078]此外，在平均值的计算中也可使用品质检查值的移动平均。若温度环境的变化小至1、2°C左右，并且检测时间为一个月左右的期间，则可判断环境变化中不发生较大变化。例如，在每周两张左右的检查计划中，对每个月10张左右的检查履历进行平均，实施相对比较。由于假定了光盘自身的个体差异，因此期望至少为10张左右。此外，在与其它光盘的相对比较中，可改变作为阈值的品质检查值。检测灵敏度因进行基准值平均的参数而变化，需要加以注意。
[0079] 在超过迁移阈值的情况下，库控制部11向主机发出光盘40的清洁警告(S42)。根据光盘的清洁警告，库控制部11向用户或管理公司通知光盘的状态发生劣化。之后，库控制部11指示换盘机构12将光盘40搬送到盘清洁部134。换盘机构12将光盘40搬送到盘清洁部134。盘清洁部134执行该光盘40的表面清洁，除去光盘表面附着的尘埃或伤痕坐寸ο
[0080]之后，库控制部11指示换盘机构12将该光盘40搬送到光驱动器30。换盘机构12将光盘40从盘清洁部134搬送到光驱动器30。光驱动器30装载光盘40再次检查光盘40的记录品质。在盘清洁有效、记录检查的结果低于劣化检测阈值的情况下，由于能够与通常的光盘同样地实施记录再现动作，因此结束光盘检查。但在盘清洁无效果、记录品质检查的结果仍高于劣化检测阈值的情况下，为了严格区分其原因，库控制部11判定该记录品质恶化的区域是否发生作为连续错误的突发错误(S43)。在突发错误在2000字节以下的情况下，由于光盘40的劣化原因并非突发错误而是取决于盘自身，因此库控制部11对储存在备用盘储存部132中的光盘40实施重写(S22)。
[0081]接着在S43中，在突发错误在2000字节以上的情况下，由于光盘40的劣化原因为突发错误，因此库控制部11提取包含该光盘40的突发错误的数据文件，对储存在备用盘储存部132中的光盘40仅实施该数据文件的重写。此外，突发错误数使用2000字节，但并不限于此。例如可为根据光驱动器的再现能力或光盘库装置的系统控制导出的数值。
[0082]由此，光盘库装置10能够根据光盘40中品质劣化的原因来实施合适的重写。
[0083]【实施例4】
[0084]图11是表示第四实施例的流程图。表示第四实施例的框图与图2相同。以下仅对与实施例1不同的点进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的步骤附以相同记号，省略其重复说明。
[0085]光盘因其劣化原因而在品质指标中的检测结果不同。因此对光盘的劣化原因进行比较。光盘的劣化原因大致分为作为光盘自身劣化的随时间劣化、使用系统导致的伤痕和保存环境导致的尘埃。作为结果，它们都被检测为再现品质的劣化，但通过区分其影响度、影响范围，能够提高光盘的利用效率。可预测到，这些原因中尘埃导致的影响尤其对光盘表面有比较平均的影响。除此之外，随时间劣化有尤其在作为光盘端面的外周侧上检测出品质变化的趋势。此外，伤痕因光盘库装置的搬送装置而产生，其主要发生在光盘的外周侧的可能性较高。这是因为光盘与搬送机构或光盘储存部的接触点为光盘的外周部。尤其光盘的外周部，相对于12cm的直径，距离数据区域仅有2_左右的空白，搬送机构导致的品质劣化的可能性较高。搬送机构导致的伤痕、尤其是大范围伤痕可检测出作为连续缺陷的突发错误。由上，作为劣化的判定，将遍布光盘整体的离散的突发错误预测为尘埃的原因，将偏向盘外周的突发错误预测为随时间劣化或伤痕所导致。图19是表示用于尘埃检查的光盘检查区域的图。检查区域A为从光盘的内周到中部的区域，认为尘埃等的影响大致相同。作为对照，检查区域B在光盘的外周部(例如从55mm到58mm)的范围，除了上述尘埃的影响之外，也包含了搬送机构导致的伤痕等原因和记录品质的随时间劣化等影响，难以惟一地确定原因。
[0086]因此，将检查范围限定在检查区域A来进行检查。库控制部11在检查区域A中仅检测连续地发生的突发错误。通过累加突发错误数来检测光盘自身存在的缺陷等导致的突发错误与尘埃导致的突发错误。通过检测这些差别，能够判断尘埃导致的错误的增加量。因此，图11中的记录品质的检查表示突发错误(S20)。针对突发错误，与所检查的光盘在记录后检查的结果或者在记录前检查的结果进行比较(S51)。其结果是各纠错块单位的突发错误在1000字节以上的情况下，认为是尘埃导致的品质劣化。因此，在S52中，库控制部11可通过向主机发出盘清洁的警告来确定光盘的保管环境中尘埃的原因导致的品质劣化。
[0087]图20是表示用于尘埃检查的光盘的检查区域的图。检查区域A的范围与图19不同。在图19中，定义检查区域A为检查区域B之外的区域，但也可如图20所示，为光盘的内周或中部的部分区域。通过限制检查区域A的范围可获得检查时间的缩短效果。
[0088]【实施例5】
[0089]图12是表示第五实施例的框图。以下仅对与实施例1不同的点进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的模块附以相同记号，省略其重复说明。
[0090]相比图2，图12配备了光驱动器30以及品质检查用光驱动器301。在实施例1中，装载在光盘库装置中的光驱动器30的任意个实施品质检查。在图12中，品质检查用光驱动器301实施所有的品质检查。通过本实施例，由于能够始终使用相同光驱动器检测品质检查值，能够降低光驱动器的个体差异导致的检查值的波动。
[0091]此外，品质检查用光驱动器301中，对于对再现性能的差异产生较大影响的例如IV放大器等部件，可通过特别地安装与其它光驱动器30不同的部件来实现光驱动器自身的再现性能的提闻，能够闻精度地检查光盘的品质。
[0092]【实施例6】
[0093]图13是表示第六实施例的光盘的图。图10是表示第六实施例的流程图。以下仅对与实施例1不同的点进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的模块附以相同记号，省略其重复说明。
[0094]图13为在规定的地址设有5个记录条件各异的区域的光盘。图6表示存在该光盘的保存时间因光驱动器的记录条件而改变的可能性。图6为对品质检查值相同的光盘进行比较的结果，实际中因光驱动器与光盘的组合以及进一步地因环境温度等的不同，即使基于相同参数的记录，记录结果也不同。考虑了这些变动因素的设计为如图13所示的使用多种记录功率的带状结构。通过检查该带状结构的品质，能够通过一张该光盘的检查实现上述光盘库装置中装载的所有光盘的品质检查。
[0095]图14是表示记录功率与记录品质在老化后的检查结果的图。横轴为记录功率，相当于图13的各条带的记录功率。纵轴为品质检查值，期望采用除去连续地发生的突发错误之外的错误率，但也可使用一般计算的错误率，或可使用作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动等。根据图14的结果，在记录功率较高的记录状态中显著地表现出品质劣化。除了随时间劣化，伤痕或尘埃等导致的劣化也可认为是品质劣化的原因。
[0096]图15是表示记录功率与记录品质在老化后的检查结果的图。但老化后的劣化原因不同。图14的情况为光盘自身发生的随时间劣化，而图15的情况为伤痕或尘埃等导致。根据以上的结果可知，因光盘老化后的劣化原因的不同，其品质劣化的状况不同。通过恰当地判别它们，能够区分劣化原因。
