将一个ecl门改变为ecl锁存器电路结构和提高速度的方法

文档序号:7508575阅读:328来源:国知局
专利名称:将一个ecl门改变为ecl锁存器电路结构和提高速度的方法
技术领域
本发明是一种高速双极型集成电路,具体地说是一个ECL锁存器,属于高速集成电路技术领域。
背景技术
集成电路可分为逻辑集成电路和线性集成电路两大类,前者又称为数字集成电路,用于计算机,数字通信,数字仪表,数控机床等,后者用于线性放大。此外,集成电路又分为双极型集成电路和MOS集成电路,MOS电路以低功耗著称,双极型电路以高速度见长,双极型电路一直用于很多高速电路中,未来很长时间仍将保持这种优势,所以双极型集成电路和MOS集成电路将很长时间保持互补性,各有所用,共同发展。双极型集成电路有TTL和ECL等,以ECL速度最高,ECL主要用于高速电路,在光纤通信、卫星通信、数字通信、高速仪器仪表、战略计算机、巨型计算机、雷达、电子战、电子情报、制导等民用和军用领域应用前景十分广阔。
现有技术和存在问题数子电路分组合电路和时序电路两种,门电路是组合电路的逻辑单元,记忆单元(锁存器或触发器)是时序电路的逻辑单元。若能改用一个门电路构成一个记忆单元,则它的传输延迟时间可降低到接近一个门电路的传输延迟时间。
迄今为止,一个门电路只能作为组合电路的逻辑单元,门电路没有记忆功能,如图1;为完成记忆功能,一个记忆单元(即一个锁存器或触发器)至少需要二个门电路构成,如图2。通常记忆单元需用二个或二个以上的门电路构成,例如基本RS触发器需用2个门电路构成;同步RS触发器需用4个门电路构成;维持阻塞D触发器需用6个门电路构成;主从JK触发器需用9个门电路构成。设一个门电路的传输延迟时间为tpd,则一个记忆单元的传输延迟时间至少是2tpd,即一个记忆单元的传输延迟时间至少是一个门电路的传输延迟时间的二倍。同样理由,一个ECL门只能作为组合电路的逻辑单元,一个传统ECL记忆单元(即一个ECL锁存器或一个ECL触发器)至少需要二个ECL门构成。设一个ECL门的传输延迟时间为tpd,一个传统ECL记忆单元的传输延迟时间至少为2tpd,后者至少是前者的二倍。双极型集成电路中以ECL速度最高,目前已采用各种技术努力提高ECL门的速度,但由于ECL记忆单元总是至少用二个ECL门构成的,所以ECL记忆单元的传输延迟时间总是大于等于ECL门的传输延迟时间二倍。将来科技水平提高,ECL门电路速度也提高,但上述记忆单元这种传输延迟时间大于等于二倍的关系却仍然保持,未能改变。

发明内容
本发明目的是公开将一个ECL门改变为ECL锁存器电路结构和提高记忆单元速度的方法,在ECL门速度基本不变的基础上,使得作为时序电路记忆单元的ECL锁存器的速度进一步提高。
本发明是一种将反馈式ECL门改变成为ECL锁存器电路结构,如图8所示。管T1和T2二射极相连,并经共用电阻R3接地,形成射极耦合;T1的集电极经电阻R1接有效功率时钟cp,T2的集电极经电阻R2接直流电源Vd;管T1和T2的二集电极c1和c2分别连接到射极跟随器T3和T4的基极,T3和T4的射极各自经电阻R4和R5接地,T3和T4的集电极接Vd,在T3和T4的射极各自形成输出Y和Q,射极跟随器T3的输出Y与D反相,而T4的输出Q与D同相;管T1的基极b1接外输入D,与D反相的Y又作为反馈信号接到T2的基极。在cp为高电平cpH时,该电路类似施密特电路,存在二个稳定状态,具有记忆功能。二个稳定状态中处于那个稳定状态取决于cp上升沿时刻D输入值,即T1管基极b1的值;按电路要求的D输入信号应在cp低电平cpL时且cp上升沿来到之前建立稳定,锁存器在cp上升沿来到时接收D代码,并在此后cpH持续期内保存D代码,由此一个反馈式ECL门改变成为一个D锁存器,其中cp为集电极输入方式;ECL电路工作在高速状态下,当很多D锁存器组成一个整体电路时,统一的cp时钟源要求提供较大的cp时钟源电流;实际上每一个D锁存器都附加一个射极跟随器T5,管T5的射极经电阻R6接地,T5的集电极接电源Vcc,而常规时钟cp1输入到T5的基极,cp1为基极输入方式,cp1电流较小,由T5的射极输出形成cp,cp是有效功率时钟。
