专利名称：成像参数的改进设置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用来在记录介质上形成图像的记录设备的技术领域。特别地，本发明涉及对用来在比如印刷版的记录介质上形成图像的记录设备的成像参数进行设置。
背景技术：
通常采用使用大体积印刷机的接触式印刷来印刷大量图像。接触式印刷机利用比如印刷版、印刷套筒、印刷滚筒等各种印刷元件对表面涂布颜料，以在其上形成图像。该表面可以形成接受方介质(例如，纸)的一部分，也可以形成适于将颜料从其表面转印到接受方介质的中间部件(例如，压机的橡皮布滚筒)的一部分。在这两种情况下，颜料图案都被转印到接受方介质上，从而在该接受方介质上形成图像。这些印刷元件是通常经过多种处理以获得适合用于印刷机的配置的记录介质的一种形式。例如，曝光处理被用来在经过适当处理从而对光或者热辐射敏感的记录介质的可成像表面上形成图像。一种类型的曝光处理采用薄膜掩模。该掩模通常是使用被称为 “图像集成机(image-setter)”的激光打印机来曝光高灵敏度的薄膜介质而形成的。将被成像的薄膜掩模布置在与敏化记录介质接触的区域上，并转而通过掩模对其进行曝光。以这种方式曝光的印刷版通常被称为“传统印刷版”。典型的传统平版印刷版对光谱的紫外区中的辐射敏感。另一传统方法通过使用通常被称为版上成像机(plate-setter)的专用记录设备来直接曝光介质。与接收并调节由版上成像机使用的图像数据的控制器结合的这样的版上成像机通常被称为“脱机直接制版(computer-to-plate)”或者“CTP”系统。与图像集成机相比，CTP系统的显著优点在于取消了薄膜掩模和与其有关的相关处理的变异。通常，根据成像数据来控制CTP系统内的记录头选择性地发出辐射束，以在记录介质的表面上形成被称为图像像素的图像像元。辐射束通常导致记录介质的图像可更改表面发生物理变化或者化学变化。多种因素都可以对记录介质上形成的图像的质量产生不利影响。这样导致需要对所需的图像形成活动建立多种处理控制。通常，存在很多成像参数需要进行优化设置以获得期望的质量结果。一个重要参数是在记录介质上提供的辐射曝光量的水平。曝光量通常被定义为在成像处理期间射到记录介质的每单位面积的辐射能量的量。取决于记录介质的类型，可能需要将该参数控制在百分之几或更小以内。这种情况在每束都需要分给记录介质基本相等的曝光量以便不产生各种成像误差或者赝象的多束记录设备中进一步恶化。因为曝光量具有空间分量和功率或强度分量， 所以除非可以保证多束记录头中的所有束都具有相同的尺寸和传播特性，否则不可能实现简单的功率或者强度平衡。尽管可能可以直接测量束的尺寸，但是测量非常复杂，从而难以获得精确的结果。存在非常适合于束分析的系统，但是这些系统通常是独立设备的形式，从而不一定适合于包含在CTP系统中，或者包含在CTP系统中也不一定划算。通常采用的实际方法是使记录介质作为测量工具。由于人眼对轻微的图像变化敏感，所以受过训练的操作员有时可以对被成像的记录介质进行诊断，并基于这些观察对记录设备执行所需的调节。有时还使用密度计，密度计是通过测量图像元件反射或者透射的辐射强度来确定图像元件的光强的仪器。用于捡取特定成像参数的最佳或者最优设定点的传统方法通常包括绘制一系列图像带，每个图像带是根据特定成像参数值来形成的。利用密度计测量每个图像带的光强， 并且选择对应于特定光强值的成像参数值。不幸的是，对于许多情况，随着成像参数值的变化，光强值仅有稍许变化，且密度计的精确度可能受到检测这些细微差异的限制。这些问题使得非常难以将特定成像参数精确设置到最佳值。无论是利用密度计还是简单地通过肉眼判断记录介质，该处理都仍然是手动的并且需要受过训练的人员的参与。随着比如CTP系统的记录设备的使用得到普及，能够被用来方便地调节各种成像参数以获得最佳性能的技术变得越来越重要。需要提供用于对在记录介质上执行的图像形成操作的处理控制中重要的成像参数进行设置的改进的方法和设备。还需要在图像参数设置处理中(特别是对测试图案的主观质量进行判断时)减少操作员的参与。
发明内容
简言之，根据本发明的一个方面，一种用于调节成像参数的方法包括操作记录头，以在记录介质上形成第一组图像特征，其中在成像参数被设置为第一预定值时形成第一组图像特征中的每个图像特征；操作记录头，以在记录介质上形成第二组图像特征，其中在成像参数被设置为与第一预定值不同的第二预定值时形成第二组图像特征中的每个图像特征；使第一组图像特征的图像特征与第二组图像特征的图像特征交织，以在记录介质上形成图像特征的交织图案；从在记录介质上形成的图像特征的交织图案生成数据；分析该数据，以确定表示图像特征的交织图案中的条带效应的量化值；以及至少根据量化值调节成像参数。在下面介绍的对优选实施例的详细描述中，本发明及其目的和优点将更加显而易见。