[0097] 此外，也可通过作为间接指标的再现信号的波形对称性指标β或信号振幅的调制度M等进行该评价。图16表示将再现信号的波形对称性指标β作为指标时的检查结果。作为老化后的变化，品质评价值被平移并检测。在进行超过允许变动范围的检测的情况下，能够与错误率检测同样地检测出劣化。但由于不是直接的评价指标，最终希望如上所述地采用错误率等品质检查指标。此外，为了降低光驱动器的再现性能的差异等导致的再现结果的差别，通过同时使用错误率或错误数以及再现波形指标的β或Μ，可期待提高光盘检查结果的精度。
[0098]基于以上，如上所述地按照图10的流程进行说明。首先库控制部11指示将进行检查的光盘搬送到光驱动器30。在此，检查用的光盘为如图13所示的预备了条带的光盘，其中对条带准备了多种记录功率。检查用的条带记录区域并不限于图13所示的地址，可仅配备于检查用的特定光盘上，也可配备在所有的光盘上。此外，这些检查用的条带记录区域可配备于用户数据区域，实际地记录的数据可为OOh的重复数据等固定数据。对于原本的用户数据，固定作为上述检查用的条带记录区域的地址，掩盖(Mask)上述地址并记录数据。
[0099]换盘机构12将该光盘40搬送到光驱动器30后，光驱动器30装载光盘40，开始记录品质检查(S20)。记录品质期望为除去连续发生的突发错误之外的错误率，但也可使用一般计算的错误率，或者使用作为间接指标的再现信号的波形对称性指标β、信号振幅的调制度M或作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动等。或可不进行数据调制而仅记录固定数据长度(例如6Τ的重复，T为信道比特长度)的模式，检查其抖动。或可从上述OOh的重复数据等依照调制规则的记录数据中进行6Τ的模式判别，提取该数据长度模式的抖动进行检查。
[0100]以下,利用图17至图18对利用检查用光盘的检查方法进行说明。图17是表示利用检查用光盘的检查方法的流程图。此外，图18表示上述各条带的记录功率与品质检查值的结果。首先，库控制部11为了确定图18所示的假定变动范围而进行品质分布范围的初始值设定(S50)。上述品质分布范围的初始值设定可使用预先决定的固定值，也可参考光盘的ID和分布范围表格进行设定。接着，库控制部11参考之前的光盘检查的结果，判定是否存在超过图18中记载的假定变动范围的结果(S51)。在存在超过上述假定变动范围的结果的情况下，表示上述光盘库装置中装载的光盘的品质分布范围超出假定的结果，库控制部11进行该假定变动范围的更新(S52)。接着转移到检查用光盘的品质检查。
[0101]光盘库装置11指示换盘机构12，将检查用光盘搬送到光驱动器30。换盘机构12将上述检查用光盘搬送到光驱动器30后，光驱动器30加载检查用光盘，进行上述各条带的品质检查(S53)。品质检查的结果如图18所不。绘制各记录功率条件下的品质检查值，利用二次逼近法推出上述光盘库装置中装载的所有光盘的假定品质分布(S54)。然后求出假定变动范围与上述二次逼近法得到的曲线的交点。在图18中由于是以记录功率100%附近为极值点的二次曲线，利用两个交点中品质检查值较高的结果来进行所有光盘的假定最差值是否在劣化检测阈值以下的判定(S55)。在规定值之下的情况下，由于可判断当前所有光盘的品质没有问题，结束光盘检查。在超过规定值的情况下，由于假定了上述光盘库装置中装载的光盘的品质的劣化，库控制部11向主机发出警告以迅速地实施上述光盘库装置中装入的光盘的重写(S56)。
[0102]此外，本发明并不限于上述的实施例，包含了各种变形例。例如，上述实施例是为了对本发明易懂地说明而进行的详细说明，并非限定必须具备所说明的全部的结构。此外，可将某实施例的结构的一部分替换成其它实施例的结构，或者可在某实施例中添加其它实施例的结构。另外，针对各实施例的结构的一部分，能够进行其它结构的追加、删除、替换。
[0103]此外，上述的各结构、功能、处理部、处理单元等，其部分或者全部可通过例如使用集成电路来设计等以硬件实现。此外，上述的各结构、功能，也可通过处理器解释和执行实现各自功能的程序以软件实现。实现各功能的程序、表格、文件等信息，可存储在存储器、硬盘、SSD (Solid State Drive:固态硬盘)等记录装置中，或者IC卡、SD卡、DVD等记录介质中。
[0104]此外，控制线路和信息线路表示说明中所需的部分，并不限定产品中表现出所有的控制线路和信息线路。实际上可以认为几乎全部的结构互相连接。
【权利要求】
1.一种装载有光盘和光驱动器的光盘库装置的光盘检查方法，其特征在于: 测量所述光盘库装置内的温度， 根据所述测量到的温度决定检查所述光盘的检查周期， 根据所述决定的周期，由所述光驱动器进行对储存在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘的记录品质的检查。
2.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为未达到规定的记录品质的情况下，向上级主 机发出表达将该光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
3.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 当进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为达到规定的记录品质时，在通过所述检查得到的记录品质与过去由所述光驱动器检查所述光盘所得到的记录品质的差超过第一阈值的情况下，也向上级主机发出规定的警告。
4.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述已记录的光盘为装载在所述光盘库装置中的所有已记录的所述光盘。
5.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述已记录的光盘为从装载在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘中抽取的至少一个所述光盘。
6.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述测量到的温度为至少一天以上的平均值。
7.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述测量到的温度为在至少一天以上的相同时间带取得的所述温度的测量值。
8.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述光驱动器为，装载在所述光盘库装置中的多个所述光驱动器中比较了所述光盘的记录品质的结果为再现性能比用户数据记录再现用光驱动器好的光驱动器。
9.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述光盘为以多种不同的记录功率在所述光盘的至少一层以上的一部分用户数据区域中记录有至少一个能够纠错的数据长度的光盘。
10.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述记录品质，由纠错的数目表示，是以物理上连续的缺陷导致的突发错误作为原因的错误率或错误数。
