专利名称：：位置侦测装置、位置侦测方法、测试装置以及摄影模块制造装置的制作方法
技术领域：
：本发明是有关于位置侦测装置、位置侦测方法、测试装置以及摄影模块制造装置。特别本发明是有关于侦测摄影装置的位置的位置侦测装置，其中，摄影装置是输出按照所接受的光的强度的输出信号。
背景技术：
：近年来，随着摄影机的小型化及高精细化，CCD影像传感器(imagesensor)等的摄影装置(imagedevice)的小型化及多像素化也随之推进。摄影装置的小型化或多像素化，是利用受光元件的小型化而加以实现。随着受光元件的小型化，受光元件的开口面积会变小，而使得每个受光元件的受光量减少。因此，开发了在各个受光元件上形成聚光用微透镜(microlens)，而使开口面积加大的技术。又，随摄影机的小型化，摄影装置与使光照射于该摄影装置上的透镜的距离变短。因此，摄影机模块(cameramodule)会使用焦点距离短的短焦点距离透镜。在现阶段尚未见有先前技术文献存在，而省略关于先前技术文献的记述。在测试此种摄影装置时，对于摄影装置而言，当短焦点距离透镜的位置从设计上的位置偏离时，会使得在摄影装置上不能被照射均匀的光。因此，存在有不能正确测试摄影装置的场合。于是，有必要对于短焦点距离透镜与摄影装置的位置进行高精度的侦测，以使其符合设计上的位置。
发明内容于是本发明是提供能解决上述课题的位置侦测装置、位置侦测方法、测试装置以及摄影模块制造装置为目的。此目的是可由独立权利要求所述特征的组合加以达成。又，从属权利要求是加以规定更再有利的具体例。本发明的第一例是侦测摄影装置的位置的位置侦测装置，其中，摄影装置是输出按照所接受的光的强度的输出信号。位置侦测装置包括光源、照射透镜及位置侦测部。其中，光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光照射于摄影装置上。位置侦测部是依据于按照经由照射透镜所受光的光而由摄影装置所输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。上述摄影装置为多个受光元件与多个微透镜(microlens)，其中，多个受光元件是输出按照所接受的光的强度的输出信号，多个微透镜是对应于多个受光元件所设。多个受光元件的排列中心与所对应的受光元件愈离开，在比所对应的受光元件的中心较向内侧偏离的位置，包括分别具有光轴的多个微透镜，位置侦测装置还包括移动部，依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由移动摄影装置及照射透镜的至少一方，将摄影装置的相对位置变化到预定位置。上述移动部是以各受光元件所接受的光的强度大略相等的方式，将摄影装置的相对位置，变化到预定位置。上述位置侦测装置还包括使光源所产生的光的一部分通过的设于对照射透镜为已知位置的狭缝(slit)，照射透镜是将经由狭缝的开口部从光源所接受的光，藉由照射于摄影装置上，将该开口部的像投影于摄影装置上，摄影装置是输出表示所投影的开口部的像的输出信号，位置侦测部是将对于摄影装置的开口部的相对位置，藉由依据摄影装置的输出信号加以侦测，以将对于照射透镜的摄影装置的相对位置加以侦测。上述开口部的中心，是设于与照射透镜的光轴重叠的位置，藉由算出在开口部的像的中心之对于多个受光元件的排列中心的相对位置，位置侦测部是加以侦测对于摄影装置的狭缝的相对位置。上述狭缝是具有各延伸于互相平行的延伸方向的多个开口部，照射透镜是将多个开口部的各像投影于摄影装置上，位置侦测部是依据各像的明亮度的差，在多个开口部所排列的排列方向，加以侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。上述狭缝还具有各延伸于排列方向的多个开口部，照射透镜是将各延伸于排列方向的多个开口部的各像更投影于摄影装置上，依据各延伸于排列方向的多个开口部的各像的明亮度差，位置侦测部更侦测在延伸方向，对于照射透镜的摄影装置的相对位置。本发明的第二例，是为侦测摄影装置的位置的位置侦测方法，其中，摄影装置是按照所接受的光的强度而输出一输出信号。此位置侦测方法包括光产生阶段、照射阶段及位置侦测阶段，其中，光产生阶段是在光源产生光。照射阶段是将光源所产生的光，由照射透镜照射于摄影装置上。位置侦测阶段是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。本发明的第三例是测试摄影装置的测试装置，其中，摄影装置是按照所接受的光的强度而输出一输出信号。测试装置包括光源、照射透镜、位置侦测部、移动部及判定部。其中，光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光照射于摄影装置上。位置侦测部是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部，是依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由使摄影装置及照射透镜的至少一方移动，以使摄影装置的相对位置变化到预定位置。判定部，是在测试摄影装置时，依据保持于预定位置的摄影装置所输出的输出信号，加以判定该摄影装置是否良好。本发明的第四例是制造具有摄影装置、照射透镜及保持构件的摄影模块的摄影模块制造装置。其中，摄影装置是按照所接受的光的强度而输出一输出信号。照射透镜是将光照射于摄影装置之上。保持构件是加以保持照射透镜。模块制造装置包括光源、位置侦测部、移动部及装设部。其中，光源是产生光。位置侦测部是依据于摄影装置按照经由照射透镜从光源所受光的光的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部是依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由使保持摄影装置及照射透镜的保持构件的至少一方移动，以使摄影装置的相对位置变化到预定位置。装设部是使摄影装置装设于保持构件。本发明的第五例是测试摄影装置的光学特性的测试装置，其中，摄影装置是在受光面配设多个受光元件。测试装置包括短焦点距离透镜、机台及位置侦测装置。其中，短焦点距离透镜，是具有对应于使光各照射于多个受光元件的微透镜的短焦点距离的光学特性，配设于光轴与摄影装置的受光面成为垂直的垂直轴方向，接受平行光线使平行光线折射的光线向摄影装置的受光面加以入射。