专利名称：替代像素阵列中的缺陷像素的系统及方法
技术领域：
本发明一般涉及成像传感器领域，并且更特别地涉及用于增强
CMOS成像传感器的成品率和性能的电路。
背景技术：
在利用光学成像传感器的器件中，对于输出的光学图像的成品率损 失或质量退化而言有几个可能的源头。成品率损失的一个源头是缺陷像 素。缺陷像素可以由过度暗的电流、导致亮点图像的缺陷、短路或导致 光学图像的失真的硅或金属化层中的一般缺陷引起。
图1显示了像素106a-t的有源阵列100的Y行和X列的现有技术 布局。像素列的阵列由来自垂直(列)扫描电路105的、包括传输门 (TG) 122、复位门(RG) 124、行选择(RS) 125和电源Vdd 120在 内的多个信号进行激活，并且像素行的阵列由水平(行)扫描电路110 扫描输出。共用相同行的像素的输出由列选择晶体管115a-d —个接一 个地传送到输出緩冲器130，其中列选择晶体管115a-d通过它们的栅极 从列选择电路105进行激活。
光学图像问题的其他源头涉及像素器件的导电和漏电特性。在透镜 或光学滤波器中有缺陷也是可能的，这会引起彩色图像中的失真。
图2显示了像素的现有技术示意图。像素设计可以包括传输器件门 (TG) 202和复位器件门(RG) 204。需要TG 202在NFET 206的 TG 202被拉到接地(GND)时具有非常低的"OFF"电流，从而使得 该OFF电流不会干扰归因于图像的光电流。图像退化的另一个源头是 当TG 202的"OFF"电流不U够低，并且需要将TG 202设置为某 个小的负值以便将"OFF"电流减小到可接受的值时。该负的门电压由 于扩散正向偏置而不可避免地会引起额外的漏电。并且，TG 202电压
和RG 204电压至少对于某些像素而言可能是足够高的，这导致在给定 入射照射的某个值时像素输出208偏离期望值。
解决缺陷像素或部分缺陷像素问题的一个方案利用像素阵列的非光 学(暗)和光学测试，并且确定缺陷像素或部分缺陷像素的位置以及它 们偏离正常像素的程度。该方案还涉及确定对于来自缺陷像素的坏数据 的所需修复。该修复可能涉及完全掩蔽坏像素的数据，或者用来自工作 的(functioning)邻近像素的数据的平均值替代坏像素的数据。可以在 出货之前(在制造最初测试期间)使用阵列测试。但是，关于缺陷像素 的信息必须被存储到非易失性存储器中。另外，可以在产品出货之后 (由消费者)执行像素阵列测试。在该情况中，可以使用其他类型的存 储器，例如SRAM或DRAM,用于存储关于缺陷像素的信息。测试既 需要暗测试也需要光学测试，其中光学测试可以包括颜色测试。这些测 试被内置到光学系统中，并且将某个量的电荷注入到光电二极管中，以 及确定响应是否处于期望值之内。这些测试还需要施加具有特定照射量 的入射照射(光学测试)。对于在产品出货之后的使用寿命期间的实 施，必须在每次^吏用产品(例如照相机)和打开电源时应用该测试。此 外，该方案需要利用软件进行关于缺陷像素的判定的故障分析及校正系 统。因此，该方案需要使用存储器，在产品在现场由消费者使用时进行 阵列测试的特定特征，以及应用具有特定量的强度和某种颜色的光。此 外，该方案需要在与像素阵列相同的芯片上或在单独的芯片上包含故障 分析及校正系统，
另一个方案涉及使用特定的入射光，以便除了激活正常有源像素阵 列之外还激活与少量特定像素相关联的简单电路。与利用e熔丝相结合 地激活该电路，其中e熔丝用工作电容器替代缺陷电容器，或者该电路 断开静电放电(ESD)网络以提高性能。
发明内容
本发明一般涉及成像传感器领域，并且更特别地涉及用于增强 CMOS成像传感器的成品率和性能的电路。
根据一个方面，本发明涉及用于替代像素阵列中的缺陷像素的系
统。该系统包括用于识别像素阵列中的缺陷像素的装置，用于产生包 含对应于缺陷像素行和列的信息的代码的装置，用于解码该信息的装 置，用于基于解码的信息产生永久识别缺陷像素行和列的信号的装置， 以及用于基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相同行中并与其紧邻 的工作像素的数据替代来自缺陷像素的数据的装置。
