At切高基频复合压电水晶振动子的制作方法

文档序号:7516719阅读:377来源:国知局
专利名称:At切高基频复合压电水晶振动子的制作方法
技术领域
本发明涉及水晶电子元器件技术领域,具体的说是一种AT切高基频复合压电水 晶振动子。
背景技术
传统的水晶振动子为单片晶体振动子,其厚度经一般研磨后达到研磨工艺极限;
若要得到超薄晶片,往往以高能粒子束一光束或离子束刻蚀的方法来实现,这样需要的 刻蚀设备造价高,且设备维护费用昂贵,超薄晶片无法批量生产,高档的单片超薄晶片的成
本高达一万元左右;且一旦刻蚀发生失误,晶片容易碎裂,造成极大地浪费。

发明内容
本发明的目的是研制一种结构简单、成本低廉、适合大规模批量生产的AT切高基 频复合压电水晶振动子。 本发明AT切高基频复合压电水晶振动子,包括谐振晶片1、支撑晶片2,谐振晶片 l和支撑晶片2之间以粘接剂相粘合为一个整体,支撑晶片2中心用超声波或激光开有镀膜 孔3。 谐振晶片1为经一般研磨的普通单片晶体振动子。 支撑晶片2和谐振晶片1的材质相同。 支撑晶片2和谐振晶片1的外轮廓一致。 镀膜孔3的尺寸依据公式C。 = e /4K Ji XA/T。计算得出; 其中C。为晶片静电容,e为水晶的介电常数,K为静电常数,Ji为圆周率,A为镀 膜面积,T。为晶片厚度; 晶片厚度T。与基频频率F。的换算公式为F。 = k /T。, k为压电常数。
C。 = 0. 02D2F。为上述公式的圆型晶片的简化算式;
其中C。为晶片静电容,D为圆型晶片直径,F。为基频频率。 所述粘接剂为孝昌县晶鑫电子科技有限公司生产并对外销售的JXJ-T01型号的 抗高温耐腐蚀505型粘接剂,公司地址为湖北孝昌县城南经济开发区站前2路全洲工业园 内,邮编为432900。 本发明AT切高基频复合压电水晶振动子的工作原理在于利用支撑晶片2增加谐 振晶片1的研磨厚度和抗磨张力,使之充分研磨至所需频率,达到所需要的超薄厚度;镀膜 孔3则满足谐振晶片1谐振的电参数。 本发明AT切高基频复合压电水晶振动子的优点是谐振晶片与支撑晶片连成一 体进行研磨,有效地解决了研磨中超薄晶片强度不足而无法克服的难题;同时用平面研磨 替代光刻蚀或离子刻蚀,摒弃昂贵的刻蚀设备及其维护费用,实现了超薄晶片的批量生产, 从而生产成本大幅降低至现有方法所耗成本的1% _5%。
产品经测试后达到的关键技术指标
附主要技术指标
1、 振动频率范围50 200MHZ。振动模式基频
2、 切型切角AT35。
(9' 16' )±15"
3、 温度频差± (5 30)卯m, -20 +70°C,以25士3。C为基准
4、 常温频差± (5 30)卯m,25士3。C
5、 谐振电阻等效电阻Rr《40 Q
6、 外型尺寸(1.0X1.2) (3. 5X5. 08)mm ;或①(3. 0 8. 9)
7、 适应温度范围-40 +85°C ;工作温度范围-20 +70°C
8、 寄生响应衰减5dPmin,寄生波电阻^ 2Rr
9、 机械性能符合《压电石英晶体总规范》-GB12273-9

图1为AT切高基频复合压电水晶振动子的结构示意图。
具体实施例方式
根据图1所示,一种AT切高基频复合压电水晶振动子,包括谐振晶片1、支撑晶 片2,谐振晶片1和支撑晶片2之间以粘接剂相粘合为一个整体,支撑晶片2中心用超声波 或激光开有镀膜孔3。 谐振晶片1为经一般研磨的普通单片晶体振动子。 支撑晶片2和谐振晶片1的材质相同。 支撑晶片2和谐振晶片1的外轮廓一致。 镀膜孔3的尺寸依据公式C。 = e /4K Ji XA/T。计算得出; 其中C。为晶片静电容,e为水晶的介电常数,K为静电常数,Ji为圆周率,A为镀 膜面积,T。为晶片厚度; 晶片厚度T。与基频频率F。的换算公式为F。 = k /T。, k为压电常数。
C。 = 0. 02D2F。为上述公式的圆型晶片的简化算式;
其中C。为晶片静电容,D为圆型晶片直径,F。为基频频率。 所述粘接剂为孝昌县晶鑫电子科技有限公司生产并对外销售的JXJ-T01型号的 抗高温耐腐蚀505型粘接剂,公司地址为湖北孝昌县城南经济开发区站前2路全洲工业园 内,邮编为432900。
权利要求
一种AT切高基频复合压电水晶振动子,包括谐振晶片(1),谐振晶片(1)为经一般研磨的普通单片晶体振动子,其特征在于还有支撑晶片(2),谐振晶片(1)和支撑晶片(2)之间以粘接剂相粘合为一个整体,支撑晶片(2)中心用超声波或激光开有镀膜孔(3)。
2. 根据权利要求1所述的AT切高基频复合压电水晶振动子,其特征在于支撑晶片 (2)和谐振晶片(1)的材质相同。
3. 根据权利要求1所述的AT切高基频复合压电水晶振动子,其特征在于支撑晶片 (2)和谐振晶片(1)的外轮廓一致。
4. 根据权利要求1所述的AT切高基频复合压电水晶振动子,其特征在于镀膜孔(3) 的尺寸依据公式C。 = e /4K Ji XA/T。计算得出;其中C。为晶片静电容,e为水晶的介电常数,K为静电常数,Ji为圆周率,A为镀膜面 积,T。为晶片厚度;晶片厚度T。与基频频率F。的换算公式为F。 = k /T。, k为压电常数。
全文摘要
一种AT切高基频复合压电水晶振动子,包括谐振晶片(1)、支撑晶片(2),谐振晶片(1)为经一般研磨的普通单片晶体振动子,谐振晶片(1)和支撑晶片(2)之间以粘接剂相粘合为一个整体,支撑晶片(2)中心用超声波或激光开有镀膜孔(3)。其优点是谐振晶片与支撑晶片一起进行研磨,有效地解决了研磨中超薄晶片强度不足而无法克服的难题;同时用平面研磨替代光刻蚀或离子刻蚀,摒弃昂贵的刻蚀设备及其维护费用,实现了超薄晶片的批量生产,从而生产成本大幅降低至现有方法的1%-5%。
文档编号H03H9/17GK101795121SQ201010107649
公开日2010年8月4日 申请日期2010年2月4日 优先权日2010年2月4日
发明者彭常青 申请人:孝昌县晶鑫电子科技有限公司
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