机台(stage)是以保持短焦点距离透镜的状态而可于三轴方向移动。位置侦测装置，是接受摄影装置依从短焦点距离透镜向摄影装置的受光面入射的光线所输出的输出信号，从多个受光元件的输出信号的准位以求得表示多个受光元件的中心位置与短焦点距离透镜的光轴的相对位置偏离的相对位置。机台是依据位置侦测装置所求的相对位置，以使短焦点距离透镜向多个受光元件的中心位置与短焦点距离透镜的光轴的相对位置没有偏离的方向加以移动。测试装置还包括测试头(testhead)，部件搬送装置、插座(socket)及信号输入输出部。其中测试头是载置摄影装置。部件搬送装置，是搬送摄影装置载置于测试头上。插座是与在测试头上所载置的摄影装置的电端子加以电接连。信号输入输出部是经由插座从测试装置将控制信号供给摄影装置，使摄影装置的输出信号供给该测试装置。测试装置可再包括具有开口部的狭缝(slit)部，其中，开口部是使向短焦点距离透镜入射的平行光线的一部分遮蔽而加以通过。位置侦测装置，是可接受摄影装置对应于依据开口部在摄影装置的受光面上所投影的开口部的像的输出信号，从多个受光元件的输出信号的准位，以求得表示多个受光元件的中心位置与短焦点距离透镜的光轴的相对位置偏离的相对位置。尚且，上述的发明概要并非列举本发明的必要特征的全部，此等特征群的副组合(subcmbination)也可成为发明。为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。图1是表示关于本发明的一实施例的测试装置100的构成的一例图。图2是表示摄影装置10的构成的一例图。图3是表示摄影装置10的详细构成的一例图的断面图。图4是表示测试头120的详细构成的一例图。图5是表示照明装置130的详细构成的一例图。图6是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为一致时的摄影装置10的受光量分布的概念图。图7是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为偏离时的摄影装置10的受光量分布的概念图。图8是表示摄影装置10的测试程序的一例的流程图。图9是表示照明装置130的详细构成的其他例图。图10是表示狭缝部148的一例图。图11是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为一致时的摄影装置10的受光量分布的概念图。图12是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为偏离时的摄影装置10的受光量分布的概念图。图13是表示摄影图案152及其受光量分布的一例图。图14是表示摄影装置10的中心O与投影于摄影装置10的狭缝150的像中心的位置关系的一例图。图15是表示关于本发明的一实施例的摄影模块制造装置300的构成的一例图。图16是表示组立部320及摄影模块40的详细构成的一例图。图17是表示摄影模块40的制造程序的一例的流程图。10摄影装置12受光元件14端子16覆盖玻璃18微透镜26受光面30保持构件34透镜单元40摄影模块100测试装置102移动部104构件保持部106、310托盘108、308部件搬送装置120测试头24位置调整部126短焦点距离透镜128插座130照明装置132彩光滤光器134ND滤光器136准直仪透镜138扩散板140光圈142光源148狭缝部150狭缝152摄影图案162照明光学系统172开口部200控制装置202、400控制部204画像处理部206位置侦测部300摄影模块制造装置304装设部320组立部402控制部502中心轴504光轴具体实施方式以下，通过发明的实施例加以说明本发明，以下的实施例并非用以限定关于权利要求的发明，又在实施例中所说明的特征的组合全部也不限为本发明必须的解决手段。图1是表示关于本发明的一实施例的测试装置100的构成的一例。测试装置100包括部件搬送装置108、照明装置130、测试头(testhead)120，及控制装置200。测试装置100是侦测在受光面配设多个受光元件的摄影装置10的位置，藉由合对，而高精度地实行摄影装置10的光学特性的测试。部件搬送装置108包括托盘(tray)106，移动部102及部件保持部104。托盘106载置需要测试的多个摄影装置10。移动部102使部件保持部104在托盘106上与与测试头120上之间移动。部件保持部104依序从托盘106取出测试前的一个摄影装置10，使该摄影装置10载置于测试头120上。在此，载置于测试头120上的摄影装置10并不一定正确载置于所定位置。即，有摄影装置10的中心O(参照图2)与短焦点距离透镜(lens)126(参照图4)的光轴稍微偏离，以载置摄影装置10的可能性。照明装置130是对测试头120所载置的摄影装置10照射光线。测试头120载置需要测试的摄影装置10，并与该摄影装置10电接连。又，使依照摄影装置10所接受的光而加以输出的输出信号，由测试头120传送至控制装置200。更且，测试头120是依据来自于控制装置200的控制信号，以合对摄影装置10的位置。控制装置200包括控制部202、位置侦测部206，及画像处理部204。控制部202经由测试头120而接受摄影装置10的输出信号，并变换为像素值(画像的各像素值)，以产生画像资料。然而，控制部202使生成的画像资料传送至画像处理部204及位置侦测部206。位置侦测部206依据从控制部202所接受的画像资料，加以侦测摄影装置10的位置。然后，位置侦测部206将依据所侦测的摄影装置10的位置的控制信号施加给测试头120。画像处理部204依据从控制部202所接受的画像资料，进行缺陷及不均匀的侦测等的多个测试，并将测试结果送至控制部202。控制部202从画像处理部204接受依据该画像资料的测试结果，而加以判定摄影装置10是否良好。又，控制部202施加给控制测试头120的控制信号。尚且，控制部202为判定部的一个例子。如此，测试装置100以依序从托盘106取出应需测试的一个摄影装置10而载置于测试头120上，并依据照明装置130的照射光，由摄影装置10加以输出输出信号。然后，位置侦测部206依据从控制部202所接受的画像资料，而加以侦测摄影装置10的位置。然后，测试头120藉由接受依据摄影装置10的位置的控制信号，将摄影装置10的位置加以合对。然后，控制部202将从合对位置的摄影装置10的输出信号转换为画像资料，并由画像处理部204侦测摄影装置10的缺陷及不均匀。