在一个实施方案中，用于识别缺陷像素的装置包括下述中的至少一 个用于像素阵列的功能测试的装置，用于测试暗电流的装置，用于光 学测试的装置，以及用于颜色测试的装置。在另一个实施方案中，用于 产生代码的装置包括代码产生器。在又一个实施方案中，用于解码信息 的装置包括行解码器和列解码器。在再一个实施方案中，用于产生永久 识别缺陷像素行和列的信号的装置包括电子熔丝。
在其他实施方案中，用于以来自布置于与缺陷像素相同行中并与其 紧邻的工作像素的数据替代来自缺陷像素的数据的装置包括数字逻辑电 路。在另一个实施方案中，工作像素位于相同行中缺陷像素的右边。在 又一个实施方案中，工作4象素位于相同行中缺陷像素的左边。
根据另一个方面，本发明涉及用于替代像素阵列中的缺陷像素的系 统。该系统包括用于识别像素阵列中的缺陷像素的装置，用于产生包 含对应于缺陷像素行和列的信息的代码的装置，用于解码该信息的装 置，用于基于解码的信息产生永久识别缺陷像素行和列的信号的装置， 以及用于基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相同行的第一和第二 工作像素的数据的平均值替代来自缺陷像素的数据的装置，第一工作像 素布置在缺陷像素的一侧，第二工作像素布置在缺陷像素的另一侧。
在一个实施方案中，用于识别缺陷像素的装置包括下述中的至少一 个用于像素阵列的功能测试的装置，用于测试暗电流的装置，用于光 学测试的装置，以及用于颜色测试的装置。在另一个实施方案中，用于 产生代码的装置包括代码产生器。在又一个实施方案中，用于解码信息 的装置包括行解码器和列解码器。在再一个实施方案中，用于产生永久 识别缺陷像素行和列的信号的装置包括电子熔丝。在其他实施方案中，
用于以来自工作第一像素和工作笫二像素的数据的平均值替代来自缺陷 像素的数据的装置包括数字逻辑电路。
根据又一个方面，本发明涉及用于替代像素阵列中的缺陷像素的方
法。该方法包括识别像素阵列中的缺陷像素，产生包含对应于缺陷像
素行和列的信息的代码，解码该信息，基于解码的信息产生永久识别缺
陷像素行和列的信号，以及基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相 同行中并与其紧邻的工作像素的数据替代来自缺陷像素的数据。
在一个实施方案中，识别缺陷像素包括用用于像素阵列的功能测 试的装置、用于测试暗电流的装置、用于光学测试的装置以及用于颜色 测试的装置中的至少一个装置测试4象素阵列。在另一个实施方案中，产 生永久识别缺陷像素行和列的信号包括基于解码的信息实现电子熔 丝。在又一个实施方案中，工作像素位于相同行中缺陷像素的右边。在 再一个实施方案中，工作像素位于相同行中缺陷像素的左边。
发明的前述及其他目的、方面、特征和优点将从下面的描述以及从 权利要求书中变得更明显。
在附图中，相似的参考字符一般在不同视图中表示相同的部分。另 外，附图不一定是按比例绘制的，而是一般将重点放置在说明本发明的 原理上。
图1是有源像素阵列的Y行和X列的说明性的现有技术布局。 图2是像素的说明性的现有技术示意图。
图3是根据本发明的一个实施方案的利用e熔丝技术以识别缺陷像 素行和列的功能测试的说明性流程图。
图4是根据本发明的一个实施方案的用于识别缺陷像素行和列的代 码信号处理电路的i兑明性示意图。
图5A是才艮据本发明的一个实施方案的用邻近1象素(列2，行l)的 输出替代缺陷像素(列1，行1)的输出的电路的一种实施方式的说明 性示意图。
图5B是图5A的行1列1的像素(像素1)的说明性真值表(表
1) 。
图6A是根据本发明的另一个实施方案的用邻近像素(列2，行l) 的输出替代缺陷像素(列1,行1)的输出的电路的另一实施方式的说 明性示意图。
