专利名称：电容器高温老化台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电容器高温老化台，用于钽、云母、薄膜、低介、金属化、铝电解电容器进行高温负荷试验，供用户对电容器进行老化筛选和可靠性试验分析。
目前使用的电容器试验设备多采用被试验电容器(下称试品)通过保险丝或电阻连接老化电源，当试品被击穿，试验电流熔断保险丝，随后需通过人工将电表逐个连入每个试品电流支路，当测出电流为零时表明该试品为坏品。试验结束后需逐个将熔断的保险丝换下来。该设备有以下方面缺点一、自动化程度低，劳动生产率低、坏品位置需逐个人工识别，更换保险丝更显费时费力，每次老化的试品数量受到限制；二、保险丝的熔断电流误差较大，严重影响试验精度；三、老化电流切入时所有试品支路一起切入，总体充电电流大，对老化电源的功率要求高，造成设备体积大、成本高；四、对一些充电电流大，而实际上无质量问题的试品，保险丝也会熔断，造成误判；五、测量灵敏度低，检测数据不准确，对试品的漏电电流的测量缺乏精度。
本实用新型的目的在于提供一种自动化程度高、能自动显示坏品位置、总体充电电流小、测量灵敏度好的电容器高温老化台。
本实用新型包括壳体，壳体内装有老化电源、高温箱、老化板，其特征在于还包括由继电器触点构成的控制板和带有微处理器的控制仪，老化电源通过所述控制板连接老化板，控制仪连接控制板，控制电源连接控制仪和控制板；壳体表面装有与控制仪连接的显示装置。
所述控制板包括老化、充电切换继电器J1、每工位切入或脱离老化回路兼作检测选通阵列继电器J2、老化、测试继电器J3；控制仪包括采样控制测试块、采样电阻R1、R2；老化电源的输出端接继电器J1与限流电阻R3，继电器J1接老化板，继电器选通阵列J2与试品匹配，继电器选通阵列J2接继电器J3，继电器J3的触点A接采样电阻R1接地，触点B接采样电阻R2接地；采样控制测试块的输入端接采样电阻R1，输入端接采样电阻R2，输出端1接老化、充电切换继电器J1，输出端2接每工位切入或脱离老化回路兼作检测选通阵列继电器J2，输出端3接老化、测试继电器J3。
本实用新型的优点是自动化程度高，能自动显示坏品的位置，节省了人工，也无需更换保险丝；在充电时各个试品支路逐个切入，总体老化电流小，对老化电源的功率要求小，可减小设备整体体积，降低成本；由于采用微控制器，对试品的漏电电流、充电电流测试精度高，可提高试验精度，防治误判。
以下结合附图进一步说明本实用新型
图1是本实用新型的电路图图2是本实用新型的线路连接图参照附图本实用新型包括壳体，壳体内装有老化电源1、高温箱6、老化板2，还包括由继电器触点构成的控制板3和带有微处理器的控制仪4，老化电源1通过所述控制板3连接老化板2，控制仪4连接控制板3，控制电源5连接控制仪4和控制板3；壳体表面装有与控制仪4连接的显示装置。
所述控制板3包括老化、充电切换继电器J1、每工位切入或脱离老化回路兼作检测选通阵列继电器J2、老化、测试继电器J3；控制仪4包括采样控制测试块CI、采样电阻R1、R2，采样控制测试块CI内带有微处理器，电阻R1小于R2；老化电源1的输出端接继电器J1与限流电阻R3，继电器J1接老化板，继电器选通阵列J2与试品匹配，继电器选通阵列J2接继电器J3，继电器J3的触点A接采样电阻R1接地，触点B接采样电阻R2接地；采样控制测试块的输入端 接采样电阻R1，输入端 接采样电阻R2，输出端1接老化、充电切换继电器J1，输出端2接每工位切入或脱离老化回路兼作检测选通阵列继电器J2，输出端3老化、测试继电器J3。
本实用新型的工作过程如下一、开机待命状态采样控制测试块CI控制的各继电器处于初始状态。此时J1断开，回路中串入限流电阻，J2处于闭合状态，各老化工位处于老化回路中，J3触点在A位，接通老化回路。
二、老化状态J1闭合。此时当某一工位击穿时，击穿电流大于额定值，控制板3上的采用电阻R1输出短路信号至采样控制测试块CI的第输入端。对于瞬间击穿，采样控制测试块CI不予处理。当短路时间持续1秒钟以上时，根据所得到的监视信号查知故障所在的板号，并经信号输出端3输出控制信号至该板的老化、测试继电器J3，使该板进入短路查寻状态，判别出短路电容。其后，采样控制测试块CI经信号输出端2输出控制信号至该工位所串联的继电器J2，切断该工位在老化系统中的回路。最后系统自动回复到老化监视状态，下一个电容击穿时重复以上过程。系统也能剔除未击穿但漏电电流急剧增大的电容。被切断的工位本次老化中将不再闭合，老化监视的同时，可通过显示屏观察到每块老化板上短路击穿电容的分布情况。
三、漏电流测试状态J3继电器的触点到B，即接通测试回路，可通过键盘设置所需检测的通道、漏电流指标的上限、检测速度等项目，数据显示屏所测电流值并存入打印缓冲区。在此种状态下，J2继电器阵列受控轮流导通，此时该板J1继电器处于闭合状态，测试处于低阻值回路。老化电流恒流点自动转到0.4A，以避免测试过程中器件短路造成测量回路过载。巡检时，每8位先预稳再测试，并显示相应工位。
用本实用新型试验装置可对试品施加温度应力、电应力、时间应力，使试品迅速暴露潜在缺陷，提早进入早期失效期，可广泛应用于电容器生产、使用厂家，和研究所。
权利要求1.一种电容器高温老化台，包括壳体，壳体内装有老化电源、高温箱、老化板，其特征在于还包括由继电器触点构成的控制板和带有微处理器的控制仪，老化电源通过所述控制板连接老化板，控制仪连接控制板，控制电源连接控制仪和控制板。
2.如权利要求1所述的一种电容器高温老化台，其特征在于所述控制板包括老化、充电切换继电器J1，每工位切入或脱离老化回路兼作检测选通阵列继电器J2、老化、测试继电器J3；控制仪包括采样控制测试块、采样电阻R1、R2；老化电源的输出端接继电器J1与限流电阻R3，继电器J1接老化板，继电器选通阵列J2与试品匹配，继电器选通阵列J2接继电器J3，继电器J3的触点A接采样电阻R1接地，触点B接采样电阻R2接地；采样控制测试块的输入端接采样电阻R1，输入端接采样电阻R2，输出端1接老化、充电切换继电器J1，输出端2接每工位切入或脱离老化回路兼作检测选通阵列继电器J2，输出端3老化、测试继电器J3。
专利摘要本实用新型涉及一种用于电容器老化试验的高温老化台,包括壳体,壳体内装有老化电源、高温箱、老化板,其特征在于还包括由继电器触点构成的控制板和带有微处理器的控制仪,老化电源通过所述控制板连接老化板,控制仪连接控制板,控制电源连接控制仪和控制板。可广泛应用于电容器生产、使用厂家和研究所。
文档编号H01G13/00GK2370547SQ97246388
公开日2000年3月22日 申请日期1997年12月9日 优先权日1997年12月9日
发明者曹骥 申请人:曹骥