通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明用于微波陶瓷电容制造领域。具体说是一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，应用在小尺寸通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统，及对通用型单层电容器裸芯粒进行测试。不仅适通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上，还可以用于二极管、三极管、电容等裸芯粒芯片吸取，尤其适用于薄脆和易损伤的高定位精度的裸芯粒芯片测试。
【背景技术】
[0002]通用型单层电容器，在军事领域和高端民用领域均得到广泛应用，如雷达、导弹遥控、卫星通讯、定位、电视卫星接收器、无线局域等系统，其裸芯粒芯片产品尺寸从0.254mmX 0.254mm X 0.127mm至2.29mm X 2.29mm X 0.254mm，该电容器裸芯粒芯片具有体积小、薄、脆、镀金涂层易划伤等特点，而测试座装置是通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上的重要部件，直接影响通用型单层电容器裸芯粒芯片的测试结果，还影响芯片的产品质量，引起划伤、损伤和崩角等质量问题。目前，厂家通常采用人工拾取的方式，通过镊子拾取，并将其放置于测试板上，手持测试针与芯片接触，接触测试过程中由于工人的熟练程度以及使用的测试力不同及人为因素的影响，对芯片会照成不同程度的损伤或测试针的接触位置偏移芯片中心，都会造成测试误差，影响到测试数据的准确性，进而影响应用效果Ο
【发明内容】
[0003]鉴于上述现状，本发明提供了一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置。使其在高速测试过程中通过旋转调整测试针与裸芯粒的测试位置，提高测试定位精度，减少由于定位精度而造成的测试偏差，影响分选测试准确性和效率。
[0004]本发明解决其技术问题的技术方案是:一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，包括一个Ζ向升降机构，及安装在Ζ向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。
[0005]本发明中，所涉及的Ζ向升降机构，包括丝杆，在所述丝杆上安装有配合的方形螺母，该方形螺母上固定连接框式支撑架，所述丝杆下端安装有Ζ向电机大带轮，通过其上的Ζ向驱动皮带与Ζ向驱动电机上的Ζ向电机小带轮连接。
[0006]进一步地，所涉及的旋转式裸芯粒测试机构，包括裸芯粒测试座，通过裸芯粒测试座的底部与旋转大带轮固定连接，所述的旋转大带轮安装在框式支撑架中心的轴承上，该旋转大带轮通过旋转皮带与旋转电机上的旋转小带轮连接。
[0007]进一步地，所述裸芯粒测试座可以实现0-360°转动，以沿Ζ向升降运动。
[0008]进一步地，所述裸芯粒测试座呈“η ”型的中空体，该裸芯粒测试座一侧设有真空接头，所述裸芯粒测试座端面中部带有方形测试槽，该方形测试槽上分布有真空吸孔，与真空接头相通。
[0009]本发明的有益效果是:本发明裸芯粒微调测试座装置在高速测试过程中通过旋转调整测试针与裸芯粒的测试位置，提高测试定位精度，减少由于定位精度而造成的测试偏差，影响分选测试准确性和效率。另外，本发明装置替代现有手持测试方式，解决了人工操作所带来的影响产品质量的一系列问题，大大降低了人工劳动强度，增加了产品的质量的一致性和可靠性。采用本装置侧底解决了上述缺陷带来的问题，降低工人劳动强度和人力。此外，本发明用于微波陶瓷电容制造行业，应用在小尺寸通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上。用于对通用型单层电容器裸芯粒进行测试。本发明不仅适通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上。还可以用于二极管、三极管、电容等裸芯粒芯片吸取，尤其适用于薄脆和易损伤的高定位精度的裸芯粒芯片测试。
【附图说明】
[0010]图1是本发明的结构视图；
图2是图1的A-A剖视图。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图实施例对本发明进行进一步详细描述。