图6B是图6A的行1列1的像素(像素1)的说明性真值表(表
2) 。
图7A是用邻近像素(列1和列3,行1)的输出的平均值替代缺陷 像素(列2,行l)的输出的图6A的电路的一部分的说明性示意图。
图7B是图7A的行1列2的像素(像素2)的说明性真值表(表
3) 。
图8是根据本发明的一个实施方案的连接到用于替代缺陷像素的电 路的4x4像素阵列的说明性示意图。
具体实施例方式
本发明一般涉及成像传感器领域，并且更特别地涉及用于增强 CMOS成像传感器的成品率和性能的电路。本发明涉及利用与像素阵列 分离并通信的电路。本发明也涉及利用e熔丝技术。
本发明涉及在出货之前的像素阵列的全功能测试、暗电流和光学测 试以;SJ5色测试。这些测试在测试系统上执行，在该测试系统中用某个 波长和强度的光照射每个像素。行和列解码器构成的系统用来寻址像素 阵列中的每个像素。由连接到像素阵列的驱动器施加所需的信号，例如 复位、传输器件门、以及行选择信号。测量并识别来自每个像素的输 出。这些初始测试识别坏的或有缺陷的像素，并且通过使用e熔丝技 术，产生永久识别像素阵列中的缺陷行和列的特定信号。本发明的电路 是在任何像素阵列的外部并与其进行接口的。意图将这些电路内置到容 纳像素阵列的任何装置内。内嵌的电路用与缺陷像素共用相同行的邻近 工作像素的数据替代每个缺陷像素的数据。这是可能的，因为来自共用 相同行的所有像素的数据全部同时出现。
本发明消除了对存储器、故障分析及校正系统以及相关软件的需 要。本发明也消除了在每次用户使用装置(例如，数字照相机、数字摄 录一体机等)时对装置的光学测试以及非光学测试的需要。
参考图3,显示了在一个实施方案中利用e熔丝技术以识别缺陷像 素行和列的功能测试的流程图。在出货之前在每个芯片上实施全功能测 试(步骤305)。该功能测试用所包含的光学测试完成，以确定像素操作 中的任何问题。从该测试中，按它们的行和列识别出缺陷像素(步骤 310)。从该信息中，通过本领域技术人员众所周知的方法，使用锁存器 和计数器产生VM代码信号(步骤315)。 VM代码信号包括关于缺陷 行和缺陷列的信息，并且可以被表示为"0"和"1"构成的字符串。对 于大的像素阵列而言，VM代码可以是8位信号。然后，VM信号被提 供到像素行和列解码器(步骤320 )。
参考图4，显示了在一个实施方案中用于识别缺陷像素行和列的 VM代码信号处理电路400的示意图。代码信号VM 405被输入到行解 码器410和列解码器415，在这些解码器中产生"0"或"1"信息以识 别缺陷行和缺陷列。"0" 411、 416指示工作的行或列，而"1" 412、 417指示坏的行或列。为了使该信息永久性，对于缺陷行实现电子熔丝 (e熔丝)420，以产生通过"0"输出421从行R1、 R2、 R3、…、Rn 中识别出缺陷行而通过"1"输出422保留工作行的永久信号。此外， 对于缺陷列实现电子熔丝425，以产生通过"0"输出426从列Cl、
C2、 C3.....Cn中识别出缺陷列而通过"1"输出427保留工作列的
永久信号。
参考图5A,显示了在一个实施方案中用邻近(左侧)像素106b (列2，行1)的输出(如果该像素是工作的)替代最右边的缺陷像素 106a (列1，行1)的输出的电路500的一种实施方式的示意图。在另 一个实施方案中，电路布局可以被做成用缺陷像素右侧的像素的输出替 代坏像素的输出。VM代码信号处理电路400的输出Cl和Rl连接到 OR门501。 VM代码信号处理电路400的输出C2和R2连接到OR门 502。 VM代码信号处理电路400的输出C3和R3连接到OR门503。
VM代码信号处理电路400的输出C4和R4连接到OR门504。
对于共用最右(极右)列的像素，仅用在左边下一列中并与坏的像 素共用相同行的像素的输出替代坏的像素。类似地，对于共用最左列
(极左)的像素，仅用在右边下一列中并与坏的像素共用相同行的像素 的输出替代坏的像素。用来自邻近像素的数据替代坏的像素的这个设置 是可能的，因为来自共用相同行的所有像素的数据是同时输出的。