所附的非限制性附示本发明的实施例和应用。附图用于图示本发明的原理， 并且可能不按比例。图1是根据本发明示例性实施例的成像和诊断系统的示意性立体图；图2是示出根据本发明示例性实施例的方法的流程图；图3A示出根据本发明示例性实施例的包括在记录介质上形成的多个图像特征图案的校准图像；图;3B示出图3A中示出的图像特征图案之一的一部分的细部A-A ；图4示意性示出被用来在被根据本发明示例性实施例成像的记录介质上进行扫描的扫描器所生成的数据排列；图5是示出在本发明的示例性实施例中采用的快速傅里叶变换(FFT)算法的框图；图6示出基于扫描数据产生的频域图的示例，该扫描数据是从根据本发明示例性实施例形成的图像特征图案生成的；图7示出根据本发明示例性实施例的针对多个不同偏焦值中的每个确定的不同量化值的分布；以及图8示出根据本发明示例性实施例的针对多个辐射源功率水平中的每个确定的量化值的分布。
具体实施例在下面的描述中介绍了具体的细节，以有助于本领域技术人员更透彻地理解。然而，为了避免不必要地遮蔽本公开，可能不详细示出或者描述众所周知的部分。因此，描述和示图应当被看作是示例性的，而没有限制性意义。图1示意性示出根据本发明示例性实施例的成像和诊断系统100。成像和诊断系统100包括用于在记录介质17上形成图像19 (即利用虚线示意性示出)的记录设备10。 记录设备10可以形成不同图像19。在本发明的不同示例性实施例中，将形成不同校准图像，以确定特定成像参数的最佳设定点。在此，为了描述本发明的实施例，图像19被称为校准图像19 (不限制可以形成的可能图像的范围)。记录介质17可以包括具有适于在其上形成校准图像19的表面。记录设备10包括介质支承12，在该示例性实施例中，根据外鼓式构造来配置该介质支承。本发明的其它实施例可以包括例如根据内鼓式构造或者平台构造来配置的其它形式的介质支承。在该示例性实施例中，记录介质17被支承在介质支承12的柱面13上。记录介质 17的一个或者多个边缘部分被夹具观固定到柱面13。本发明的其它示例性实施例可以利用其它方法将记录介质17固定到介质支承12。例如，记录介质17的表面可以通过包括在表面之间设置低压源的多种方法固定到柱面13。介质支承12可移动地耦合到支承20。在该示例性实施例中，介质支承12可旋转地耦合到支承20。在该示例性实施例中，介质支承 12包括多个对准部件25。对准部件25被用来相对于介质支承12定位记录介质17。记录设备10包括可相对于介质支承12移动的记录头16。在本发明的该示例性实施例中，介质支承12适合于通过绕其转轴旋转来移动。在该示例性实施例中，记录头16 被安装在可移动托架18上。操作托架18，以使得沿与介质支承12的转轴对准的路径移动记录头16。运动系统22被用来在记录头16与介质支承12之间提供相对运动。运动系统 22 (可以包括一个或者多个运动系统)可以包括所需运动需要的任何适当驱动器。在本发明的该示例性实施例中，运动系统22被用来沿与主扫描轴MSA对准的路径移动介质支承 12，并且被用来沿与副扫描轴SSA对准的路径移动记录图16。导向系统32被用来引导在传动件33的作用下移动的托架18。在本发明的该示例性实施例中，传动件33包括精密螺旋机制。在一些示例性实施例中，移动多个记录头16，使得每个记录头16互相独立地移动。 在一些示例性实施例中，连续移动多个记录头16。本领域技术人员可明白，根据本发明，可以利用记录头16与介质支承12之间的各种相对运动方式。例如，在某些情况下，记录头16可以是静止的，而介质支承12移动。在其它情况下，介质支承12静止，而记录头16移动。在另外的情况下，记录头16和介质支承12都移动。记录头16和介质支承12之一或者二者沿相应路径往复运动。还可以利用单独的运动系统来操作记录设备10内的不同系统。在该示例性实施例中，记录头16包括比如激光器的辐射源(未示出)。选择辐射波长，以适合正被成像的记录介质17的类型，并且该辐射波长可以包括例如红外光谱波长、可见光谱波长和紫外光谱波长。在不同示例性实施例中，记录设备10包括多个独立寻址记录通道23，每个记录通道23都可以被控制，以在记录介质17上形成不同图像部分。多个记录通道23可被布置成包括一维或者二维阵列构造的不同构造。在该示例性实施例中，可以控制记录头16，以在记录介质17上进行扫描的同时发出不同辐射束21，从而形成校准图像19。根据明确要写的图像的图像数据37，可以用 image-wise调制辐射束。在该示例性实施例中，只要期望形成校准图像19的成像部分，就适当地驱动一个或多个记录通道23，以产生具有有效强度水平的辐射束21。