11.如权利要求10所述的光盘检查方法，其特征在于: 在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为检测到规定长度以上的突发错误的情况下，将包含所述突发错误的数据文件重写到其它光盘。
12.如权利要求10或11所述的光盘检查方法，其特征在于: 在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为突发错误或者除去突发错误之外的错误数或错误率超过第一阈值的情况下，发出用于进行光盘的清洁的警告。
13.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述记录品质，由纠错的数目表示，是物理上连续的缺陷导致的突发错误和从一个纠错块中除去突发错误之外的错误率或错误数。
14.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述记录品质为再现信号的波形对称性指标、或表示信号振幅相对于未记录的信号电平的比率的调制度、或作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动。
15.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的首次取得的记录品质与所述检查后取得的记录品质进行比较，其差超过第一阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
16.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的至少一次以上之前取得的记录品质与所述检查之后取得的记录品质进行比较，其差超过第一阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
17.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的首次取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，且对至取得所述第二记录品质为止的记录品质平均值与所述第二记录品质进行比较，其差超过第二阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
18.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的至少一次以上之前取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，且对至取得所述第二记录品质为止的记录品质平均值与所述第二记录品质进行比较，其差超过第二阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
19.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的首次取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，对至取得所述第二记录品质为止的多个所述光盘的记录品质的平均值与所述光盘的所述第二记录品质进行比较，其差为第三阈值以下的情况下，向上级主机发出表达将多个所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
20.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的至少一次以上之前取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，对至取得所述第二记录品质为止的多个所述光盘的记录品质的平均值与所述光盘的所述第二记录品质进行比较，其差为第三阈值以下的情况下，向上级主机发出表达将多个所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
21.一种对多个光盘进行信息的记录再现的光盘库装置，其特征在于，包括: 储存多个光盘的光盘储存部； 搬送所述光盘的换盘机构； 进行所述光盘的记录再现的光驱动器； 测量环境温度的温度计；和控制部，其进行控制使得利用所述温度计测量所述光盘库装置内的温度，根据测量到的所述温度决定检查所述光盘的检查周期，根据决定的所述周期，利用所述光驱动器进行对储存在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘的记录品质的检查。
22.如权利要求21所述的光盘库装置，其特征在于: 所述控制部，在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为未达到规定的记录品质的情况下，向上级主机发出表达将该光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
23.如权利要求21所述的光盘库装置，其特征在于: 所述控制部，当进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为达到规定的记录品质时，在通过所述检查得到的记录品质与过去由所述光驱动器检查所述光盘所得到的记录品质的差超过第一阈值的情 况下，也向上级主机发出规定的警告。
【文档编号】G11B20/18GK104078070SQ201410058043
【公开日】2014年10月1日 申请日期:2014年2月20日 优先权日:2013年3月27日
【发明者】安川贵清 申请人:日立乐金资料储存股份有限公司
【专利摘要】本发明的目的为在装载多个光驱动器的光盘库装置中降低温度变化导致的记录再现性能的劣化。在本发明的光盘库装置中，分析光盘的品质劣化的原因，为了实施与该原因相应的恢复，测量上述光盘库装置内的温度，基于上述测量到的温度，决定检查上述光盘的检查周期，根据上述决定的周期，由上述光驱动器进行对储存在上述光盘库装置中的已记录的上述光盘的记录品质的检查。
【专利说明】光盘库装置的光盘检查方法和光盘库装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及装载有多个光盘装置的光盘库装置的光盘检查方法。
【背景技术】
[0002]与本发明相关的【背景技术】例如有专利文献I中记载的技术。专利文献I中记载了如下内容:“测定光盘的记录品质并生成盘管理信息和测定履历信息，进一步地，基于这些盘管理信息和测定履历信息决定下次记录品质的测定时间。在所决定的该测定时间到来时，光盘管理装置再次测定光盘的记录品质”。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1:日本特开2008-204580号公报
【发明内容】
[0006]发明要解决的课题
[0007]上述专利文献I中有根据光盘的记录品质的测定结果所示的劣化程度来决定测定时间的记载。但在实际的光盘中不仅有记录品质的随时间劣化，例如还有因伤痕或尘埃的影响而被判定为记录品质劣化的情况。
[0008]本发明鉴于以上而完成，本发明的目的为对光盘库装置分析光盘品质劣化的原因并实施与其原因相应的恢复。
[0009]用于解决课题的方案
