内存卡自动插拔测试结构的制作方法

文档序号:7246430阅读:274来源:国知局
内存卡自动插拔测试结构的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种内存卡自动插拔测试结构,包括内存固定杆、顶杆和若干弹性体,内存固定杆和顶杆能够朝向测试插槽做来回直线移动,顶杆一端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶内存固定杆,弹性体一端固定止动且另一端连接内存固定杆,先将内存卡固定于内存固定杆上,外部驱动装置驱动顶杆做推进运动,顶杆抵顶内存固定杆一起运动致使内存固定杆将内存卡插入相应的测试插槽中,测试完成后外部驱动装置驱动顶杆做拉出运动,顶杆与内存固定杆脱离,内存固定杆在弹性体作用下回弹至初始位置,以此实现内存卡的自动插拔;另外,本发明拨片的结构设计,使得本发明具有自动打开测试插槽两侧耳扣的功能,更加便于内存卡的自动插拔。
【专利说明】内存卡自动插拔测试结构
【技术领域】
[0001]本发明属于内存卡检测装置领域,具体涉及一种在内存卡测试时能够实现自动插拔内存卡的结构。
【背景技术】
[0002]现有技术中,内存卡测试一般采用人工的方式插拔内存卡,不仅操作不便、效率低、消耗人力,而且容易因人为因素产生一些不良后果,比如操作人员未将内存卡插到位而导致测试结果不良,或者操作人员在插拔内存卡时用力过大导致内存卡或者插槽损坏等。

【发明内容】

[0003]为了克服上述缺陷,本发明提供了一种内存卡自动插拔测试结构,本发明的内存卡自动插拔测试结构在内存卡测试时实现了内存卡的自动插拔,解放了人力,也避免了因人为因素导致的不良后果,而且效率高,再者,本发明结构设计简单合理、易于实施。
[0004]本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]一种内存卡自动插拔测试结构,包括内存固定杆、顶杆和若干弹性体,所述内存固定杆和所述顶杆能够朝向测试插槽做来回直线移动,内存卡能够固定于所述内存固定杆,所述顶杆一端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶所述内存固定杆,所述弹性体一端固定止动且另一端连接所述内存固定杆,所述弹性体的伸缩方向与所述顶杆的运动方向平行。
[0006]本发明是先将内存卡固定于所述内存固定杆上,然后通过外部驱动装置驱动所述顶杆做推进运动,所述顶杆抵顶所述内存固定杆一起运动致使内存固定杆将内存卡插入相应的测试插槽中,测试完成后通过外部驱动装置驱动所述顶杆做拉出运动,此时顶杆与所述内存固定杆脱离,内存固定杆在弹性体作用下回弹至初始位置,致使内存卡从测试插槽中拔出,以此实现内存卡的自动插拔。
[0007]本发明为了解决其技术问题所采用的进一步技术方案是:
[0008]进一步地说,还设有外壳。
[0009]进一步地说,所述外壳内固定有若干第一导向块,所述顶杆上开设有若干相互平行的第一直线导槽,所述第一导向块位于对应的第一直线导槽内;所述外壳内固定有若干第二导向块,所述内存固定杆上开设有若干相互平行的第二直线导槽,所述第二导向块位于对应的第二直线导槽内;所述第一直线导槽与所述第二直线导槽平行。当然,作为本发明的等效实施方式,可以将上述第一、第二导向块分别设置于顶杆和内存固定杆上,并将第一、第二直线导槽设置于外壳上。
[0010]进一步地说,设有两块拨片,所述两块拨片对称位于所述内存卡的两侧,每块所述拨片的一端可转动连接于所述外壳,每块所述拨片的另一端为导向面,每块所述拨片上开设有与第一直线导槽和第二直线导槽相平行的导向槽,所述导向槽由一体连续的V形段和直线段构成,所述V形段较所述直线段更靠近所述拨片的一端,两块拨片上的导向槽对称,所述顶杆的另一端分别朝向两侧拨片固定有两个导向柱,所述导向柱位于对应的拨片的导向槽内。当外部驱动装置驱动所述顶杆做推进运动时,顶杆所连接的导向柱与拨片导向槽的V形段相配合,驱使两拨片向外运动,由于拨片的另一端为导向面,该导向面是与测试插槽两侧的耳扣相匹配的,向外运动的拨片将耳扣向外打开,然后顶杆继续推进驱使内存固定杆将内存卡插入测试插槽中,再将测试插槽两侧的耳扣扣于内存卡两侧的半圆孔内,完成内存卡的插接;当测试结束后需要将内存卡拔出时,外部驱动装置驱动所述顶杆做拉出运动,顶杆先与所述内存固定杆脱离,当顶杆运动至其所连接的导向柱与拨片导向槽的V形段配合时,会驱使两拨片向外运动,从而将测试插槽两侧用于锁定内存卡的耳扣打开,内存卡在弹性体回弹力的作用下恢复至初始位置。