参考图5B，其示出了在一个实施方案中图5A中的行l列1的像素
(像素1 106a)的真值表(表1)。如先前所述，Cl和Rl是对于列1 行l的VM代码信号处理电路400的输出。CS1是由列扫描电路555输 出的对于列1的列扫描信号。PC1是AND门505的输出。PS1是AND 门506的输出。
当CS1为低时，列扫描电路555不选择与像素1 106a关联的列。 AND门505的输出PC1和AND门506的输出PS1也都是低的，因此 节点PR1和POl处于NO状态，这意味着无输出或浮点。在该情况 中，没有输出被传输到输出线(OUTPUT LINE ) 530。
当列扫描电路555选择与像素1 106a关联的列时，那么CS1是高 的，并且来自像素1 106a的信号数据的传输可以发生。如果Cl或Rl 中的任一个或两个都是高的，这意味着像素1106a是工作的，那么节点 CR1是高的，因此节点PCI是高的，并且像素1 106a的输出PI1被传 输到节点POl，从而传输到OUTPUT LINE 530。同时，节点PSl是低 的，并且像素2 106b的输出不被传输到节点PRl (即，像素l 106a的 输出)。换句话说，不用像素2 106b的输出替代像素1 106a的输出。
如果像素l 106a是坏的，那么R1和C1都是低的，并且节点CRl 和PCI都是低的。在该情况中，像素1 106a的输出PI1不被传输到节 点POl或OUTPUT LINE 530。同时，如果像素2 106b是工作的 (即，C2或R2中的任一个或两个都是高的)，则PSl将是高的，并且 像素2 106b的输出PI2被传输到OUTPUT LINE 530，以替代像素1 106a的输出。
对于彩色成像而言，某个颜色滤波器与每个像素关联(例如，绿、
蓝或红色滤波器)。在这种情况中，在相同行上的邻近^4"可能不一定 具有相同类型的颜色滤波器。对于该情况，应当用在相同行上但具有相 同类型的颜色滤波器的邻近像素的数据替代坏像素的数据。可以容易地
修改图5中所示的电路，从而使得仅用来自共用相同行并具有相同类型 的颜色滤波器的邻近像素的工作数据替代坏像素的数据。图5A中的其 他像素(106b， 106c， 106d)的真值表和操作与对于像素1 106d所描 述的那些是非常类似的。
参考图6A，显示了在另一个实施方案中用邻近像素(列2，行l) 的输出替代缺陷像素(列1，行1)的输出的电路的另一实施方式的示 意图。对于共用最右列(即列1)的像素，仅用在左边下一列(即列 2)中并与缺陷像素共用相同行的像素(例如，像素2 106b)的输出替 代缺陷像素(例如，106a)。类似地，对于共用最左列(即列4)的像 素，仅用在右边下一列中并与缺陷像素共用相同行的像素(例如，像素 106c)的输出替代坏的像素。用来自邻近像素的数据替代来自缺陷像素 的数据的这个设置是可能的，因为来自共用相同行的所有像素的数据是 同时输出的。
参考图6B，显示了在一个实施方案中图6A的行1列1的像素(像 素1)的真值表(表2)。如先前关于图5A所描述的，C1和R1是对于 列1行1的VM代码信号处理电路400的输出，C2和R2是对于列2 行2的VM代码信号处理电路400的输出，等等。PI1是来自像素1 106a的输出，并且当以高的栅极PC1激活控制晶体管CT1时节点POl 等于PIl。在该情况中，像素1 106a的输出PI1被传输到输出线 (OUTPUT LINE ) 630。
如果晶体管CT1的栅极PC1是低的，那么晶体管CT1是OFF, 并且像素1 106a的输出PI1不被传输到节点POl。在该情况中，POl 被称作NO,这意味着没有输出(即，POl是浮点)。如果像素1 106a 是有缺陷的，那么像素1 106a的输出PI1不被传输到OUTPUT LINE 630,并且如果像素2 106b是工作的话，则用像素2 106b的输出PI2来 替代。在该情况中，像素1 106a的输出PI1用像素2 106b的输出PI2
