一种基于离散量信号的双通道校验电路及方法
【专利摘要】本发明涉及一种基于离散量信号的双通道校验电路及方法，包括两个并行的第一通道和第二通道、对应位比较单元以及冗余寄存器，第一通道包括依次连接的第一离散量处理电路和第一数据寄存器，第二通道包括依次连接的第二离散量处理电路和第二数据寄存器，离散量信号同时进入第一、第二离散量处理电路，第一、第二数据寄存器的输出端均与对应位比较单元的输入端连接，对应位比较单元的输出端与冗余寄存器连接。解决了现有的离散量信号处理方法存在不能真实反映信号状态、数据输出结果可信度不高的技术问题，本发明通过离散量信号的双通道处理达到增强信号可信度的目的。
【专利说明】一种基于罔散量信号的双通道校验电路及方法
【技术领域】
[0001]本发明属于校验方法，尤其涉及一种基于离散量信号的双通道校验方法。
【背景技术】
[0002]离散量信号普遍存在各种系统中，对于一个处理离散量信号的电路，通常使用单一通路，离散量信号处理为TTL电平后直接存贮至数据寄存器中，通过访问寄存器地址的方式，即可实现数据输出。在以上过程中，若出现通道损害等状况，则导致结果错误，数据寄存器结果不能反映真实的信号输入状态，数据输出结果可信度不高。
【发明内容】
[0003]为了解决现有的离散量信号处理方法存在不能真实反映信号状态、数据输出结果可信度不高的技术问题，本发明提供一种基于离散量信号的双通道校验电路及方法，本发明通过离散量信号的双通道处理达到增强信号可信度的目的。
[0004]本发明的技术解决方案为:
[0005]一种基于离散量信号的双通道校验电路，其特殊之处在于:包括两个并行的第一通道和第二通道、对应位比较单元以及冗余寄存器，所述第一通道包括依次连接的第一离散量处理电路和第一数据寄存器，所述第二通道包括依次连接的第二离散量处理电路和第二数据寄存器，
[0006]离散量信号同时进入第一、第二离散量处理电路，所述第一、第二数据寄存器的输出端均与对应位比较单元的输入端连接，所述对应位比较单元的输出端与冗余寄存器连接。
[0007]上述第一数据寄存器和第二数据寄存器的寄存地址一一对应。
[0008]一种基于离散量信号的双通道校验方法，其特殊之处在于:包括以下步骤:
[0009]步骤In路离散量信号同时进入第一、第二通道的第一、第二离散量处理电路，通过第一、第二离散量分别对η路离散量信号进行处理，将η路离散量信号处理成为TTL电平信号，同时将结果分别存储于第一、第二数据寄存器中；
[0010]步骤2冗余比较:对应位比较单元将第一、第二数据寄存器中存储的TTL电平信号按照逐位比较的原则进行比较；
[0011]步骤3第一数据寄存器的第η位与第二数据寄存器的第η位电平信号相同，则将TTL电平信号存储至冗余寄存器；若结果不同，则发出“fault”信号。
[0012]本发明所具有优点是:
[0013]本发明提供的基于离散量信号的双通道校验方法，使用双通道处理同一信号，通过信号逐位比较，排除由于通道导致的错误，增强信号可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1是本发明基于离散量信号的双通道校验电路的电路图。【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和具体实施例，对本发明的技术方案进行清楚、完整地表述。
[0016]如图1所示，一种基于离散量信号的双通道校验电路，包括两个并行的第一通道和第二通道、对应位比较单元以及冗余寄存器，第一通道包括依次连接的第一离散量处理电路和第一数据寄存器，第二通道包括依次连接的第二离散量处理电路和第二数据寄存器，
[0017]η路离散量信号同时进入第一、第二离散量处理电路,第一、第二数据寄存器的输出端均与对应位比较单元的输入端连接，对应位比较单元的输出端与冗余寄存器连接。第一数据寄存器和第二数据寄存器的寄存地址 对应。本发明提供一种基于离散量信号的双通道校验方法，该方法包括以下步骤:
[0018]步骤In路离散量信号处理，第一通道的第一离散量处理单元和第二通道的第二离散量处理单元分别对η路离散量信号进行处理，将离散量信号处理成为TTL电平信号，同时将TTL电平信号分别存储于第一数据寄存器和第二数据寄存器，值得注意的是第一数据寄存器第O位对应第二数据寄存器第O位，第一数据寄存器I第η位对应第二数据寄存器第η位；
[0019]步骤2冗余比较，对应位比较单元分别针对第一通道和第二通道分别对离散量结果进行，比较方式为逐位比较。
[0020]步骤3根据步骤2的结果，若第一数据寄存器第η位与第二数据寄存器第η位结果相同，则将结果存至冗余寄存器；若结果不同，则发送“fault”信号。
[0021]本实施例的离散量处理用于将离散量信号转变为TTL电平，数据寄存器用于存储数据，对应位比较单元用于将数据寄存器的结果逐位比较，冗余寄存器用于将双通道比较后的正确数据存贮至冗余寄存器中。
[0022]本发明原理及工作过程为:n路离散量信号同时经过第一通道和第二通道处理，第一通道和第二通道连接的离散量信号需一一对齐，由此实现离散量信号的冗余处理。
[0023]具体为，离散量处理电路产生的TTL电平分别存贮至第一数据寄存器与第二数据寄存器，且逐位对齐。通过比较对应位单元对数据的可靠性判断，例如同位数据同位“I”或同为“O”则表示信号可靠度高，冗余通道同位比较结果相同，该位结果存贮至冗余寄存器中；若第一数据寄存器和第二数据寄存器的同位结果不同，则表示信号可靠度不高，冗余通道同位比较结果不同，通道处理存在错误，输出“fault”信号，向系统发出告警，指示出冗余通道发生错误。
[0024]本发明提供的基于离散量信号的双通道校验方法，使用双通道处理同一信号，通过信号逐位比较判据数据的可靠性，排除由于通道导致的错误，进而增强了信号的可靠性。
【权利要求】
1.一种基于离散量信号的双通道校验电路，其特征在于:包括两个并行的第一通道和第二通道、对应位比较单元以及冗余寄存器，所述第一通道包括依次连接的第一离散量处理电路和第一数据寄存器，所述第二通道包括依次连接的第二离散量处理电路和第二数据寄存器， 离散量信号同时进入第一、第二离散量处理电路，所述第一、第二数据寄存器的输出端均与对应位比较单元的输入端连接，所述对应位比较单元的输出端与冗余寄存器连接。
2.根据权利要求1所述的基于离散量信号的双通道校验电路，其特征在于:所述第一数据寄存器和第二数据寄存器的寄存地址一一对应。
3.一种基于离散量信号的双通道校验方法，其特征在于:包括以下步骤: 步骤In路离散量信号同时进入第一、第二通道的第一、第二离散量处理电路，通过第一、第二离散量分别对η路离散量信号进行处理，将η路离散量信号处理成为TTL电平信号，同时将结果分别存储于第一、第二数据寄存器中； 步骤2冗余比较:对应位比较单元将第一、第二数据寄存器中存储的TTL电平信号按照逐位比较的原则进行比较； 步骤3第一数据寄存器的第η位与第二数据寄存器的第η位电平信号相同，则将TTL电平信号存储至冗余寄存器；若结果不同，则发出“fault”信号。
【文档编号】H03K5/22GK103618523SQ201310625221
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年11月27日 优先权日:2013年11月27日
【发明者】田泽, 邵刚, 郭蒙, 蔡叶芳, 郎静, 李世杰, 杨峰, 王泉 申请人:中国航空工业集团公司第六三一研究所