[0011]较佳地,所述内存固定杆由一个U形固定架和至少一根第一导杆一体构成,所述U形固定架由横杆和位于横杆两端的两插杆一体构成,所述两插杆的位置对应于所述内存卡的两侧,每个插杆上都开设有与内存卡平行的插槽,每个插杆上与所述插槽位置对应的部位开始有与内存卡垂直的螺孔,内存卡能够于其两侧边处插于所述插槽内并通过螺丝于所述螺孔处锁定,所述第一导杆与所述横杆正交一体连接,所述第二直线导槽开设于所述第一导杆上。
[0012]较佳地,所述顶杆为U形,由驱动连接杆以及位于所述驱动连接杆两端的两根第二导杆构成,所述驱动连接杆连接外部驱动装置,所述第二导杆一端连接于所述驱动连接杆端部,所述顶杆能够于第二导杆另一端处抵顶所述内存固定杆,所述第一直线导槽开设于所述第二导杆上,所述第二导杆另一端朝向所述拨片方向一体延伸有连接片,所述导向柱固定于所述连接片上。
[0013]进一步地说,设有若干弹簧螺钉,所述弹簧螺钉连接所述内存固定杆的横杆与所述弹性体,所述弹簧螺钉与所述第一直线导槽和所述第二直线导槽平行。
[0014]较佳地,所述外壳上设有螺钉槽,所述螺钉槽与所述第一直线导槽和所述第二直线导槽平行,所述弹簧螺钉位于所述螺钉槽内。
[0015]较佳地,所述导向柱是卡簧转轴。
[0016]较佳地,所述导向面为斜面。
[0017]本发明的有益效果是:本发明的内存卡自动插拔测试结构,包括内存固定杆、顶杆和若干弹性体,内存固定杆和顶杆能够朝向测试插槽做来回直线移动,顶杆一端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶内存固定杆,弹性体一端固定止动且另一端连接内存固定杆,先将内存卡固定于内存固定杆上,外部驱动装置驱动顶杆做推进运动,顶杆抵顶内存固定杆一起运动致使内存固定杆将内存卡插入相应的测试插槽中,测试完成后外部驱动装置驱动顶杆做拉出运动,顶杆与内存固定杆脱离,内存固定杆在弹性体作用下回弹至初始位置,以此实现内存卡的自动插拔;另外,本发明拨片的结构设计,使得本发明具有自动打开测试插槽两侧耳扣的功能,更加便于内存卡的自动插拔。
【专利附图】

【附图说明】
[0018]图1为本发明内部结构示意图;
[0019]图2为本发明所述内存固定杆的结构示意图;
[0020]图3为图2的A向视图;
[0021]图4为本发明所述顶杆的结构示意图;[0022]图5为本发明所示拨片结构示意图;
[0023]图6为本发明的内存卡自动插拔测试结构将内存卡自动插入测试插槽的过程示意图;
[0024]图7为本发明的内存卡自动插拔测试结构将内存卡从测试插槽中自动拔出的过程不意图。
【具体实施方式】
[0025]以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域普通技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的优点及功效。本发明也可由其他不同的方式予以实施,即在不悖离本发明所揭示的范畴下,能进行不同的修饰与改变。
[0026]实施例:一种内存卡自动插拔测试结构,如图1所示,包括内存固定杆1、顶杆2、若干弹性体(例如拉簧)和外壳3,所述内存固定杆I和所述顶杆2能够朝向测试插槽B做来回直线移动,内存卡A能够固定于所述内存固定杆1,所述顶杆2 —端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶所述内存固定杆1,所述弹性体一端固定止动且另一端连接所述内存固定杆I,所述弹性体的伸缩方向与所述顶杆2的运动方向平行。