藉此，测试装置100是用以判定摄影装置10是否良好。图2是表示摄影装置10的构成的一例。摄影装置10包括多个受光元件12，基板24，覆盖玻璃(coverglass)16，及多个端子14。多个受光元件12是例如使用半导体工艺(process)加以制造，而形成于基板24的一方的面，即受光面26上。在本例中，各个受光元件12是向受光面26的X轴方向及Y轴方向，例如以格子状排列而形成。各个受光元件12是分别输出按照所接受的光的强度的输出信号。尚且，中心O是表示多个受光元件12的排列中心。又，多个受光元件12的受光信号是作为依据移位时钟(shiftclock)而依序读出的序列(serial)受光信号而加以输出，也可是特定的从对应于中心O的位置的受光元件12所输出的受光信号。覆盖玻璃16是以覆盖多个受光元件12的方式，设置成夹持多个受光元件12并与受光面26对向。多个端子14是设置于基板24的侧面，将受光元件12的输出信号向外部输出。本例的摄影装置10是藉由输出依据照射于受光面26上的光的信号，而输出表示投影于受光面26的像的信号。图3是表示摄影装置10的详细构成的一例的断面图。摄影装置10还包括多个信号转送电路22、多个微透镜18、及多个彩色滤光器20(colorfilter)。信号转送电路22是将各个受光元件12的输出信号向端子14转送。各个微透镜18是对应于各个受光元件12而设置，其并将入射于覆盖玻璃16内的光，聚光于所对应的受光元件12上。在此，微透镜18a是与受光元件12a对应，微透镜18b是与受光元件12b对应。又，受光元件12a是比受光元件12b较从摄影装置10的中心O离开。以受光元件12a的中心轴502与微透镜18a的光轴504的距离大于受光元件12b的中心轴502与微透镜18b的光轴504的距离的方式，而形成微透镜18a。又，按照受光元件12的中心轴502与中心O的距离，以使受光元件12的中心轴502与光轴504离开的方式，可加以形成微透镜18。此时，以对应于受光元件12的微透镜18的光轴504比受光元件12的中心轴502较向中心O方向偏移的位置的方式，可加以形成微透镜18。如此，各个微透镜18在多个受光元件12的排列中心(即中心O)与所对应的受光元件12愈离开时，在比对应受光元件12的中心轴502较向内侧偏移的位置，各自具有光轴504。在此，随近年来的摄影机的小型化，而使用比习知透镜的焦点距离较短的短焦点距离透镜。设于摄影装置10上的透镜，在将光投影于在透镜的光轴上具有中心O的摄影装置10上时，透镜与摄影装置10的距离变短，并在摄影装置10上，随从中心O愈离开，而入射于各个受光元件12的光对透镜的光轴的角度会愈大。因此，在本例的各个微透镜18是设计成在经由该短焦点距离透镜接受光时，使光适当地聚光于所对应的受光元件12上。彩色滤光器20是分别对应于各受光元件12而设置，其配置于所对应的微透镜18与所对应的受光元件12之间。又，各个彩色滤光器20是通过特定的颜色。然而，不同颜色的彩色滤光器20是周期性地配置于摄影装置10上。由此，摄影装置10是可使摄影对象物的颜色加以再现。图4是表示测试头120的详细构成的一例。测试头120包括插座128(socket)、信号输入输出部122、位置调整部124，及短焦点距离透镜126。插座128是用以载置摄影装置10，其并与摄影装置10电接连。又，插座128是与信号输入输出部122电接连，而将从信号输入输出部122所接受的控制信号送向摄影装置10，将从摄影装置10所接受的输出信号送向信号输入输出部122。信号输入输出部122是经由插座128接受摄影装置10的输出信号，例如由类比数字转换器AD(AnalogDigitalconvertor)将全部的受光元件12的一画框(frame)分量的输出信号依序转换为数字信号，并将转换后的资料信号作为画像资料送向控制部202。另外，在摄影装置10内建有AD转换器時，而不需要AD转换器。在此，需要去除测定系统的分散或杂讯(noise)时，可在控制部202追加前处理。即，也可接受多个画框单位的画像资料将经由平均化处理结果的资料作为画像资料加以利用。尚且，虽然利用摄影装置10的设计规范不同，例如，可以使画像资料的资料列的中间位置特定作为中心O的资料。又，排列于各位置的受光元件的位置与画像资料的位置有所对应的关系可加以特定。又，信号输入输出部122是将从控制部202所接受的控制信号经由插座128送至摄影装置10。尚且，一般而言，以从摄影装置10的控制信号的一的移位时钟依序读出多个受光元件12的受光信号的关系，AD转换器是以适用移位时钟时可以同步加以量子化。短焦点距离透镜126是对应多个微透镜18而设计的透镜，其具有对应于将光各自照射多个受光元件12的多个微透镜18的短焦点距离的光学特性。因此，每当摄影装置10的种类改变时，需交换对应于焦点距离的短焦点距离透镜126。短焦点距离透镜126是配设于光轴与摄影装置10的受光面成为垂直的垂直轴方向。短焦点距离透镜126将照明装置130所照射的光照射于摄影装置10上的照射透镜的一例。位置调整部124例如是以保持短焦点距离透镜126的状态而可于三轴方向移动的X/Y/Z机台(stage)，在机台的大略中央处具有使光通过的孔。尚且，位置调整部124是为移动部的一例。位置侦测部206，是以经由控制部202接受依据摄影装置10的输出信号的画像资料，依据该画像资料，而加以侦测摄影装置10与短焦点距离透镜126的相对位置。具体上，位置侦测部206是藉由从短焦点距离透镜126向摄影元件10的受光面所入射的光线而接受摄影装置10所输出的输出信号，从多个受光元件12的输出信号的准位(level)而求得以多个受光元件12的中心位置与短焦点距离透镜126的光轴的相对位置偏离表示的相对位置。然后，位置侦测部206依据该相对位置将控制信号施加给位置调整部124。位置调整部124是按照所接受的控制信号，藉由移动短焦点距离透镜126，而将摄影装置10与短焦点距离透镜126的相对位置配合于适当位置。具体上，位置调整部124是依据位置侦测部206所求的以多个受光元件12的中心位置与短焦点距离透镜126的光轴的相对位置偏离表示的相对位置，而将短焦点距离透镜126移动于使多个受光元件12的中心位置与短焦点距离透镜126的光轴的相对位置没有偏离的方向。图5是表示照明装置130的详细构成的一例。照明装置130包括电源146、光源142、照明控制部144，及照明光学系统162。