本发明所述的一种将反馈式ECL门改变成为ECL锁存器电路结构,如图18所示,其特征在于一个输入管T1可以用二个输入管T1和T0的二个集电极相接且二个射极相接的二个输入管并联组合代替,T1和T0的二个基极分别接输入D1和D0,构成二个输入端的D锁存器,D=D1+D0,D锁存器的特征方程表示为Q+=D1+D0。也可以用2个以上输入管的所有射极相连和所有集电极相连的2个以上输入管的并联组合代替。
本发明是一种将反馈式ECL门改变成为ECL锁存器电路结构,如图9所示,其特征在于作为输出级的射极跟随器T4可以从右边移到左边,射极跟随器T4由输出级变为输入级,管T4的射极仍经电阻R5接地,T4的集电极仍接Vd,管T4的基极改接外输入D,管T4的射极输出改接T1管的基极b1,管T2的集电极c2作为锁存器输出Q,输出Q可接到下级的输入级射极跟随器的基极。
本发明是一种提高记忆单元--锁存器或触发器电路速度的方法,该方法是一个ECL记忆单元只用一个ECL门构成,完成此ECL记忆单元电路设计的重要计算公式是①上翻转电平VT+计算公式;②下翻转电平VT-计算公式;③回差电压ΔV计算公式。计算公式分别表示如下VT+=cpH-Vbe3-R1ib3VT-=[cpH-Vbe3-R1ib3+Vbe1βR1/R3(1+β)]÷[1+βR1/R3(1+β)]ΔV=VT+-VT-=(cpH-Vbe3-Vbe1-R1ib3)÷[1+(1+β-1)R3/R1]=(cpH-Vbe3-Vbe1-R1ib3)R1÷(R1+R3)(当β很大时)用有效功率时钟cp接三极管集电极,将一个组合电路的逻辑单元‘ECL门’改变为一个时序电路的记忆单元‘ECL锁存器’,即按照上式设计得出类似施密特电路,存在二个稳定状态,时钟cp为集电极极输入方式,把从来没有考虑的潜在的‘ECL门’记忆功能开发出来,完成该记忆功能的一个ECL门就是一个ECL记忆单元,称为‘ECL记忆门’,这样以来它的传输延迟时间约为tpd,即约为传统ECL记忆单元传输延迟时间的一半,ECL记忆单元速度提高近一倍。
上述发明的具体的和详细的内容说明如下一.反馈式ECL门记忆能力的实现和电路设计的计算公式。
只有满足规定条件的情况下,才能实现反馈式ECL门的记忆能力,才能设计出将一个FECL门改变为时序电路的一个记忆单元的电路结构,这个规定条件就是记忆能力实现和电路设计的计算公式。图3是反馈式ECL(FECL)门,至今一个FECL门都是作为组合逻辑单元来用的。本发明分析一个FECL门电路在规定条件下存在二个稳定状态,具有记忆功能,因此按规定条件修改FECL门电路结构,将一个FECL门改变为时序电路的一个记忆单元(称为ECL记忆门,即D锁存器),如图4。图中Vd为直流电源,cp为周期性变化的时钟脉冲,cp经电阻R1接到T1管集电极,称cp为有效功率时钟,但cp只接到一个三极管T1集电极,其它三极管集电极仍接直流电源Vd。将图4右侧的射极跟随器(T4管和R5)移到左侧,则得出图5,图5是图4的变相形式。为描述该电路的记忆特性,现在假设cp恒为高电平cpH,此时图4和图5都类似施密特电路,存在二个稳定状态。在图5中对T1管的基极输入三角波vb1,三角波开始vb1较低(vb1<Vbe1),使得T1管截止和T2管导通(称为稳定状态1),T3为射极跟随器(始终导通)。