专利名称：：单板测试信息存储装置及方法
技术领域：
：本发明涉及测试领域，尤其涉及单板测试信息存储装置和单板测试信息存储方法。
背景技术：
：在生产测试领域，单4反测试信息十分重要，通过单纟反测试信息的分析可以了解单板的测试完成状况和单玲反的功能实现情况，对生产测试管理、单一反维^修以及设备开局维护人员都有4艮大的帮助。单板功能测试一般采用的方式是上位机通过通讯口向单板发送测试命令，单板测试完毕后，将结果上报，由上位机判断单板测试结果。对于测试信息，一^:采用由上位冲几处理发送到月l务器采用网上凄t据库存储的方式。这种存储测试信息方法的一个限制是查询不方便。首先需要安装特定的数据库软件，其次要通过上网才能进行查询。这种存储测试信息方法的另一个限制是不能保证存储信息的准确性。因为这种存储方式必须利用纟皮测单4反的一个唯一属性作为标识来存4诸或查询数据，例如，条码或编号等。如果测试操作中这个标识的输入环节有操作失误或错误的情况，则不能在数据库中正确的查到该单纟反的测试zf言息。这种存储测试信息方法的再一个限制是无法判断单板是否进行了测试。在数据库的测试信息中，由于无法区分单板标识信息是输入错误还是没有输入，导致无法判断某单板是否进行测试。因此，需要采用一种方法能够将单板测试信息准确唯一的存储，并能方便获取信息和分析信息。
发明内容针对以上的一个或多个问题，本发明提供了一种单板测试信息存储装置和方法。本发明的单板测试信息存储装置包括非易失性存储单元，用于存储来自单板的单板测试信息，保证在掉电时数据不丟失；控制处理单元，用于提供对非易失性存储单元的读写功能和对上位机的通信接口单元的控制功能；以及通信接口单元，用于实现上位机和下位机之间测试信息的传输。其中，单板测试信息包括以下至少一种被测单板条码、单板PCB版本、测试时间、单^反测试状态、以及单^反测试项测试状态信息。单板信息的数字表示方式采用4个比特位的二进制数字表示一位十进制数字，即，一个字节存储两个数字。被测单板条码分配N个字节存储空间，可存储2xN位条码数字，条码数字的存储顺序是条码数字从左到右依次存储，从存储空间的低位地址开始每一个字节存储条码的两位数字，一个字节的高4位存储两位数字中左边的数字，低4位存储两位数字中右边的数字，其中，N为正整^:。单板PCB版本分配M个字节存储空间，可存储2xM位数字，存储顺序与单板条码的存储顺序相同，其中，M为正整数。单板测试时间分配M个字节存储空间，可存储2xM位数字，时间按照年月日来存储，各由两个数字表示，存储顺序是按照年月日依次从低位地址开始存储，一个字节的高4位存储两位数字中的十位lt字，低4位存储两位数字中的个位数字，其中，M为正整凄t。根据测试项的数目和存储空间的大小设置单板测试状态和单板测i式项测i式^R态〗言息。本发明的单板测试信息存储方法包括以下步骤步骤S202，单板测试信息存储装置通过其通信接口单元接收来自上位机的通信命令；步骤S204,单板测试信息存储装置才艮据通信命令对不同的单板测试信息进行不同的处理；以及步骤S206，单板测试信息存储装置将处理后的单板测试信息存储到其对应的非易失性存储单元中。本发明的优点在于一、能够将单板的测试信息存储到本板，确保了测试信息的正确性和唯一性。二、测试信息获取方便。获取方式灵活，即可通过通讯接口上才艮给上位才几来查询，也可通过单板软件直接读耳又查询。适用于生产测试管理、单板维^修、i殳备现场维护等多种情况，不受网络和数据库软件限制。三、存储信息内容完备，便于信息分析。根据存储的条码信息和单板实际条码对比可以判断单板是否误测；根据单板测试状态信息可以判断单板是否测试；根据测试项状态信息可以判断单板功能测试是否完全以及单板功能的实现情况。本发明不^又方《更生产测试i由4企，有效的加强生产测i式管理还可以协助维护维^修人员了解单板状态，^是高工作效率。此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申-清的一部分，本发明的示意性实施例及其i兌明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中图1为根据本发明的单板测试信息存储装置的整体框图2为根据本发明的单板测试信息存储方法的流程图3是根据本发明的表示条码信息存储格式说明图4是根据本发明的表示测试时间信息存储格式说明图；以及图5是根据本发明的表示单板和测试项测试状态信息存储格式说明图。