驱动与成像部分不对应的记录通道23，以不对相应区域成像。记录通道23中的每个都是可控制的，以根据图像数据37提供的信息在记录介质17上形成通常被称为像素或者像点的图像单元。不同像素可以与其它像素组合，以形成校准图像19的不同特征。在本发明的不同示例性实施例中，像素可被布置成包括例如半色调图案、随机图案和混合图案的多种像素图案。可以利用不同方法，在记录介质17上形成校准图像19。例如，记录介质17可以包括可修改表面，其中当被辐射束21照射时，可修改表面的属性或者特性发生变化。辐射束 21可被用于剥离记录介质17的表面，以形成校准图像19。辐射束21可被用来协助将图像形成材料转印到记录介质17的表面上，以形成校准图像19 (例如，热转印处理)。辐射束 21可以经过从辐射源到记录介质17的直接路径，也可以被一个或者多个光学元件偏转向记录介质17。在许多情况下，在单个印记操作期间记录通道23的数量不足以完整形成校准图像19。因此，校准图像19可以通过将多幅子图像合并在一起来形成，每个子图像在对应印记操作期间形成。可以以不同方式形成子图像。例如，校准图像19可以由多个被称为“单幅”(shot)的印记形成。在每个单幅期间，相对于记录介质17的区域定位记录头16。被定位之后，记录通道23就被激活，以在记录介质17的该区域上形成像素排列。形成了像素排列之后，就执行记录通道23与记录介质17之间的相对运动，以将记录通道23定位在相邻区域的附近，并且进行另一单幅来形成下一个像素排列。还可以通过扫描形成不同子图像。在本发明的一些示例性实施例中，通过使记录通道23发出的辐射束相对于记录介质17偏转，来进行扫描。在一些示例性实施例中，扫描可以包括在记录通道23被激活时在记录通道23与记录介质17之间建立相对运动，以形成相应像素。在这些示例性实施例中，随着在给定记录通道23与记录介质17之间建立相对运动，给定记录通道23沿扫描方向形成像素列。相对运动可以包括使记录通道23和记录介质17之一或者这二者运动。被扫描的像素列中的每列组合起来形成通常称为图带 (image swath)的子图像。可以利用不同的扫描技术形成图带。例如，可以利用“圆形”扫描技术形成“环形” 或者“圆形”图带。在控制器30使记录头16发出辐射束21时，并且使记录头16沿副扫描轴SSA保持在第一位置时和使介质支承12沿主扫描轴MSA移动时，形成圆形图带。这样， 仅沿主扫描方向进行扫描。完成第一圆形图带后，使记录头16沿副扫描轴SSA移动到第二位置。然后，在操作记录头16发出辐射束21时，并且使记录头16保持在第二位置和使介质支承12沿主扫描轴MSA的方向移动时，形成第二圆形图带。可以采用螺旋扫描技术来在记录介质17的表面上形成以螺线或者螺旋方式形成的螺旋图带。例如，当控制器30使记录头16发出辐射束时，且同时使记录头16沿副扫描轴SSA的方向移动和使介质支承12沿主扫描轴MSA的方向移动时，形成螺旋图带。这样， 沿主扫描方向和副扫描方向均进行扫描，并且每个螺旋图带均包括相对于主扫描轴MSA倾斜的取向。请注意，与螺旋扫描技术类似的其它形式的倾斜扫描技术也可以用于本发明的不同实施例。倾斜扫描技术不需要局限于外鼓式构造，但是可以与其它构造的记录设备一起使用。例如，在某些内鼓式记录设备中，在向被沿介质支承的中轴定位的光偏转器照射辐射束时，介质位于介质支承的凹面上。光偏转器在沿中轴移动的同时旋转，从而使辐射束在记录介质的表面上按照螺旋路径。平台记录装置可以包括记录通道与记录介质之间的联动， 从而形成具有特别期望的取向的多个图带。在某些情况下，记录通道23发出的辐射束21具有有限焦深，因此，需要周期性地或者实时进行焦距调节。在这种系统中，任何显著偏移都可能使辐射束21偏焦，并且对期望的图像质量产生不利影响。该影响可能相当显著，并且对于几微米数量级的偏移而言并不稀奇，从而显著降低成像性能。记录设备10可以装备焦距调节机构，在本发明的一些示例性实施例中，它可以进行简单的焦距调节。在其它示例性实施例中，焦距调节机构可以包括连续进行调节从而使焦距保持在期望的范围内的伺服焦距控制器。焦距调节机构的例子包含在共同受让的第6，137，580号美国专利中，该美国专利的整体内容通过引用合并于此。在该示例性实施例中，采用自动聚焦系统35。自动聚焦系统35包括二次激光源36， 用于在表面上产生入射光束(未示出)；以及位置灵敏检测器38，用于接收反射光束并且检测该表面的位置。二次激光源36可以与在产生辐射束21中使用的一次激光源具有不同的波长。其优点是将自动聚焦信号与写信号分离，从而避免串扰。位置灵敏检测器38可以包括光电检测器、CCD检测器或者任何其它适于检测反射光束的位置的检测器。