[0010]为了解决上述问题，作为一个例子，本发明的装载有光盘和光驱动器的光盘库装置的光盘检查方法中，测量光盘库装置内的温度，根据测量到的温度决定检查光盘的检查周期，根据决定的周期，由光驱动器进行对储存在光盘库装置中的已记录的光盘的记录品质的检查。
[0011]发明效果
[0012]通过本发明能够对光盘库装置根据光盘的品质劣化的原因实施合适的恢复处理。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1是第一实施例中决定光盘的检查周期的流程图。
[0014]图2是第一实施例中的光盘库装置的框图。
[0015]图3是第一实施例中的光驱动器的框图。
[0016]图4是第三实施例中的光盘库装置的框图。
[0017]图5是表示环境温度与检查周期的图。
[0018]图6是表示光盘的寿命预测的图。
[0019]图7是表示环境温度与光盘寿命的关系的图。
[0020]图8是说明第一实施例中的光盘检查的流程图。
[0021]图9是说明第二实施例中的光盘检查的流程图。
[0022]图10是说明第三实施例中的光盘检查的流程图。
[0023]图11是说明第四实施例中的光盘检查的流程图。
[0024]图12是第五实施例中的光盘库装置的框图。
[0025]图13是表示第六实施例中的光盘上的记录区域的图。
[0026]图14是表示记录功率与记录品质的关系的图。
[0027]图15是表示记录功率与记录品质的关系的图。
[0028]图16是表示记录功率与再现信号的波形对称性指标的关系的图。
[0029]图17是说明使用检查用光盘的检查方法的流程图。
[0030]图18是表示记录功率与品质检查值的关系的图。
[0031]图19是表示用于尘埃检查的光盘检查区域的图。
[0032]图20是表示用于尘埃检查的光盘检查区域的图。
[0033]符号说明:
[0034]10......光盘库装置
[0035]11......库控制部
[0036]14......主机接口
[0037]15……光驱动器选择部
[0038]16......驱动器接口
[0039]32……光拾取器
[0040]33......控制器接口
[0041]40......光盘
[0042]50......盘旋转机构
[0043]51......滑动机构
【具体实施方式】
[0044]以下利用【专利附图】
【附图说明】依照本发明的光盘库装置的实施例。
[0045]【实施例1】
[0046]参考附图对作为本发明的第一实施例的光盘库装置的结构和动作进行详述。其中，作为光盘，本实施例使用蓝光光盘，但并不限于此。可为蓝光光盘之外的全息记录等的光盘，或可装载其它可更换介质及其记录再现装置。
[0047]图2是第一实施例中的光盘库装置的框图。本实施例的光盘库装置10由库控制部
11、换盘机构12、容纳多个光盘40的数据盘储存部13、备用盘储存部132、废盘储存部133、主机接口 14、光驱动器选择部15、驱动器接口 16、光盘监测部17、存储器18、温度计19和多个光驱动器30所构成。
[0048]光盘库装置10经由主机接口 14与主机20连接，接收数据记录或再现等各种命令和待记录的数据，发送命令的执行结果和再现的数据。
[0049]数据盘储存部13配备多个插槽，每个插槽内能够储存一个光盘40。
[0050]备用盘储存部132在光盘库装置10的通常动作中不使用，在光盘通过检查被判定为超出劣化检测阈值的情况下提供光盘40。
[0051]废盘储存部133为光盘库装置10在盘检查中判断为超出劣化检测阈值的光盘40的储存部。
[0052]库控制部11具有控制光盘库装置10的全部动作的功能。在对储存在数据盘储存部13中储存的光盘40进行数据存取时，即存储在光盘40中的数据的再现时或对光盘40写入数据时，使换盘机构12动作，从数据盘储存部13取出规定的光盘40，搬送到进行数据存取的光驱动器30并装载。或者相反地，对一定时间未有数据存取的光盘40从进行数据存取的光驱动器30弹出，通过换盘机构12搬送到数据盘储存部13的规定插槽并储存。此夕卜，光驱动器选择部15经由驱动器接口 16与各光驱动器30相连接，规定的光驱动器30接收记录或再现等各种命令。
[0053]光盘监测部17执行光盘40的状态管理，存储器18保存光盘监测部17检测出的记录在各光盘40中的数据管理信息、各光盘40的记录品质、光盘40的检查周期、环境温度坐寸ο
[0054]温度计19监测光盘库装置10的内部温度。当库控制部11对温度计19进行环境温度取得请求指示时，温度计19向库控制部11发送当前的环境温度的测量结果。光盘监测部17定期地从库控制部11接收温度的测量结果并保存在存储器18中。
[0055]图3是第一实施例中的光驱动器30的框图。本实施例的光驱动器30由光驱动器控制部31、光拾取器32、控制器接口 33、盘旋转机构50、滑动机构51、伺服控制部52、伺服信号生成部53、再现信号生成部54、再现信号二进制化部55、记录品质检查部56、编码部57、和解码部58所构成。
[0056]光驱动器控制部31控制光驱动器30的全部动作。即，通过伺服控制部52进行盘旋转机构50中装入的光盘40的旋转控制，驱动滑动机构51进行使光拾取器32在光盘40的半径方向上移位的寻轨控制和进给控制，驱动光拾取器32的物镜进行聚焦控制和跟踪控制。
[0057]此外，光驱动器控制部31控制光拾取器32的激光器发光。在记录时，由编码部57将从库控制部11经由控制器接口 33发送来的记录数据信号转换成基于规定的调制规则的NRZI信号，供给到光驱动器控制部31，光驱动器控制部31转换成与该NRZI信号对应的记录策略(发光脉冲串)，使激光器根据规定光强度和脉冲串发光。
[0058]来自光盘40的发射光量被光拾取器32的光检测器接收而被转换成电信号,发送到伺服信号生成部53和再现信号生成部54。伺服信号生成部53根据适合装入的光盘40的检测方法来选择、生成各种伺服信号，供给到光驱动器控制部31。伺服信号至少包含聚焦误差信号和跟踪误差信号。光驱动器控制部31基于这些伺服信号通过上述伺服控制部52驱动物镜，进行聚焦伺服和跟踪伺服。
[0059]再现信号生成部54配备波形均衡电路和A/D转换器，对从光拾取器32供给的模拟的再现信号进行规定的波形均衡化后，进行采样和量化，转换成数字信号，供给到再现信号二进制化部55。
[0060]再现信号二进制化部55配备横向滤波器和维特比(Viterbi)解码电路。从再现信号生成部54供给的数字信号由横向滤波器均衡化为规定的PR类别，由维特比解码电路进行最大似然解码，将该均衡波形转换成基于规定的调制规则的NRZI信号。由再现信号二进制化单元55生成的NRZI信号通过解码部58进行数据的解调处理，转换成再现数据信号，经由控制器接口 33发送到库控制部11。
[0061]记录品质检查部56能够进行数据的纠错处理等，检查再现错误率。此外，能够检查作为记录品质指标的再现信号的波形对称性指标β和信号振幅的调制度M或者作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动(jitter)等。
[0062]光盘库装置10定期地检查光盘40的品质，生成盘管理信息和检查履历信息，通过光盘监测部17将各信息保存在存储器18中。本光盘库装置10定期地对储存在数据盘储存部13中的所有已记录的光盘40进行品质检查，在检查结果超过检查阈值的情况下，对储存在备用盘储存部132中的光盘40进行记录在该光盘的数据的重写。以下对该动作详细地进行说明。