具体实施例方式下面参考附图，详细说明本发明的具体实施方式。为解决以上问题，本发明提出一种将单板的测试信息存储在被测单板上，将特定的测试信息按约定的表示方式和存储格式的进行存储和读取的方法。一个目的是确保了测试信息的唯一性和准确性；另一个目的是，方便单板使用或维护人员，可直接从单板上获取分析测试信息；再一个目的是，可协助生产测试管理，准确判断单外反是否漏测或i吴测。本发明提供的单板测试信息存储方法从硬件和软件两个方面结合实现。在单一反上i殳计非易失性存々者单元、控制处理单元以及和上位才几通讯接口单元。非易失性存储单元用来存々者单^反测试信息，确係:掉电数据不丟失；控制处理单元提供非易失性存储器件读写功能和上位才几通讯接口控制功能；上位才几通ifU妄口实现上下位才几测试信息的传递。单々反上位4几软件将单纟反测试信息通过通ifU妄口发送到^皮测单板；被测单板软件将测试信息按照约定的格式存储到单板上的非易失性存储单元中；被测单板同时提供软件接口可供读取非易失性存储单元内的信息。对要存储的测试信息的内容、表示方法和存储格式规定如下存储测试信息内容包括被测单板条码、单板PCB版本、测试时间、单板测试状态、单板测试项测试状态信息。单板信息的数字表示方式采用4个bit位的二进制数来表示一位10进制数字的方式，即一个字节存储两个数字，可高效的利用存储空间。单板条码分配7个字节存储空间，可存储14位条码数字，存储顺序是条码数字从左到由右依次存储，从存储空间的^f氐位地址开始每一个字节存储条码两位凄史字，一个字节的高4位存储两位数字中左边的数字，低4位存储两位数字中右边的数字。单板PCB版本分配3个字节存储空间，可存储6位数字，存储顺序同单4反条码的顺序一样。单板测试时间分配3个字节存储空间，可存储6位数字，时间按年月日存储，各由两个数字表示。存储顺序是时间按年月日依次从低位地址开始存储，一个字节的高4位存储两位数字中十位数字，低4位存储两位凄t字中的个位数字。单板测试状态和单板测试项测试状态信息共分配若干个字节具体可根据测试项的数目和存储空间大小设置。单板测试状态分配2个bit来表示。"00"表示测试通过；"01"表示测试失败；"11"表示没有测试。每个测试项的对应2个bit来表示测试状态，"00"表示测试通过；"01"表示测试失败；"11"表示没有测试。存^f诸顺序从低位地址开始，每个字节内的存储顺序是从高位到低位依次存储单板测试状态信息和单板测试项测试状态信息。图1表示本发明一较佳实施例的由以上各硬件单元组成的单板测试信息存储装置的原理框图，并示出了装置各组成单元之间的信号流向。本发明在硬件上需要控制处理单元、非易失性存储器单元和通讯接口单元支持，软件提供按约定格式存储和读取测试信息的功能。其中，接口单元102主要实现整个单元的通讯*接口连4妄功能，实现上位才几测试命令或测试信息的下发，以及下位才几测试结果或测试信息的上才艮，具体实现可4艮据测试环境实际情况选择串口、网口或其^也方式的通ifl口；控制处理单元104主要实现对通讯接口的的控制功能、通讯数据的处理功能以及非易失性存储器件的读写功能。具体实现可由MCU、CPU、逻辑或其^也处理4空制系统完成。非易失性存储单元106实现测试信息的断电不丢失存储，非易失性存储器件既可是串行总线也可是并行总线器件。图2表示本发明的单板测试信息存储方法的流程图。上位机通过通讯接口向单板发送存储测试信息的命令(S202)，单板软件根据测试命令接收不同的测试信息(S204)，并存储到相应的存储地址单元中(S206)。同时单板软件也可根据测试命令，将不同的测试信息A人相应的存^f诸地址中读耳又上才艮。图3表示条码信息的存储结构。例如条码信息是102547696893，存储单元基址是0x1000,那么条码信息的存々者内容为<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>PCB版本信息存储与条码信息存储方式相同。图4表示测试时间的存4诸结构。例如测试时间是06年12月19日，存储单元基址是0x1010，那么测试时间信息的存储内容是<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>图5表示单板测试状态和单板测试项状态信息的存储结构。例如单板测试不通过.共10个测试项，测试项序号从l开始。其中第1、3测试项测试不通过、第5、6测试项没有测试、其余测试项测试都通过。