电源146是将电力供给照明控制部144。光源142例如为卤素灯(halogenlamp)或发光二极管LED(LightEmittingDiode)，以产生白色光。照明控制部144是将一定电力供给光源142。又，照明控制部144进行照明光学系统162的控制。照明光学系统162包括光圈140(iris)、扩散板138、准直仪透镜136(collimatorlens)、中性密度滤光器部134(NeutralDensity，ND)，及彩色滤光器部132。光圈140将光源142所产生的光进行整形。扩散板138是使光圈140所整形的光的强度分布均一化。准直仪透镜136是将通过扩散板138的光转换为对于照明光学系统162的光轴是平行的光。短焦点距离透镜126是以经由彩色滤光器部132及ND滤光器部134接受从准直仪透镜136的平行光线，而使该平行光线加以折射的光线入射于摄影装置10的受光面。ND滤光器部134大略为圆盘状，并以可回转的方式加以保持。ND滤光器部134具有各个不同减衰量的多个ND滤光器160。各ND滤光器160，是使通过的光的强度，在波长的全部范围藉由同样加以低减，而调整入射于摄影装置10的光的明亮度。ND滤光器部134例如由马达驱动而回转，并加以切换通过了准直仪透镜136的光线将要通过的ND滤光器160。彩色滤光器部132为大略圆盘状，并以可回转的方式加以保持。彩色滤光器部132具有使各个不同波长的光通过的多个彩色滤光器158。彩色滤光器158是使光源142所产生的白色光转换为红色、绿色、或蓝色等的光而照射于摄影装置10。彩色滤光器部132例如由马达驱动而回转，而加以切换使光源142所产生的光通过的彩色滤光器158。尚且，在进行位置合对的场合，使未经由彩色滤光器158的光照射于摄影装置10。依照本例的照明装置130时，可使光源142所产生的光，以同样的强度分布，转换为与光源142的光轴大略平行的光，而向短焦点距离透镜126适当入射。又，照明装置130藉由切换使光通过的彩色滤光器158及ND滤光器160，而使测试装置100对摄影装置10进行种种画质的测试。尚且，位置侦测部206、短焦点距离透镜126、及照明装置130是为侦测摄影装置10的位置的位置侦测装置的一例。图6是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为一致时的摄影装置10的受光量分布的概念图。短焦点距离126接受通过准直仪透镜136的光，而照射于摄影装置10上。各微透镜18对应于短焦点距离透镜126，摄影装置10的中心与所对应的受光元件12愈离开，在从所对应的受光元件12的中心向内侧偏移的位置各自具有光轴，摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为一致时，各受光元件12所接受的光量是大略相同。图7是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴偏离时的摄影装置10的受光量分布的概念图。在中心O与短距离透镜126的光轴为一致时，以各受光元件12所接受的光量为大略相同的方式，加以设计多个微透镜18。因此，当中心O与短焦点距离透镜126的光轴偏离时，各受光元件12所接受的光量是成为各自不均一。此种场合，中心O与短焦点距离透镜126的光轴的偏离量愈大，则摄影装置10的受光量分散变大。又，随中心O与短焦点距离透镜126的光轴的偏离，受光量的最大值从中心向短焦点距离透镜126的光轴偏离的方向偏离。在此，位置侦测部206依据摄影装置10的输出信号，而算出受光量的分散。在分散比所定值较大的场合，位置侦测部206是加以判定为中心O与短焦点距离透镜126的光轴偏离。然后，位置侦测部206在摄影装置10上，加以侦测受光量为最大值的像素的座标。然而，位置侦测部206是藉由算出从该座标至中心O为止的距离，而加以侦测中心O与短焦点距离透镜126的相对位置。此种场合，位置侦测部206是将该相对位置分为摄影装置10的受光面26上的X轴方向的距离dx与Y轴方向的距离dy各自加以算出。然后，位置侦测部206藉由将依据距离dx及dy的控制信号施加给位置调整部124，而令位置调整部124对于摄影装置10使短焦点距离透镜126加以移动。如此，位置侦测部206是依据摄影装置10按照经由短焦点距离透镜126所受光的光而输出的输出信号，加以侦测对于短焦点距离透镜126的摄影装置10的相对位置。位置调整部124是依据位置侦测部206所侦测的相对位置，使短焦点距离透镜126藉由在与短焦点距离透镜126的光轴垂直的面内加以平行移动，而将对于短焦点距离透镜126的摄影装置10的相对位置加以变化到预定的位置。在本例中，以摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为大略一致的方式，位置调整部124是对于摄影装置10使短焦点距离透镜126加以移动。实际上依据于所受光的摄影装置10的输出信号，而加以调整短焦点距离透镜126的光轴，将可以良好精度侦测短焦点距离透镜126的光轴与摄影装置10的中心O的相对位置，并能加以合对。因此，可使摄影装置10以良好精度加以测试。尚且，位置侦测部206是也可依据在画像资料中加上距离dx及dy，及短焦点距离透镜126的倍率m，而加以算出短焦点距离透镜126的光轴与摄影装置10的中心O的偏离量。在此种场合，与X轴平行方向的偏离量是倍率m与距离dx的积，与Y轴平行方向的偏离量是倍率m与距离dy的积。又，在画像资料中的像素的座标，是对应于表示在摄影装置10的受光面26上的各受光元件12的位置座标。图8是表示摄影装置10的测试程序的一例的流程图。首先，部件搬送装置108从托盘106取出应要测试的一个摄影装置10，并载置于插座128(S100)。其次，对光源142进行点灯，并经由照明光学系统162及短焦点距离透镜126，将光源142所产生的光照射于摄影装置10(S102)。然后，控制部202将按照所照射光的受光量，将摄影装置10的输出信号转换为像素值以产生画像资料，并送至画像处理部204及位置侦测部206。位置侦测部206是依据所接受的画像资料，加以算出摄影装置10的受光量的分散(S104)。位置侦测部206是将所算出的受光量的分散与所定值加以比较(S106)。位置侦测部206是(1)判定受光量的分散比所定值小时(S106Y)，则进入阶段112(S112)。