专利名称：：电子部件和其制造方法
技术领域：
：本发明涉及电介质陶瓷组合物、电子部件和其制造方法，进而详细来说，涉及高温加速寿命特性和容量负荷老化特性这两者的平衡优异的电子部件和其制造方法。
背景技术：
：作为介电常数高、具有平坦容量温度特性的电介质陶乾组合物，含有以BaTi03+MgO+(过渡金属MnO、0"203)+稀土类(Y203、Dy203、Ho203、Er203)+3102为主体的玻璃成分的电介质陶乾组合物被用作满足X7R、X5R或者B特性的叠层陶瓷电容器(例如下述的专利文献1)。叠层陶瓷电容器可以通过将电介质材料与有机粘合剂+溶剂一同混合而制成生片、并进行电极印刷、叠层、烧成、退火、端子电极形成(铜烧结)来制造。由于内部电极使用Ni，因此在烧成.退火时，可以在不还原电极和电介质的范围下进行烧成。另一方面，当形成端子电极时(一般使用Cu)，为了不使内部电极和Cu氧化而在还原气氛下进行烧结。最后，进行镀Ni、镀Sn来形成最终产品。对于这样的叠层陶覺电容器，要求高温加速寿命特性和容量负荷老化特性这两者的平衡优异。高温加速寿命特性是基于在高温和高电压下进行的试验的寿命，该寿命越长，则耐久性越优异。另外，容量负荷老化特性表示在长时间外加直流电场的情况下容量随时间的变化特性，该变化越少越是优选的。目前，还不知道何种的Cu烧结条件可以同时提高这两者的特性。专利文献l'.特7>平7-118431号乂>才艮
发明内容本发明是鉴于这种现状而作出的发明，其目的在于提供高温加速寿命特性和容量负荷老化特性这两者的平衡优异的电子部件和其制造方法。本发明人为了实现上迷目的进行努力研究，结果得到以下所示的4新发现。即，利用烧结形成Cu等的端子电极时的气氛可以对于叠层陶瓷电容器的高温加速寿命和容量负荷老化造成影响。Cu烧结温度接近于电介质的退火温度，但由于烧结时间短，可以认为对于电特性影响少，但由于Cu烧结时的气氛导致电介质被还原和氧化，由此高温加速寿命和容量负荷老化产生变化。为了把握该Cu烧结时素域的还原.氧化状态，发明人着眼于过渡金属的价数，发现利用该价数可以规定素域的还原.氧化状态。通常，Cu端子烧结等的低温.短时间的烧结不是热力学上的平衡状态，氧化还原反应必须以动力学的方式进行，温度和气氛的控制非常困难。现在，通过控制素域的过渡金属的价数，即使对于Cu烧结时这样的低温短时间的热处理，也可以控制叠层陶资电容器的氧化.还原状态。即，本发明的第1观点所涉及的电子部件的特征在于，具有元件本体和在上述元件本体的外侧形成的端子电极，所述元件本体具有用电介质陶资组合物构成的电介质层，上述电介质陶乾组合物具有含有钛酸钡的主成分、含有Mg和Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分、含有Si02的第2副成分、含有作为过渡金属的Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分、和含有稀土类元素的氧化物的第4副成分，上述第3副成分中的Mn和/或Cr的价数为2.2~2.4的范围。在本发明中，价数是指表观的价数(因为有价数不同的过渡金属，所以是由对应于各自价数的量计算得到的值)。例如，第3副成分中的Mn的价数根据式子(Mn+2量(mo1。/。)x(+2)+Mn3+f(mol%)x(+3)}/100算出。并且，上式中的mol。/。是指将在第3副成分中含有的Mn原子(Mn"和Mn")的总数作为100mol。/。时的百分率。如果Mn和/或Cr的价数过于低，则呈现还原状态，大量存在氧缺陷的情况，因此不是优选的。另外，当Mn和/或Cr的价数过于高时，由于大量产生内部电极的氧化、阳离子缺陷(Ba缺陷)，所以老化特性和/或寿命特性劣化，从而不是优选的。另外，当使用Mn和/或Cr以外的过渡金属的氧化物、例如Co、Ni、Fe的氧化物作为第3副成分时，寿命特性和老化特性这两者有劣化的倾向。这是由于过渡金属都倾向于价数低的状态(+2)。本发明的第2观点所涉及的电子部件的特征在于，具有元件本体和在上述元件本体的外侧形成的端子电极，所述元件本体具有用电介质陶瓷组合物构成的电介质层，上述电介质陶资组合物具有含有钛酸钡的主成分、含有Mg和Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分、含有Si02的第2副成分、含有Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分、和含有稀土类元素的氧化物的第4副成分，当将在上述第1副成分中含有的Mg和Ca中的至少一种的元素记作XI、将在上述第4副成分中含有的上述稀土类元素记作Re、且将XI、Mn、和Cr的摩尔数相对于Re的摩尔数的摩尔比表示成(Xl+Mn+Cr)/Re时，其特征在于，(Xl+Mn+Cr)/Re大于0.7且在4.2以下。更优选(X1+Mn+Cr)/Re大于0.7且在2.6以下，进而优选1.05~2.6。由于X1、Mn、和Cr作为受体发挥作用、Re作为供体发挥作用，所以当(Xl+Mn+Cr)/Re过于小时，供体多，因而容易还原，从而不是优选的。另外，当(Xl+Mn+Cr)/Re过于大时，由于受体变多，所以氧化缺陷变多，老化特性和/或寿命特性劣化，从而不是优选的。另外，当使用Mn和/或Cr以外的过渡金属的氧化物、例如Co、Ni、Fe的氧化物作为第3副成分时，寿命特性和老化特性这两者有恶化的倾向。优选上述第1副成分~第4副成分相对于100摩尔的上述主成分的比例有下述的关系，第1副成分大于0.1摩尔且小于1.5摩尔(但是，第1副成分的摩尔数是以各元素换算的摩尔数)、第2副成分1~3摩尔、第3副成分大于0.1摩尔且小于0.75摩尔(但是，第3副成分的摩尔数是以各元素换算的摩尔数)、第4副成分大于0.1摩尔且小于1.5摩尔(但是，第4副成分的摩尔数是以稀土类元素换算的摩尔数)。当含有Mg和/或Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分的含量过于少时，有容量温度变化率变大、或者高温加速寿命恶化的倾向。另一方面，当含量过于多时，高温加速寿命恶化。当含有Si02的第2副成分的含量过于少时，容量温度特性变差，另外有IR(绝缘电阻)降低的倾向。另一方面，当含量过于多时，除了IR寿命变得不充分以外，还有产生介电常数急剧下降的倾向。第2副成分除了主要作为烧结助剂发挥作用以外，还具有改善薄层化时初始绝缘电阻的次品率的效果。当含有Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分的含量过于少时，有电介质层半导体化的倾向。