测试端子块的制作方法

文档序号:7036970阅读:309来源:国知局
测试端子块的制作方法
【专利摘要】示出和说明了一种测试端子块(1),包括串联端子块(2)和可插到串联端子块(2)上的测试插头块(3),其中,串联端子块(2)具有多个并排布置的串联端子(4)且在多个串联端子(4)的两侧上相应具有固定端子(5),其中,测试插头块(3)具有多个相互连接的测试插头(6)且在多个测试插头(6)的两侧上相应具有固定件(7),其中,两个固定件(7)通过把柄件(8)相互连接,其中,每个串联端子(4)具有两个电流条(9),其一起形成分离部位,并且其中,每个测试插头(6)具有可插入到分离部位中的接触插头(10),并且其中,两个固定端子(5)相应具有带有容纳区段(12)的端子壳体(11),且两个固定件(7)相应具有带有可插入到容纳区段(12)中的相对应的插入区段(15)的壳体(14)。在测试端子块中,由此在从串联端子块(2)中拉出测试插头块(3)时确保可靠且受限定的接触状态,即,两个固定端子(5)的端子壳体(11)相应具有至少两个卡锁元件(16,17),且两个固定件(7)的壳体(14)相应具有至少两个相对应的配合卡锁元件(18,19),其中,卡锁元件(16,17)和配合卡锁元件(18,19)一起确定固定件(7)在固定端子(5)中的在固定件(7)的插装方向上相继布置的两个卡锁位置,且在两个固定件(7)的壳体(14)中相应可移动地布置有去锁元件(20),其可带到第一去锁位置和第二去锁位置中,其中,通过去锁元件(20)在第一去锁位置中松开第一卡锁位置的锁定且在第二去锁位置中松开第二卡锁位置的锁定。
【专利说明】测试端子块

【技术领域】
[0001]本发明涉及测试端子块(Prilfklemmenblock),包括串联端子块(Reihenklemmenblock)和可插到串联端子块上的测试插头块(Priifsteckerblock),其中,串联端子块具有多个并排布置的串联端子且在多个串联端子的两侧上相应具有固定端子,其中,测试插头块具有多个相互连接的测试插头且在多个测试插头的两侧上相应具有固定件,其中,两个固定件通过把柄件相互连接,其中,每个串联端子具有两个电流条(Strombalken),其一起形成分离部位,并且其中,每个测试插头具有可插入到分离部位中的接触插头,并且其中,两个固定端子相应具有带有引导槽的端子壳体,且两个固定件相应具有带有可插入到引导槽中的相对应的引导区段的壳体。此外,本发明还涉及用于使用在测试端子块中的、包括固定端子和可与测试插头块相连接的固定件的部件。

【背景技术】
[0002]自数十年以来已知电气的串联端子且将其多次用在电气设备和仪器的布线中。端子在大多数情况下卡在支撑轨道上,其本身通常以很多的数量布置在开关柜中。作为导体联接元件,在串联端子中主要使用螺旋端子或拉力弹簧端子。在拉力弹簧端子中的夹紧原理类似于螺旋技术的夹紧原理。而在螺旋端子中拉力套筒通过操纵端接螺栓将导体拉向电流条,在拉力弹簧端子中该任务由拉力弹簧承担。但此外还可使用相交联接端子(SchneidanschluBklemme)或架腿弹簧端子(Schenkelfederklemme)。
[0003]在切换技术、测量技术和调节技术中,带有分开可能性的通道端子为标准件。在电气串联端子中实现的分开可能性(即设置在电流条中的分离部位)在此使得能够实现带有不同功能的不同的插头插入到串联端子的端子壳体中,其于是在分离部位处接触电流条。作为插头,在此除了简单的分开插头或通道连接器之外,尤其还可使用测试插头,其可具有专门的结构元件且能够实现检验联接到串联端子处的电路的规定的功能。
[0004]通常构造成盘状的电气串联端子经常与多个其他的电气串联端子一起插成串联端子块且卡到支撑轨道上或装配在例如开关柜的壁部段中。相应地,单独的测试插头(其在其宽度方面通常相应于串联端子的宽度)还连接成测试插头块且一起安放到相对应的串联端子块上。在这种情况下,存在的要求是可自由选择相互连接的串联端子的数量以及彼此联合成测试插头块的测试插头的数量。然而,同时应尽可能简单地一起操纵联合成测试插头块的测试插头,即可一起插到串联端子块上。