位置侦测部206是(2)判定受光量的分散比所定值大时(S106N)，位置侦测部206会藉由比较输出受光量的最大值的受光元件12的位置与摄影装置10的中心O的位置，以算出摄影装置10与短焦点距离透镜126的相对位置，并将对应于该相对位置的控制信号送至位置调整部124(S108)。然后，位置调整部124按照所接受的控制信号，使短焦点距离透镜126加以移动(S110)。此结果，摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126是补正于最适当的位置状态。尚且，在摄影装置10有不能忽视程度的缺陷或不均匀等的特性分散存在的场合，会有不能确定特定最大值的可能性。于是，从画像资料的资料序列分别求得X轴方向及Y轴方向的包络线，也可从所求得的包络线群加以特定表示最大值的位置。其次，画像处理部204对于所接受的画像资料进行侦测缺陷及不均匀等异常的画质测试，将测试结果送向控制部202(S112)。控制部202依据所接受的测试结果，加以判定摄影装置10是否良好(S114)。然后，测试装置100判定在托盘106上是否有应要测试的摄影装置10(S116)。在托盘106上残存应要测试的摄影装置10时(S116Y)，部件搬送装置108再从托盘106取出应要测试的一个摄影装置10，载置于插座128(S100)。在托盘106上无残存应要测试的摄影装置10时(S116N)，即终止本流程图所示的测试装置100的动作。又，测试装置100是可使用无缺陷及不均匀等的具有已知特性的摄影装置10，以进行与短焦点距离透镜126的位置合对，藉由将该摄影装置10与应要测试的摄影装置10加以交换，而测试应要测试的多个摄影装置10。此种场合，测试装置100是依据保持于预定位置的摄影装置10所输出的输出信号而判定该摄影装置10是否良好。藉此，应要测试的多个摄影装置10的每一个，不必要进行位置合对也可以迅速进行测试。图9是表示照明装置130的详细构成的其他的例子。尚且，除以下说明的点以外，在图9中，附有与图4及/或图5相同符号的构成元件，其是与在图4及/或图5的构成元件具有相同或同样机能，并省略其说明。照明装置130还包括狭缝部148。狭缝部148是为大略圆盘状，并以可回转的方式加以保持。狭缝部148具有多个狭缝(开口部)150以使光源142所产生经由准直仪透镜136向短焦点距离透镜126入射的平行光线的一部分加以遮蔽并通过。狭缝部148例如由马达加以驱动回转，以切换使光源142所产生的光的一部分通过的狭缝150。短焦点距离透镜126是将经由狭缝部148的狭缝150从光源142所接受的光，藉由照射于摄影装置10上，使狭缝150的像投影于摄影装置10上。然后，摄影装置10将表示所投影的狭缝150的像的输出信号向位置侦测部206输出。然后，位置侦测部206接受摄影装置10对应于依据狭缝150在摄影装置10的受光面上所投影的狭缝150的像的输出信号，从多个受光元件12的输出信号的准位，以求得以多个受光元件12的中心位置与短焦点距离透镜126的光轴的相对位置偏离表示的相对位置。图10是表示狭缝部148的一例。狭缝部148包括多个狭缝150a～d。狭缝150a是具有互相平行的多个开口部172a与互相平行的多个开口部172b。各个开口部172a是各自向y轴方向延伸，并分别排列于与y轴直交的x轴方向。各开口部172b是各自向x轴方向延伸，并分别排列于y轴方向。狭缝150b是为圆形状，狭缝150c是具有相互平行的多个开口部172c。各开口部172c是各自向x轴方向延伸，并分别排列于y轴方向。狭缝150d具有与狭缝150c大略相同的形状，对于狭缝部148的半径方向互相直交。藉此，投影于摄影装置10上的各个开口部172d的像对于各个开口部172c投影于摄影装置10上时的像是大略直交。尚且，各狭缝150是可为以其他的十字型及矩形等的形状。在此，狭缝部148是设于大略垂直于照明光学系统162的光轴的平面内。又，狭缝150使来自光源142的光的一部分通过时，藉由狭缝部148的回转，狭缝150的中心是合对于与照明光学系统162及短焦点距离透镜126的光轴重叠的位置。藉此，摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴一致时，短焦点距离透镜126是在摄影装置10的受光面26的大略中央加以投影狭缝150的像。图11是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴一致时的摄影装置10的受光量分布的概念图。在本例中，短焦点距离透镜126是将对应于狭缝150c的多个开口部172c的各个像投影于摄影装置10上。中心O与短焦点距离透镜126的光轴一致时，在摄影装置10的受光面26上的所定位置，分别加以投影各个开口部172c的像。此种场合，多个受光元件12的受光量具有对应于各个狭缝150的形状的分布。又，此种场合，由于中心O与短焦点距离透镜126的光轴一致的关系，对应于所投影的各个开口部172c的各个受光元件12所接受的光量是大略为均一。图12是表示摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴为偏离时的摄影装置10的受光量分布的概念图。中心O与短焦点距离透镜126的光轴为偏离时，在从受光面26上的所定位置偏离的位置，加以投影各个开口部172的形状。多个微透镜18是在中心O与短焦点距离透镜126的光轴为一致时，以各个受光元件12所接受的光量成为大略均一的方式而加以设计，中心O与短焦点距离透镜126的光轴为偏离时，对应于所投影的开口部172的各个受光元件12所接受的光量是成为不均一。图13是表示摄影图案152(pattern)及其受光量分布的一例。在本例中，短焦点距离透镜126是将狭缝150a的像投影于受光面26上。像164是投影于摄影装置10上的狭缝150a的像，具有多个明部166a及166b。位置侦测部206是将从各受光元件12所接受的输出信号与所定值加以比较，藉由使所定值以下的输出信号的像素值为0，加以侦测将去除明部166a及166b以外的无用暗部资料的明亮摄影图案152。在此，所定值是例如适用明部166a及166b的资料值的1/10程度的值。尚且，将短焦点距离透镜126的焦距(focus)以正确合对于摄影装置10时，利用扫描(search)控制Z机台，而预先求得明部166a及166b的轮廓成为最明确(sharp)的短焦点距离透镜126的Z轴位置，以进行设定短焦点距离透镜126于该Z轴位置之前处理。