一种微位移测试系统用ad转换电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种AD转换电路，尤其涉及一种微位移测试系统用AD转换电路。
【背景技术】
[0002]AD转换电路是用来通过一定的电路将模拟量转变为数字量，AD转换电路只要完成模拟直流电压到数字量的转换。一般，单片机都包含AD转换电路，因为单片机内部的AD转换电路的转换位数通常不高，普通单片机一般为8位AD转换电路，例如STC12C5630AD也有AD转换功能，其AD转换电路的AD转换位数为10位，而AD转换位数直接决定了系统的测量精度，为了实现高微位移的测量精度，必须专门设置单独的高分辨率的AD转换电路。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是克服现有技术的缺陷，提供一种微位移测试系统用AD转换电路，其能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。
[0004]实现上述目的的一种技术方案是:一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容、AD转换芯片，其中:
[0005]所述基准电压源芯片包括四个引脚，第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚，其中所述第一电容的两端对应与所述第一引脚和所述第二引脚连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接；
[0006]所述AD转换芯片包括十个引脚，第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚和第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第二电容的两端对应连接所述第六引脚与所述第八引脚，所述第三电容的两端对应连接所述第八引脚和所述第十四引脚，所述第十引脚、所述第十一引脚、所述第十二引脚和所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地相连。
[0007]进一步的，所述基准电压源芯片为亚诺德公司的ADR4550芯片。
[0008]进一步的，所述AD转换芯片为亚诺德公司的AD7988芯片。
[0009]采用了本实用新型的一种微位移测试系统用AD转换电路的技术方案，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容和AD转换芯片，其中所述基准电压源芯片包括四个引脚，即第一至第四引脚，其中所述第一引脚和所述第二引脚通过第一电容连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接；所述AD转换芯片包括十个引脚，即第五至第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第六引脚与所述第八引脚通过所述第二电容连接，所述第十四引脚与所述第八引脚通过所述第三电容连接，所述第十至所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地连接。其技术效果是:能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型一种微位移测试系统用AD转换电路的原理图。
【具体实施方式】
[0011]为了使本技术领域的技术人员能更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图对其【具体实施方式】进行详细地说明:
[0012]请参阅图1，本实用新型的一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容3、基准电压源芯片1、极性电容4、第二电容5、第三电容6、AD转换芯片2，其中:
[0013]基准电压源芯片I包括四个引脚，第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13和第四引脚14，其中，第一电容3的两端对应与第一引脚11和第二引脚12连接，第三引脚13与极性电容4的正极连接，极性电容4的负极与模拟地连接。
[0014]AD转换芯片2包括十个引脚，第五引脚21、第六引脚22、第七引脚23、第八引脚24、第九引脚25，第十引脚26、第^^一引脚27、第十二引脚28、第十三引脚29、第十四引脚210。
[0015]其中第五引脚21与极性电容4的正极连接，使AD转换芯片2获得基准输入电压。
[0016]第八引脚24与模拟地连接。
[0017]第二电容5的两端对应连接第六引脚22和第八引脚24，第六引脚22作为AD转换芯片2的输入电源。
[0018]第三电容6的两端对应连接第十四引脚210和第八引脚24，第三电容6作为AD转换芯片2的输入/输出接口的输入电源；