[0005]由文献10 2005 025 108 B3已知用于测试例如电网保护继电器的防护装置、测量装置或计数装置的装置,其具有可联接到电气设施处的、带有多个相继布置的电极开口的电极板条和带有相应于电极开口的数量的数量的电极舌片的插头块。电极板条的单独的电极板条模块在此包括壳体,在其中布置有用于联接导线的两个接触插座和与接触插座相连接的受弹簧加载的接触接片。两个接触接片在此可通过插头的电极舌片相接触,其中,插头的电极舌片具有两个电极桥接部,其通过绝缘桥接部彼此分开。绝缘桥接部在此与在电极板条模块中的相对应的电极开口一起形成编码,其确保仅插头可利用确定的电极舌片引入到电极板条的确定的电极开口中。
[0006]在插头或电极舌片未插入到电极板条的状态中,两个接触接片彼此接触,从而两个接触插座导电地相互连接且电流可流动通过联接的电极板条。如果插头利用其电极舌片完全推入到电极开口中,则两个接触接片在电气方面彼此分开且电流被引导通过插头,从而可执行测试过程。
[0007]文献DE 10 2006 052 894 Al公开了串联端子、测试插头和包括多个并排布置的串联端子和相应数量的测试插头的测试端子块,其中,单独的串联端子和单独的测试插头在基本原理方面类似于由文献DE 10 2005 025 108 B3已知的电极板条模块和电极插头。
[0008]通过使用两个固定端子和两个固定件(其相应布置在串联端子块和测试插头块的两侧上)可自由选择串联端子的数量以及测试插头的数量,其可联合成串联端子块或测试插头块。两个固定件通过把柄件相互连接,从而测试插头块可与两个固定件一起简单且舒适地借助把柄件插入或插到串联端子块和两个固定端子中。把柄件在此布置在固定件的上端处,其比测试插头具有更高的高度,从而把柄件跨过布置在两个固定件之间的测试插头且可由此舒适地利用一只手抓紧。
[0009]为了在将测试插头插入到测试开口中时保证所限定的接触状态,在由文献DE 102006 052 894 Al已知的电气串联端子中如此构造电流条,即,其形成在测试插头的插接方向上相继布置的两个接触区域。因此,在已知的串联端子中,由汇流排的端部区域形成的分离部位构造成两级。在第一接触区域在继续引入接触插头打开之前,通过构造所限定的第二接触区域(其在接触插头的引入方向上布置在第一接触区域之前)保证在引入接触插头时首先在接触插头与两个电流条之间出现可靠的电气连接,由此于是使两个电流条电气地彼此分开。
[0010]上述说明的已知的串联端子或测试端子块的共同之处在于,两个电流条彼此相接触,从而如果无插头插入到串联端子中,导体联接元件导电地相互连接。与此相反,如果插头(完全)插入到串联端子中,则接触区域隔开,从而导体联接元件同样在电气方面彼此分开。
[0011]在此,测试插头块的单独的测试插头通常具有不同长度的接触插头。于是,在插上测试插头块时,单独的测试插头的较长的接触插头首先沉入到串联端子的端子壳体中的相对应的开口中且在此处接触两个电流条的在测试插头的插接方向上超前的第一接触区域。如果将测试插头块进一步插到串联端子块上,则较长的接触插头沉入到第二接触区域中,由此打开该接触区域,从而中断在两个电流条之间的导电的连接,且因此还中断在与电流条相连接的两个导体联接元件之间的导电的连接。如果接触插头导电,则由此电流引导通过测试插头改道。如果将测试插头块进一步插到串联端子块上,则同样在较短的接触插头打开第二接触区域且因此同样串联端子的电流引导被中断且必要时通过测试插头改道之前,较短的接触插头接着首先相应地接触串联端子中的超前的接触区域。
[0012]在很多应用情况下,在从串联端子块拉出测试插头块时需要或至少期望较长的接触插头仍然隔开相关联的串联端子的接触区域,而较短的接触插头已经从相关联的串联端子的第二接触区域拉出,从而相应的串联端子的两个电流条再次相接触,由此实现通过串联端子的电流引导。然而,在这种情况下,在已知的测试端子块中存在这样的风险,即,由于从串联端子块太快或不均匀地拉出测试插头块,并未可靠或无缺陷地保证之前说明的顺序,据此一些串联端子的接触区域仍通过较长的接触插头打开,而通过其他的串联端子(其与带有较短的接触插头的测试插头相关联)已经实现电流通过。因此可得到串联端子块的单独的串联端子的不稳定或不确定的电子状态。


【发明内容】

[0013]本发明的目的在于说明一种测试端子块,在其中避免之前说明的缺点。此外,应优选使得使用者尽可能简单且舒适地从串联端子块中拉出测试插头块。