成像和诊断系统100还包括扫描图像传感器，在该示例性实施例中，其包括扫描器40。通常采用多种图像拍摄传感器的扫描图像传感器被用于扫描图像，并产生表示所扫描的一部分图像的数据。当今的扫描器通常采用电荷耦合器件(CCD)或者接触式图像传感器(CIS)作为图像拍摄传感器。典型的CCD型扫描器至少有一行光电元件用于检测要扫描的图像的预定数量的采样的光强。扫描器的扫描分辨率通常以随不同扫描器而异的每英寸的点数(DPI)来测量。在许多平台扫描器中，该分辨率由一行传感器的传感器的数量(即，通常称为X方向扫描速率)和阵列的沿扫描器的扫描方向的采样速率(即， 通常称为Y方向扫描速率)来确定。例如，如果能够扫描信件大小的实体的扫描器的分辨率为300DPIX300DPI，则该扫描器通常会采用至少由2550个传感器构成的一行(即， 300DPI X 8. 5英寸)，并且会采用适于以l/300th英寸的增量输送传感器阵列的驱动器(即， 采样空间周期)，以产生每英寸300个周期的采样空间频率。在该示例性实施例中，扫描器 40包括沿X方向排列的传感器阵列42。传感器阵列42适合于在沿Y方向的扫描操作期间产生数据47。在不同示例性实施例中，数据47是灰阶数据。为了清楚起见，传感器阵列42 中示意性示出数量有限的传感器元件，其示出的数量并不表示扫描器40的扫描分辨率。
作为非限制性示例，在本发明的一些示例性实施例中，扫描器40是独立装置，而在其它实施例中，扫描器40被包括在成像和诊断系统100内的某个其它子系统(比如记录设备10)中。在本发明的一些示例性实施例中，扫描器40是可以形成经济诊断工具的基座的平台扫描器。尽管可以采用其它图像获取和测量装置，但是在一些示例性实施例中，扫描器通常是优选的，因为其精确的对准、一致的几何比例、照明均勻性和大量并行数据的获取能力。在扫描图像包括颜色属性的示例性实施例中，扫描器40可以包括多个扫描器阵列 42，具有与每个扫描器阵列42相连的特定滤色片。在通常应用中，可以采用红、绿和蓝滤色片。成像和诊断系统100包括控制器30，控制器30可以包括一个或者多个控制器个体。控制器30可以用于控制记录设备10的一个或者多个系统，包括但并不局限于包括介质支承12和托架18使用的不同运动系统22。控制器30还可以控制介质支配机构，该介质支配机构可以分别启动将介质17装载到介质支承12上或者从介质支承12上卸载介质 17。控制器30还可以将图像数据37提供给记录通道23，并且控制记录通道23根据该数据形成图像像素。如图1中所示，扫描器40产生的扫描数据47被提供给控制器30。根据本发明的不同示例性实施例，控制器30可操作来分析扫描数据47。利用不同控制信号或者通过执行不同方法，可以控制不同系统。控制器30可被编程，并且可以被配置为运行适当软件，并且可以包括一个或者多个数据处理器以及适当硬件，作为非限制性示例，这些适当硬件包括可存取存储器、逻辑电路、驱动器、放大器、A/D和D/A转换器、输入/输出端口等。 控制器30可以包括但并不局限于包括微处理器、芯片上计算机、计算机的CPU或者任何其它适当的微控制器。控制器30可以包括多个不同的逻辑单元，每个逻辑单元专用于执行特定任务。图2示出根据本发明示例性实施例的方法200的流程图。尽管方法200参照了使用成像和诊断系统100，但是应当明白，这仅是出于示例目的，并不排除使用其它适当系统。 在步骤210，记录介质17被适当地安装在介质支承12上，并且在记录介质17上形成校准图像19。校准图像19可以包括与要进行最佳设置的特定成像参数相关的许多成像区域。成像区域可以包括适于设定特定成像参数的图像特征图案。在一些示例性实施例中，校准图像19可以包括多个成像区域，其中至少一个成像区域对应于与其它成像区域不同的成像参数。在一些示例性实施例中，校准图像19可以包括多个成像区域，其中响应于成像处理的特定参数的变化来形成每个成像区域。在一些示例性实施例中，响应于成像处理的所选参数的变化来形成每个图像成像区域，同时成像处理的一个或者多个其它成像参数保持不变。作为非限制性示例，所选择的成像参数可以是如下之一与记录头16相连的辐射源的功率、记录通道23的强度、介质支承12的速度、与辐射束21的聚焦有关的参数或者对记录设备10形成图像有影响的许多参数中的任意一个参数。图3A示出根据本发明示例性实施例的包括在记录介质17上形成的多个图像特征图案50的校准图像19。为了清楚起见，所示的记录介质17处于不缠绕或者“平”的取向。 在该示例性实施例中，通过在记录介质17上扫描辐射束21，形成每个图像特征图案50。为了建立图像形成扫描的参考帧，还示出了主扫描轴MSA和副扫描轴SSA。在该示例性实施例中，根据扫描器40的尺寸限制，适当地确定记录介质17和其相关校准图像19的尺寸。