记T1,T2和T3三管基射导通电压为Vbe1,Vbe2和Vbe3,且Vbe1=Vbe2=Vbe3,设T1,T2和T3三管基射导通电流各自为ib1,ib2和ib3,截止时基流近似为0。大写字母为直流量,小写字母为交流量,其它符号类似。由图5的得出,R1ib3+Vbe3+Vbe2+R3ie2=cpH(1)R2βib2+vce2+R3ie2=Vd(2)此时vb1低于vb2,若vb1由低向高连续上升,一旦T1管导通(基射电压到达Vbe2),则vb1=Vbe1+ve2=Vbe2+ve2=vb2,即vb1几乎等于vb2,电路进行雪崩式翻转,翻转到T2管截止和T1管导通(称为稳定状态2),若vb1继续上升,仍保持该状态2。由此得出上翻转电平VT+近似为,VT+=Vbe2+ve2=Vbe2+R3ie2=cpH-Vbe3-R1ib3(3)因T3为射极跟随器,上述翻转过程中vb2下降幅度几乎等于vc1的下降幅度,使T2有一定的截止深度,下降后vbe2低于导通电压Vbe2一定值。由图5的得出,vb1=Vbe1+R3ie1=Vbe1+R3ic1+R3ib1(1+β)(4)ib1=(vb1-Vbe1)÷[R3(1+β)](5)vb2=cpH-Vbe3-R1(ic1+ib3)=cpH-Vbe3-R1ib3-R1βib1(6)当vb1连续下降时,vc1连续上升,vb3也连续上升,开始有一段时间仍保持该状态2,但T2向导通方向靠近。一旦T2管导通,T2管基射电压到达时Vbe2,则vb1几乎等于vb2,电路又一次进行雪崩式翻转,返回到T1管截止和T2管导通(稳定状态1),此刻的vb1就是VT-,vb1继续下降仍保持该状态1。下面计算下翻转电平VT-,尽管式(1)和(6)中ib3并不完全相同,而是靠近,因为R1ib3是很小的修正数,可按近似相同处理(约为ib3=5μA),将式(5)中的ib1代入式(6),先得出vb1=vb2=cpH-Vbe3-R1ib3-βR1(vb1-Vbe1)÷[R3(1+β)]将上式中的vb1整理出来,则得出VT-近似为,VT-=vb1=[cpH-Vbe3-R1ib3+Vbe1βR1/R3(1+β)]÷[1+βR1/R3(1+β)](7)用式(3)减式(7),考虑β很大,β-1很小,可略去β-1,得出回差电压ΔV近似为,ΔV=VT+-VT-=(cpH-Vbe3-Vbe1-R1ib3)÷[1+(1+β-1)R3/R1]=(cpH-Vbe3-Vbe1-R1ib3)R1÷(R1+R3)(当β很大时) (8)上述式(3),(7)和(8)是完成记忆功能和电路设计的重要的计算公式,由上述计算公式得出结论①工作在回差电压范围内,FECL门电路图5(和图4)有两个稳定状态,具有记忆功能,可记忆代码0和1。
②为使ΔV大,cp的高电平cpH应较大,而且比值R3/R1应较小。③显然必须满足cpH>Vbe3+Vbe1=1.54V。设R1=400Ω,R2=300Ω,R3=250Ω,R4=3000Ω,Vd=1.95V,Vbe1=Vbe2=Vbe3=0.77V,ib3=5μA,若取cpH=2.2V(高电平期间),代入式(8)得出ΔV=0.352V(若取cpH=1.8V,得出ΔV=0.134V)。按硅双极型电路工艺用Pspice对图5进行模拟得出高电平期间回差曲线图6(器件参数RB=99.4Ω,RE=7.8Ω,CJE=22.5fF,CJC=10.7fF,CJS=45.2fF,τF=5.2ps,见文献[3]IEEE J.Solid-State Circuits,1999,34(2)P206表1)。为方便观测回差电压,选cp高电平cpH持续期充分大,由此高电平持续期中间cpH等价一个直流电压,所以在图5中,取cpH为恒定值(如恒定为2.2V),在T4基极输入三角波,经射极跟随器,使输入到T1管基极也是三角波Vb1,电路翻转波形如图6,当电路翻转时,三角波Vb1在线性上升和线性下降的曲线上出现很小的波折线(图5比图4容易出现很小的波折线),由此得出回差电压ΔV当cpH=2.2V时,ΔV=0.32V(当cpH=1.8V时,ΔV=0.11V),与理论计算的结果ΔV=0.352V(ΔV=0.134V)接近。