[0014]对于开头所说明的测试端子块,该目的利用专利权利要求1的特征由此实现,即,两个固定端子的端子壳体相应具有至少两个卡锁元件,且两个固定件的壳体相应具有至少两个相对应的配合卡锁元件,其中,卡锁元件和配合卡锁元件一起确定固定件在固定端子中的在固定件或测试插头的插接方向上相继布置的两个卡锁位置。因此,根据本发明,通过构造卡锁元件和相对应的配合卡锁元件实现第一卡锁位置和第二卡锁位置,由此测试插头块不仅可在其完全插上的位置中而且可在部分拉出的第二位置中被锁定。在此可通过第二卡锁位置确保测试插头块首先仅如此程度地从串联端子块拉出,即单独的测试插头的较短的接触插头不再打开相关联的串联端子的接触区域,而其他的串联端子的接触区域仍通过与串联端子相关联的测试插头的较长的接触插头打开。
[0015]为了实现两个卡锁位置的所期望的去锁,在两个固定件的壳体中相应可移动地布置有去锁元件,其可带到第一去锁位置和第二去锁位置中,其中,通过去锁元件在第一去锁位置中松开第一卡锁位置的锁定且在第二去锁位置中松开第二卡锁位置的锁定。如果去锁元件被带到第一去锁位置中,则因此松开在第一卡锁位置的卡锁元件与配合卡锁元件之间的锁定,从而测试插头块可少许从串联端子块中拉出。因为测试插头块从串联端子块的拉出通过第二卡锁位置限制,为了从串联端子块中完全拉出测试插头块,必须首先将去锁元件带到第二去锁位置中,由此松开第二卡锁位置,从而那时测试插头块可完全从串联端子块中拉出。
[0016]根据本发明的特别有利的第一设计方案,去锁元件如此构造且布置在固定件的壳体之中,即去锁元件的下缘在第一去锁位置中坐落在固定端子的端子壳体的上侧上,且去锁元件可从第一去锁位置中在固定件的插接方向上进一步移动到第三位置中,由此将固定件的壳体从固定端子的端子壳体推开。通过去锁元件的该设计方案,其不仅用于两个卡锁位置的去锁,而且此外在从串联端子块中拉出测试插头块时用作退出或拔出辅助部。
[0017]尤其当测试端子块具有稍微更大的数量的串联端子和测试插头时,可在从串联端子块中拉出测试插头块时通过在串联端子中的分离部位的单独的弹力产生相对很高的拉力。待由使用者手动施加的拉力可通过根据本发明的测试端子块的之前说明的优选的设计方案来减少,因为如果将去锁元件从第一发展位置(在其中,去锁元件已经坐落在固定端子的端子壳体的上侧上)继续带到第三位置中,则将固定件的壳体从固定端子的端子壳体推开,且因此还将单独的测试插头从单独的串联端子推开。因此,在从串联端子块中拉出测试插头块时,去锁元件辅助使用者,从而使用者为此仅还必须施加更小的力。
[0018]按照根据本发明的测试端子块的另一有利的设计方案,在固定端子的端子壳体中的卡锁元件构造为卡锁接片,而在固定件的壳体处的配合卡锁元件构造为相对应的卡锁钩。第一卡锁位置的至少一个卡锁接片和第二卡锁位置的至少一个卡锁接片在此优选布置在端子壳体的相对而置的侧部上且在固定件的插接方向上布置不同的平面中。
[0019]通过在固定件的插接方向上将卡锁接片布置在不同的平面中,可以简单的方式实现在插接方向上相继布置的两个卡锁位置。通过将卡锁接片布置在端子壳体的相对而置的侧部上可简单地松开两个卡锁位置,而第一卡锁位置的松开并未影响第二卡锁位置。
[0020]对应于两个卡锁接片布置在端子壳体的相对而置的两个侧部上,卡锁钩同样在相对而置的侧部处布置在固定件的壳体处。在此,卡锁钩同样可在固定件的插接方向上布置在不同的平面中,其中,然而,为了实现两个卡锁位置,这并非是绝对需要的,因为卡锁位置还可仅通过将卡锁接片布置在两个平面中来确定。
[0021]之前已经阐述了在固定端子的端子壳体中和在固定件的壳体处相应设置有用于两个卡锁位置的至少一个卡锁接片和至少一个卡锁钩。特别可靠和稳定地锁定在两个卡锁位置中可由此实现,即,在固定端子的端子壳体中相应将两个卡锁接片布置在端子壳体的两侧上,其中,于是还相应于此在固定件的壳体的两侧上相应布置有卡锁钩。在端子壳体的侧部上的卡锁接片在此优选地相应通过桥接部相互连接,其中,为了松开两个卡锁位置,相应使桥接部通过去锁元件偏移。于是,桥接部的偏移引起邻接的卡锁接片同样少许偏移且因此不再与相关联的卡锁钩相接合,从而松开卡锁位置或锁定,且可使固定件或测试插头块从固定端子或串联端子块中部分地从第一卡锁位置拉出到第二卡锁位置中或完全拉出。
[0022]为了使得两个卡锁位置的松开变得容易,优选地设置成去锁元件相应在其面向桥接部的侧部上具有操纵区段。在此用于第一卡锁位置的去锁的第一操纵区段在固定件的插接方向上逐渐变细,而用于第二卡锁位置的去锁的第二操纵区段与固定件的插接方向相反地逐渐变细。因此,两个操纵区段相应具有引入斜面,其中,两个引入斜面彼此相反地倾斜。