替代，并且当门606的输出PS1为高时其被传输到节点PR1，并且因此 被传输到OUTPUT LINE 630。如果两个像素106a和106b (像素1和 2)都是坏的，那么PI1和PI2都不被传输到OUTPUT LINE 630，并 且不替代像素106a (像素1)的输出。
当列扫描电路655没有激活像素106a (像素1)的那一列时，输出 CS1是低的，并且门605和606的输出PCI和PS1也分别是低的。在 该情况中，两个节点PR1和POl都处于NO状态，并且对于像素106a (像素1)没有东西被传输到OUTPUT LINE 630。如果像素106a (像 素1)是工作的，CI或Rl或者它们两者都是高的(CR1是高的)，那 么门605的输出PCI是高的，并且像素106a (像素1)的输出PI1被 传输到OUTPUT LINE 630。并且，在该情况中，节点PS1是低的，节 点PR1处于NO状态，并且不用来自4象素106b (像素2)的输出PI2 替代像素106a (像素1)的输出PIl。如果CI和Rl都是低的(CR1 是低的)，那么像素106a (像素1)是有缺陷的，节点PCI是低的，节 点POl处于NO状态，并且像素106a (像素1)的输出PI1不被传输 到OUTPUT LINE 630。
当像素106a (像素1)是有缺陷的，但像素106b (像素2)是工作 的(R2、 C2中的任一个或两个都是高的)时，节点PS1是高的，并且 用像素106b (像素2)的输出PI2替代像素106a (像素1)的输出 PIl，然后其被传输到节点PR1并因此被传输到OUTPUT LINE 630。 如果像素106a和106b (像素1和2 )都是有缺陷的，那么节点PCI和 节点PS1都是4氐的，并且输出PR1和POl都处于NO状态，并且对于 像素106a (像素1)没有东西被传输到OUTPUT LINE 630。应当注 意，来自列扫描电路655的CS1被输入到AND门605 (其具有输出 PCI)和AND门606。因此，当CS1不是高的时，门606的输出PS1 不可能是高的(即，不激活像素l的那一列)。
参考图7A，显示了在一个实施方案中用邻近像素(列1和3，行 1)的输出的平均值替代缺陷像素(列2，行1)的输出的、图6A中的 电路的一部分的示意图。图7B是图7A的行1列2的像素(像素2)的
真值表(表3)。
当门607的输出PC2是高的并JU象素106b是工作的时，像素106b 的输出PI2被传输到P02以及传输到OUTPUT LINE 630。 AV13是来 自平均电路610的输出，平均电路610产生像素106a和106c (像素1 和3 )的输出的平均值，即PI1和PI3的平均值。当门705的输出AC1 是高的时，AV13被传输到节点PV1并且因此,皮传输到OUTPUT LINE 630。在该情况中，像素106b (像素2)必须是有缺陷的，并且像素 106a和106c (像素1和3 )必须都是工作的。
在另一个情况中，当门706的输出PM1是高的时，像素106c的输 出PI3被传输到节点PN1并因此被传输到OUTPUT LINE 630。在该情 况中，像素106a和106b必须是有缺陷的，但像素106c必须是工作 的。如果像素106b和106c都是有缺陷的，则不管l象素106a的输出状 态如何，所有节点P02、 PV1和PN1都处于NO状态(即，没有输 出)，并且对于像素106b没有东西被传输到OUTPUT LINE 630。
应当注意，对于本领域技术人员而言，可以构建与图6A和7A中 所示的那些电路类似的电路，以便当像素1工作时用像素106a (而不是 像素106c)的输出替代像素106b的输出(当像素106b是有缺陷的 时)。换句话说，图6A和7A中所示的电路可以被设计成当只有在缺陷 像素右边的像素是工作的而不是在缺陷像素的右边和左边的像素都是工 作的时候，用在右边的像素(如果该像素是工作的)的输出替代缺陷像 素的输出。