另一方面，当含量过于多时，有容量温度特性恶化的情况。该第3副成分具有使抗还原性提高、抑制电介质层的半导体化的效果、提高IR的效果、和增加高温加速寿命的效果。第4副成分具有使居里温度向高温侧移动的效果和将容量温度特性平坦化的效果。当第4副成分的含量过于少时，这种效果变得不充分、容量温度特性变差。另一方面，当含量过多时，有烧结性恶化的倾向。对于上述第4副成分中的稀土类元素，从特性改善效果高的角度考虑，优选为Y、Dy、Ho、Er中的至少任意一种。优选作为第2副成分的玻璃成分可以用化学式MxSi03表示，上式中的M至少含有Ba、Ca、Sr、Li、B的任意一种，x为2/3~2的范围。优选在上述元件本体的内部，内部电极层与上述电介质层交互叠层，介于上述电介质层，相对的任意一对上述内部电极层分别连接在形成于上述元件本体外部的一对上述端子电极上，构成叠层陶瓷电容器。在内部电极层含有的导电材料没有特别地限定，例如有Ni或者Ni合金等的贱金属。本发明所涉及的电子部件的制造方法具有烧成上述元件本体的工序、和将烧成后的上述元件本体进行退火的工序。优选烧成上述元件本体时的烧成温度为1100~1350°C、进而优选1240-1260。C，烧成气氛气体中氧分压大于1.67x1(T"atm且小于9.97x1CT1Gatm。进而优选烧成气氛气体中氧分压为1.18xl0—13atm~7.90xl(T11atm。当烧成温度过于低时，烧结密度变低、易于氧化，因此不是优选的，如果过于高，则结晶粒生长、老化特性变差，因此不是优选的。当烧成时的氧分压过于低时，Mn和/或Cr的价数过于变低，有寿命降低的倾向，从而不是优选的，当氧分压过于高时，Mn和/或Cr的价数变高，有老化特性变差的倾向。优选上迷元件本体退火时的温度为900~IIO(TC,退火气氛气体中氧分压大于5.43xi(T8atm且小于3.12xl(T6atm,进而优选3.05xl(T7atm~1.34x10-6atm。当退火温度过于低时，Mn和/或Cr的价数过于变低，有寿命降低的倾向，当退火温度过于高时，Mn和/或Cr的价数变高，有寿命降低和老化特性变差的倾向。当退火气氛气体中的氧分压过于低时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、IR寿命降低的倾向，当退火气氛气体中的氧分压过于高时，有Mn和/或Cr的价数变高、寿命降低和老化特性变差的倾向。料并进行烧结处理来形成端子电极。优选在端子电极用糊料中混合铜或者铜合金粉末。优选上述端子电极用糊料含有Cu粉末和玻璃成分。优选涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的处理温度为700~850°C。当该处理温度过于低时，端子电极的形成有变难的倾向，当过于高时，产生内部电极的Ni、端子电极的Cu的氧化。压大于0.1xi(r6atm且小于10xi(T6atm。更优选烧结处理时的气氛气体中的氧分压为1xl(T6atm~5x1CT6atm。进而优选烧结处理时的气氛气体中的氧分压为1xi(T6atm~2xl(T6atm。当该氧分压过于低时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、寿命降低的倾向，当氧分压过于高时，有Mn和/或Cr的价数变高、老化特性变差的倾向。涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中的氢浓度优选为0.03-0.2体积％、更优选0.06~0.2体积％。当氢浓度过于高时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、寿命降低的倾向。当氢浓度过于低时，有Mn和/或Cr的价数变高、老化特性变差的倾向。[图l]图1是本发明的一实施方式所涉及的叠层陶瓷电容器的截面图。具体实施方式以下，根据附图所示的实施方式说明本发明。在本实施方式中，列举图1所示的叠层陶瓷电容器1作为电子部件，对其结构和制造方法进行说明。叠层陶瓷电容器如图1所示，作为本发明的一实施方式所涉及的电子部件，叠层陶瓷电容器1具有电介质层2与内部电极层3交互叠层的电容器元件本体10。电容器元件本体10的两侧端部形成与在元件本体10内部交互配置的内部电极层3分别导通的一对端子电极4。内部电极层3叠层，使其各侧端面在电容器元件本体10的相对的两个端部的表面上交互露出。一对端子电极4在电容器元件本体10的两个端部形成，与交互配置的内部电极层3的露出端面连接，构成电容器电路。电容器元件本体10的外形或尺寸没有特别地限定，可以根据用途适当设定，通常外形可以制成大致长方体的形状，尺寸通常制成长(0.4~5.6mm)x宽(0.2~5.0mm)x高(o.2~1.9mm)左右。电介质层电介质层2含有本发明涉及的电介质陶瓷组合物。本发明的电介质陶瓷组合物具有含有钛酸钡(优选用组成式BamTi02+m表示，m为0.995《m《1.010,Ba与Ti的比例为0.995《Ba/Ti《1.010)的主成分、含有Mg和Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分、包含玻璃成分的第2副成分、含有Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分、和含有稀土类元素的氧化物的第4副成分。在本发明中，第3副成分中的Mn和/或Cr的价数为2.2~2.4的范围。另外，具有下述的特征，当将在第1副成分中含有的Mg和Ca中的至少一种的元素记作XI、将在第4副成分中含有的稀土类元素记作Re、且将X1、Mn、和Cr的摩尔数相对于Re的摩尔数的摩尔比表示成(Xl+Mn+Cr)/Re时，其特征在于，(Xl+Mn+Cr)/Re大于0.7且在4.2以下。更优选(Xl+Mn+Cr)/Re大于0.7且在2.6以下，进而优选1.05-2.6。并且X1也可以是选自Mg和Ca的多种元素。另外，Re也可以是多种稀土类元素。第1副成分(MgO、CaO、BaO、SrO)显示使容量温度特性平坦化的效果。特别地，MgO也具有增加高温加速寿命的效果和提高TC偏压特性的效果，因此优选在第1副成分中其为必须成分。含有Mg和Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分的含量相对于100摩尔上述主成分以各元素换算为多于0.1摩尔且少于1.5摩尔，优选为0.3~1摩尔。当第1副成分的含量过于少时，有容量温度变化率变大、或者高温加速寿命恶化的倾向。另一方面，当含量过于多时，高温加速寿命恶化。