[0023]根据本发明的另一特别优选的设计方案,通过把柄件的转动运动实现在两个固定件的壳体中的去锁元件的移动。由此可行的是,两个卡锁位置的去锁和测试插头块从串联端子块的拔出可利用仅一只手且此外还可在没有抓紧的情况下实现。在此,借助于把柄件的转动运动的去锁优选以以下三个步骤中来进行,其可简单且舒适地利用一只手来相继执行:
?在第一步中,通过在第一方向上将把柄件转动角度α使在两个固定件的壳体中的去锁元件从基本位置(在其中,固定件在第一卡锁位置中卡锁在固定端子中)移动到第一去锁位置中;
?在第二步中,通过在相同的方向上将把柄件继续转动角度β使去锁元件移动到第三位置中,由此将固定件从固定端子推开;
?在第三步中,使把柄件倒转到基本位置中,由此使去锁元件移动到第二去锁位置中。
[0024]把柄件在两个最先的步骤中转动的角度α和β在此如此选择,即,可由装配工简单且舒适地利用一只手实现把柄件的转动。因此,如果在两个步骤中不必使把柄件太远地旋转,优选一起小于180°,尤其小于120°,例如大约90°,这是有利的。角度α和β可在此基本上相同,例如相应为大约45°。然而,同样还可行的是,两个角度α和β大小不同,例如角度α为大约20° -40°,而角度β为大约50° -70°。
[0025]使把柄件如此二级地旋转小于120°可非常简单且舒适地利用一只手来执行,而不需要抓紧。由于为了使去锁元件移动到第二去锁位置中且因此为了松开第二卡锁位置,必须使把柄件重新倒转,此外确保测试插头块并未无意地由于把柄件的太远的旋转和在把柄件处的一次很强的拉动而完全从串联端子块中拉出。
[0026]为了将把柄件的转动运动转变到去锁元件的直线的运动中,优选在两个固定件的壳体中相应布置有传动组件,通过其使两个去锁元件相应与把柄件相连接。优选地,传动组件在此相应具有两个齿轮和连杆,其在其一端部处与齿轮相连接,且在其另一端部处与去锁元件相连接。通过合适地选择两个齿轮,其中的一个与把柄件的一端部相连接,可在此实现有利的力传动。这尤其在从串联端子块中拉出测试插头块时去锁元件作为退出或拔出辅助部的附加的功能方面是有利的。因此,即使在测试端子块带有多个串联端子和多个测试插头的情况下,可将必须施加的、以便使去锁元件移动到第三位置中的力保持得相对很小,在第三位置中,固定件的壳体被从固定端子的端子壳体推开且因此较短的测试插头被从有弹性的接触区域中拉出。
[0027]开头已经阐述了测试插头块具有多个相互连接的测试插头且在多个测试插头的两侧上相应具有固定件。单独的测试插头彼此的机械的连接在此优选由此实现,即,测试插头的壳体在彼此面向的侧部上具有彼此相对应的卡锁凹部和卡锁榫头。在此,优选在壳体的一侧部上设置有卡锁榫头,而在相对而置的侧部一朝向邻接的测试插头的卡锁榫头一上设置有相对应的卡锁凹部。相应地,两个固定件同样借助于构造或布置在固定件的壳体处的卡锁榫头或卡锁凹部与测试插头机械地连接。
[0028]测试插头块的附加的机械连接或固定通过与两个固定件相连接(例如拧紧)的把柄件来实现。此外,备选地或优选地,还可通过螺杆附加地保证测试插头块的机械连接,其插过两个固定件和所有的测试插头且在固定件的外侧处利用螺母拧紧。由此确保测试插头块形成非常稳定的单元,其可简单地插到串联端子块上或从串联端子块中取下。
[0029]固定端子同样优选地机械地与串联端子相连接,其中,在固定端子处同样布置有卡锁榫头和/或卡锁凹部,且在串联端子的端子壳体的侧壁中设置有相对应构造的卡锁凹部或卡锁榫头。然而,因为串联端子通常卡在支撑轨道上,所以不是一定必须串联端子彼此或还利用固定端子的锁定。此外,代替卡锁榫头和卡锁凹部,还可将其他的卡锁元件构造在固定端子和串联端子处或构造在固定件和测试插头处。
[0030]如果单独的测试插头的接触插头具有不同的长度,其中,测试插头的单独的接触插头尤其具有不同的两个长度,即使本发明并不限于此,那么,根据本发明设置的两级的锁定尤其特别有利。
[0031]除了之前说明的测试端子块之外,本发明还涉及包含固定端子和可与测试插头块相连接的固定件的部件,其用于使用在相应的测试端子块中。对于此类部件,开头提及的目的由此实现,即,固定端子的端子壳体具有至少两个卡锁元件,且固定件的壳体具有至少两个相对应的配合卡锁元件,其中,卡锁元件和配合卡锁元件一起确定固定件在固定端子中的在固定件的插接方向上相继布置的两个卡锁位置。此外,如之前已经结合根据本发明的测试端子块阐述的那样,在固定件的壳体中可移动地布置有去锁元件,其可带到第一去锁位置和第二去锁位置中,其中,通过去锁元件在第一去锁位置中松开第一卡锁位置的锁定且在第二去锁位置中松开第二卡锁位置的锁定。