为观测FECL双稳态电路实现记忆的功能,用Pspice对图5进行模拟,得出图7的该单元各点波形。从上向下看,第1小图是cp波形,当cp为高电平2.2V时呈现双稳态,该状态取决于cp上升沿时刻T1管基极b1的值。b1信号取自跟随器T4射极,T4基极输入信号D0(第2小图)。D0出现负脉冲时,b1也出现负脉冲(第5小图),并使T1管截止。在T1管截止期间,首次cp上升沿来到,使T1管集电极c1电压指数上升到近2.2V(第4小图;),同时T2管基极b2也随之指数上升(第6小图)。b2指数上升使状态输出Q(即T2管集电极c2)指数下降(第3小图)。由此图看出,b1负脉冲过去后,Q仍保持低电平状态(记忆0)。第二次cp上升沿来到时,因b1为高电平,T1管导通,则c1和b2只上升到中间电平,选取R1值,使b2中间电平仍满足T2截止条件,于是Q仍保持高电平状态(记忆1)。cp下降沿(降到1.2V)的工作过程与cp上升沿相反,从略。底部是共射极e是波形,当Q为低电平时e偏高。注意b2下降开始较快,以后T2截止,下降较慢,后期慢下降并不影响速度。显然图5可以作为D锁存器。锁存器Q输出幅度为0.75V;二传输延迟时间为tpdh1=72ps,tpd1h=38ps;Q输出上升时间tr=68ps,下降时间tf=52ps;时钟源功率Pcp=1.88mW,直流电源功率Pvd=2.36mW。注着重说明可改用一个门电路构成一个记忆单元,则它的传输延迟时间可降低到接近一个门电路的传输延迟时间,这种速度提高目标不注重于静态的眼前的短时的一个记忆器件效果,而是注重于动态的现在将来的长期的相对(记忆门相对常规门)的效果。
二.提高记忆单元ECL锁存器速度的方法。
迄今为止,一个门电路只能作为组合电路的逻辑单元,门电路没有记忆功能,如图1;为完成记忆功能,一个记忆单元(一个锁存器或触发器)至少需要二个门电路构成,如图2。通常记忆单元需用二个或二个以上的门电路构成,例如基本RS触发器需用2个门电路构成;同步RS触发器需用4个门电路构成;维持阻塞D触发器需用6个门电路构成;主从JK触发器需用9个门电路构成。设一个门电路的传输延迟时间为tpd,则一个记忆单元的传输延迟时间至少是2tpd,即一个记忆单元的传输延迟时间至少是一个门电路的传输延迟时间的二倍。同样理由,一个ECL门只能作为组合电路的逻辑单元,一个传统ECL记忆单元(即一个ECL锁存器或一个ECL触发器)至少需要二个ECL门构成,设一个ECL门的传输延迟时间为tpd。一个传统ECL记忆单元的传输延迟时间至少为2tpd,后者至少是前者的二倍以上。双极型集成电路中以ECL速度最高,目前已采用各种技术努力提高ECL门的速度,但由于ECL记忆单元总是至少用二个ECL门构成的,所以ECL记忆单元的传输延迟时间总是大于等于ECL门的传输延迟时间二倍。将来科技水平提高,ECL门电路速度也提高,但上述记忆单元这种传输延迟时间大于二倍的关系却仍然保持,未能改变。
