专利名称：信号检测方法、装置和基站的制作方法
技术领域：
本发明涉及通信技术领域，特别涉及信号检测方法、信号检测装置和基站。
技术背景
在无线通信系统中，驻波比检测是衡量发信系统工作状态的重要手段。目前驻 波比检测常用的方法是，采用定向耦合器耦合射频通道上的信号，该信号包括前向信号 和反射信号，然后利用耦合到的前向信号的功率和耦合到的反射信号的功率来计算驻波 比、反射系数等反映馈线特性阻抗与负载阻抗匹配程度的表征量(简称为阻抗匹配表征 参数)。
在本发明的研究过程中，发明人发现，这种测试方法中，定向耦合器的方向性 对阻抗匹配表征参数的影响难以确定，对驻波比检测精度影响较大。发明内容
本发明提供了一种信号检测方法、信号检测装置和基站，以降低耦合器方向性 不理想造成的不确定误差。
本发明一方面提供了一种信号检测方法，该方法包括
通过第一耦合器和第二耦合器耦合待测通道上的信号，第一耦合器和第二耦合 器之间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍，所述第一耦合器和第二耦合器的方向 性相同；
对第一耦合器耦合到的信号进行功率检波获得待测通道上的信号的功率的第一 检测结果，对第二耦合器耦合到的信号进行功率检波获得待测通道上的信号的功率的第 二检测结果；
获取待测通道上的信号的功率的第一检测结果和待测通道上的信号的功率的第 二检测结果的均量本发明另一方面提供了一种信号检测装置，用于对待测通道进行信号 检测，该装置包括第一耦合器、第二耦合器、功率检波单元和信号获得单元，
所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述待测通道上的信号，第一耦合器 和第二耦合器之间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍，所述第一耦合器和第二耦 合器的方向性相同；
功率检波单元，与第一耦合器和第二耦合器相连，用于对第一耦合器输出的信 号进行功率检波，获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果，并对第二耦合器输出 的信号进行功率检波，获得待测通道上的信号的功率的第二检测结果；
信号获得单元，与功率检波单元相连，用于获得待测通道上的信号的功率的第 一检测结果和待测通道上的信号的功率的第二检测结果的均量，作为待测通道上的信号 的功率的第三检测结果。
本发明另一方面提供了一种基站，该基站包括射频通道和用于对该射频通道进 行信号检测的本发明提供的信号检测装置。
采用本发明提供的信号检测的方法、装置和基站，可以降低耦合器方向性不理 想造成的不确定误差，从而使耦合器的方向性对阻抗匹配表征参数的影响可校正，降低 耦合器的方向性对驻波检测精度的影响，并提高驻波检测精度。
图1为现有技术中驻波检测装置的示意图2为本发明实施例一中提供的一种信号检测装置的示意图3a为本发明实施例二中提供的一种信号检测装置的示意图3b为本发明实施例二中提供的另一种信号检测装置的示意图4为本发明实施例三中提供的一种信号检测装置的示意图5为本发明实施例四中提供的一种信号检测装置的示意图虹为本发明实施例五中提供的一种信号检测装置的示意图冊为本发明实施例五中提供的另一种信号检测装置的示意图7a为本发明实施例六中提供的一种信号检测装置的示意图7b为本发明实施例六中提供的另一种信号检测装置的示意图8a为本发明实施例八中提供的一种信号检测方法的流程示意图池为本发明实施例八中提供的另一种信号检测方法的流程示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种信号检测方法、信号检测装置和基站，以降低耦合器 方向性不理想造成的不确定误差，从而使耦合器的方向性对阻抗匹配表征参数的影响可 校正，降低耦合器的方向性对驻波检测精度的影响，并提高驻波检测精度。
在现有技术中，通常采用如图1所示的单个定向耦合器101，定向耦合器可以 对输入信号进行耦合，并将耦合到的信号从耦合端输出。以定向耦合器耦合射频通道上 的信号为例，该定向耦合器101可以对射频通道上的前向信号或反射信号进行耦合，即 输入信号为射频通道上的前向信号或反射信号。定向耦合器101包括两个输出端口，若 定向耦合器用于耦合前向信号，则将定向耦合器输出耦合到的前向信号的端口称为耦合 端，将另一个端口称为隔离端，若定向耦合器用于耦合反射信号，则将定向耦合器输出 耦合到的反射信号的端口称为耦合端，将另一个端口称为隔离端。图1所示的定向耦合 器101用于耦合反射信号，包括耦合端1011和隔离端1013。
假设该定向耦合器方向性参数为D，D为非对数值，通常为大于1的值。前向 信号耦合到隔离端1013的信号的功率为A' 2，前向信号耦合到耦合端1011的信号的功 率为A2=' 2ZD,反射信号耦合到耦合端1011的信号的功率为B2，反射信号耦合到隔离 端1013的信号的功率为B2/D，若不考虑耦合到耦合端的前向信号和耦合到隔离端的反射信号，即定向耦合器方向性为无穷大，则真实的反射系数幅度为|r。| = V^7^ (0-1)
在通常情况下，定向耦合器的方向性不会无穷大，耦合到定向耦合器101耦合端的信号可以表示为
T1= A cos ω + Β cos(at + φ、，( 1 -1 )
其中ω为信号频率，^是前向信号和反射信号耦合到耦合器耦合端的信号之间 的相位差。
式1-1可以变换为
权利要求