[0032]关于卡锁元件以及在固定件的壳体中的配合卡锁元件和去锁元件的布置方案和构造方案的优点,结合根据本发明的测试端子块参考上述实施方案。同样,在部件中,优选地,卡锁元件构造为卡锁接片,而配合卡锁元件构造为卡锁钩,其中,第一卡锁位置的优选两个卡锁接片和第二卡锁位置的优选两个卡锁接片布置在端子壳体的相对而置的侧部上且在固定件的插接方向上布置在不同的平面中。
[0033]由从属于专利权利要求13的专利权利要求得到根据本发明的部件的其他的有利的设计方案,例如传动组件在固定件的壳体中的布置方案。

【专利附图】

【附图说明】
[0034]现在具体存在设计和改进根据本发明的测试端子块或根据本发明的部件的多种可能性。为此,不仅参考从属于专利权利要求1和13的专利权利要求,而且结合附图参考优选的实施例的随后的说明。其中:
图1以透视性的图示显示了处在完全插入的状态中的根据本发明的测试端子块,
图2显示了根据图1的测试端子块的固定端子,
图3以侧视图显示了测试端子块的固定件,
图4从侧部显示了固定端子与完全插入的固定件,
图5在第一卡锁位置中从内侧显示了包含根据图4的固定端子和固定件的部件,
图6从外侧显示了根据图5的部件的部段,
图7从内侧显示了处在第二卡锁位置中的根据图4的部件,
图8从外侧显示了根据图7的部件的部段,
图9从内侧显示了根据图4的部件,其中,第二卡锁阶段去锁,
图10从外侧显示了根据图9的部件的部段,
图11显示了去锁元件的透视性的两个图示,其中,彼此转动了 180°,
图12显示了布置在根据图4的固定件的壳体中的传动组件与去锁元件的单独的图示,
以及图13在两个插入位置中显示了测试插头插入到串联端子的分离部位中的两个图示。

【具体实施方式】
[0035]总体仅在图1中示出的测试端子块I包括串联端子块2和测试插头块3,其可插到串联端子块2上。串联端子块2包括多个并排布置的串联端子4和两个固定端子5,其布置在多个串联端子4的两侧处。相应地,测试插头块3包括多个相互连接的测试插头6和两个固定件7,其布置在多个测试插头6的两侧上。此外,测试插头块3还具有把柄件8,通过其使两个固定件7相互连接,其中,两个固定件7的高度明显大于测试插头6的高度,从而布置在固定件7的上端部处的把柄件8可方便地由装配工的手抓紧。
[0036]单独的串联端子4相应具有两个电流条9、9’,其一起形成分离部位,在其中可插入测试插头6的接触插头10 (参见图13)。此外,单独的串联端子4还相应具有两个导体联接元件,为其相应关联有电流条9、9’的第一端部区域。在未插入接触插头10时,两个电流条9、9’彼此在分离部位中相接触,从而导体联接元件导电地相互连接。相反,如果接触插头10完全插入到串联端子4更确切地说分离部位中,则接触区域分开,从而导体联接元件在电方面彼此分开。因为在本发明中并未主要关注单独的串联端子4的具体的结构,所以其在附图中并未进一步详细示出。
[0037]如可尤其从图2至4中看出的那样,固定端子5相应具有带有向上敞开的容纳区段12的端子壳体11,容纳区段12沿侧向由两个引导槽13限制。对应于此,固定件7的壳体14具有与容纳区段12相对应的插入区段,其由两个引导桥接部15形成,其可竖向地插入到引导槽13中。
[0038]此外,可由图2和3看出,在固定端子5的端子壳体11中布置有构造为卡锁接片
16、17的多个卡锁元件,且在固定件7的壳体14处布置有相应数量的相对应的配合卡锁元件,其构造为卡锁钩18、19。卡锁接片16、17和相关联的卡锁钩18、19在此一起确定固定件7在固定端子5中的在固定件7或测试插头块3的插接方向上相继布置的两个卡锁位置。因此,在测试端子块I根据附图的取向中,固定件7 —和与其一起还有测试插头块3 —可在下部的第一卡锁位置和上部的第二卡锁位置中锁定在固定端子5中或锁定在串联端子块2处。
[0039]构造在固定端子5的外侧上(即在端子壳体11的背对串联端子4的侧部上)的两个卡锁接片16在此与布置在固定件7的外侧上(即在壳体14的背对测试插头6的侧部上)的两个卡锁钩18—起确定第一卡锁位置。相应地,第二卡锁位置由构造在端子壳体11的内侧上的两个卡锁接片17和布置在壳体14的内侧处的卡锁钩19确定。为了松开两个卡锁位置的锁定,在固定件7的壳体14中可移动地布置有去锁元件20,其单独地在图11中从两个相对而置的侧部透视性地示出。