优选作为第2副成分的玻璃成分可以用化学式MxSi03表示，上式中的M至少含有Ba、Ca、Sr、Li、B的任意一种，x为2/3~2的范围。更优选上迷第2副成分用(Ba，Ca)xSi02+x(但是，x=0.7~1.2)表示。作为第2副成分更优选形式的[(Ba,Ca)xSi02+x]中的BaO和CaO也含有在第1副成分中，但作为复合氧化物的(Ba,Ca)xSi02+x由于熔点低，所以对于主成分的反应性良好，因此在本发明中优选作为上述复合氧化物也添加BaO和/或CaO。在作为第2副成分更优选形式的(Ba,Ca)xSi02+x中，x优选为0.7—1.2,更优选0.8—1.1。当x过于小时，即当Si02过于多时，与主成分BaTi03反应而使电介质特性恶化。另一方面，当x过于大时，熔点变高而使烧结性恶化，因此不是优选的。并且，Ba与Ca的比例是任意的，也可以仅含有一者。第2副成分的含量相对于100摩尔上述主成分以各氧化物换算优选为l-3摩尔、进而优选2-3摩尔。当包含玻璃成分的第2副成分的含量过于少时，容量温度特性变差、另外有IR(绝缘电阻)降低的倾向。另一方面，当含量过于多时，除了IR寿命变得不充分以外，还有产生介电常数急剧下降的倾向。第2副成分除了主要作为烧结助剂发挥作用以外，还具有改善薄层化时初始绝缘电阻的次品率的效果。作为第3副成分的、Mn和Cr中的至少一种的氧化物具有使抗还原性提高、抑制电介质层的半导体化的效果、提高IR的效果、和增加高温加速寿命的效果。第3副成分的含量相对于100摩尔上述主成分以各元素换算优选为多于0.1摩尔且少于0.75摩尔，进而优选为0.25~0.5摩尔。当含有Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分的含量过于少时，有电介质层半导体化的倾向。另一方面，当含量过于多时，有容量温度特性恶化的情况。该第3副成分具有使抗还原性提高、抑制电介质层的半导体化的效果、提高IR的效果、和增加高温加速寿命的效果。第4副成分具有使居里温度向高温侧移动的效果和将容量温度特性平坦化的效果。第4副成分中的稀土类元素中，从特性改善效果高的角度考虑，优选具有Y、Dy、Ho、Er中的至少任意一种。并且，也可以含有其他稀土类的氧化物作为第4副成分。第4成分也与第3成分一样具有改善抗还原性和高温加速寿命、老化特性的效果。第4副成分的含量相对于100摩尔上述主成分以各元素换算优选为多于0.1摩尔且少于1.5摩尔，进而优选为0.25~1摩尔。当笫4副成分的含量过于少时，上述的效果变得不充分，容量温度特性变差。另一方面，当含量过于多时，烧结性有恶化的倾向。在构成电介质层2的电介质陶瓷组合物中，也可以含有例如以下所示的副成分作为其他副成分。例如有含有选自V205、Mo03和WOg的至少1种的第5副成分、含有CaZr03或者CaO+Zr02的第6副成分、和含有Al20s的第7副成分等。作为第5副成分的V205、Mo03和WOg具有将在居里温度以上的容量温度特性平坦化的效果和提高IR寿命的效果。作为第6副成分的CaZr03具有使居里温度向高温侧移动的效果和将容量温度特性平坦化的效果。另外，有改善CR积、直流绝缘破环强度的效果。CaZr03的添加形式没有特别地限定，可以列举由CaO等的Ca构成的氧化物、CaC03等的碳酸盐、有机化合物、CaZr03等。Ca与Zr的比例没有特别地限定，只要以不固溶于作为主成分的BaTi03的程度来决定该比例即可，^旦Ca相对于Zr的摩尔比(Ca/Zr)优选为0.5-1.5、更优选0.8~1.5、进而优选0.9-1.1。作为第7副成分的Al203不会对容量温度特性造成太大影响，并具有改善IR温度依赖性的效果。在本发明书中，用化学计量组成表示构成主成分和各副成分的各氧化物，各氧化物的氧化状态也可以偏离化学计量组成。但是，各副成分的上述比例由在构成各副成分的氧化物中含有的金属量换算成上述化学计量组成的氧化物来求得。本发明的电介质陶瓷组合物的平均结晶粒径没有特别地限定，只要根据电介质层的厚度等，例如从0.10.4juM的范围适当决定即可。对于由本发明的电介质陶瓷组合物构成的电介质层的厚度，每一层通常为0.5~3jum、优选0.52jum、更优选1~2jum。本发明的电介质陶瓷组合物由于形成上述那样的构成，所以这种电介质层的薄层化成为可能。本发明的电介质陶瓷组合物对于改善具有这种薄层化的电介质层的叠层陶瓷电容器的容量温度特性是有效的。并且，电介质层的叠层数通常为2300左右。本发明的电介质陶瓷组合物适用于叠层陶瓷电容器1,所述叠层陶瓷电容器1具有1000以上的相对介电常数、容量温度特性满足EIA规格的X5R特性(-55-85。C、^。=±15%以内)、且用Ni构成内部电极、用Cu构成端子电极。内部电才及层在内部电极层3中含有的导电材料没有特别地限定，由于电介质层2的构成材料具有抗还原性，所以可以使用贱金属。作为导电材料使用的贱金属优选Ni或者Ni合金。Ni合金优选选自Pt、Re、Os和Zr的1种以上的元素与Ni的合金，合金中的Ni含量优选为95重量％以上。并且，在Ni或者Ni合金中也可以含有0.1重量Q/o左右以下的P等的各种微量成分。内部电极层的厚度可以根据用途等适当决定，但通常优选为0.5~5jum、特别优选0.5~1.5jum左右。端子电极端子电极4通常用2层以上的多层结构构成。最内侧的层通过端子电极用糊料的烧结法来形成，所述端子电极用糊料含有选自Cu、Ni和它们的合金的至少1种。该内侧层的组成也可以在Cu中含有玻璃成分。玻璃成分的组成没有特别地限定，例如可以由硅酸盐玻璃、硼硅酸盐玻璃、铝硅酸盐玻璃、磷酸玻璃等构成。在玻璃中，根据需要也可以含有氟化物、CaO、BaO、MgO、ZnO、PbO、Na20、K20、Mn02等的添加物。该内侧层的厚度没有特别地限定，优选1.0-80iim左右。在该内侧层的外侧可以通过例如镀敷处理来形成镀敷层。镀敷层可以使用以溅射法等为代表的干式法、或者在镀敷液中进行的湿式法的任意一种，目前公知的湿式法具体可以使用电镀法、或者非电解镀法，优选电镀法。当在内侧层的外面形成镀敷层时，通常以Ni和Sn的顺序、或者以Ni和Sn-Pb钎焊镀敷的顺序来形成，特别地，从环境的角度考虑，优选以Ni和Sn的顺序形成镀敷层。也可以在镀Ni前形成镀Cu膜。在端子电极4上的镀敷层的厚度没有特别地限定，通常合计为0.1-20lam左右。叠层陶资电容器的制造方法使用了本发明电介质陶瓷组合物的叠层陶瓷电容器与现有的叠层陶瓷电容器同样，可以通过利用使用了糊料的通常的印刷法或薄片法下，对于制造方法进行说明。首先，准备在电介质层用糊料中含有的电介质陶瓷组合物粉末，将其涂料化，调成电介质层用糊料。