1.一种信号检测装置，用于对待测通道进行信号检测，其特征在于，包括第一耦合 器、第二耦合器、功率检波单元和信号获得单元，所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述待测通道上的信号，第一耦合器和第 二耦合器之间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍，所述第一耦合器和第二耦合器 的方向性相同；功率检波单元，与第一耦合器和第二耦合器相连，用于对第一耦合器输出的信号进 行功率检波，获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果，并对第二耦合器输出的信 号进行功率检波，获得待测通道上的信号的功率的第二检测结果；信号获得单元，与功率检波单元相连，用于获得待测通道上的信号的功率的第一检 测结果和待测通道上的信号的功率的第二检测结果的均量，作为待测通道上的信号的功 率的第三检测结果。
2.如权利要求1所述的信号检测装置，其特征在于，所述功率检波单元包括第一功率 检波器和第二功率检波器，其中，第一功率检波器与第一耦合器和信号获得单元相连，用于对第一耦合器的输出进行 功率检波，并输出给信号获得单元；第二功率检波器与第二耦合器和信号获得单元相连，用于对第二耦合器的输出进行 功率检波，并输出给信号获得单元。
3.如权利要求1所述的信号检测装置，其特征在于，所述功率检波单元包括开关和功 率检波器，其中，开关与第一耦合器和第二耦合器分别相连，用于对第一耦合器和第二耦合器的输出 进行切换，使功率检波器分时对第一耦合器和第二耦合器的输出进行功率检波；功率检波器与开关和信号获得单元相连，用于对第一耦合器或第二耦合器的输出进 行功率检波，并输出给信号获得单元。
4.如权利要求1所述的信号检测装置，其特征在于，所述待测通道为射频或微波通 道，所述射频或微波通道上的信号包括前向信号和反射信号，所述第一耦合器和第二耦 合器均用于耦合所述前向信号或反射信号。
5.如权利要求4所述的信号检测装置，其特征在于，还包括阻抗匹配表征参数获得单 元，与所述信号获得单元相连，用于根据所述待测通道上的信号的功率的第三检测结果 计算阻抗匹配表征参数。
6.如权利要求5所述的信号检测装置，其特征在于，还包括校正单元，与所述阻抗匹 配表征参数获得单元相连，用于根据所获得的第一耦合器或第二耦合器的方向性参数对 所计算出的阻抗匹配表征参数进行校正。
7.如权利要求1至6任意一项所述的信号检测装置，其特征在于，所述第一耦合器或 第二耦合器为定向耦合器、环行器、隔离器中的一种。
8.—种基站，其特征在于，包括射频通道和如权利要求1至7任意一项所述的信号检 测装置，所述待测通道为射频通道。
9.一种信号检测方法，其特征在于，包括通过第一耦合器和第二耦合器耦合待测通道上的信号，第一耦合器和第二耦合器之 间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍，所述第一耦合器和第二耦合器的方向性相同；对第一耦合器耦合到的信号进行功率检波获得待测通道上的信号的功率的第一检测 结果，对第二耦合器耦合到的信号进行功率检波获得待测通道上的信号的功率的第二检 测结果；获取待测通道上的信号的功率的第一检测结果和待测通道上的信号的功率的第二检 测结果的均量。
10.如权利要求9所述的信号检测方法，其特征在于，所述对第一耦合器耦合到的信 号进行功率检波获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果，对第二耦合器耦合到的 信号进行功率检波获得待测通道上的信号的功率的第二检测结果包括通过第一功率检波器对第一耦合器耦合到的信号进行功率检波获得待测通道上的信 号的功率的第一检测结果，通过第二功率检波器对第二耦合器耦合到的信号进行功率检 波获得待测通道上的信号的功率的第二检测结果；或者，分时对第一耦合器耦合到的信号和第二耦合器耦合到的信号进行功率检波，分时 获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果和待测通道上的信号的功率的第二检测结果。
11.如权利要求9或10所述的信号检测方法，其特征在于，还包括根据所述待测通道上的信号的功率的第一检测结果和待测通道上的信号的功率的第 二检测结果的均量计算阻抗匹配表征参数。
12.如权利要求11所述的信号检测方法，其特征在于，还包括根据第一耦合器或第二耦合器的方向性参数对阻抗匹配表征参数进行校正。
13.如权利要求11所述的信号检测方法，其特征在于，所述阻抗匹配表征参数为驻波 比或反射系数。
全文摘要
本发明提供了一种信号检测方法、装置和基站。一种信号检测装置，包括第一耦合器、第二耦合器、功率检波单元和信号获得单元，第一耦合器和第二耦合器之间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍，第一耦合器和第二耦合器的方向性相同；功率检波单元，与第一耦合器和第二耦合器相连，用于对第一耦合器和第二耦合器输出的信号进行功率检波，分别获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果和第二检测结果；信号获得单元，与功率检波单元相连，用于获得第一检测结果和第二检测结果的均量，作为待测通道上的信号的功率的第三检测结果。采用本发明提供的方法、装置和基站，可以降低耦合器方向性不理想造成的不确定误差。
文档编号H04B17/00GK102025433SQ20101061282
公开日2011年4月20日 申请日期2010年12月29日 优先权日2010年12月29日
发明者孙捷, 孙益军, 曾志雄 申请人:华为技术有限公司