[0040]下面借助图5至10说明在从串联端子块2拔出测试插头块3时用于去锁或松开两个卡锁位置的单个的步骤,其中,图5、7和9示出了包含固定端子5和固定件7的部件的内侧,而图6、8和10示出了部件的外侧的部段。图5和6在此显示了当松开第一卡锁位置时部件的状态,图7和8显示了在第二卡锁位置中的部件的状态,而图9和10显示了在松开第二卡锁位置的情况下的部件的状态。
[0041]此外,由图5、7和9的比较可看出,去锁元件20的位置的改变通过把柄件8的转动运动来实现。在图1中示出的测试插头块的基本状态中,测试插头块3完全插在串联端子块2上,且构造在固定端子5的端子壳体11中的卡锁接片16与布置在固定件7的壳体14处的卡锁钩18在第一^^锁位置中相锁定。相比于根据图1的基本状态,在图5中示出的状态中,把柄件8转动了大约30°的角度α。在根据图7的情况下,相比于根据图1的基本状态,把柄件转动了另外的60°,即总计转动了 90°。最后,在根据图9的位置中,把柄件8又倒转了 90°。
[0042]如在图6中示出的那样,把柄件8旋转到根据图5的第一位置中引起去锁元件20竖向向下运动,由此松开在卡锁接片16与卡锁钩18之间的锁定。此外,卡锁接片16 —如同布置在另一侧部上的卡锁接片17 —样一通过桥接部21相互连接,其通过去锁元件20来偏移。为此,根据图11,去锁元件20在面向桥接部21、22的两个侧部上相应具有操纵区段23、24。在此还可由图11看出,用于第一卡锁位置的去锁的第一操纵区23在固定件7的插接方向上逐渐变细,而用于第二卡锁位置的去锁的第二操纵区段24与固定件7的插接方向相反地逐渐变细。这引起当去锁元件20通过转动把柄件8在顺时针方向上向下移动时,操纵区段23可使桥接部21更简单地偏移。
[0043]因为去锁元件20的下缘在第一去锁位置中已经坐落在固定端子5的端子壳体11的上侧上,根据图7在顺时针方向上继续旋转把柄件8引起去锁元件20不再可继续向下移动。然而,因为去锁元件20可相对于固定件7的壳体14移动,所以固定件7的壳体14被从固定端子5的端子壳体11推开,即,如果去锁元件20通过把柄件8的继续的转动运动相对于固定件7的壳体14移动到第三位置中,壳体14向上移动。固定件7的壳体14的运动离开固定端子5的端子壳体11在此由此限制,即,卡锁钩19与相关联的卡锁接片17相接合,这如在图7中示出的那样。于是,固定件7在第二卡锁位置中位于固定端子5中。
[0044]为了松开或去锁第二卡锁位置,使把柄件8根据图9重新倒转90°。由此使去锁元件20在固定件7的壳体14中继续向上移动,其中,去锁元件20的操纵区段24使在两个卡锁接片17之间的桥接部22偏移,从而松开在卡锁接片17与相关联的卡锁钩19之间的锁定。测试插头块3现在可完全从串联端子块2取下。
[0045]为了将把柄件8的转动运动转变成去锁元件20的竖向运动,在固定件7的壳体14中布置有传动组件25 (图4)。在此,根据图12,传动组件25具有两个齿轮26、27和连杆28,其在其一端部处与齿轮27相连接,而在其另一端部处与去锁元件20相连接。由于第二齿轮27比与把柄件8相连接的第一齿轮26具有更大的直径,所以实现有利的力传动。因此,必须手动地由装配工在从串联端子块2拉出测试插头块3时待施加的力仅相对很小,即使测试端子块I具有多个串联端子4和多个测试插头6。
[0046]图13a和13b在两个不同的位置中显示了测试插头6利用其接触插头10插入到串联端子4的分离部位中,其中,关于串联端子仅示出了两个电流条9、9’。两个电流条9、9’在所显示的实施例中相应包括两个长形的金属条,其在过渡区域中彼此熔焊或焊接且可包含不同的材料。在此,一金属条形成一端部区域29、29’,其与串联端子的导体联接元件相关联,而另一金属条形成电流条9、9’的第二端部区域30、30’。第二端部区域30、30’如此弯曲,即,其一起形成用于测试插头6的接触插头10的第一接触区域31和第二接触区域32。
[0047]在根据图13a的接触插头10的完全插入的状态中,两个第二端部区域30、30’通过接触插头10彼此分开,从而两个接触区域31、32分开且中断通过电流条9、9’的导电的连接。相反,如果测试插头10根据图13b少许从串联端子4拉出,则接触插头10仅还在上部的第二接触区域32中接触第二端部区域30、30’。因为接触插头10不再插入在下部的第一接触区域31中,所以在此两个电流条9、9’的两个第二端部区域30、30’相接触,从而导体联接元件通过电流条9、9’导电地相互连接。