为此可突破传统思维,打破一个记忆单元(锁存器或触发器)至少需要二个门电路构成的传统方法,改用一个门电路构成一个记忆单元。从电路结构上看,传统时钟cp接ECL门三极管基极,即时钟cp为基极输入方式,现在改用有效功率时钟cp接三极管集电极,即改时钟cp为集电极输入方式,由此将一个组合电路的逻辑单元‘ECL门’改变为一个时序电路的记忆单元‘ECL锁存器’电路结构。利用反馈式ECL门有类似施密特电路的特性存在二个稳定状态,改时钟cp为集电极输入方式,把从来没有考虑的潜在的‘ECL门’记忆功能开发出来,开发后的一个ECL门就是一个ECL记忆单元(简称为‘ECL记忆门’)。目标是使一个记忆单元的传输延迟时间接近一个门电路的传输延迟时间(约为tpd),或约为传统ECL记忆单元传输延迟时间的一半,所以ECL记忆单元速度提高近一倍。该方法表明,这种提高目标不注重于静态的眼前的短时的一个记忆器件效果,而是注重于动态的现在将来的长期的相对(记忆门相对常规门)的效果,将来科技水平提高,这种相对效果仍保持。
三.时钟集电极输入方式和基极输入方式的D锁存器在图5所示的FECL记忆门(或D锁存器)中cp是有效功率时钟,因ECL电路工作在高速状态下,cp接三极管集电极,要求能提供较大的集电极电流,当很多D锁存器组成一个整体电路时,统一的高速大电流的‘功率时钟’实现有一定的困难。为此对每一个图5所示D锁存器附加一个射极跟随器(T5和R6),如图9,由射极跟随器T5的射极输出形成cp,而射极跟随器T5的基极输入接常规时钟cp1,由化整为零的方式避免统一‘cp功率时钟源’实现的困难,从效果上看,cp仍接三极管集电极,称cp为‘有效功率时钟’。同样方式由图4附加一个射极跟随器(T5和R6),得出图8。图18是图8的推广形式,都是有效时钟集电极输入方式的D锁存器电路图,图8只有一个D输入端,特征方程满足Q+=D;而图18有二个输入端(D0和D1),特征方程满足Q+=D0+D1。以上D锁存器为单相输入,非差分输入。
四.反馈式ECL主从D触发器。图11是FECL主从D触发器,它由二个图9所示的FECL记忆门(有效时钟集电极输入方式)构成,图中左边FECL记忆门是主锁存器,右边FECL记忆门是从锁存器,主锁存器和从锁存器各自有T5a、R6a和T5、R6组成的附加射极跟随器,T5基极接时钟cp1,T5a基极接时钟 二时钟相互反相,其中R5=R5a=2kΩ,VCC=2.7V。工作原理与常规主从D触发器类似首先cp1=0,主锁存器Qa接收D输入代码,并保持(存储)该信号到整个cp1=0期间;接着cp1=1,从锁存器Q接收主锁存器Qa持有的信号,并在整个cp1=1期间保持(存储)下来,实际上Q存储的是先前D代码。图12是FECL主从D触发器的符号。同样方式由二个图8所示的FECL记忆门构成图10所示的FECL主从D触发器,图10是图11的变相形式。以上FECL主从D触发器为单相输入,不是差分输入,单相输入比差分输入有输入线少的优点。


图1.为本发明已有技术ECL门示意图。
图2.为本发明已有技术ECL记忆单元示意图。
图3.为本发明已有技术反馈式ECL(FECL)或/或非门电路图。
图4.为本发明时钟接集电极的D锁存器之一电路图。
图5.为本发明时钟接集电极的D锁存器之二电路图。
图6.为本发明图5的计算机模拟回差曲线。从上到下分别是b1(即b41)和Q(即y4)二点电压波形分图。
图7.为本发明图5的计算机模拟各点电压波形图。共7个分图,从上到下依次是cp,D0,Q,c1,b1,b2,e共7点电压波形分图。
图8.为本发明时钟接基极的D锁存器之一电路图。
图9.为本发明时钟接基极的D锁存器之二电路图。
图10.为本发明的FECL主从D触发器之一电路图。
图11.为本发明的FECL主从D触发器之二电路图。
图12.为本发明的FECL主从D触发器图11的符号。
图13.为本发明的FECL或门电路图。
图14.为本发明FECL或门的符号。
图15.为本发明FECL五进制移位计数器。
图16.为本发明图15的计算机模拟各点电压波形图。共8个分图,从上到下依次是Q0,Q1,Q2,Q0a,Q1a,Q2a,D0,cp1共8点电压波形分图。