基于多种因素确定所形成的图像特征图案50的数量。特别地，根据对图案的后续(即，下面要描述的)分析来选择图像特征图案50的总数量，以确定最佳成像参数值。本发明人已经确定，为了有效查看与所选成像参数的变化相关的性能趋势，通常需要至少10个图像特征图案50。本发明人还确定，如果每个图像特征图案50包括含有记录介质17的大部分主扫描尺寸的主扫描尺寸，就可以获得良好结果。在大部分记录介质17上成像使得图像图案的后续分析中的错误减少。每个图像特征图案50都可以包括不同图像像素图案。特别地，本发明人确定， 2X2棋盘图像像素图案对于成像变化非常敏感，从而可以使该变化在记录介质17上显著显露。在本发明的其它示例性实施例中，每个图像特征图案50都可以包括线、特征、立体或者其它实体的多种图案。在不同示例性实施例中，每个图像特征图案50都可以包括根据正研究的特定成像参数选择的图像像素的特定图案。在所示的该实施例中，每个图像特征图案50都被排列成直线阵列。在其它示例性实施例中，多个图像特征图案50可以被排列成其它排列，例如包括多种二维规则排列或者不规则排列。不同图像特征图案50中的每个都根据正研究的特定成像参数的不同预定值来形成。在该示例性实施例中，图像特征图案50中的每个分别对应于焦距成像参数的变化。在许多情况下，记录设备10的成像性能与焦距非常有关，并且通常在校准其它成像参数之前最好首先保证该设备被最佳聚焦。在该特定示例性实施例中，在使记录头16内的辐射源保持在适于对记录介质17成像的通常辐射水平，并且对于每个图像特征图案50使焦距参数变化预定量时，形成每个图像特征图案50。在该示例性实施例中，自动聚焦系统35提供不同的焦距值。在该示例性实施例中，每组图像特征图案50中的每个对应于选自相对于所选0焦距值的-9ym至+9μπι范围内的全部偏焦值之一。可以以多种方式选择0焦距值。例如， 在记录头16的给定焦点范围内任意选择0值，也可以选择先前识别的值。在该示例性实施例中，全部焦距值中的每个以2ym的梯度大小变化，本发明人发现这在确定最佳焦距时提供足够的间隔尺寸。应当明白，这些值实际上是示例性的，本发明的其它示例性实施例容易采用其它适当值。在该示例性实施例中，每个图像特征图案50都由多组图像特征构成，其中根据不同预定焦距值形成每组中的每个图像特征。在该示例性实施例中，每个不同预定焦距值被选择为使得焦距值的平均值等于针对这些图像特征组所属的对应图像特征图案50而选择的特定偏焦值。例如，如图3Β中的细部视图A-A所示，对应于-9 μ m的总偏焦值的图像特征图案50 ( S卩，图像特征图案50A)由根据-15 μ m的第一焦距值(S卩，由焦距值#1表示) 形成的第一组图像特征60A和根据-3 μ m的第二焦距值(S卩，由焦距值#2表示)形成的第二组图像特征60B形成。在该示例性实施例中，第一和第二焦距值互相不同，并且特别地， 该第一和第二焦距值被选择为使得二者的平均值等于第三预定值，在本情况下该第三预定值是-9ym的目标偏焦值。请注意，其它图像特征图案50也以类似的方式形成。例如，对应于+7 μ m的总偏焦值的图像特征图案50由根据+1 μ m的第一焦距值形成的第一组图像特征和根据+13 μ m的第二焦距值形成的第二组图像特征形成(即，第一和第二值的平均值等于+7 μ m)。在该示例性实施例中，12 μ m的间距(spread)将对应于每个图像特征图案50 的第一和第二焦距值中的每个分离开。尽管本发明人已经发现对于2400DPI量级的成像分辨率，12 μ m的间距的效果良好，但是在本发明的其它示例性实施例中，可以采用其它适当
12值。例如，本发明人已经发现，对于1200DPI的成像分辨率，第一与第二焦距值之间的48 μ m 的间距的效果特别良好。在该示例性实施例中，每个图像特征图案50中的第一组和第二组图像特征中每组的图像特征由2X2棋盘式图像像素图案构成。用于确定特定成像参数的设定点的许多传统方法都试图直接量化或者限定多幅测试图像中每幅的光密度，其中每幅测试图像都是根据成像参数的特定值形成的。然而，在许多情况下，测试图像之间的光密度仅有微小差别，因此，这限制了这些传统直接测量技术的效果。本发明减轻了与直接测量对应于给定成像参数目标值的光密度相关的限制。在本发明的不同示例性实施例中，每个图像特征图案50都包括多个不同的图像特征，其中每个图像特征都是根据界定成像参数的目标值的一组不同成像参数值中的成员形成的。不直接测量对应于成像参数的目标值的光密度，而是确定对应于给定图像特征图案50的多个图像特征中每个的光密度之差来提供相对测量值。如果目标值对应于成像参数的最佳设定点，并且每个有界参数值被最佳设定点均等地隔开，那么，对应于每个有界参数值的测量到的光密度之间几乎没有差别。