[0063]图1是第一实施例中光盘库装置10决定光盘40的检查周期的流程图。库控制部11定期地通过温度计19测量光盘库装置10的温度(S10)。温度测量后，光盘监测部17参考当前环境温度和表示该环境温度下光盘40的劣化进度的关系的表格(S11)。图5是环境温度与检查周期的表格。库控制部11根据图5中记录的温度范围设定检查周期(S12)。此夕卜，对温度测量的结果与检查周期的变更方法在后面说明。此外，根据适当地更新后的记录品质检查计划，对储存在光盘库装置10中的所有已记录的光盘40依次进行检查。
[0064]接着，对库控制部11中记录品质检查计划的更新方法利用图6至图7进行说明。
[0065]图6是表示根据阿伦尼斯模型等推算的光盘寿命预测的图。阿伦尼斯模型为温度作为活性化能量的化学反应模型，通过环境温度变化来进行估测材料的故障预测。图6表示高温(35°C)环境下品质检查值的推移和低温(25°C)环境下品质检查值的推移。在高温环境下，由于活性化能量比低温环境下更高，化学反应进行更快，因此光盘的劣化进度较快。在考虑长期保存的情况下，预计在35°C环境下保管的光盘比在25°C环境下保管的光盘更快地发生再现错误。因此，通过使在25°C环境下的各光盘40的检查期间b比从光盘库装置10中达到推荐进行光盘40的重写的检测阈值到实际产生再现错误的期间B更短，能够通过品质检查正确地实施重写，确保作为光盘库装置10的可靠性。并且这对于35°C环境也同样，以比从达到推荐光盘40重写的检测阈值到发生再现错误的期间A更短的检查期间a实施各光盘的检查。通过本方法，光盘库装置10能够不发生再现错误而向主机20发出重写请求的警告并适当地实施重写。此外，作为表示品质的是通过纠错所计算出的错误率或错误数，但也可使用间接地表示该趋势的再现信号的波形对称性指标β、信号振幅的调制度M或作为二进制化信号在时间轴上的摆动的抖动等。
[0066]在本发明中，光盘的劣化检测阈值的确定、再现错误以及分别到达它们的到达时间即预测劣化时间是重要的要素。图7表示环境温度与光盘寿命的关系。环境温度为光盘管理中的气温，光盘寿命为通常表示以纠错的错误率难以确保兼容性为目标的数值，在本发明中，在蓝光光盘的情况下，以4.2Χ10_3为劣化检测阈值。此外，再现错误依赖于错误的发生原因，采用2.0X10'但这些数值并不限于上述数值。可根据光驱动器的再现性能、光盘库装置的控制方法替换这些数值。在图7中为在环境温度80°C、70°C、60°C三点检查实际到达劣化检测阈值的时间的结果。在这些环境温度下，绘制光盘的错误率达到4.2X 1-3的时间。展示了对这三点作拟合直线并外延得到25°C的寿命预测时间的结果。例如，在图7 中，根据 80°C:0.19 年、70。。:0.46 年、60°C:1.18 年这一结果，得到 25°C:50.0 年。接着求出与到达再现极限(再现错误)的数值的关系。在25°C的情况下，若为经过60年达到再现错误的错误率，则预测相对于检测阈值经过1.2倍的时间后将发生错误。即，只要在达到劣化检测阈值开始的1.2倍的期间完成所有已记录的光盘的检查，则可在任何光盘因随时间劣化而发生再现错误之前检测。
[0067]此外，在图5中以表格表示环境温度与检查周期的关系，而如图7所示，绝对温度与寿命的关系为直线近似式。因此，可将该直线近似式保存在存储器中，根据环境温度的测量而适当地变更检查周期。此外，在温度变化较大的保存环境或运输环境中，除了利用温度平均值的估算，也可考虑以该测量期间内的峰值温度为主的情况。因此，可为利用该测量期间的最大值的计算，或可为对各温度区间的平均值和最大值进行加权的计算方法。
[0068]根据以上的条件，光盘监测部17基于检测温度计算检查周期并更新光盘的检查周期。假定作为光盘的保存环境的最差条件(最高温度条件)为80°C的情况下，预测从所述检测阈值到发生再现错误的劣化期间为约两周。因此，光盘的检查周期的更新期望使用至少每周一次左右的平均值。这是因为如果小于一天，则预想到会高灵敏度地检测到一天的气温变动的影响或光盘运输时等特殊状态。而且因为光盘是适合于长期保存的介质，如果为每周一次以上的频度高的周期，则有可能对光盘库装置的正常动作产生影响。库控制部11用于光盘检查的占用率期望至多为1%左右。这是因为，通过在光盘库装置的使用中使光盘的检查不为主要用途或者抑制使用率，能够充分利用光盘的长期保存的特性。此外，1%的占用率为一台光驱动器一周时间约检查一个光盘的比例。
[0069]接着，图8是光盘检查的流程图。虽然未图示，首先在光盘监测部17中预先确定检查的顺序。例如，可为数据盘储存部13的插槽的编号管理，或可为利用光盘的固有ID的管理。接着，库控制部η基于图1所示的光盘检查周期来指示换盘机构12，将下一张待检查的光盘40搬送到光驱动器30。换盘机构12将该光盘40搬送到光驱动器30后，光驱动器30装载光盘40，开始记录品质检查(S20)。记录品质期望为除去连续发生的突发错误之外的错误率，但也可使用一般计算的错误率，或者使用作为间接指标的再现信号的波形对称性指标β、信号振幅的调制度M或作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动等。在此，记录品质检查为库控制部11依次地将上述光盘装载到光驱动器中并计算上述光盘的各纠错块单位的错误数或错误率。对于检查的光盘的结果，光盘监测部17将该光盘40的ID、各纠错块单位的错误数或错误率及其地址保存在存储器18中。但由于有存储器空间的制约，可不保存全部的纠错块单位。由于实际上关注的是品质差的块，因此可仅保存品质最差的纠错块的错误数或错误率，或者保存包括品质最差的纠错块在内的多个纠错块的错误数或错误率的结果。
[0070]接着，库控制部11进行记录品质检查的结果是否超过作为迁移阈值即劣化检查阈值的4.2X10_3的判定(S21)。此外，判定基准并不将该数值限定于上述数值。可根据光驱动器的再现性能和光盘库装置的控制方法替换这些数值。在超过劣化检测阈值的情况下，对储存在备用盘储存部132中的备用光盘40实施重写。此外，在S21中，在劣化检测阈值之下的情况下可确认至少在下一光盘检查之前的期间能够再现。因此，库控制部11指示该光盘40搬送到原来的数据盘储存部13中。
[0071]【实施例2】
[0072] 图9是表示第二实施例的流程图。以下仅对与实施例1不同的部分进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的步骤附以相同记号，省略其重复说明。
[0073]在实施例2中，在光盘检查的流程中，超过迁移阈值即劣化检测阈值时的步骤不同。在超过迁移阈值的情况下，库控制部11通过向主机发出警告，来执行对光盘库装置10的用户和管理公司的通知(S32)。本实施例对不具备备用盘储存部132和废盘储存部133的光盘库装置10以及在没有储存在备用盘储存部132中的光盘40的情况下是有效的方法。通过该警告，发出装载在所述光盘库装置10中的光盘40的状态劣化或者环境恶化、光盘库装置10的运行变得困难的提醒。在发出该警告的情况下，期望迅速地实施装载在该光盘库装置10中的光盘40的重写、交换。
[0074]【实施例3】