在本例中，位置侦测部206是将摄影图案152的像素值，向多个受光元件12的排列方向，即x轴方向及y轴方向，作成各个经加算的加算信号(经加算的资料列)。在作成的加算信号中，对应于各个明部166a及166b位置的加算信号变大。又，可将受光元件12各个的特性分散加以平均化，而明确地加以判定。在此，位置侦测部206是藉由将作成的加算信号与所定值比较，以侦测对应于各个明部166a及166b的加算信号168及加算信号170。然而，位置侦测部206是将各个加算信号168及加算信号170内的像素值，分别加以平均化。然后，位置侦测部206是将各个加算信号168的平均值藉由分别加以比较，以判定在x轴方向的受光量是否为均一。又，位置侦测部206是将各个加算信号170的平均值藉由分别加以比较，以判定在y轴方向的受光量是否为均一。X轴方向的光量为不均一时，位置侦测部206是加以判定摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴，向x轴方向偏离。Y轴方向的光量为不均一时也以同样的方式，位置侦测部206是加以判定中心O与短焦点距离透镜126的光轴，向y轴方向偏离。在此，将预先所测定各加算信号168的像素值分布、中心O与短焦点距离透镜126的光轴的相对位置关系的表格(table)，储存在位置侦测部206。然后，位置侦测部206是藉由参照该表格，依据经侦测的各加算信号168的像素值分布，而加以侦测中心O与短焦点距离透镜126的光轴，在x轴方向及y轴方向中的相对位置。然后，位置侦测部206是将依据该相对位置的控制信号送向位置调整部124。如此，位置侦测部206是依据各个明部166a及166b的明亮差，加以侦测在多个狭缝150所排列的排列方向中对于短焦点距离透镜126的摄影装置10的相对位置。而且，位置侦测部206是依据在明部166a的排列方向各延伸的各明部166b的明亮差，而加以侦测在明部166a的延伸方向中对于短焦点距离透镜126的摄影装置10的相对位置。然后，位置调整部124按照从位置侦测部206所接受的控制信号，加以侦测摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴的位置。因此，在本例中，可将短焦点距离透镜126的光轴与摄影装置10的中心的相对位置以良好精度加以侦测的结果，使x轴方向与y轴方向的光轴偏离正确地加以合对。尚且，在上述说明虽是以具有微透镜的摄影装置10为具体例而说明，但是对于在不具有微透镜的其他摄影装置的场合中，要求将短焦点距离透镜126的光轴与摄影装置的中心或中心以外的所期望位置以正确地位置决定时，也以同样可适用。又，在狭缝150的中心与短焦点距离透镜126的光轴重叠的位置加以固定短焦点距离透镜126与狭缝部148，位置调整部124也可依据来自于位置侦测部206的控制信号，而使短焦点距离透镜126与狭缝部148以一体的方式移动。此种场合，在位置调整部124移动短焦点距离透镜126后，比较投影于受光面26的狭缝150的像的中心与摄影装置10的中心O的位置，依据比较结果，藉由再移动短焦点距离透镜126与狭缝148，可以良好精度使摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴加以合对。图14是表示摄影装置10的中心O与投影于摄影装置10的狭缝150的像中心的位置关系的一例。在本例中，短焦点距离透镜126是将狭缝150a的像投影于受光面26上。像的中心154是表示投影于摄影装置10的狭缝150a的像的中心。位置侦测部206也可藉由算出狭缝150a的像的中心154，其对于摄影装置10的中心O的相对位置，而加以侦测对于摄影装置10的短焦点距离透镜126的相对位置。此种场合，位置侦测部206是将从摄影装置10的中心O至像中心154为止的距离，分为摄影装置10的受光面26上的向x轴方向的距离dx与向y轴方向的距离dy分别加以算出。然后，位置侦测部206是依据短焦点距离透镜126的倍率m，分别加以算出倍率m与距离dx的积为向x轴方向的距离，以及倍率m与距离dy的积为向y轴方向的距离。在此，依据于短焦点距离透镜126的焦点距离及各装置的尺寸，以短焦点距离透镜126的焦距(focus)合对于摄影装置10上的方式，而机械地加以调整摄影装置10与短焦点距离透镜126之间的距离。但是，各装置的尺寸具有公差，使得有短焦点距离透镜126的焦距不合对于摄影装置10上的场合。此种场合，投影于摄影装置10上的狭缝150的像变成模糊。因此，有不能正确地算出投影于受光面26的狭缝150的像的中心154的场合。在本例中，对Z轴方向的移动控制加以说明。在与各个明部166a及166b的明暗区域交叉的线段上，算出像素值的上升或下降的宽度，藉由与所定值加以比较，由位置侦测部206加以判定短焦点距离透镜126的焦距是否合于摄影装置10。在判定短焦点距离透镜126的焦距不合于摄影装置10时，位置侦测部206令位置调整部124将短焦点距离透镜126对于短焦点距离透镜126的光轴，以平行移动所定距离。然后，位置侦测部206再算出像素值的上升或下降的宽度。尚且，也可扫描控制Z机台，以求得短焦点距离透镜126的焦距成为最好的Z轴方向位置的方法。如此，至各明部166a及166b的明暗区域中的像素值的上升或下降宽度成为所定值以下为止，测试装置100重复像素值的上升或下降宽度的算出，及短焦点距离透镜126的移动。藉此，在摄影装置10上以明亮投影狭缝150的像，位置侦测部206是可以良好精度加以算出所投影的狭缝150像的中心位置。因此，可以良好精度加以合对摄影装置10的中心O与短焦点距离透镜126的光轴的位置。图15是表示关于本发明的一实施例的摄影模块制造装置300的构成的一例。尚且，除了以下说明的点外，在图15中，附上与图1相同符号的构成是与图1的构成具有同样机能，并省略其说明。摄影模块制造装置300包括部件搬送装置308、组立部320、控制装置400，及照明装置130。部件搬送装置308包括多个托盘106、托盘310、移动部102，及装设部304。托盘106是载置制造用的多个摄影装置10，及预先测定特性的调整用摄影装置10。托盘310是载置制造用的多个透镜单元34(lensunit)、及预先测定特性的调整用透镜单元34。又，托盘310是载置经制造的摄影模块40(cameramodule)。移动部102将装设部304在托盘106上、组立部320上，及托盘310上加以移动。