[0027]其中,又如图1所示,所述外壳3内固定有若干第一导向块31,所述顶杆2上开设有若干相互平行的第一直线导槽221,所述第一导向块31位于对应的第一直线导槽221内;所述外壳3内固定有若干第二导向块32,所述内存固定杆I上开设有若干相互平行的第二直线导槽121,所述第二导向块32位于对应的第二直线导槽121内;所述第一直线导槽221与所述第二直线导槽121平行。当然,作为本发明的等效实施方式,可以将上述第一、第二导向块分别设置于顶杆和内存固定杆上,将第一、第二直线导槽设置于外壳上。
[0028]又如图1及图5所示,还设有两块拨片4,所述两块拨片4对称位于所述内存卡A的两侧,每块所述拨片的一端41可转动连接于所述外壳3,每块所述拨片的另一端为导向面42,所述导向面为斜面,每块所述拨片4上开设有与第一直线导槽221和第二直线导槽121相平行的导向槽43,所述导向槽43由一体连续的V形段431和直线段432构成,所述V形段431较所述直线段432更靠近所述拨片的一端41,两块拨片4上的导向槽43对称,所述顶杆2的另一端分别朝向两侧拨片固定有两个导向柱24,所述导向柱24位于对应的拨片的导向槽43内。
[0029]其中,如图2及图3所示,所述内存固定杆I由一个U形固定架和两根第一导杆12一体构成,所述U形固定架由横杆11和位于横杆两端的两插杆13 —体构成,所述两插杆13的位置对应于所述内存卡A的两侧,每个插杆13上都开设有与内存卡平行的插接槽131,每个插杆13上与所述插接槽131位置对应的部位开始有与内存卡垂直的螺孔132,内存卡A能够于其两侧边处插于所述插接槽131内并通过螺丝于所述螺孔132处锁定,所述第一导杆12与所述横杆11正交一体连接,所述第二直线导槽121开设于所述第一导杆12上。
[0030]其中,如图4所示,所述顶杆2为U形,由驱动连接杆21以及位于所述驱动连接杆两端的两根第二导杆22构成,所述驱动连接杆21连接外部驱动装置,所述第二导杆22 —端连接于所述驱动连接杆21端部,所述顶杆2能够于第二导杆22另一端处抵顶所述内存固定杆1,所述第一直线导槽221开设于所述第二导杆22上,所述第二导杆22另一端朝向所述拨片4方向一体延伸有连接片23,所述导向柱24固定于所述连接片23上,所述导向柱24是卡簧转轴。
[0031]如图1所示,还设有若干弹簧螺钉5,所述弹簧螺钉5连接所述内存固定杆I的横杆11与所述弹性体,所述弹簧螺钉11与所述第一直线导槽221和所述第二直线导槽121平行。
[0032]又如图1所示,所述外壳3上设有螺钉槽33,所述螺钉槽33与所述第一直线导槽221和所述第二直线导槽121平行,所述弹簧螺钉5位于所述螺钉槽33内。
[0033]本发明的原理及工作过程如下:如图6所示,当外部驱动装置驱动所述顶杆做推进运动时,顶杆所连接的导向柱与拨片导向槽的V形段相配合,驱使两拨片向外运动,由于拨片的另一端为导向面,该导向面是与测试插槽B两侧的耳扣BI相匹配的,向外运动的拨片将耳扣向外打开,然后顶杆继续推进驱使内存固定杆将内存卡插入测试插槽中,再将测试插槽两侧的耳扣扣于内存卡两侧的半圆孔内,完成内存卡的插接;如图7所示,当测试结束后需要将内存卡拔出时,外部驱动装置驱动所述顶杆做拉出运动,顶杆先与所述内存固定杆脱离,当顶杆运动至其所连接的导向柱与拨片导向槽的V形段配合时,会驱使两拨片向外运动,从而将测试插槽两侧用于锁定内存卡的耳扣打开,内存卡在弹性体回弹力的作用下恢复至初始位置。
【权利要求】
1.一种内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:包括内存固定杆(I)、顶杆(2)和若干弹性体,所述内存固定杆(I)和所述顶杆(2)能够朝向测试插槽(B)做来回直线移动,内存卡(A)能够固定于所述内存固定杆(I ),所述顶杆(2) —端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶所述内存固定杆(1),所述弹性体一端固定止动且另一端连接所述内存固定杆(1),所述弹性体的伸缩方向与所述顶杆(2 )的运动方向平行。
2.如权利要求1所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:还设有外壳(3)。