[0075]图4是表示第三实施例的框图，图10是表示第三实施例的流程图。以下仅对与实施例I不同的部分进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的步骤附以相同记号，省略其重复说明。
[0076]图4为对图2附加盘清洁部134后的框图。此外，图10中，在光盘检查流程中是否超过迁移阈值即劣化检测阈值的判断(S21)之后不同。在迁移阈值之下的情况下，判断为盘未劣化。但在实际中，存在从记录的初始状态开始仍在迁移阈值之下但被确认为劣化的情况。为了严密地检测出这样的要素，通过与初始记录时的检查结果或上一次检查该光盘的结果相比较，来进行详细的判断。在S411中，与第一次检查的结果即记录后立刻检查的结果或该光盘上一次的检查结果相比较，纠错数增加100字节以上的情况为急剧的变化，假定有光盘的劣化或尘埃、伤痕等干扰的影响。因此，虽然本来在迁移阈值之下，但通过事先对光盘的再现性能劣化发出盘清洁的警告，实现实际达到迁移阈值之前的对策。此外，记录品质的检查值即纠错数采用100字节，但并不限于此。例如可为根据光盘的再现能力、光盘库装置的系统控制或调制方式等导出的数值。
[0077]判断指标为两阶段，首先是该光盘是否急剧地品质劣化，其次是作为参考对比的其它光盘即全体光盘是否急剧地品质劣化。若确认该光盘急剧地品质劣化，可判断为个体原因，而若其它光盘也有同样的趋势，则可判断为全体趋势的变动原因。例如，在因周围环境的变化而在光盘库装置中进入有尘埃的情况下，根据其大小而异，会检测到大量突发错误。因而首先实施光盘的清洁，在未见改善的情况下可判断为盘上产生的伤痕或者与伤痕等同、无法除去。作为其它光盘的相对品质检查，为了测得全体的趋势而使用从检查开始后每次检查时取得的平均值。将所述光盘的纠错数的平均值与该光盘的纠错数相比较，在增加了 100字节以上的情况下为急剧的变化，判断为异常。因此，在与其它光盘的相对品质检查中确认100字节以上的增加的情况下，在S42中也与上面同样地对光盘的再现性能劣化事先发出盘清洁的警告，实现实际达到迁移阈值之前的对策。
[0078]此外，在平均值的计算中也可使用品质检查值的移动平均。若温度环境的变化小至1、2°C左右，并且检测时间为一个月左右的期间，则可判断环境变化中不发生较大变化。例如，在每周两张左右的检查计划中，对每个月10张左右的检查履历进行平均，实施相对比较。由于假定了光盘自身的个体差异，因此期望至少为10张左右。此外，在与其它光盘的相对比较中，可改变作为阈值的品质检查值。检测灵敏度因进行基准值平均的参数而变化，需要加以注意。
[0079] 在超过迁移阈值的情况下，库控制部11向主机发出光盘40的清洁警告(S42)。根据光盘的清洁警告，库控制部11向用户或管理公司通知光盘的状态发生劣化。之后，库控制部11指示换盘机构12将光盘40搬送到盘清洁部134。换盘机构12将光盘40搬送到盘清洁部134。盘清洁部134执行该光盘40的表面清洁，除去光盘表面附着的尘埃或伤痕坐寸ο
[0080]之后，库控制部11指示换盘机构12将该光盘40搬送到光驱动器30。换盘机构12将光盘40从盘清洁部134搬送到光驱动器30。光驱动器30装载光盘40再次检查光盘40的记录品质。在盘清洁有效、记录检查的结果低于劣化检测阈值的情况下，由于能够与通常的光盘同样地实施记录再现动作，因此结束光盘检查。但在盘清洁无效果、记录品质检查的结果仍高于劣化检测阈值的情况下，为了严格区分其原因，库控制部11判定该记录品质恶化的区域是否发生作为连续错误的突发错误(S43)。在突发错误在2000字节以下的情况下，由于光盘40的劣化原因并非突发错误而是取决于盘自身，因此库控制部11对储存在备用盘储存部132中的光盘40实施重写(S22)。
[0081]接着在S43中，在突发错误在2000字节以上的情况下，由于光盘40的劣化原因为突发错误，因此库控制部11提取包含该光盘40的突发错误的数据文件，对储存在备用盘储存部132中的光盘40仅实施该数据文件的重写。此外，突发错误数使用2000字节，但并不限于此。例如可为根据光驱动器的再现能力或光盘库装置的系统控制导出的数值。
[0082]由此，光盘库装置10能够根据光盘40中品质劣化的原因来实施合适的重写。
[0083]【实施例4】
[0084]图11是表示第四实施例的流程图。表示第四实施例的框图与图2相同。以下仅对与实施例1不同的点进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的步骤附以相同记号，省略其重复说明。
[0085]光盘因其劣化原因而在品质指标中的检测结果不同。因此对光盘的劣化原因进行比较。光盘的劣化原因大致分为作为光盘自身劣化的随时间劣化、使用系统导致的伤痕和保存环境导致的尘埃。作为结果，它们都被检测为再现品质的劣化，但通过区分其影响度、影响范围，能够提高光盘的利用效率。可预测到，这些原因中尘埃导致的影响尤其对光盘表面有比较平均的影响。除此之外，随时间劣化有尤其在作为光盘端面的外周侧上检测出品质变化的趋势。此外，伤痕因光盘库装置的搬送装置而产生，其主要发生在光盘的外周侧的可能性较高。这是因为光盘与搬送机构或光盘储存部的接触点为光盘的外周部。尤其光盘的外周部，相对于12cm的直径，距离数据区域仅有2_左右的空白，搬送机构导致的品质劣化的可能性较高。搬送机构导致的伤痕、尤其是大范围伤痕可检测出作为连续缺陷的突发错误。由上，作为劣化的判定，将遍布光盘整体的离散的突发错误预测为尘埃的原因，将偏向盘外周的突发错误预测为随时间劣化或伤痕所导致。图19是表示用于尘埃检查的光盘检查区域的图。检查区域A为从光盘的内周到中部的区域，认为尘埃等的影响大致相同。作为对照，检查区域B在光盘的外周部(例如从55mm到58mm)的范围，除了上述尘埃的影响之外，也包含了搬送机构导致的伤痕等原因和记录品质的随时间劣化等影响，难以惟一地确定原因。
[0086]因此，将检查范围限定在检查区域A来进行检查。库控制部11在检查区域A中仅检测连续地发生的突发错误。通过累加突发错误数来检测光盘自身存在的缺陷等导致的突发错误与尘埃导致的突发错误。通过检测这些差别，能够判断尘埃导致的错误的增加量。因此，图11中的记录品质的检查表示突发错误(S20)。针对突发错误，与所检查的光盘在记录后检查的结果或者在记录前检查的结果进行比较(S51)。其结果是各纠错块单位的突发错误在1000字节以上的情况下，认为是尘埃导致的品质劣化。因此，在S52中，库控制部11可通过向主机发出盘清洁的警告来确定光盘的保管环境中尘埃的原因导致的品质劣化。
[0087]图20是表示用于尘埃检查的光盘的检查区域的图。检查区域A的范围与图19不同。在图19中，定义检查区域A为检查区域B之外的区域，但也可如图20所示，为光盘的内周或中部的部分区域。通过限制检查区域A的范围可获得检查时间的缩短效果。
[0088]【实施例5】
[0089]图12是表示第五实施例的框图。以下仅对与实施例1不同的点进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的模块附以相同记号，省略其重复说明。
[0090]相比图2，图12配备了光驱动器30以及品质检查用光驱动器301。在实施例1中，装载在光盘库装置中的光驱动器30的任意个实施品质检查。在图12中，品质检查用光驱动器301实施所有的品质检查。通过本实施例，由于能够始终使用相同光驱动器检测品质检查值，能够降低光驱动器的个体差异导致的检查值的波动。