【权利要求】
1.测试端子块包括串联端子块(2)和可插到所述串联端子块(2)上的测试插头块⑶, 其中,所述串联端子块(2)具有多个并排布置的串联端子(4)且在多个串联端子(4)的两侧上相应具有固定端子(5), 其中,所述测试插头块⑶具有多个相互连接的测试插头(6)且在多个测试插头(6)的两侧上相应具有固定件(7),其中,两个固定件(7)通过把柄件(8)相互连接, 其中,每个串联端子(4)具有两个电流条(9),其一起形成分离部位,并且其中,每个测试插头(6)具有可插入到分离部位中的接触插头(10),并且 其中,两个固定端子(5)相应具有带有容纳区段(12)的端子壳体(11),且所述两个固定件(7)相应具有带有可插入到所述容纳区段(12)中的相对应的插入区段(15)的壳体(14), 其特征在于, 所述两个固定端子(5)的端子壳体(11)相应具有至少两个卡锁元件(16,17),且所述两个固定件(7)的壳体(14)相应具有至少两个相对应的配合卡锁元件(18,19),其中,所述卡锁元件(16,17)和所述配合卡锁元件(18,19) 一起确定所述固定件(7)在所述固定端子(5)中的在所述固定件(7)的插接方向上相继布置的两个卡锁位置,并且在所述两个固定件(7)的壳体(14)中相应可移动地布置有去锁元件(20),其可带到第一去锁位置和第二去锁位置中,其中,通过所述去锁元件(20)在第一去锁位置中松开第一卡锁位置的锁定且在第二去锁位置中松开第二卡锁位置的锁定。
2.根据权利要求1所述的测试端子块,其特征在于,所述去锁元件(20)的下缘在第一去锁位置中坐落在所述固定端子(5)的端子壳体(11)的上侧上,且所述去锁元件(20)可从第一去锁位置在所述固定件(7)的插接方向上继续移动到第三位置中,由此将所述固定件(7)的壳体(14)从所述固定端子(5)的端子壳体(11)推开。
3.根据权利要求1或2所述的测试端子块,其特征在于,作为卡锁元件,在所述固定端子(5)的端子壳体(11)中构造有卡锁接片(16,17),且作为配合卡锁元件,在所述固定件(7)的壳体(14)处构造有卡锁钩(18,19),其中,第一卡锁位置的至少一个卡锁接片(16)和第二卡锁位置的至少一个卡锁接片(17)布置在所述端子壳体(11)的相对而置的侧部上且在所述固定件(7)的插接方向上布置在不同的平面中。
4.根据权利要求3所述的测试端子块,其特征在于,在所述固定端子(5)的端子壳体(11)中相应将两个卡锁接片(16,17)布置在所述端子壳体(11)的两侧上,其相应通过桥接部(21,22)相互连接,其中,为了松开两个卡锁位置,通过所述去锁元件(20)相应使桥接部(21,22)偏移。
5.根据权利要求4所述的测试端子块,其特征在于,所述去锁元件(20)相应在其面向所述桥接部(21,22)的侧部上具有操纵区段(23,24),其中,用于第一卡锁位置的去锁的第一操纵区段(23)在所述固定件(7)的插接方向上逐渐变细,而用于第二卡锁位置的去锁的第二操纵区段(24)与所述固定件(7)的插接方向相反地逐渐变细。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试端子块,其特征在于,在所述两个固定件(7)的壳体(14)中的所述去锁元件(20)的移动通过所述把柄件(8)的转动运动来实现。
7.根据权利要求6所述的测试端子块,其特征在于,在所述两个固定件(7)的壳体(14)中相应布置有传动组件(25),通过其使两个去锁元件(20)相应与所述把柄件(8)相连接,其中,所述传动组件(25)优选地相应具有两个齿轮(26,27)和连杆(28),其在一端部处与齿轮(27)相连接,且在另一端部处与去锁元件(20)相连接。
8.根据权利要求6或7所述的测试端子块,其特征在于,通过使所述把柄件(8)在第一方向上转动角度α可使在所述两个固定件(7)的壳体(14)中的所述去锁元件(20)从基本位置移动到第一去锁位置中,通过使所述把柄件(8)在相同的方向上继续转动角度β可使所述去锁元件(20)移动到第三位置中,且通过使所述把柄件(8)倒转到基本位置中可使所述去锁元件(20)移动到第二去锁位置中。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的测试端子块,其特征在于,所述两个固定件(7)可借助于布置在所述固定件(7)的壳体(14)处的卡锁榫头和/或卡锁凹部和构造在所述测试插头¢)的壳体的侧壁中的卡锁凹部和/或卡锁榫头与所述测试插头(6)机械地连接。