专利名称：晶片测试机的金手指引动装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是与测试集成电路(IC)晶片的测试装置有关，更详而言之，乃是指一种推动晶片测试机上金手指来接触待测晶片接脚的晶片测试机的金手指引动装置。
按，习知的晶片测试机主要是利用二排金手指接触待测晶片的接脚，利用接触时通电来检测待测晶片是否能正常工作，其中，如
图1所示，习知用来推动金手指91的结构，主要为二空压缸81设置于该二排金手指91的外侧，各该空压缸81的活塞杆82连接一推片83，于动作时是驱动该等空压缸81推动该等推片83推抵于该二排金手指91，该二排金手指91即受推而向待测晶片98的接脚99移动，进而接触通电，而得进行检测工作。
惟，前述用以推动金手指的结构具有下列缺失一、占用空间较大由于空压缸81是装设于该二排金手指91的两侧，且空压缸81本身亦会占据一定的空间，因此在该二排金手指91外侧的空间即被占据，而在晶片测试机上的测试台是为一电路极为精密的电路板，在制造时其面积有一定的限制，在该等金手指91的外侧设置空压缸81会占据大多空间，影响到其他零件的装设，且亦无法再平行装设另一组金手指来测试晶片，其使用上有所限制。
二、空压缸数较多一组金手指须两个空压缸来同步推动该二推片83，不仅在控制上须做到两者同步，且左右各一空压缸亦较不经济，徒然增加成本。
本实用新型的主要目的即在提供一种晶片测试机的金手指引动装置，其较不会占用晶片测试机上的测试台的空间。
本实用新型的次一目的乃在提供一种晶片测试机的金手指引动装置，其可使用较少的空压缸，进而节省成本。
缘是，依据本实用新型所提供的一种晶片测试机的金手指引动装置，用以驱动晶片测试机上的两排金手指来接触待测晶片两侧的各接脚，透过接触通电来检测该待测晶片是否能正常运作，其中，该引动装置包含有至少二推板，以可旋摆的方式设置于晶片测试机上且分别位于该二排金手指的外缘，该二推板可受驱动而向该二排金手指旋摆；至少一推动组件，具有一座体，该座体两侧各向下延伸一臂部，该推动组件的座体是以可上下活动的方式设置于晶片测试机且位于该等推板的上方，可受驱动而上下滑移，于该座体向下位移时，该等臂部即随之向下位移而压抵于该等推板的外侧面，进而推动该等推板向内侧旋摆而将该二排金手指推向晶片接脚；至少一驱动装置，设置于晶片测试机上且位于该推动组件的上方，该驱动装置连接于该推动组件的座体，用以驱动该座体上下位移；藉此，得由上方以该驱动装置来连动该等推板推动金手指接触于IC晶片的接脚。
其中各该臂部的底端具有一滚轮。
其中还包含有一架杆，藉由二架台设置于晶片测试机上且位于该等金手指的上方。
其中该驱动装置是为一空压缸。
其中该推动组件的座体是连接于该空压缸的活塞杆上。
有关本实用新型的详细结构，特征及功效，以下兹举一较佳实施例，并配合图式作进一步的说明，其中图1是习用晶片测试机上推动测试台上金手指的推动机构示意图；图2是本实用新型一较佳实施例的前视图；图3是本实用新型一较佳实施例的动作图；图4是本实用新型一较佳实施例的另一装设状态图；图5是本实用新型一较佳实施例的再一装设状态图。
请参阅图2，本实用新型一较佳实施例所提供的一种晶片测试机的金手指引动装置10，是用来驱动晶片测试机的晶片测试台60上的两排金手指61使其接触于待测晶片68两侧的各接脚69，透过接触通电来检测该待测晶片68是否能正常运作，其中，该引动装置10主要由二推板11、一推动组件21、以及一驱动装置31所组成，其中
该二推板11，各以一销件13枢设于晶片测试机的晶片测试台60上且分别位于该二排金手指61的外侧，该二推板11可受驱动而向该二排金手指61旋摆；该驱动装置31，本实施例中是为一空压缸，藉一架杆33设置于晶片测试机上且其活塞杆32朝下而正对于该二排金手指61且相隔预定高度，其中，该架杆33的两端各以一架台34所固定，而位于该二排金手指上方；该推动组件21，具有一座体22，连接于该驱动装置31的活塞杆32，该座体22两侧各向下延伸一臂部24，且各该臂部24的底端具有一滚轮26，该推动组件21是受该驱动装置31的驱动而产生上、下位移的动作。