[0012]见图1、图2所示的一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，包括一个Z向升降机构，及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。本发明中的Z向升降机构，包括安装在底板1 一侧的Z向电机座2，在所述Z向电机座2上安装有Z向驱动电机4，该Z向驱动电机4上设有Z向电机小带轮3，通过Z向驱动皮带5与底板1另一侧安装在丝杆17上的Z向电机大带轮6连接，本实施例传动系统中的Z向驱动皮带5、Z向电机小带轮3和Z向电机大带轮6是采用的齿形带及齿形轮结构体。所述的丝杆17两端安装有上、下轴承22、11，分别通过其上连接的上、下轴承架21、10安装在上支撑盖板23和位于底板1之上的大支撑座8上，介于Z向电机大带轮6两侧的丝杆17上装有锁紧螺母7、9，位于上、下轴承架21、10内侧的丝杆17上分别装有上、下隔位套19、12。在所述大支撑座8和上支撑盖板23之间安装有对称的立板13构成稳定的框架。本实施例所述的丝杆17上安装有配合的方形螺母18，该方形螺母18的两侧依次装有滑块连接件16、导向滑块15，通过其中的导向滑块15与固定在立板13上的滑轨14滑动安装配合。当控制丝杆17正反向旋转时，可控制丝杆17上的方形螺母18升降。本发明所述的旋转式裸芯粒测试机构，包括裸芯粒测试座32，通过裸芯粒测试座32的底部与旋转大带轮26固定连接，所述的旋转大带轮26安装在由侧支撑板20与安装架24组成框式支撑架的中心轴承25上，该旋转大带轮26通过旋转皮带27与旋转电机30上的旋转小带轮29连接。在裸芯粒测试座32与安装架24之间的密封槽30中设有密封圈31。本实施例所述的侧支撑板20与丝杆17上的方形螺母18固定连接，可以控制裸芯粒测试座32沿Z向升降运动。同时，又通过旋转电机30控制裸芯粒测试座32，通过旋转电机30控制可以实现0-360°转动。本实施例所述裸芯粒测试座32呈“ Π ”型的中空体，该裸芯粒测试座32—侧设有真空接头33，所述裸芯粒测试座32端面中部带有方形测试槽，该方形测试槽上分布有真空吸孔，与真空接头33相通。
[0013]检测时，将裸芯粒放在裸芯粒测试座32上的方形测试槽上，通过其上的真空吸孔将裸芯粒紧紧吸附。当裸芯粒的中心相对测试针的位置产生偏差时，启动旋转电机30，控制裸芯粒测试座32旋转，直至吸附在其上的裸芯粒的中心与测试针的中心重合，旋转角度范围为0。-360。。
[0014]Z向升降机构的作用是:当Z向驱动电机4正转时，通过裸芯粒测试座32带动裸芯粒向上运动;Z向驱动电机4反转时，裸芯粒测试座32带动裸芯粒向下运动，通过裸芯粒测试座32带动裸芯粒向上和向下运动完成一次测试动作。
【主权项】
1.一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其特征是，包括一个Z向升降机构，及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。2.根据权利要求1所述的通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其特征是，所述的Z向升降机构，包括丝杆(17)，在所述丝杆(17)上安装有配合的方形螺母(18)，该方形螺母(18)上固定连接框式支撑架(20)，所述丝杆(17)下端安装有Z向电机大带轮(6)，通过其上的Z向驱动皮带(5)与Z向驱动电机(4)上的Z向电机小带轮(3)连接。3.根据权利要求1所述的通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其特征是，所述的旋转式裸芯粒测试机构，包括裸芯粒测试座(32)，通过裸芯粒测试座(32)的底部与旋转大带轮(26)固定连接，所述的旋转大带轮(26)安装在框式支撑架中心的轴承上，该旋转大带轮(26 )通过旋转皮带(27 )与旋转电机(30 )上的旋转小带轮(29 )连接。4.根据权利要求1所述的通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其特征是，所述裸芯粒测试座(32)可以实现0-360°转动，以沿Z向升降运动。5.根据权利要求1所述的通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其特征是，所述裸芯粒测试座(32)呈“ Π ”型的中空体，该裸芯粒测试座(32)—侧设有真空接头(33)，所述裸芯粒测试座(32)端面中部带有方形测试槽，该方形测试槽上分布有真空吸孔，与真空接头(33)相通。
【专利摘要】本发明公开了一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，其中包括一个Z向升降机构，及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。因此，本发明的裸芯粒微调测试座装置在高速测试过程中通过旋转调整测试针与裸芯粒的测试位置，提高测试定位精度，减少由于定位精度而造成的测试偏差，影响分选测试准确性和效率。
【IPC分类】H01G4/12
【公开号】CN105469982
【申请号】CN201610015866
【发明人】杨刚, 于国辉, 单宏, 孟宪圆, 于梅霞, 张津铭
【申请人】秦皇岛视听机械研究所
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2016年1月12日