如果目标值变得偏离该最佳设定点，则对应于有界参数值的测量到的光密度之间的差别将增大。这些密度差将产生被称为“条带效应(banding)”的成像赝象。条带效应是常见图像赝象，它通常表现为相邻子图像(例如，相邻图带)之间的结合点的密度变化。在许多情况下，这些条带效应赝象以与子图像的空间间隔相关的周期重复。为了确定正被分析的给定成像参数的最佳设定点，本发明有意在每个图像特征图案50 内引发条带效应类型的赝象。在该示例性实施例中，每个图像特征图案50根据第一和第二预定参数值的不同组合来形成。分别将第一组和第二组预定参数值选择为使得每个图像特征图案50中的第一组和第二组图像特征之间的光密度差与其它图像特征图案50中的第一组和第二组图像特征之间的光密度差不同。因此，不同程度的条带效应将与图像特征图案 50中的不同图像特征图案相关。如图:3B所示，以图像特征互相交织的方式，在记录介质上形成第一组图像特征 60A和第二组图像特征60B。这样，对应于这些交织图像特征的图像特征图案50被称为图像特征的交织图案。由于第一组图像特征60A和第二组图像特征60B分别根据不同的焦距值形成，所以利用交织图像特征之间的光密度差，产生有界图案。在该示例性实施例中，第一组图像特征60A的每个图像特征与第二组图像特征60B中的多个图像特征相邻布置。在不同示例性实施例中，与第二组图像特征60B分离地形成第一组图像特征60A。例如，在对记录介质17第一成像时(例如，在第一扫描期间)，形成第一组图像特征60A的两个图像特征，而在对记录介质17第二成像时(例如，在第二扫描期间)，在两个图像特征之间可以形成第二组图像特征60B的图像特征。在本发明的其它示例性实施例中，可以与第二组图像特征60B中的图像特征同时形成第一组图像特征60A中的图像特征。通过成像参数值(即， 在这种情况下是焦距值)可以根据要形成的特定图像特征变化，可以激励形成第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中的每个中的图像特征的方式。在本发明的不同示例性实施例中，在频域中分析每个图像特征图案50的条带效应的程度。共同受让的授予Karasyuk等人的第2009/0066796号美国专利公开描述了在频域中分析多个测试图案，该美国专利公开的整体内容通过引用合并于此。与在频域中分析对应于特定频率的元素相关的特别难题在于结果对正分析的数据中的噪声敏感。在该示例性实施例中，在记录介质17上，第一组图像特征60A和第二组图像特征 60B均被形成为图像特征的规则图案。在所示的实施例中，第一组图像特征60A中的每个图像特征和第二组图像特征中的每个图像特征沿副扫描方向重复，对于MOODPI图像像素分辨率，其空间频率为每1 个像素1个周期，它还可以被表示为每英寸18. 75个周期。在该示例性实施例中，选择第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的空间频率，以减小可能使未来在频域内的分析复杂化的外来周期噪声因素。一个潜在噪声源是形成图像特征的图带。如上所述，在相邻图带之间的结合点可能产生规则条带效应图案。 如果第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个都具有副扫描空间频率，该副扫描空间频率是图带的副扫描空间频率的谐波，则在频域内进行后续分析时产生谐波干扰。在该示例性实施例中，操作记录头16，以形成多个图带，其每个图带的副扫描尺寸等于2M像素，因此，对于MOO图像像素分辨率，与图带相关的任何界定都将对应于每224像素1个周期或者每英寸10. 71个周期。在该示例性实施例中，所选择的第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的副扫描空间频率等于图带的副扫描空间频率的非整数倍。在该示例性实施例中，所选择的第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的副扫描空间频率不是图带的副扫描空间频率的谐波。在本发明的其它示例性实施例中，所选择的图带的副扫描空间频率等于第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的副扫描空间频率的非整数倍。在其它示例性实施例中，可以选择图带的副扫描空间频率不是第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的副扫描空间频率的谐波。利用比如每个图带的副扫描尺寸等多种因数，激励将第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的副扫描空间频率选择为等于图带的副扫描空间频率的非整数倍数或者非整数因数的这样的选择。