电介质层用糊料可以是将电介质陶瓷组合物粉末与有机连结料(匕'、匕混炼而成的有机系的涂料，也可以是水系的涂料。电介质陶瓷组合物粉末可以使用上述氧化物或其混合物、复合氧化物，另外也可以从利用烧成形成上述氧化物或复合氧化物的各种化合物，例如碳酸盐、草酸盐、硝酸盐、氢氧化物、有机金属化合物等中适当选择、混合来使用。可以决定电介质陶瓷组合物粉末中的各化合物含量，以使烧成后成为上述电介质陶瓷组合物的组成。在涂料化前的状态下，电介质陶资组合物粉末的粒径通常平均粒径为0.1—0.4jum左右。有机连结料是指将粘合剂溶解在有机溶剂中而成的。在有机连结料中使用的粘合剂没有特別地限定，只要从乙基纤维素、聚乙烯醇缩丁醛等普通的各种粘合剂中适当选择即可。另外，使用的有机溶剂也没有特别地限定，只要根据印刷法或薄片法等利用的方法，从萜品醇、丁基卡必醇、丙酮、曱苯等各种有机溶剂中适当选择即可。另外，对于电介质层用糊料为水系的涂料的情况，只要将在水中溶解水溶性的粘合剂或分散剂等而成的水系连结料与电介质原料进行混炼即可。在水系连结料中使用的水溶性粘合剂没有特别地限定，可以使用例如聚乙烯醇、纤维素、水溶性丙烯酸树脂等。内部电极层用糊料是将包含上述各种介电性金属或合金的导电材料、或者烧成后形成上述导电材料的各种氧化物、有机金属化合物、树脂酸酯(resinate)等与上述有机连结料进行混炼来制备的。端子电极用糊料可以与上述内部电极层用糊料同样来制备。上述各糊料中的有机连结料的含量没有特别地限定，只要是通常的含量、例如粘合剂为1~5重量％左右、溶剂为10~50重量％左右即可。另外，在各糊料中也可以根据需要含有选自各种分散剂、增塑剂、电介质、绝缘体等的添加物。这些添加物的总含量优选为10重量％以下。当使用印刷法时，将电介质层用糊料和内部电极层用糊料在PET等的基板上叠层印刷来得到叠层物。将该叠层物切割成规定形状后，从基板上剥离而制成生芯片(烧成前的元件本体)。另外，当使用薄片法时，使用电介质层用糊料形成生片，在其上印刷内部电极层用糊料后，将它们叠层而得到叠层物。将该叠层物切割成规定的形状，制成生芯片(烧成前的元件本体)。烧成前对生芯片进行脱粘合剂处理。脱粘合剂处理可以根据内部电极层糊料中导电材料的种类而适当决定，当使用Ni或Ni合金等的贱金属作为导电材料时，优选使脱粘合剂气氛中的氧分压为1(T45~105Pa。当氧分压小于上述范围时，脱粘合剂效果降低。另外当氧分压超过上述范围时，内部电极层有氧化的倾向。另外，作为其他的脱粘合剂条件，升温速度优选为530(TC/小时、更优选10-10(TC/小时，保持温度优选为180~400°C、更优选200~35CTC,温度保持时间优选为0.5-24小时、更优选220小时。另夕卜，烧成气氛优选空气或者还原性气氛，在还原性气氛中作为气氛气体优选将例如N2与H2的混合气体加湿来使用。生芯片烧成时的气氛根据内部电极层用糊料中导电材料的种类而适当决定，对于本实施方式，为了进行Mn和/或Cr的价数控制，烧成气氛中的氧分压为大于1.67x1(T"atm且小于9.97xl(T1()atm。进而优选烧成气氛气体中的氧分压为1.18x10—13atm~7"0x10-Uatm。当烧成时的氧分压过于低时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、寿命下降的倾向，从而不是优选的，当氧分压过于高时，有Mn和/或Cr的价数过于变高、老化特性变差的倾向。另外，烧成时的保持温度优选为1100~1350°C、进而优选1240~1260°C。当保持温度小于上述范围时，致密化不充分，当超过上述范围时，容易产生由内部电极层的异常烧结导致的电极的断续、或由内部电极层构成材料的扩散导致的容量温度特性的恶化、电介质陶瓷组合物的还原。作为除此之外的烧成条件，升温速度优选为5050(TC/小时、更优选200300。C/小时，温度保持时间优选为0.5~8小时、更优选1~3小时，冷却速度优选为50-50(TC/小时、更优选20030(TC/小时。另外，烧成气氛优选还原性气氛，作为气氛气体优选将例如N2与H2的混合气体加湿来使用。气氛气体中的氢(H2)浓度和氧分压可以通过调节加湿器温度而变化。当在还原性气氛中进行烧成时，优选对于电容器元件本体实施退火。退火是为了将电介质层再氧化而进行的处理，由此可以显著延长IR寿命，因此可靠性提高。在本实施方式中为了进行Mn和/或Cr的价数控制，退火气氛中的氧分压为大于5.43xlCT8atm且小于3.12xl(T6atm、进而优选3.05x10.7atm~1.34x10-6atm。在本实施方式中为了进行Mn和/或Cr的价数控制，退火时的保持温度优选为卯0~IIO(TC。当退火保持温度过于低时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、寿命降低的倾向，当退火温度过于高时，有Mn和/或Cr的价数变高、寿命降低且老化特性变差的倾向。另外，当退火温度过于低时，一般来说电介质层的氧化变得不充分，因此IR易于变低，另外IR寿命易于变短。另一方面，当退火保持温度过于高时，不仅内部电极层氧化、容量下降，而且内部电极层与电介质基体反应，容易产生容量温度特性的恶化、IR的降低、IR寿命的降低。并且，退火也可以仅由升温过程和降温过程构成。即，可以使温度保持时间为0。该情况下，保持温度与最高温度意义相同。作为除此之外的退火条件，温度保持时间优选为0~20小时、更优选2-10小时，冷却速度优选为5050(TC/小时、更优选100300。C/小时。另夕卜，优选例如使用加湿的N2气体等作为退火的气氛气体。即，氢浓度优选为0%。在上述脱粘合剂处理、烧成和退火中，加湿N2气体或混合气体等时，例如可以使用加湿器。该情况下，水温优选为575。C左右、特别优选2(TC附近。脱粘合剂处理、烧成和退火可以连续进行、也可以独立进行。当连续进行它们时，优选在脱粘合剂处理后，不冷却而改变气氛，接着升温至烧成时的保持温度进行烧成，接着冷却，在达到退火的保持温度时改变气氛并进行退火。另一方面，当独立进行这些操作时，优选在烧成时，在N2气体或者加湿的N2气体气氛下升温至脱粘合剂处理时的保持温度后、改变气氛进而持续升温，优选冷却至退火时的保持温度后，再变化至N2气体或者加湿的N2气体气氛并持续进行冷却。另外，在退火时，可以在N2气体气氛下升温至保持温度后改变气氛，也可以使退火的全过程都在加湿的N2气体气氛下进行。在如上述那样得到电容器元件本体上通过例如滚筒抛光或喷砂等实施端面抛光，涂布至少含有Cu粉末和玻璃成分的端子电极用糊料(印刷或者转印)并进行烧结处理(烧成)来形成端子电极4。