参考图7B中所示的真值表(表3)，如果CS2是低的(即，列扫描 电路655没有选择与像素106b关联的列)，那么输出节点PC2、 AC1 和PM1都是低的，并且节点P02、 PVl和PNl都处于NO状态(即， 浮动的)。在该情况中，没有信号被传输到OUTPUT LINE 630。当节 点CS2是高的，那么像素106b的那一列被激活，并且来自像素106b 的数据可以被传输到OUTPUT LINE 630。如果像素106b是工作的， 那么C2、 R2中的任一个或两个都是高的，并且节点CR2是高的。在 该情况中，节点PC2是高的，并且控制晶体管CT2为ON。晶体管
CT2将像素106b的输出PI2传输到节点P02并且因此传输到 OUTPUT LINE 630。此外，当像素106b是工作的时，输出节点AC1 和PM1是低的，这意味着节点PVl和PNl是在NO状态下浮动的，并 且来自像素106a和106c的输出不被传输到OUTPUT LINE 630。如果 像素106b是有缺陷的，那么C2和R2都是低的，并且PC2是低的， 这意味着CT2为OFF并且像素106b的输出PI2不被传输到节点P02 或传输到OUTPUT LINE 630。
如果像素106b是有缺陷的，但像素106a和106c都是工作的，那 么AC1是高的，并且作为像素106a和106c (像素1和3)的输出的平 均值的AV13被传输到节点PV1,并因此被传输到OUTPUT LINE 630。同时，PM1是的低，并且像素106c的输出PI3不被传输到节点 PN1或传输到OUTPUT LINE 630。如果像素106b是有缺陷的，并且 像素106c是工作的，但像素106a是有缺陷的，那么AC1是低的，这 意味着像素106a和106c的平均值(AV13)不被传输到OUTPUT LINE 630。并且，同时，节点BC1和PM1都是高的，并且像素106c 的输出信号PI3被传输到节点PNl，并因此被传输到OUTPUT LINE 630。如先前所述，如果像素106b和106c是有缺陷的，但像素106a是 工作的，那么对于像素106b没有东西被传输到OUTPUT LINE 630。
应当注意，对于本领域技术人员而言，可以构建与图5A、 6A和 7A中所示的那些电路类似的电路，以便当像素1是工作的并且像素 106b和106c都是有缺陷的时候，用像素106a (而不是像素106c)的输 出替代像素106b的输出(当像素106b是有缺陷的时)。
对于彩色成像，某个颜色滤波器与每个像素相关联(例如，绿、蓝 或红色滤波器)。在这种情况中，在相同行上的邻近像素可能不一定具 有相同类型的颜色滤波器。对于该情况而言，应当用在相同行上但具有 相同类型的颜色滤波器的邻近像素的数据替代缺陷像素的数据。可以容 易地修改图6A和7A中所示的电路，使得仅用来自共用相同行并具有 相同类型的颜色滤波器的邻近像素的数据替代缺陷像素的数据。
参考图8，显示了在一个实施方案中连接到用于替代缺陷像素的电
路的4x4像素阵列的示意图。比较图8与图1， VM代码信号产生器 801将VM代码信号提供到VM代码信号处理电路400。 VM代码信号 处理电路400实现e熔丝技术，以便永久地产生提供到用于替代缺陷像 素的电路500的列和行信号。电路500布置在像素阵列100和列扫描电 路555之间。VM代码信号产生器801、 VM代码信号处理电路400、 用于替代缺陷像素的电路500以及像素阵列100的组合已经在上文中详 细地描述了。
在这里所描述的变化、修改以及其他实施方式可以容易地被本领域 技术人员想到，而不背离本发明的实质和范围。因此，本发明不仅仅由 先前的说明性描述所定义。
权利要求