3.如权利要求2所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:所述外壳(3)内固定有若干第一导向块(31),所述顶杆(2)上开设有若干相互平行的第一直线导槽(221),所述第一导向块(31)位于对应的第一直线导槽(221)内;所述外壳(3)内固定有若干第二导向块(32),所述内存固定杆(I)上开设有若干相互平行的第二直线导槽(121),所述第二导向块(32)位于对应的第二直线导槽(121)内;所述第一直线导槽(221)与所述第二直线导槽(121)平行。
4.如权利要求3所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:设有两块拨片(4),所述两块拨片(4)对称位于所述内存卡(A)的两侧,每块所述拨片的一端(41)可转动连接于所述外壳(3),每块所述拨片的另一端为导向面(42),每块所述拨片(4)上开设有与第一直线导槽(221)和第二直线导槽(121)相平行的导向槽(43),所述导向槽(43)由一体连续的V形段(431)和直线段(432 )构成,所述V形段(431)较所述直线段(432 )更靠近所述拨片的一端(41),两块拨片(4)上的导向槽(43)对称,所述顶杆(2)的另一端分别朝向两侧拨片固定有两个导向柱(24),所述导向柱(24)位于对应的拨片的导向槽(43)内。
5.如权利要求3所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:所述内存固定杆(I)由一个U形固定架和至少一根第一导杆(12) —体构成,所述U形固定架由横杆(11)和位于横杆两端的两插杆(13) —体构成,所述两插杆(13)的位置对应于所述内存卡(A)的两侧,每个插杆(13)上都开设有与内存卡平行的插接槽(131 ),每个插杆(13)上与所述插接槽(131)位置对应的部位开始有与内存卡垂直的螺孔(132),内存卡(A)能够于其两侧边处插于所述插接槽(131)内并通过螺丝于所述螺孔(132)处锁定,所述第一导杆(12)与所述横杆(11)正交一体连接,所述第二`直线导槽(121)开设于所述第一导杆(12)上。
6.如权利要求4所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:所述顶杆(2)为U形,由驱动连接杆(21)以及位于所述驱动连接杆两端的两根第二导杆(22)构成,所述驱动连接杆(21)连接外部驱动装置,所述第二导杆(22) —端连接于所述驱动连接杆(21)端部,所述顶杆(2)能够于第二导杆(22)另一端处抵顶所述内存固定杆(1),所述第一直线导槽(221)开设于所述第二导杆(22)上,所述第二导杆(22)另一端朝向所述拨片(4)方向一体延伸有连接片(23),所述导向柱(24)固定于所述连接片(23)上。
7.如权利要求5所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:设有若干弹簧螺钉(5),所述弹簧螺钉(5)连接所述内存固定杆(I)的横杆(11)与所述弹性体,所述弹簧螺钉(11)与所述第一直线导槽(221)和所述第二直线导槽(121)平行。
8.如权利要求7所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:所述外壳(3)上设有螺钉槽(33),所述螺钉槽(33)与所述第一直线导槽(221)和所述第二直线导槽(121)平行,所述弹簧螺钉(5)位于所述螺钉槽(33)内。
9.如权利要求6所述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:所述导向柱(24)是卡簧转轴。
10.如权利要求4所 述的内存卡自动插拔测试结构,其特征在于:所述导向面(42)为斜面。
【文档编号】H01R43/26GK103794969SQ201210431722
【公开日】2014年5月14日 申请日期:2012年11月1日 优先权日:2012年11月1日
【发明者】肖秋生, 郑建生 申请人:昆山威典电子有限公司
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