存储单元基址是0x1020。那么单板测试状态和测试项状态信息的存储内容是<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>0x1002地址空间的最低两位没有存储信息，可不处理或补"11"状态。以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的^支术人员来i兌，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。权利要求1.一种单板测试信息存储装置，其特征在于包括非易失性存储单元，用于存储来自单板的单板测试信息，保证在掉电时数据不丢失；控制处理单元，用于提供对所述非易失性存储单元的读写功能和对上位机的通信接口单元的控制功能；以及所述通信接口单元，用于实现上位机和下位机之间测试信息的传输。2.根据权利要求1所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板测试信息包括以下至少一种被测单板条码、单板PCB版本、测试时间、单才反测试状态、以及单^反测试项测试状态信息。3.根据权利要求2所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板信息的数字表示方式采用4个比特位的二进制数字表示一位十进制数字，即，一个字节存储两个数字。4.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述纟皮测单板条码分配N个字节存储空间，可存储2xN位条码数字，所述条码数字的存储顺序是条码数字从左到右依次存储，从所述存储空间的^f氐位地址开始每一个字节存储条码的两位数字，一个字节的高4位存储两位数字中左边的数字，低4位存储两位数字中右边的数字，其中，N为正整数。5.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板PCB版本分配M个字节存储空间，可存储2xM位数字，存储顺序与所述单板条码的存储顺序相同，其中，M为正整凌t。6.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板测试时间分配M个字节存々者空间，可存储2xM位数字，时间按照年月日来存储，各由两个凄史字表示，存储顺序是按照年月日依次从低位地址开始存储，一个字节的高4位存储两位数字中的十位数字，低4位存储两位数字中的个位^t字，其中，M为正整凄t。7.才艮据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，根据所述测试项的数目和存储空间的大小设置所述单一反测试状态和所述单一反测试项测试状态信息。8.—种使用权利要求1至7中任一项所述的单板测试信息存储装置的单纟反测试信息存〗诸方法，其特征在于，包4舌以下步驶《步骤S202,单纟反测试信息存4诸装置通过其通信4妄口单元接收来自上位机的通信命令；步骤S204，所述单板测试信息存〗诸装置4艮据所述通信命令对不同的单板测试信息进行不同的处理；以及步骤S206，所述单板测试信息存储装置将处理后的单板测试信息存储到其对应的非易失性存储单元中。9.根据权利要求8所述的单板测试信息存储方法，其特征在于，所述单板测试信息包括以下至少一种被测单板条码、单板PCB版本、测试时间、单^反测试状态、以及单^反测试项测试状态4言息。全文摘要本发明提供了一种单板测试信息存储装置和方法，该装置包括非易失性存储单元，用于存储来自单板的单板测试信息，保证在掉电时数据不丢失；控制处理单元，用于提供对非易失性存储单元的读写功能和对上位机的通信接口单元的控制功能；以及通信接口单元，用于实现上位机和下位机之间测试信息的传输。本发明的优点在于一、能够将单板的测试信息存储到本板，确保了测试信息的正确性和唯一性。二、测试信息获取方便，获取方式灵活。既可通过通讯接口上报给上位机来查询，也可通过单板软件直接读取查询。适用于生产测试管理、单板维修、设备现场维护等多种情况，不受网络和数据库软件限制。三、存储信息内容完备，便于信息分析。文档编号H04Q1/20GK101193327SQ20071011074公开日2008年6月4日申请日期2007年6月6日优先权日2007年6月6日发明者鹏张,钱崇丽,闫晓艳申请人:中兴通讯股份有限公司