[0019]第十引脚26、第^^一引脚27、第十二引脚28和第十三引脚29与上位机7连接，其中第十引脚26为AD转换输入接口 ；第^^一引脚27为串行输出接口，AD转换的结果通过第i^一引脚27输出；第十二引脚28为串行时钟输入接口 ；第十三引脚29为串行输入接口。
[0020]第九引脚25与电源地相连。
[0021]本实用新型的一种微位移测试系统用AD转换电路在使用时，将亚诺德公司的ADR4550芯片作为基准电压源芯片1，ADR4550是高精度、低功耗、低噪声基准电压源，最大初始误差为±0.02%，具有出色的温度稳定性和低输出噪声。ADR4550芯片，精度、温度稳定性好，抗噪声性能佳，输出电压迟滞低，长期输出电压漂移低，提高了本实用新型一种微位移测试系统用AD转换电路在寿命和温度范围内的精度。该基准电压源芯片I的第一引脚11连接+6￥电源，第二引脚12接地，第三引脚13与AD转换芯片2的第五引脚21连接，为AD转换芯片2提供高精度基准电压。
[0022]AD转换芯片2采用亚诺德公司16位模数转换器AD7988，其第五引脚21接收AD转换芯片2提供的高精度基准电压，该第五引脚21经10 μ F极性电容4去耦后连接模拟地。
[0023]其第六引脚22接+2.5V直流电源，为AD转换芯片2供电。
[0024]其第七引脚23为模拟输入引脚，接收模拟输入信号。
[0025]其第十三引脚29为串行输入引脚，若第十三引脚29在十引脚26上升沿期间为低电平，则选择链模式。此模式下，第十三引脚29输入，将模数转换结果以菊花链方式传输到第i^一引脚27上；若第十三引脚29在第十引脚26上升沿期间为高电平，则选择CS模式。此模式下，第十一引脚27或第十三引脚29在低电平时均可使第十一引脚27串行输出信号。
[0026]在信号采集阶段，AD转换芯片2采集第七引脚23和第八引脚24输入的模拟信号。
[0027]当采集阶段完成且第十引脚26变为高电平时，进入转换阶段。转换阶段通过AD转换芯片2内部的比较器的比较后产生输出码。若此时选择链模式，则经第十一引脚27将数字信号输出至上位机7 ;若此时选择CS模式，则经第^^一引脚27和第十三引脚29共同将数字信号输出至上位机7。
[0028]综上所述，本实用新型的一种微位移测试系统用AD转换电路，能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。
[0029]本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本实用新型的权利要求书范围内。
【主权项】
1.一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容、AD转换芯片，其特征在于: 所述基准电压源芯片包括四个引脚，第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚，其中所述第一电容的两端对应与所述第一引脚和所述第二引脚连接，所述第三引脚与所述极性电容的正极连接，所述极性电容的负极与模拟地连接； 所述AD转换芯片包括十个引脚，第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚和第十四引脚，其中所述第五引脚与所述极性电容的正极连接，所述第八引脚与模拟地连接，所述第二电容的两端对应连接所述第六引脚与所述第八引脚，所述第三电容的两端对应连接所述第八引脚和所述第十四引脚，所述第十引脚、所述第十一引脚、所述第十二引脚和所述第十三引脚与上位机连接，所述第九引脚与电源地相连。2.根据权利要求1所述的一种微位移测试系统用AD转换电路，其特征在于:所述基准电压源芯片为亚诺德公司的ADR4550芯片。3.根据权利要求1所述的一种微位移测试系统用AD转换电路，其特征在于:所述AD转换芯片为亚诺德公司的AD7988芯片。
【专利摘要】本实用新型公开了一种微位移测试系统用AD转换电路，包括第一电容、基准电压源芯片、极性电容、第二电容、第三电容和AD转换芯片，其中基准电压源芯片包括四个引脚，即第一至第四引脚，其中第一引脚和第二引脚通过第一电容连接，第三引脚与极性电容的正极连接，极性电容的负极与模拟地连接；AD转换芯片包括十个引脚，即第五至第十四引脚，其中第五引脚与极性电容的正极连接，第八引脚与模拟地连接，第六引脚与第八引脚通过第二电容连接，第十四引脚与第八引脚通过第三电容连接，第十至第十三引脚与上位机连接，第九引脚与电源地连接，其技术效果是：能够提高微位移的测量精度，降低功耗、减小噪声，减少输出电压迟滞和长期输出电压漂移。
【IPC分类】G01B7/02, H03M1/08, H03M1/12
【公开号】CN204761416
【申请号】CN201520292862
【发明人】李荣正, 戴国银, 陈学军
【申请人】上海工程技术大学
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年5月8日