当进行端子电极用糊料的烧结处理时，首先，在糊料的干燥后进行脱粘合剂处理和Cu再还原处理，之后在例如N2与H2的混合气体中，对于本实施方式在700-850。C下进行约10分钟~1小时的烧结处理。干燥在空气中进行，优选在60~150。C的温度下进行约10分钟~1小时左右。脱粘合剂处理在空气中进行，以例如500-100(TC/小时的升温速度升温、在400500。C的保持温度下保持大约15~60分钟。另夕卜，Cu再还原在N2+H2(5。/。)的气氛中进行，以例如500~1000。C/小时的升温速度升温、在400500。C的保持温度下保持大约15~60分钟。在本实施方式中，对于端子电极的烧结处理后的元件本体，在电介质层中含有的第3副成分中的Mn和/或Cr的价数为2.2~2.4的范围。如果烧结处理后的Mn和/或Cr的价数过于低，则呈现还原状态，大量存在氧缺陷的情况，因此不是优选的。另外，当Mn和/或Cr的价数过于高时，由于大量产生内部电极的氧化、阳离子缺陷(Ba缺陷)，所以老化特性和/或寿命特性恶化，从而不是优选的。因此，通过使Mn和/或Cr的价数为2.2~2.4的范围内，可以防止这些不合适的情况。在本实施方式中，该烧结处理时的气氛气体中的氧分压大于0.1x10-、tm且小于10xl(T6atai。更优选烧结处理时的气氛气体中的氧分压为1xi(T6atm~5x10—6atm。进而优选烧结处理时的气氛气体中的氧分压为1xl(T6atm~2xl(T6atm。当该氧分压过于低时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、寿命降低的倾向，从而不是优选的，当氧分压过于高时，有Mn和/或Cr的价数变高、老化特性变差的倾向。对于本实施方式，在涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中，氢浓度优选为0.03~0.2体积％、更优选0.06~0.2体积％。当氢浓度过于高时，有Mn和/或Cr的价数过于变低、寿命降低的倾向。当氢浓度过于低时，有Mn和/或Cr的价数变高、老化特性变差的倾向。因此，通过使氢浓度为0.03-0.2体积％,可以防止这些不合适的情况。之后，根据需要在端子电极4的表面通过镀敷等形成被覆层。这样制造的本发明的叠层陶瓷电容器通过钎焊等安装在印刷基板等上，在各种电子仪器等中使用。以上对于本发明的实施方式进行了说明，但本发明不限定于这样的实施方式，在不脱离本发明要旨的范围内可以用各种的方式实施。例如在上述的实施方式中，列举了叠层陶瓷电容器作为本发明涉及的电子部件，但作为本发明涉及的电子部件，不限定于叠层陶瓷电容器，只要是具有由上述组成的电介质陶瓷组合物构成的电介质层的电子部件即可。实施例以下，说明本发明。但是，本发明不限定于这些实施例实施例1首先，作为用于制作电介质材料的起始原料，分别准备平均粒径为0.3jam的水热合成粉主成分原料(BaTi03)和0.05~0.1|um的第1~第4副成分原料。对于MgO和MnO的原料，使用碳酸盐(第1副成分MgC03、笫3副成分MnC03),对于其他的原料，使用氧化物(第2副成分(Baa6Ca。.4)Si03、第4副成分Y203)。并且，作为第2副成分的0.1ium的(Ba0.6Ca0.4)Si03可以通过将BaC03、CaC03和Si02利用球磨机进行16小时的湿式混合并干燥后、在1150°C的温度下在空气中烧成、进而利用球磨机进行100小时的湿式粉石f来制造。作为主成分的BaTi03即使使用如下述那样制作的化合物也可以得到同样的特性，即，分别称量0.1|um的BaC03和0.1jum的Ti02,使用球磨机进行约16小时的湿式混合，将其干燥后在IIO(TC的温度下在空气中进行烧成，并将该烧成物利用球磨机进行约16小时的湿式粉碎这样来制作。另外，作为主成分的BaTi03即使使用通过水热合成粉、草酸盐法等制成的化合物也可以得到同样的特性。配合这些原料，使烧成后的组成相对于100摩尔作为主成分的BaTi03为表1所示，利用球磨机进行16小时的湿式混合，并使其干燥来制成电介质材料。在表l中，作为第1副成分的Mg、Ca、Sr的氧化物的摩尔数是各元素自身的摩尔数。同样，作为第3副成分的过渡金属的氧化物的摩尔数是各过渡金属元素自身的摩尔数。另外同样，作为第4副成分的稀土类氧化物的摩尔数是各稀土类元素自身的摩尔数。相对于100摩尔作为主成分的BaTi03,作为第2副成分的(Ba0.6Ca0.4)SiOs的摩尔数虽然在表中没有记述，但以氧化物换算为2.0摩尔。另夕卜，在表1中，Mn/Cr、Mn/Co、Mn/Ni、Mn/Fe分别是指Mn+Cr、Mn+Co、Mn+Ni、Mn+Fe的意思。此时的Mn和Co、Ni、Fe的比例为1:1。接着，将100重量份得到的干燥后的电介质原料、4.8重量份丙烯酸树脂、100重量份乙酸乙酯、6重量份松香水和4重量份甲苯用球磨机混合并糊化，得到电介质层用糊料。通过刮板法将该糊料成型为厚度为3.0nm的片材，形成生片。接着，将100重量份平均粒径为0.3jum的Ni粒子、40重量份有机连结料(将8重量份乙基纤维素溶解在92重量份丁基卡必醇中而成)、和10重量份丁基卡必醇利用三元辊进行混炼并糊化，得到内部电极层用糊料。将该电极糊料印刷在上述生片上，形成膜厚为1.1mm的Ni电极膜。接着，将100重量份平均粒径为0.5jum的Cu粒子、35重量份有机连结料(将8重量份乙基纤维素树脂溶解在92重量份丁基卡必醇中而成)、和7重量份丁基卡必醇进行混炼并糊化，得到端子电极用糊料。接着，使用上述电介质层用糊料在PET薄膜上形成厚度为3.0pm的生片，在其上以1.1jum这样的厚度印刷内部电极层用糊料，然后从PET薄膜上剥离生片。接着，将这些生片与保护用生片(没有印刷内部电极层用糊料的生片)进行叠层、压合，得到叠层物。具有内部电极的片材的叠层数为4层。接着，将叠层物按照规定尺寸切割，得到生芯片(烧成前的元件本体)。对于该元件本体，进行脱粘合剂处理、烧成和退火，得到叠层陶瓷烧成物。脱粘合剂处理在升温速度为15。C/小时、保持温度为28CTC、保持时间为8小时、空气气氛的条件下进行。烧成在升温速度为20(TC/小时、保持温度为1260°C(参考表2)、保持时间为2小时、冷却速度为30(TC/小时、加湿的N2+H2混合气体气氛(氧分压参考表2:4.80x10-12atm)的条件下进行。并且，在表2中，Po2是氧分压，单位为atm。另外，在表2中，D.P是气氛气体的露点温度，其值为2(TC。表2中的H2浓度表示氢浓度，单位是体积％。退火在保持温度为IOOO"C、温度保持时间为9小时、冷却速度为300。