在该示例性实施例中，第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的每个图像特征都包括等于对应于图像特征的相邻排列的64个像素的副扫描尺寸。在该示例性实施例中，图3A所示的每个其它图像特征图案50也是具有类似空间特性的交织图像特征图案。在步骤220，调节记录介质17的成像区域和未成像区域之间的对比度。例如，可以利用多种化学处理步骤消除记录介质17上的图像可修改表面上的不希望区域，以调节对比度。通过在热转印处理中将施主部分与接收部分分离，来调节对比度。可以利用调节记录介质17的成像区域与未成像区域之间的对比度来增强第一组图像特征60A与第二组图像特征60B之间的光密度差。请注意，方框220的轮廓线是虚线，以将它表示为是可选的，这是因为不一定在所有记录介质都需要调节对比度。例如，某些记录介质17以剥离 (ablative)方式工作，在剥离方式中，成像处理去除不希望的区域。在这种情况下，尽管同步实现成像和对比度增强，但是通常需要设置残渣收集系统，以吸取从记录介质17上下来的剥离材料。在步骤230，由成像记录介质17产生数据。在本发明的该示例性实施例中，采用扫描器40产生数据。正如图4示意性示出的，采用扫描器40在成像记录介质17上通常沿扫描方向(即，Y方向)进行扫描。在该示例性实施例中，成像记录介质17被定位在扫描器40内，以使形成校准图像19时采用的副扫描方向与Y方向对准。在该特定示例性实施例中，每个图像特征图案50都包括沿第一方向延伸的细长图像特征，并且操作扫描器40，以在成像记录介质17上沿基本上以正交方式与第一方向交叉的第二方向(即，Y方向)扫描。扫描器40可以包括或者可以被修改为包括有助于沿所需方向扫描成像记录介质17的多种引导机构。在该示例性实施例中，扫描器40产生数据47的二维QD)矩阵45。特别地，数据47被布置成以总数为M的多个数据列46和总数为N的多个数据行48的方式。在该示例性实施例中，每个数据行48分别对应于扫描方向(即，Y方向)，而每个数据列46分别对应于扫描器40中的传感器阵列42的排列方向(即，X方向)。应当明白，为了清楚起见，限制了图4中示出的矩阵45中表示数据47的小格的数量。形成矩阵45的小格的数量与扫描器40沿X方向和Y方向的扫描分辨率相关。扫描器40沿扫描方向的采样速率(即，Y方向扫描速率)对在频域内对数据47所做的后续分析有显著影响。在一个示例性实施例中，希望第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的空间频率完全由扫描器采样空间频率的整数倍表示。在该示例性实施例中，将第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率选择为等于图带的副扫描空间频率的非整数倍。此外，将第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率选择为使得扫描器40扫描时采用的采样空间频率等于第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率的整数倍。在该特定示例性实施例中，对于MOODPI图像像素分辨率，第一组图像特征 60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率是每1 个像素1个周期或者每英寸18. 75个周期。扫描器40沿Y扫描方向的扫描分辨率是300DPI，这样保证沿扫描方向的采样空间频率为每英寸300个周期。因此，沿扫描器40的扫描方向的采样空间频率是第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率的 16倍。这意味着，扫描器40的每16个采样对应于第一组图像特征60A和第二组图像特征 60B中每个的图像特征的1个完整周期。频域内的数据47是有限数据，因此，被分离为频率窗口(frequency bin)。如果特定目标频率完全适合频率窗口，则它产生最大振幅。如果该目标频率未被调整，则导致振幅强度发生偏差。此外，当周期信号被中途切断时，在该频谱内产生噪声。此外，优选地，正在分析的频率适合是每个数据行48中的数据的整数倍。在本发明的一些示例性实施例中，操作扫描器40，以致扫描器40的每个传感器元件都采集第一整数数量的采样，同时扫描图像特征图案50的整个宽度。