装设部304是从托盘310取出一个透镜单元34，载置于组立部320上。然而，装设部304是从托盘106取出一个摄影装置10，载置于组立部320上的透镜单元34上。更且，装设部304是在制造后，从组立部320取出摄影装置10及透镜单元34，载置于托盘310上。组立部320载置透镜单元34，并与透镜单元34电接连。在摄影装置10载置于组立部320上的透镜单元34时，组立部320是以经由透镜单元34接受从摄影装置10的输出信号，而向控制装置400传送。又，组立部320是将从控制装置400所接受的控制信号，经由透镜单元34而施加给摄影装置10。控制装置400包括控制部402、画像处理部204，及位置侦测部206。控制部402是将控制信号施加给组立部320及部件搬送装置308。图16是表示组立部320及摄影模块40的详细构成的一例。摄影模块40包括透镜单元34及摄影装置10。摄影模块40是将摄影装置10藉由装设于透镜单元34而加以制造。摄影装置10是由装设部304，例如使用倒装芯片(flip-chip)装配，以装设于透镜单元34。透镜单元34具有保持构件30及短焦点距离透镜126。保持构件30是用以保持短焦点距离透镜126。又，保持构件30在载置摄影装置10时，其是与摄影装置10电接连。组立部320包括信号输入输出部122及位置调整部124。图17是表示摄影模块40的制造程序的一例的流程图。首先，部件搬送装置308从托盘310取出调整用的透镜单元34，载置于组立部320上(S200)。其次，从托盘106取出调整用的摄影装置10，载置于设置在组立部320上的透镜单元34上(S202)。其次，使光源142点灯，光源142所产生的光是经由照明光学系统162及透镜单元34的短焦点距离透镜126而照射于摄影装置10(S204)。控制部202是将按照于所照射的光的受光量的摄影装置10的输出信号变换为像素值以产生画像资料，并送至位置侦测部206。位置侦测部206依据所接受的画像资料，算出摄影装置10的受光量的分散(S206)。然后，位置侦测部206会比较所算出的受光量的分散与所定值(S208)。位置侦测部206判定受光量的分散小于所定值时(S208Y)，部件搬送装置308从组立部320取出调整用的摄影装置10及透镜单元34，回放于托盘106及托盘310(S214)。位置侦测部206判定受光量的分散大于所定值时(S208N)，位置侦测部206藉由比较输出受光量的最大值的受光元件12的位置与摄影装置10的中心O的位置，加以算出摄影装置10与透镜单元34的短焦点距离透镜126的相对位置，并将依据于该相对位置的控制信号送至位置调整部124(S210)。然后，位置调整部124按照所按受的控制信号，使透镜单元34加以移动(S212)。尚且，在摄影装置10与透镜单元34的两者以位置决定的状态，使两者以粘着剂或其他固定装置等加以固定处理为佳。其次，部件搬送装置308从组立部302取出调整用的摄影装置10及透镜单元34，放回于托盘106及托盘310(S214)。然后，部件搬送装置308从托盘310取出一个制造用的透镜单元34，载置于组立部320上(S216)。其次，从托盘106取出一个制造用的摄影装置10，载置于组立部320上的透镜单元34上，藉由将摄影装置10装设于透镜单元34，以制造摄影模块40(S218)。在阶段218中，装设部304将摄影装置10与短焦点距离透镜126的相对位置，一面保持于移动后的位置，一面将摄影装置设于透镜单元34。其次，部件搬送装置308从组立部320取出制造完成的摄影模块40，载置于托盘310(S220)。然后，部件搬送装置308判定制造用的摄影装置10及透镜单元34，是否分别在托盘106及托盘310上(S222)。然后，制造用的摄影装置10及透镜单元34分别在托盘106及托盘310上时(S222Y)，部件搬送装置308是再从托盘310取出一个制造用的透镜单元34，载置于组立部320上(S216)。在制造用的摄影装置10或透镜单元34的任何一方，不存在于托盘106或托盘310上时(S222N)，终止本流程图所示的摄影模块制造装置300的动作。如此，摄影模块制造装置300是依据摄影装置10的输出，加以调整对于短焦点距离透镜126的摄影装置10的位置，以在经调整后的位置加以制造摄影模块40，将可制造使短焦点距离透镜126的光轴与摄影装置10的中心O以良好精度进行位置合对的摄影模块40。尚且，摄影模块制造装置300也可以是不使用调整用的摄影装置10及透镜单元34，从阶段200至212，及从阶段218至222加以实行。此种场合，在阶段222中，于托盘106及托盘310上分别具有制造用的摄影装置10及透镜单元34时(S222Y)，摄影模块制造装置300是实行阶段200。以上，虽然将本发明以使用实施例加以说明，本发明的技术范围是并非限定于上述实施例所述的范围。在上述实施例，当事者明了可加以多种变更或改良。加以此种变更或改良的实施例也得包含于本发明的技术范围，可从申请专利范围的所述加以明了。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。权利要求1.一种位置侦测装置，其是侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置的位置侦测装置，其特征在于包括光源，用以产生光；照射透镜，将该光源所产生的光，照射于上述摄影装置上；以及位置侦测部，依据于上述摄影装置按照经由该照明透镜所受光的光而输出的该输出信号，侦测对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置。2.根据权利要求1所述的位置侦测装置，其特征在于该摄影装置包括多个受光元件，其按照所接受的光的强度而输出该输出信号；以及多个微透镜，其是对应于上述多个受光元件所设的多个微透镜，上述多个受光元件的排列中心与所对应的上述受光元件愈离开，在比所对应的上述受光元件的中心向内侧偏离的位置，上述多个微透镜分别具有光轴；该位置侦测装置还包括移动部，依据该位置侦测部所侦测的该相对位置，利用使该摄影装置及该照射透镜的至少一方移动，而将该摄影装置的该相对位置变化到一预定位置。3.根据权利要求1所述的位置侦测装置，其特征在于该移动部是以各该受光元件所接受的光的强度为大略相等的方式，将该摄影装置的该相对位置变化到该预定位置。4.