C/小时、加湿的N2气体气氛(氧分压为7.47x10—7atm/参考表2)的条件下进行。并且，退火时的加湿器温度为20°C,氢浓度为0%。得到的叠层陶瓷烧成物的电介质层厚度为2.2pm、结晶粒径为0.36iam。Ni电才及厚度为1.0jum。接着，利用喷砂法将叠层陶瓷烧成物的端面进行抛光后，在端面上涂布端子电极用糊料，并进行烧结处理来形成端子电极，得到图1所示构成的叠层陶瓷电容器的样品。在进行烧结处理时，首先以1000°C/hr的升温速度升温至50(TC，将该50(TC在空气中保持IO分钟，并进行脱粘合剂处理，然后以1000°C/hr的升温速度升温至500°C,将该50(TC在N2-H2(5%)气氛中保持10分钟，并进行再还原处理，然后在N2+H2气氛中，在800°C(参考表2)下用带式炉进行10分钟的烧结处理。并且，如表2所示的那样，烧结处理时的氢浓度为0.06%,氧分压为2xl(T6atm。这样得到的各样品的尺寸为3.2mmx1.6mmx0.6mm,夹在内部电极层间的电介质层的数目为4,其厚度为3.5-4.5jum,内部电极层的厚度为l.Ojum。将得到的多个电容器样品1~26(参考表1)切割，利用ESR(电子自旋共振)法确定在其截面的电介质层中含有的过渡金属(Mn,Co,Cr,Fe)的价数，比较与标准样品量相比的峰强度进行定量化。结果示于表1。ESR测定条件如下所示。测定装置BRUKER社的ESP350E测定温度20K中心石兹场5000Gf兹场扫描范围10000G调制100kHz振幅0.5mT(磁场)微波9.46GHz和O.lmW(能量)扫描时间167.772sx2次时间常数81.92ms数据点数2048点空腔(cavity):TMllO、圆筒型。另外，对于得到的多个电容器样品1~26,评价相对介电常数(sr)、介质损耗(tan5)、绝缘电阻(IR)、高温加速寿命、老化特性。结果示于表1。相对介电常数sr可对于电容器样品由静电容量算出(没有单位)，所述静电容量在25。C的标准温度下、利用数字LCR计(YHP社制4274A)在频率数为lkHz、输入信号水平(测定电压)为l.OVrms的条件下测定。当相对介电常数sr为3100以上时判断为良好。介质损耗(tan5)是对于电容器样品、在25。C的标准温度下、利用数字LCR计(YHP社制4274A)在频率数为lkHz、输入信号水平(测定电压)为l.OVrms的条件下进行测定的。当介质损耗(tan5)为5%以下时判断为良好。对于IR的测定，使用温度可变IR测定器在室温、测定电压为6.3V/lim、电压外加时间为60s的条件下进行测定。当IR为lxl(^Q以上时判断为良好。高温加速寿命(HALT)通过将得到的样品保持在20(TC、外加20V/iam直流电压的状态下、测定平均寿命时间来进行评价。在本实施例中，将从开始外加电压至绝缘电阻降低一位的时间定义为寿命。另外，对于10个电容器样品进行该高温加速寿命的测定。作为评价标准，将10小时以上判断为良好(〇)，将不满足该条件的判断为不好(x)。在老化试验中，对于得到的样品，在85。C的温度下外加6.3V的电压，在试验开始前和试验结束后(1000小时后)测定静电容量，以％判断与试验开始前相比，试验结束后静电容量变化了多少。具体来说，对于样品首先进行150°C-lhr的热处理，接着在室温下放置24小时，在lVrms@lkHz的条件下测定静电容量，将其值作为Co。接着，在85。C的恒温槽内对样品外加1000小时直流的6.3V的电压。在该1000小时后，取出样品，在室温下放置24小时。然后在1Vrms@lkHz的条件下测定静电容量，将其值作为Cl，用(Co-Cl)/Co"00的式子求出容量变化率，将其值作为老化特性值，记述在表中。对于静电容量的测定，使用数字LCR计(YHP制4274A)、在频率数为lkHz、输入信号水平为1Vrms的条件下进行测定。将-7%以内判断为良好(〇)，将不满足该条件的判断为不好(x)。在综合判定中，将高温加速寿命和老化特性这两者都判断为良好(〇)、且sr为3100以上、tan5为5%以下、IR为1x1090以上的样品，判断为良好(〇)，将不满足上述任一者的样品判断为不好(x)。表1<table>tableseeoriginaldocumentpage22</column></row><table>表2<formula>formulaseeoriginaldocumentpage23</formula><table>tableseeoriginaldocumentpage24</column></row><table>如表1所示的那样，通过比较样品1~4，可以确认当使Mn的摩尔数变化时，作为过渡金属的Mn的价数发生变化。另外，可以确认当Mn的摩尔数相对于100摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于0.75摩尔、进而优选为0.25-0.5摩尔时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。并且，对于样品L综合评价不好是由于IR为lxi(^Q以下的缘故。通过比较样品5-9，可以确认当使Mg的摩尔数变化时，作为过渡金属的Mn的价数发生变化。另夕卜，可以确认当Mg的摩尔数相对于100摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于1.5摩尔、进而优选为0.3~1摩尔时，Mn的价数为2.2-2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。通过比较样品10-15,可以确认当使Y的摩尔数变化时，作为过渡金属的Mn的价数发生变化。另外，可以确认当Y的摩尔数相对于100摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于1.5摩尔、进而优选为0.25-1摩尔时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。并且，如样品20-22所示的那样，当使用Dy、Ho或者Er代替Y时，可以得到与使用Y时同样的结果。另外，通过比较样品115,可以确认当摩尔比(Mg+Mn+Cr)/Re大于0.7且在4.2以下、优选(Mg+Mn+Cr)/Re为1.05-4.2时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。并且，样品4中作为第3副成分的Mn的含量过于多(0.75摩尔)。其结果是(Mg+Mn+Cr)/Re为3.1、Mn的价数超过2.4(2.45)，老化特性差。