专利名称：降低漏电流的电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电路结构，特别是涉及一种可以降低漏电流的电路。
背景技术：
漏电流是指半导体的PN结在截止时流过的很微小的电流，即指没信号状态或待机状态下的电流。漏电流的大小直接决定了该产品的待机时间，当漏电流越大，产品的待机时间越短，当漏电流越小，产品的待机时间越长。因此需要设计一种电路来降低漏电流，从而能够延长产品的待机时间。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种降低漏电流的电路，可以降低待机电流。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种降低漏电流的电路，包括第一金氧半场效应管和第二金氧半场效应管，所述第一金氧半场效应管的栅极与第二金氧半场效应管的漏极相连；所述第一金氧半场效应管和第二金氧半场效应管的源极均接地; 所述第一金氧半场效应管的漏极通过第一电阻与供电端相连；所述第二金氧半场效应管的漏极通过第二电阻与供电端相连；所述第一金氧半场效应管的漏极还与后端电路的开关控制端相连。所述的第一金氧半场效应管和第二金氧半场效应管均为N沟道的金氧半场效应管。所述第一电阻的阻值为O. 95M-1. 05ΜΩ。所述第二电阻的阻值为O. 95M-1. 05ΜΩ。有益效果由于采用了上述的技术方案，本发明与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果本发明通过场效应管的输入阻抗和关断阻抗都很大的特性，同时选用比较大的外部电阻，在供电电压不变的情况下，使得2个场效应管上的关断电流和导通电流都显著减少，从而达到大幅降低待机电流和该电路上的工作电流。
图I是本发明的电路图。
具体实施例方式下面结合具体实施例，进一步阐述本发明。应理解，这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解，在阅读了本发明讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。本发明的实施方式涉及一种降低漏电流的电路，如图I所示，包括第一金氧半场效应管Ul和第二金氧半场效应管U2，所述第一金氧半场效应管Ul的栅极与第二场金氧半效应管U2的漏极相连；所述第一金氧半场效应管Ul和第二金氧半场效应管U2的源极均接地；所述第一金氧半场效应管Ul的漏极通过第一电阻Rl与供电端相连；所述第二金氧半场效应管U2的漏极通过第二电阻R2与供电端相连；所述第一金氧半场效应管Ul的漏极还与后端电路的开关控制端相连。图I中的第一金氧半场效应管Ul和第二金氧半场效应管 U2均为N沟道的金氧半场效应管。第一电阻Rl的阻值范围在O. 95Μ-1.05ΜΩ ;第二电阻R2 的阻值范围在O. 95M-1. 05ΜΩ。本发明通过选用金氧半场效应管开关管器件以及合适的外部电阻，可以将待机电流降低至20uA左右(具体数值和选用的器件有关)，也可以大幅减低该电路上的工作电流。 由于N沟道的金氧半场效应管的输入阻抗和关断阻抗都很大，利用这个特性，可以选用比较大的外部电阻，在电压供电不变的情况下，在两个金氧半场效应管上的关断电流和导通电流都显著减少，从而达到大幅降低待机电流和该电路上的工作电流。
权利要求
1.一种降低漏电流的电路，包括第一金氧半场效应管(UI)和第二金氧半场效应管 (U2)，其特征在于，所述第一金氧半场效应管(Ul)的栅极与第二金氧半场效应管(U2)的漏极相连；所述第一金氧半场效应管(Ul)和第二金氧半场效应管(U2)的源极均接地；所述第一金氧半场效应管(Ul)的漏极通过第一电阻(Rl)与供电端相连；所述第二金氧半场效应管(U2)的漏极通过第二电阻(R2)与供电端相连；所述第一金氧半场效应管(Ul)的漏极还与后端电路的开关控制端相连。
2.根据权利要求I所述的降低漏电流的电路，其特征在于，所述的第一金氧半场效应管(Ul)和第二金氧半场效应管(U2)均为N沟道的金氧半场效应管。
3.根据权利要求I所述的降低漏电流的电路，其特征在于，所述第一电阻(Rl)的阻值为 O. 95M-1. 05ΜΩ。
4.根据权利要求I所述的降低漏电流的电路，其特征在于，所述第二电阻(R2)的阻值为 O. 95M-1. 05ΜΩ。
全文摘要
本发明涉及一种降低漏电流的电路，包括第一金氧半场效应管和第二金氧半场效应管，所述第一金氧半场效应管的栅极与第二金氧半场效应管的漏极相连；所述第一金氧半场效应管和第二金氧半场效应管的源极均接地；所述第一金氧半场效应管的漏极通过第一电阻与供电端相连；所述第二金氧半场效应管的漏极通过第二电阻与供电端相连；所述第一金氧半场效应管的漏极还与后端电路的开关控制端相连。本发明可以大幅降低待机电流和该电路上的工作电流。
文档编号H03K17/16GK102611417SQ20111043357
公开日2012年7月25日 申请日期2011年12月21日 优先权日2011年12月21日
发明者张瑜, 谢小毛 申请人:上海博泰悦臻电子设备制造有限公司