[0091]此外，品质检查用光驱动器301中，对于对再现性能的差异产生较大影响的例如IV放大器等部件，可通过特别地安装与其它光驱动器30不同的部件来实现光驱动器自身的再现性能的提闻，能够闻精度地检查光盘的品质。
[0092]【实施例6】
[0093]图13是表示第六实施例的光盘的图。图10是表示第六实施例的流程图。以下仅对与实施例1不同的点进行说明，对于具有与上述的图相同的功能的模块附以相同记号，省略其重复说明。
[0094]图13为在规定的地址设有5个记录条件各异的区域的光盘。图6表示存在该光盘的保存时间因光驱动器的记录条件而改变的可能性。图6为对品质检查值相同的光盘进行比较的结果，实际中因光驱动器与光盘的组合以及进一步地因环境温度等的不同，即使基于相同参数的记录，记录结果也不同。考虑了这些变动因素的设计为如图13所示的使用多种记录功率的带状结构。通过检查该带状结构的品质，能够通过一张该光盘的检查实现上述光盘库装置中装载的所有光盘的品质检查。
[0095]图14是表示记录功率与记录品质在老化后的检查结果的图。横轴为记录功率，相当于图13的各条带的记录功率。纵轴为品质检查值，期望采用除去连续地发生的突发错误之外的错误率，但也可使用一般计算的错误率，或可使用作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动等。根据图14的结果，在记录功率较高的记录状态中显著地表现出品质劣化。除了随时间劣化，伤痕或尘埃等导致的劣化也可认为是品质劣化的原因。
[0096]图15是表示记录功率与记录品质在老化后的检查结果的图。但老化后的劣化原因不同。图14的情况为光盘自身发生的随时间劣化，而图15的情况为伤痕或尘埃等导致。根据以上的结果可知，因光盘老化后的劣化原因的不同，其品质劣化的状况不同。通过恰当地判别它们，能够区分劣化原因。
[0097] 此外，也可通过作为间接指标的再现信号的波形对称性指标β或信号振幅的调制度M等进行该评价。图16表示将再现信号的波形对称性指标β作为指标时的检查结果。作为老化后的变化，品质评价值被平移并检测。在进行超过允许变动范围的检测的情况下，能够与错误率检测同样地检测出劣化。但由于不是直接的评价指标，最终希望如上所述地采用错误率等品质检查指标。此外，为了降低光驱动器的再现性能的差异等导致的再现结果的差别，通过同时使用错误率或错误数以及再现波形指标的β或Μ，可期待提高光盘检查结果的精度。
[0098]基于以上，如上所述地按照图10的流程进行说明。首先库控制部11指示将进行检查的光盘搬送到光驱动器30。在此，检查用的光盘为如图13所示的预备了条带的光盘，其中对条带准备了多种记录功率。检查用的条带记录区域并不限于图13所示的地址，可仅配备于检查用的特定光盘上，也可配备在所有的光盘上。此外，这些检查用的条带记录区域可配备于用户数据区域，实际地记录的数据可为OOh的重复数据等固定数据。对于原本的用户数据，固定作为上述检查用的条带记录区域的地址，掩盖(Mask)上述地址并记录数据。
[0099]换盘机构12将该光盘40搬送到光驱动器30后，光驱动器30装载光盘40，开始记录品质检查(S20)。记录品质期望为除去连续发生的突发错误之外的错误率，但也可使用一般计算的错误率，或者使用作为间接指标的再现信号的波形对称性指标β、信号振幅的调制度M或作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动等。或可不进行数据调制而仅记录固定数据长度(例如6Τ的重复，T为信道比特长度)的模式，检查其抖动。或可从上述OOh的重复数据等依照调制规则的记录数据中进行6Τ的模式判别，提取该数据长度模式的抖动进行检查。
[0100]以下,利用图17至图18对利用检查用光盘的检查方法进行说明。图17是表示利用检查用光盘的检查方法的流程图。此外，图18表示上述各条带的记录功率与品质检查值的结果。首先，库控制部11为了确定图18所示的假定变动范围而进行品质分布范围的初始值设定(S50)。上述品质分布范围的初始值设定可使用预先决定的固定值，也可参考光盘的ID和分布范围表格进行设定。接着，库控制部11参考之前的光盘检查的结果，判定是否存在超过图18中记载的假定变动范围的结果(S51)。在存在超过上述假定变动范围的结果的情况下，表示上述光盘库装置中装载的光盘的品质分布范围超出假定的结果，库控制部11进行该假定变动范围的更新(S52)。接着转移到检查用光盘的品质检查。
[0101]光盘库装置11指示换盘机构12，将检查用光盘搬送到光驱动器30。换盘机构12将上述检查用光盘搬送到光驱动器30后，光驱动器30加载检查用光盘，进行上述各条带的品质检查(S53)。品质检查的结果如图18所不。绘制各记录功率条件下的品质检查值，利用二次逼近法推出上述光盘库装置中装载的所有光盘的假定品质分布(S54)。然后求出假定变动范围与上述二次逼近法得到的曲线的交点。在图18中由于是以记录功率100%附近为极值点的二次曲线，利用两个交点中品质检查值较高的结果来进行所有光盘的假定最差值是否在劣化检测阈值以下的判定(S55)。在规定值之下的情况下，由于可判断当前所有光盘的品质没有问题，结束光盘检查。在超过规定值的情况下，由于假定了上述光盘库装置中装载的光盘的品质的劣化，库控制部11向主机发出警告以迅速地实施上述光盘库装置中装入的光盘的重写(S56)。
[0102]此外，本发明并不限于上述的实施例，包含了各种变形例。例如，上述实施例是为了对本发明易懂地说明而进行的详细说明，并非限定必须具备所说明的全部的结构。此外，可将某实施例的结构的一部分替换成其它实施例的结构，或者可在某实施例中添加其它实施例的结构。另外，针对各实施例的结构的一部分，能够进行其它结构的追加、删除、替换。
[0103]此外，上述的各结构、功能、处理部、处理单元等，其部分或者全部可通过例如使用集成电路来设计等以硬件实现。此外，上述的各结构、功能，也可通过处理器解释和执行实现各自功能的程序以软件实现。实现各功能的程序、表格、文件等信息，可存储在存储器、硬盘、SSD (Solid State Drive:固态硬盘)等记录装置中，或者IC卡、SD卡、DVD等记录介质中。
[0104]此外，控制线路和信息线路表示说明中所需的部分，并不限定产品中表现出所有的控制线路和信息线路。实际上可以认为几乎全部的结构互相连接。
【权利要求】
1.一种装载有光盘和光驱动器的光盘库装置的光盘检查方法，其特征在于: 测量所述光盘库装置内的温度， 根据所述测量到的温度决定检查所述光盘的检查周期， 根据所述决定的周期，由所述光驱动器进行对储存在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘的记录品质的检查。
2.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为未达到规定的记录品质的情况下，向上级主 机发出表达将该光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
3.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 当进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为达到规定的记录品质时，在通过所述检查得到的记录品质与过去由所述光驱动器检查所述光盘所得到的记录品质的差超过第一阈值的情况下，也向上级主机发出规定的警告。