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的测试端子块,其特征在于,所述两个固定端子(5)可机械地与所述串联端子(4)相连接,尤其借助于布置在所述固定端子(5)处的卡锁榫头和/或卡锁凹部和构造在所述串联端子(4)的端子壳体的侧壁中的卡锁凹部和/或卡锁禪头来连接。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的测试端子块,其特征在于,所述串联端子(4)相应具有至少两个导体联接元件和至少两个电流条(9,9’),其第一端部区域(29,29’)相应与导体联接元件相关联,且其第二端部区域(30,30’)如此弯曲,即,其一起形成两个弹性的接触区域(31,32)以用于容纳测试插头¢)的接触插头(10),其中,在所述接触插头(10)的未插入的状态中,所述第二端部区域(30,30’)在第一接触区域(31)中相接触,从而所述两个导体联接元件通过所述两个电流条(9,9’)电地相互连接,而所述第二端部区域(30,30’)在所述第二接触区域(32)中并未接触,从而所述第二接触区域(32)敞开,并且其中,所述第二接触区域(32)在测试插头¢)的接触插头(10)的插接方向上布置在所述第一接触区域(31)之前。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的测试端子块,其特征在于,所述单独的测试插头(6)的接触插头(10)具有不同的长度。
13.—种包括固定端子(5)和可与测试插头块(3)相连接的固定件(7)的部件, 其特征在于, 所述固定端子(5)的端子壳体(11)具有至少两个卡锁元件(16,17),且所述固定件(7)的壳体(14)具有至少两个相对应的配合卡锁元件(18,19),其中,所述卡锁元件(16,17)和所述配合卡锁元件(18,19) 一起确定所述固定件(7)在所述固定端子(5)中的在所述固定件(7)的插接方向上相继布置的两个卡锁位置,并且 在所述固定件(7)的壳体(14)中可移动地布置有去锁元件(20),其可带到第一去锁位置和第二去锁位置中,其中,通过所述去锁元件(20)在第一去锁位置中松开第一卡锁位置的锁定且在第二去锁位置中松开第二卡锁位置的锁定。
14.根据权利要求13所述的部件,其特征在于,作为卡锁元件,在所述固定端子(5)的端子壳体(11)中构造有卡锁接片(16,17),且作为配合卡锁元件,在所述固定件(7)的壳体(14)处构造有卡锁钩(18,19),其中,第一卡锁位置的至少一个卡锁接片(16)和第二卡锁位置的至少一个卡锁接片(17)布置在所述端子壳体(11)的相对而置的侧部上且在所述固定件(7)的插接方向上布置在不同的平面中。
15.根据权利要求13或14所述的部件,其特征在于,在所述固定端子(5)的端子壳体(11)中将两个卡锁接片(16,17)布置在所述端子壳体(11)的两侧上,其相应通过桥接部(21,22)相互连接,其中,为了松开两个卡锁位置,通过所述去锁元件(20)相应使桥接部(21,22)偏移。
16.根据权利要求15所述的部件,其特征在于,所述去锁元件(20)在其面向所述桥接部(21,22)的侧部上相应具有操纵区段(23,24),其中,用于第一卡锁位置的去锁的第一操纵区段(23)在所述固定件(7)的插接方向上逐渐变细,而用于第二卡锁位置的去锁的第二操纵区段(24)与所述固定件(7)的插接方向相反地逐渐变细。
17.根据权利要求13至16中任一项所述的部件,其特征在于,在所述固定件(7)的壳体(14)中布置有传动组件(25),通过其连接所述去锁元件(20)与使两个固定件(7)相互连接的把柄件(8),其中,所述传动组件(25)优选地具有两个齿轮(26,27)和连杆(28),其在一端部处与齿轮(27)相连接,且在另一端部处与去锁元件(20)相连接。
【文档编号】H01R31/08GK104137342SQ201380011739
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2013年9月4日 优先权日:2012年9月4日
【发明者】C.克洛彭堡 申请人:菲尼克斯电气公司
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