根据权利要求2所述的位置侦测装置，其特征在于还包括使该光源所产生的光的一部分通过的开口部，其是设于对该照射透镜为已知位置的狭缝；该照射透镜是藉由将经由该狭缝的该开口部而从该光源所接受的光照射于该摄影装置上，以使该开口部的像投影于该摄影装置上；该摄影装置是输出以所投影的该开口部的像表示的该输出信号；以及该位置侦测部是对于该摄影装置的该开口部的相对位置，藉由依据该摄影装置的该输出信号加以侦测，以侦测对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置。5.根据权利要求4所述的位置侦测装置，其特征在于该开口部的中心是设于与该照射透镜的光轴重叠的位置；以及该位置侦测部是藉由算出在该开口部的像中心对于上述多个受光元件的排列中心的相对位置，而侦测对于该摄影装置的该狭缝的相对位置。6.根据权利要求4所述的位置侦测装置，其特征在于该狭缝具有分别延伸于互相平行延伸方向的多个该开口部；该照射透镜是将上述多个该开口部的各个像投影于该摄影装置上；以及该位置侦测部，是依据上述各个像的明亮差，而侦测在上述多个开口部所排列的排列方向中，对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置。7.根据权利要求6所述的位置侦测装置，其特征在于该狭缝还具有分别延伸于该排列方向的多个开口部；该照射透镜，是将各延伸于该排列方向的多个该开口部的各个像更投影于该摄影装置上；以及该位置侦测部，是依据各延伸于该排列方向的多个该开口部的各像的明亮差，更侦测在该延伸方向中，对于该照射透镜的该摄影装置的该相对位置。8.一种位置侦测方法，其是侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置的位置侦测方法，其特征在于包括光产生阶段，是在一光源中产生光；照射阶段，是将该光源所产生的光，由照射透镜照射于该摄影装置上；以及位置侦测阶段，依据于上述摄影装置按照经由该照射透镜所受光的光而输出的该输出信号，侦测对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置。9.一种测试装置，其是测试按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的测试装置，其特征在于包括光源，用以产生光；照射透镜，将该光源所产生的光，照射于上述摄影装置上；位置侦测部，依据于上述摄影装置按照经由该照射透镜所受光的光而输出的该输出信号，侦测对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置；移动部，依据该位置侦测部所侦测的上述相对位置，藉由使该摄影装置及该照射透镜的至少一方加以移动，以使该摄影装置的上述相对位置变化到一预定位置；以及判定部，在测试该摄影装置时，依据保持于该预定位置的该摄影装置所输出的该输出信号，加以判定该摄影装置是否良好。10.一种摄影模块的制造装置，其是制造具有摄影装置、照射透镜及保持构件的摄影模块的摄影模块的制造装置，该摄影装置是按照所接受的光的强度而输出一输出信号，该照射透镜是将光照射于该摄影装置上，该保持构件是加以保持该照射透镜，其特征在于包括光源，用以产生光；位置侦测部，依据于该摄影装置按照经由该照射透镜从该光源所受光的光而输出的该输出信号，侦测对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置；移动部，依据于该位置侦测部所侦测的上述相对位置，藉由使该摄影装置及保持该照射透镜的该保持构件的至少一方加以移动，将该摄影装置的上述相对位置变化到一预定位置；以及装设部，是一面将该摄影装置的上述相对位置保持于该预定位置，一面使该摄影装置装设于该保持构件。11.一种测试装置，其是测试在受光面配设多个受光元件的摄影装置的光学特性的测试装置，其特征在于包括短焦点距离透镜，是具有对应于使光分別照射上述多个受光元件的微透镜的短焦点距离光学特性，且光轴是配设于与该摄影装置的该受光面垂直的垂直轴方向，将接受的平行光线使该平行光线折射的光线向该摄影装置的该受光面加以入射；机台，以保持该短焦点距离透镜的状态而可于三轴方向移动；以及位置侦测装置，藉由接受从该短焦点距离透镜向该摄影装置的该受光面所入射的光线而从上述摄影装置所输出的一输出信号，从上述多个受光元件的该输出信号的准位，以求得表示上述多个受光元件的中心位置与该短焦点距离透镜的该光轴的相对位置；上述机台依据该位置侦测装置所求得的该相对位置，以向使上述多个受光元件的该中心位置与该焦点距离透镜的该光轴的相对位置没有偏离的方向，加以移动该短焦点距离透镜。12.根据权利要求11所述的测试装置，其特征在于还包括测试头，载置该摄影装置；部件搬送装置，是搬送该摄影装置向该测试头上加以载置；插座，是与载置在该测试头上的该摄影装置的电端子加以电接连；以及信号输入输出部，是将经由该插座从该测试装置的控制信号向该摄影装置加以供给，使该摄影装置的该输出信号向该测试装置加以供给。13.根据权利要求11所述的测试装置，其特征在于还包括狭缝部，其是具有一开口部，使向该短焦点距离透镜入射的该平行光线的一部分遮蔽而加以通过；该位置侦测装置，是接受该摄影装置的该输出信号，该输出信号是对应于依据该开口部投影于该摄影装置的该受光面上的该开口部的像，从该些多个受光元件的该输出信号准位，以求得表示上述多个受光元件的该中心位置与该短焦点距离透镜的该光轴的该相对位置偏离的该相对位置。全文摘要一种位置侦测装置，其侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置，此位置侦测装置包括光源、照射透镜、位置侦测部及移动部。其中，光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光，照射于摄影装置上。位置侦测部，是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部，是依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由移动摄影装置及照明透镜的至少一方，使摄影装置的相对位置变化到预定位置。文档编号H04N5/217GK1829897SQ20048002143公开日2006年9月6日申请日期2004年7月23日优先权日2003年7月25日发明者市川雅理,山口隆弘申请人:爱德万测试株式会社