4.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述已记录的光盘为装载在所述光盘库装置中的所有已记录的所述光盘。
5.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述已记录的光盘为从装载在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘中抽取的至少一个所述光盘。
6.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述测量到的温度为至少一天以上的平均值。
7.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述测量到的温度为在至少一天以上的相同时间带取得的所述温度的测量值。
8.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述光驱动器为，装载在所述光盘库装置中的多个所述光驱动器中比较了所述光盘的记录品质的结果为再现性能比用户数据记录再现用光驱动器好的光驱动器。
9.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述光盘为以多种不同的记录功率在所述光盘的至少一层以上的一部分用户数据区域中记录有至少一个能够纠错的数据长度的光盘。
10.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述记录品质，由纠错的数目表示，是以物理上连续的缺陷导致的突发错误作为原因的错误率或错误数。
11.如权利要求10所述的光盘检查方法，其特征在于: 在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为检测到规定长度以上的突发错误的情况下，将包含所述突发错误的数据文件重写到其它光盘。
12.如权利要求10或11所述的光盘检查方法，其特征在于: 在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为突发错误或者除去突发错误之外的错误数或错误率超过第一阈值的情况下，发出用于进行光盘的清洁的警告。
13.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述记录品质，由纠错的数目表示，是物理上连续的缺陷导致的突发错误和从一个纠错块中除去突发错误之外的错误率或错误数。
14.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 所述记录品质为再现信号的波形对称性指标、或表示信号振幅相对于未记录的信号电平的比率的调制度、或作为二进制化信号在时间轴上的摆动成分的抖动。
15.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的首次取得的记录品质与所述检查后取得的记录品质进行比较，其差超过第一阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
16.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的至少一次以上之前取得的记录品质与所述检查之后取得的记录品质进行比较，其差超过第一阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
17.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的首次取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，且对至取得所述第二记录品质为止的记录品质平均值与所述第二记录品质进行比较，其差超过第二阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
18.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的至少一次以上之前取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，且对至取得所述第二记录品质为止的记录品质平均值与所述第二记录品质进行比较，其差超过第二阈值的情况下，向上级主机发出表达将所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
19.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的首次取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，对至取得所述第二记录品质为止的多个所述光盘的记录品质的平均值与所述光盘的所述第二记录品质进行比较，其差为第三阈值以下的情况下，向上级主机发出表达将多个所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
20.如权利要求1所述的光盘检查方法，其特征在于: 在所述光盘库装置中，在由所述光驱动器对所述光盘的至少一次以上之前取得的第一记录品质与所述第一记录品质的检查之后取得的第二记录品质进行比较，其差超过第一阈值，对至取得所述第二记录品质为止的多个所述光盘的记录品质的平均值与所述光盘的所述第二记录品质进行比较，其差为第三阈值以下的情况下，向上级主机发出表达将多个所述光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
21.一种对多个光盘进行信息的记录再现的光盘库装置，其特征在于，包括: 储存多个光盘的光盘储存部； 搬送所述光盘的换盘机构； 进行所述光盘的记录再现的光驱动器； 测量环境温度的温度计；和控制部，其进行控制使得利用所述温度计测量所述光盘库装置内的温度，根据测量到的所述温度决定检查所述光盘的检查周期，根据决定的所述周期，利用所述光驱动器进行对储存在所述光盘库装置中的已记录的所述光盘的记录品质的检查。
22.如权利要求21所述的光盘库装置，其特征在于: 所述控制部，在进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为未达到规定的记录品质的情况下，向上级主机发出表达将该光盘的数据重写到其它光盘之意思的警告。
23.如权利要求21所述的光盘库装置，其特征在于: 所述控制部，当进行所述光盘的所述记录品质的检查的结果为达到规定的记录品质时，在通过所述检查得到的记录品质与过去由所述光驱动器检查所述光盘所得到的记录品质的差超过第一阈值的情 况下，也向上级主机发出规定的警告。
【文档编号】G11B20/18GK104078070SQ201410058043
【公开日】2014年10月1日 申请日期:2014年2月20日 优先权日:2013年3月27日
【发明者】安川贵清 申请人:日立乐金资料储存股份有限公司
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