因此，样品4不是优选的。另外，样品9中作为第1副成分的Mg的含量过于多(1.5摩尔)。其结果是(Mg+Mn+Cr)/Re为3.5、Mn的价数超过2.4(2.45),相对介电常数sr小于3100。因此，样品9不是优选的。通过比较样品16-19和2326,可以确认当使用Cr、或者Mn+Cr代替Mn时，能够得到与使用Mn时同样的结果。并且，当使用其他的过渡金属(Co，Ni,Fe)代替Mn或者Cr时，与使用Mn或者Cr时相比，寿命特性和老化特性都变差。实施例2如表3所示的那样，除了使烧成气氛条件、退火条件、或者端子烧结条件变化以外，其他与实施例1的样品2，7，12(表1和表2)同样来制作电容器样品，进行同样的评价。结果示于表3。如表3所示的那样，通过比较样品27-32,可以确认当涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中的氧分压为大于0.1x10-6atm且小于10xl(T6atm、进而优选1xl(T6atm~5xl(T6atm时，Mn的价数为2.2-2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。另外，可以确认对于在涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中氢浓度为0.03~0.2体积％的情况，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。通过比较样品33~37,可以确认当退火时的温度为900~1100°C时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。通过比较样品35a~35e,可以确认当退火气氛气体中的氧分压为大于5.43x10—8atm且小于3.12x10-6atm、进而优选3.05xl(T7atm~1.34xl(T6atm时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。通过比较样品38~42,可以确认当烧成气氛气体中的氧分压为大于1.67x10"4atm且小于9.97xlCT1Qatm、进而优选1.18x1013atm~7,90xlO-Uatm时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。实施例3如表4所示的那样，除了使用Cr作为第3副成分以外，其他与实施例1的样品(表1,2)同样来制作电容器样品，进行同样的评价。结果示于表4。<table>tableseeoriginaldocumentpage27</column></row><table>如表4所示的那样，通过比较样品48-51，可以确认当使Cr的摩尔数变化时，作为过渡金属的Cr的价数发生变化。另外，可以确认当Cr的摩尔数相对于100摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于0.75摩尔、进而优选为0.25~0.5摩尔时，Cr的价数为2.4(2.2~2.4的范围)，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。并且，对于样品48,综合评价不好是由于IR为1x1090以下的缘故。通过比较样品52-56,可以确认当使Mg的摩尔数变化时，作为过渡金属的Cr的价数发生变化。另外，可以确认当Mg的摩尔数相对于100摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于1.5摩尔、进而优选为0.31摩尔时，Cr的价数为2.3-2.4(2.2-2.4的范围内)，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。并且，对于样品52,综合评价不好是由于IR为1x1090以下的缘故。通过比较样品57-62,可以确认当使Y的摩尔数变化时，作为过渡金属的Cr的价数发生变化。另外，可以确认当Y的摩尔数相对于IOO摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于1.5摩尔、进而优选为0.25-l摩尔时，Cr的价数为2.36-2.4(2.2~2.4的范围内)，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。并且，对于样品62,综合评价不好是由于相对介电常数sr小于3100的缘故。并且，如样品63~65所示的那样，可以确-〖人当^f吏用Dy,Ho或者Er代替Y时，能够得到与使用Y时同样的结果另外，通过比较样品48~65,可以确认当摩尔比(Mg+Mn+Cr)/Re大于0.7且在4.2以下、优选(Mg+Mn+Cr)/Re为1.05-4.2时，Cr的价数为2.36~2.4(2.2-2.4的范围)，寿命特性与老化特性这两者的平tf良好地提高。并且，样品48中作为第3副成分的Cr的含量过于少(0.1摩尔)。其结果是(Mg+Mn+Cr)/Re为1.8，Cr的价数小于2.2(2.19),IR小于lxio9Q。因此，样品48不是优选的。另夕卜，样品51中作为第3副成分的Cr的含量过于多(0.75摩尔)。其结果是(Mg+Mn+Cr)/Re为3.1，Cr的价数超过2.4(2.45),相对介电常数sr小于3100。因此，样品51不是优选的。另夕卜，样品56中作为第1副成分的Mg的含量过于多(1.5摩尔)。其结果是(Mg+Mn+Cr)/Re为3.5,Cr的价数超过2.4(2.42),相对介电常数sr低，寿命特性差。因此，样品56不是优选的。实施例4在实施例4中，第3副成分的组成、第l-4副成分的含量、端子电极烧结处理时的氢浓度和氧分压分别如表5所示。除此以外，与实施例1的样品(表1,2)同样来制作电容器样品，进行同样的评价。结果示于表5。<table>tableseeoriginaldocumentpage30</column></row><table>如表5所示的那样，通过比较样品66~95,可以确认对于在涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中的氧分压大于0.1x1CT6atm且小于10xl(T6atm、进而优选1xl(T6atm~5xi(T6atm的情况，Mn或者Cr的价数为2.2~2.4的范围。另外，可以确认对于在涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中的氢浓度为0.03~0.2体积％、优选0.06~0.2体积％的情况，Mn或者Cr的价数为2.2~2.4的范围。