图17.为本发明图15的有效耗损功率的计算机模拟测试曲线,共3个分图,从上到下依次是总功耗P,直流功耗PVd和PVcc曲线,。
图18.为本发明时钟接基极的有二个输入端的D锁存器电路图。
具体实施例方式一.有效时钟集电极输入方式的FECL五进制移位计数器。
图15是FECL五进制移位计数器,它由三个图11所示的主从D触发器Q0、Q1和Q2组成,采用符号图12,移位功能满足D2=Q1,D1=Q0;为实现五进制计数器,采用反馈电路D0=Q1Q2‾.]]>因Q1Q2‾=Q1‾+Q2‾,]]>反馈信号D0可用FECL或门图13实现。图13是由FECL或/或非门图3修改得出增加T3管集电极电阻R5,输出F取自该管集电极,满足F=A+B,实现或门功能;除R2仍接Vd外,R1和R5改接T4射极,T4基极接cp1,使F=A+B仅在cp1=1时有效,满足D0脉冲输入的要求。因Y1和Y2各自是Q1和Q2的非,所以在图15或门输入接到Y1和Y2,以此实现D0=Q1Q2‾.]]>理论分析表明图15是五进制移位型计数器。用Pspice对图15进行模拟得出图16。图16上部三小图是Q0、Q1和Q2的波形图,按cp1=1时期看,Q0Q1Q2的状态由011→001→100→110→111→011,满足理论计算的结果。图5中部三小图是主锁存器Q0a、Q1a和Q2a的波形图,它和Q0、Q1和Q2波形形状相同,但提前半个cp1周期,在cp1=0时出现,表明紧接的下半个cp1周期将Q0a、Q1a和Q2a的信息各自传送到Q0、Q1和Q2,符合主从触发器的特点。底部倒数第二小图是D0的波形,对Q1=Q2=1,在cp1=1时出现D0=0,其它时刻D0=1,正好是Q1Q2的非。图5最底部小图是cp1波形,cp1周期是0.5ns,cp1从2V到3V作周期性变化。
图6和7中符号Vb1=V(b41),VQ=V(y4)。图17中符号Vcc=V(Vcc),Vd=V(Vd),IVcc=I(VCC),IVd=I(Vd)。
二.本发明中有效耗损功率Peff计算和模拟测试。对于双极型电路和MOS电路,半导体器件内存在非线性参数(器件电阻和电容值是电压或电流的函数),拉氏变换,叠加原理和戴维南原理已失效,整体电路耗损功率计算公式很难推出,既使推出,也存在很大的近似。可根据普遍适用的能量守恒定律推出,能量守恒定律在任何情况下都成立,不受由非线性影响。在无穷小时间间隔dt内由电源送到电路的微功率是V(t)I(t)dt,V(t)是电源输出端电压,I(t)是电源输出电流,而I(t)>0表示dt内瞬时功率由电源送到电路,I(t)<0表示dt内瞬时功率由电路返回电源,由此推出有效耗损功率Peff计算公式表达如下Peff=1KT∫0KTV(t)I(t)dt---(9)]]>式(9)有广泛适用性,不必编程,直接用函数AVG()测量。通常存在较大的起始功耗,为使起始功耗影响接近0(或到达读数允许的误差范围内),可取很大的t=KT,曲线最右趋于平坦,在平坦部分读数很方便。图17上部是总功耗P曲线,图17中下二部分是反馈ECL移位计数器的二个直流电源Vd和Vcc的有效功耗PVd和PVcc曲线。cp1周期是0.5ns。从最右边平坦部分读数得出各自的有效功耗PVd=13.4mW,PVcc=34.7mW,总功耗为P=48.1mW。将cp1周期改为0.2ns时,得出PVd=12.45mW,PVcc=35.8mW,总功耗为P=48.25mW。
权利要求