请再参阅图3，前述结构的引动装置10在操作时，是先藉该驱动装置31驱动该推动组件21向下位移，该等臂部24即随之向下位移而以该等滚轮26滚抵于该等推板11的外侧面，在下压的过程中即会推动该等推板11向内侧旋摆，而能抵住于该二排金手指61，再将该二排金手指61推向该待测晶片68的接脚69。
本实用新型所提供的结构，仅占有位于金手指两侧的少许空间，故足以在空间有限的晶片测试台上设置另外一组的金手指，藉以同时检测二个待测晶片，其设置状态即如图4所示。
复请再参阅图5，该架杆33亦得以其一端以可旋摆的方式枢设于晶片测试台60上所设置的架台34，另一端则对应设置一支撑台35，藉此，该架杆33向上旋摆时，该驱动装置31及该推动组件21即随之移离该等金手指61的上方，而当该架杆33旋摆至平行状态而由该支撑台35支撑时，该驱动装置31及该推动组件21即随之移至该等金手指61的上方。
经由上述的结构，本实用新型可产生如下优点一、占用空间较小透过本实用新型所提供的结构，可有效的空出位于该等金手指外侧的空间，故可在空间有限的晶片测试台上装设更多有用的构件，甚至于增设第二组的金手指及引动机构，而可同时检测二个待测晶片；本实用新型较习用者更为节省空间，使用上及装设上更具有方便性及多样性。
二、节省空压缸由于本实用新型仅利用一空压缸来驱动该等推板推动该二排金手指，因此较习用者在该二排金手指外侧设置空压缸而言，本实用新型所使用的空压缸数较少，换言之本实用新型的成本较习用者更为低廉。
综上所述，本实用新型的晶片测试机的金手指引动装置，其具有前述优于习用者的各项优点，实用性及进步性自己毋庸置疑，此外，该种结构从来未被公开使用或揭露于各种文献资料，符合新型专利要件，祈请贵审查委员拨冗详为审查，并早日赐准专利为祷。
权利要求1．一种晶片测试机的金手指引动装置，用以驱动晶片测试机上的两排金手指来接触待测晶片两侧的各接脚，透过接触通电来检测该待测晶片是否能正常运作，其特征在于，其中该引动装置包含有至少二推板，以可旋摆的方式设置于晶片测试机上且分别位于该二排金手指的外缘，该二推板可受驱动而向该二排金手指旋摆；至少一推动组件，具有一座体，该座体两侧各向下延伸一臂部，该推动组件的座体是以可上下活动的方式设置于晶片测试机且位于该等推板的上方，可受驱动而上下滑移，于该座体向下位移时，该等臂部即随的向下位移而压抵于该等推板的外侧面，进而推动该等推板向内侧旋摆而将该二排金手指推向晶片接脚；至少一驱动装置，设置于晶片测试机上且位于该推动组件的上方，该驱动装置连接于该推动组件的座体，驱动该座体上下位移。
2．根据权利要求1所述的晶片测试机的金手指引动装置，其特征在于，其中各该臂部的底端具有一滚轮。
3．根据权利要求1所述的晶片测试机的金手指引动装置，其特征在于，其中还包含有一架杆，藉由二架台设置于晶片测试机上且位于该等金手指的上方。
4．根据权利要求1所述的晶片测试机的金手指引动装置，其特征在于，其中该驱动装置是为一空压缸。
5．根据权利要求4所述的晶片测试机的金手指引动装置，其特征在于，其中该推动组件的座体是连接于该空压缸的活塞杆上。
专利摘要一种晶片测试机的金手指引动装置,包含有:至少二推板,以可旋摆的方式设置于晶片测试机上且分别位于该二排金手指的外缘;至少一推动组件,具有一座体,该座体两侧各向下延伸一臂部,设置于晶片测试机且位于该等推板的上方,可受驱动而上下滑移,于向下位移时即可推动该等推板向内侧旋摆而将该二排金手指推向晶片接脚;至少一驱动装置,设置于晶片测试机上且位于该推动组件的上方,用以驱动该座体上下位移。
文档编号H01L21/66GK2463957SQ01201019
公开日2001年12月5日 申请日期2001年1月12日 优先权日2001年1月12日
发明者严灿焜 申请人:东捷半导体科技股份有限公司