1.一种用于替代像素阵列中的缺陷像素的系统，包括用于识别像素阵列中的缺陷像素的装置；用于产生包含对应于缺陷像素行和列的信息的代码的装置；用于解码该信息的装置；用于基于解码的信息产生永久识别缺陷像素行和列的信号的装置；以及用于基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相同行中并与其紧邻的工作像素的数据替代来自缺陷像素的数据的装置。
2. 根据权利要求1的系统，其中，用于识别缺陷像素的装置包括 用于像素阵列的功能测试的装置、用于测试暗电流的装置、用于光学测 试的装置以及用于颜色测试的装置中的至少一个。
3. 根据权利要求1的系统，其中，用于产生代码的装置包括代码 产生器。
4. 根据权利要求1的系统，其中，用于解码信息的装置包括行解 码器和列解码器。
5. 根据权利要求1的系统，其中，用于产生永久识别缺陷像素行 和列的信号的装置包括电子熔丝。
6. 根据权利要求1的系统，其中，用于以来自布置于与缺陷像素 相同行中并与其紧邻的工作像素的数据替代来自缺陷像素的数据的装置 包括数字逻辑电路。
7. 根据权利要求1的系统，其中，工作像素位于相同行中缺陷像 素的右边。
8. 根据权利要求1的系统，其中，工作像素位于相同行中缺陷像 素的左边。
9. 一种用于替代^^素阵列中的缺陷像素的系统，包括 用于识别像素阵列中的缺陷像素的测试装置；用于产生包含对应于缺陷像素行和列的信息的代码的代码产生器电 路；用于解码该信息的解码器装置；用于基于解码的信息产生永久识别缺陷像素行和列的信号的信号产 生器；以及用于基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相同行的第一和第二一工作像素布置在缺陷像素的一侧，第二工作像素布置在缺陷像素的另 一侧。
10. 根据权利要求9的系统，其中，用于识别缺陷像素的测试装置 包括下述中的一个或多个用于像素阵列的功能测试的装置，用于测试 暗电流的装置，用于光学测试的装置，以及用于颜色测试的装置。
11. 才艮据权利要求9的系统，其中，用于解码信息的解码器装置包 括行解码器和列解码器。
12. 根据权利要求9的系统，其中，用于产生永久识别缺陷像素行 和列的信号的信号产生器包括电子熔丝。
13. 根据权利要求9的系统，其中，用于以来自工作的第一像素和 工作的第二像素的数据的平均值替代来自缺陷像素的数据的逻辑电路包括数字逻辑电路。
14. 一种用于替代像素阵列中的缺陷像素的方法，包括 识别像素阵列中的缺陷像素；产生包含对应于缺陷像素行和列的信息的代码； 解码该信息；基于解码的信息产生永久识别缺陷像素行和列的信号；以及 基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相同行中并与其紧邻的工 作像素的数据替代来自缺陷像素的数据。
15. 根据权利要求14的方法，其中，识别缺陷像素包括用用于 像素阵列的功能测试的装置、用于测试暗电流的装置、用于光学测试的 装置以及用于颜色测试的装置中的至少一个来测试像素阵列。
16. 根据权利要求14的方法，其中，产生永久识别缺陷像素行和 列的信号包括基于解码的信息实现电子熔丝。
17. 根据权利要求14的方法，其中，工作像素位于相同行中缺陷 像素的右边。
18. 根据权利要求14的方法，其中工作像素位于相同行中缺陷像 素的左边。
全文摘要
提供了一种用于替代像素阵列中的缺陷像素的系统。该系统包括用于识别像素阵列中的缺陷像素的装置，用于产生包含对应于缺陷像素行和列的信息的代码的装置，用于解码该信息的装置，以及用于基于解码的信息产生永久识别缺陷像素行和列的信号的装置。该系统还包括用于基于产生的信号以来自布置于与缺陷像素相同行中并与其紧邻的工作像素的数据替代来自缺陷像素的数据的装置。
文档编号H04N5/335GK101170653SQ20071018184
公开日2008年4月30日 申请日期2007年10月19日 优先权日2006年10月27日
发明者瓦格蒂·W.·阿巴迪尔 申请人:国际商业机器公司