1.一种将反馈式ECL门改变成为ECL锁存器电路结构;管T1和T2二射极相连,并经共用电阻R3接地,形成射极耦合;T1的集电极经电阻R1接有效功率时钟cp,T2的集电极经电阻R2接直流电源Vd;管T1和T2的二集电极c1和c2分别连接到射极跟随器T3和T4的基极,T3和T4的射极各自经电阻R4和R5接地,T3和T4的集电极接Vd,在T3和T4的射极各自形成输出Y和Q,射极跟随器T3的输出Y与D反相,而T4的输出Q与D同相;管T1的基极b1接外输入D,与D反相的Y又作为反馈信号接到T2的基极;在cp为高电平cpH时,该电路类似施密特电路,存在二个稳定状态,具有记忆功能;二个稳定状态中处于那个稳定状态取决于cp上升沿时刻D输入值,即T1管基极b1的值;按电路要求的D输入信号应在cp低电平cpL时且cp上升沿来到之前建立稳定,锁存器在cp上升沿来到时接收D代码,并在此后cpH持续期内保存D代码,由此将一个反馈式ECL门改变成为一个D锁存器;cp为集电极输入方式,ECL电路工作在高速状态下,当很多D锁存器组成一个整体电路时,统一的cp时钟源要求提供较大的cp时钟源电流;实现时每一个D锁存器都附加一个射极跟随器T5,射极电阻为R6,而T5的集电极接电源Vcc,由T5的射极输出形成cp,cp是有效功率时钟,T5的基极输入接常规时钟cp1,cp1为基极输入方式。
2.根据权力要求1所述的一种将反馈式ECL门改变成为ECL锁存器电路结构,其特征在于一个输入管T1可以用二个输入管T1和T0的二个集电极相接且二个射极相接的二个输入管的并联组合代替,T1和T0的二个基极分别接输入D1和D0,构成二个输入端的D锁存器,即D=D1+D0,D锁存器特征方程为Q+=D1+D0;也可以用2个以上的输入管的所有射极相连和所有集电极相连的2个以上的输入管的并联组合代替。
3.根据权力要求1所述的一种将反馈式ECL门改变成为ECL锁存器电路结构,其特征在于作为输出级的射极跟随器T4可以从右边移到左边,即射极跟随器T4由输出级变为输入级,管T4的射极仍经电阻R5接地,T4的集电极仍接Vd,T4的基极改接外输入D,管T4的射极输出改接T1管的基极b1,管T2的集电极c2作为锁存器输出Q,输出Q可接下级的输入级射极跟随器的基极。
4.一种提高记忆单元--锁存器或触发器电路速度的方法,该方法是一个ECL记忆单元只用一个ECL门构成,完成此ECL记忆单元电路设计的重要计算公式是①上翻转电平VT+计算公式;②下翻转电平VT-计算公式;③回差电压ΔV计算公式。计算公式分别表示如下VT+=cpH-Vbe3-R1ib3VT-=[cpH-Vbe3-R1ib3+Vbe1βR1/R3(1+β)]÷[1+βR1/R3(1+β)]ΔV=VT+-VT-=(cpH-Vbe3-Vbe1-R1ib3)÷[1+(1+β-1)R3/R1]=(cpH-Vbe3-Vbe1-R1ib3)R1÷(R1+R3)(当β很大时)用有效功率时钟cp接三极管集电极,cp为集电极输入方式,将一个组合电路的逻辑单元‘ECL门’改变为一个时序电路的记忆单元‘ECL锁存器’,即按照上述计算公式得出类似施密特电路,存在二个稳定状态,把从来没有考虑的潜在的‘ECL门’记忆功能开发出来,有潜在记忆功能的一个ECL门就是一个ECL记忆单元,称为‘ECL记忆门’,这样以来它的传输延迟时间约为tpd,即约为传统ECL记忆单元传输延迟时间的一半,ECL记忆单元速度提高近一倍。
全文摘要
本发明公开将一个ECL门改变为ECL锁存器的电路结构和提高记忆单元速度的方法。至今,任何一个门电路都只能作为组合电路的逻辑单元,没有记忆功能;为完成记忆功能,至少需要二个门电路构成一个记忆单元,一个记忆单元的传输延迟时间至少是一个门电路的传输延迟时间t
文档编号H03K19/08GK1767389SQ20051001028
公开日2006年5月3日 申请日期2005年8月26日 优先权日2005年8月26日
发明者刘莹, 方倩, 方振贤 申请人:黑龙江大学, 方倩, 刘莹
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