进而，当Mn或者Cr的价数在2.22.4的范围内时，可以确认寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。实施例5除了使用Ca的氧化物来代替Mg氧化物作为第1副成分以外，与实施例1(表1的样品5-9、表2)同样来制作电容器样品，进行同样的评价。结果示于表6。<table>tableseeoriginaldocumentpage32</column></row><table>如表6所示的那样，通过比较样品96~100,可以确认当使Ca的摩尔数变化时，作为过渡金属的Mn的价数发生变化。另外，可以确认当Ca的摩尔数相对于100摩尔的主成分、优选为大于0.1摩尔且小于1.5摩尔、进而优选为0.3~1摩尔时，Mn的价数为2.2~2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。另外，可以确认当摩尔比(Xl+Mn)/Re的范围为大于0.7且小于3.5(更优选1.1~2.5)时，Mn的价数为2.2-2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。实施例6使作为第2副成分的(Ba。.6Ca。.4)Si03的摩尔数相对于100摩尔作为主成分的BaTi03为如表7所示的值。除此以外，与实施例l的样品2,7,12(表1和表2)同样来制作电容器样品，进行同样的评价。结果示于表7。对于在实施例6(表7)的全部样品中的各副成分的含量，第1副成分Mg为0.8摩尔，第3副成分Mn为0.25摩尔，第4副成分Y为0.5。另外，摩尔比(Mg+Mn)/Y为2.1。表7<table>tableseeoriginaldocumentpage34</column></row><table>如表7的样品111~115所示的那样，可以确认当第2副成分(Bao.6Ca。.4)Si03的摩尔数相对于100摩尔主成分优选为1-3摩尔时，Mn的价数为2.2-2.4的范围，寿命特性与老化特性这两者的平衡良好地提高。权利要求1.电子部件，具有元件本体和在上述元件本体的外侧形成的端子电极，所述元件本体具有用电介质陶瓷组合物构成的电介质层，其特征在于，上述电介质陶瓷组合物具有含有钛酸钡的主成分、含有Mg和Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分、含有SiO2的第2副成分、含有Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分、和含有稀土类元素的氧化物的第4副成分，上述第3副成分中的Mn和/或Cr的价数为2.2～2.4的范围。2.如权利要求1所述的电子部件，上述第1副成分~第4副成分相对于100摩尔上述主成分的比例具有下述的关系，第1副成分大于0.1摩尔且小于1.5摩尔，但是，第1副成分的摩尔数是以各元素换算的摩尔数、第2副成分1~3摩尔、第3副成分大于0.1摩尔且小于0.75摩尔，但是，第3副成分的摩尔数是以各元素换算的摩尔数、第4副成分大于0.1摩尔且小于1.5摩尔，但是，第4副成分的摩尔数是以稀土类元素换算的摩尔数。3.如权利要求2所述的电子部件，其特征在于，当将在上述第1副成分中含有的Mg和Ca中的至少一种的元素记作XI,将在上述第4副成分中含有的上述稀土类元素记作Re,且将XI、Mn和Cr的摩尔数相对于Re的摩尔数的摩尔比表示成(Xl+Mn+Cr)/Re时，(Xl+Mn+Cr)/Re为大于0.7且在4.2以下。4.如权利要求1~3中任一项所述的电子部件，上述第4副成分中的稀土类元素是Y、Dy、Ho、Er中的至少任意一种。5.如权利要求1-4中任一项所述的电子部件，作为上述第2副成分的玻璃成分可以用化学式MxSi03表示，上述化学式中的M至少含有Ba、Ca、Sr、Li、B的任意一种，x为2/3-2的范围。6.如权利要求1~5中任一项所述的电子部件，在上述元件本体的内部，内部电极层与上述电介质层交互叠层，介于上述电介质层，相对的任意一对上述内部电极层分别连接在形成于上述元件本体外部的一对上述端子电极上，构成叠层陶资电容器。7.电子部件的制造方法，其是制造如权利要求1~6中任一项所述的电子部件的方法，具有烧成上述元件本体的工序、和将烧成后的上述元件本体进行退火的工序。8.如权利要求7所述的电子部件的制造方法，烧成上述元件本体时的烧成温度为1100-135(TC,烧成气氛气体中氧分压大于1.67xl(T14atm且小于9.97xl(T10atm。9.如权利要求7或者8所述的电子部件的制造方法，上述元件本体退火时的温度为900-1100°C,退火气氛气体中氧分压大于5.43x1CT8atm且小于3.12xl(T6atm。10.如权利要求7~9中任一项所述的电子部件的制造方法，通过处理来形成端子电极。11.如权利要求10所述的电子部件的制造方法，其特征在于，上述端子电极用糊料含有Cu粉末和玻璃成分。12.如权利要求10或者11所述的电子部件的制造方法，涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的处理温度为700~850°C。13.如权利要求10-12中任一项所述的电子部件的制造方法，涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中的氧分压大于0.1xl(T6atm且小于10xl(T6atm。14.如;f又利要求10~13中任一项所述的电子部件的制造方法，其特征在于，涂布端子电极用糊料并进行烧结处理时的气氛气体中的氢浓度为0.03~0.2体积％。全文摘要电子部件(1)，具有元件本体(10)和在元件本体(10)的外侧形成的端子电极(4)，所述元件本体(10)具有用电介质陶瓷组合物构成的电介质层(2)。电介质陶瓷组合物具有含有钛酸钡的主成分、含有Mg和Ca中的至少一种的氧化物的第1副成分、含有SiO<sub>2</sub>的第2副成分、含有Mn和Cr中的至少一种的氧化物的第3副成分、和含有稀土类元素的氧化物的第4副成分，第3副成分中的Mn和/或Cr的价数为2.2～2.4。通过该电子部件(1)，可以使高温加速寿命特性与容量负荷老化特性这两者的平衡良好地提高。文档编号H01B3/12GK101248025SQ20068003087公开日2008年8月20日申请日期2006年6月23日优先权日2005年6月24日发明者佐藤茂树,福田启一申请人:Tdk株式会社