第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的扫描分辨率和空间频率之一或者二者发生变化，从而导致第一整数和扫描器40的采样空间周期的乘积等于第二整数和第一组图像特征60A和第二组图像特征60B的副扫描空间周期(即，副扫描空间频率的倒数)的乘积。例如，在上面描述的实施例中，第一组图像特征 60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率是每1 像素1个周期或者每英寸18. 75个周期。因此，第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个都具有 0. 0533英寸的副扫描空间周期。如果扫描器40沿Y扫描方向的扫描分辨率从300DPI变更为200DPI，则扫描器的采样空间频率不再等于第一组图像特征60A和第二组图像特征60B 中每个的图像特征的副扫描空间频率的整数倍。然而，可以完成在频域内对数据47的适当后续分析，因为第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的每3个副扫描空间周期(即，0. 0533英寸)等于扫描器40采用的32个采样空间周期(S卩，0. 005英寸)。在这些示例性实施例中，扫描器40在扫描时采用的采样空间频率的第一整数倍等于第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率的第二整数倍。在这种情况下，“值的整数倍”可以包括等于或者大于值的数值的整数倍。在本发明的不同实施例中，图像特征的副扫描空间频率、图带的副扫描空间频率以及所采用的扫描器40的采样空间频率中的一些或者全部发生变化。在一些特定示例性实施例中，这些变化的实体可以被控制，以使第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率等于图带的副扫描空间频率的非整数倍数或者非整数因数，而扫描器40扫描时采用的采样空间频率的第一整数倍等于第一组图像特征60A和第二组图像特征60B中每个的图像特征的副扫描空间频率的第二整数倍。在步骤MO，分析扫描图像47。在该示例性实施例中，在频域内分析表示图像特征图案50的数据47的排列。在该示例性实施例中，利用快速傅里叶变换(FFT)算法分析数据47。本发明的其它示例性实施例可以采用其它适当算法在频域内分析数据47。在该示例性实施例中，控制器30等可以执行该分析。图5示出本发明的示例性实施例采用的快速傅里叶变换(FFT)算法的框图。在步骤310，选择在对应于所选一个图像特征图案50的矩阵45的一部分上包括数据47的数据排列。在步骤320，对矩阵45的一部分上的数据行48和数据列46上的所有数据47计算平方和，以确定表示图像特征图案50中所选之一的总密度值的数值。在步骤330，对矩阵45的一部分上的每个数据行48，计算FFT。在该示例性实施例中，每个FFT含有M个复数，其中每个复数分别表示与相应数据行48相关的空间谱内的复数傅里叶变换振幅。在该示例性实施例中，相等数量的复数将与每个数据行48相关，并且相应复数与位于给定数据列46上的数据47相关联。在步骤340，由每个复数的每个实数分量和虚数分量获得的量值被平方。对针对每个数据行48计算的每个FFT执行步骤340。在步骤350，对由数据行48和相应给定数据列46获得的所有平方量值求和，以提供一行平方和量值。在步骤360，对在步骤350确定的平方和量值与在步骤320计算的数值进行归一化，以提供一行最终值，用于表示对应于所选图像特征图案50的矩阵45的一部分的频域。对对应于图像特征图案50中的给定之一的矩阵45的每个部分，重复FFT算法 300。因此，在频域内分析矩阵45的每个部分，以提供表示根据特定成像参数(即，在这种情况下是焦距值)形成的相应图像特征图案50中的交织图像特征中的光密度的差产生的条带效应。这样，每个量化值都是由多个图像特征图案50确定的一组量化值中的成员。图6示出对应于-3微米偏焦值的图像特征图案的频域内曲线的例子。图6中的曲线示出主导峰值70，它与对应于-3偏焦值的图像特征图案50上的条带效应的强度相关联。条带效应的强度由量化值表示，在这种情况下，其FFT量值比例接近5. 5。应当注意， 图6所示曲线中存在非常小的噪声。可以利用适当选择每个图像特征图案50的第一组和第二组中每个的图像特征的副扫描空间频率、图带的副扫描空间频率以及扫描器40采用的采样空间频率中的一个或者多个，来降低频域内的类似曲线图中的噪声水平。在一些示例性实施例中，在对应于每个图像特征图案50的第一组和第二种中每个的图像特征的副扫描空间频率的频率值，在频域内分析数据47。在其它示例性实施例中，在对应于每个图像特征图案50的第一组和第二种中每个的图像特征的副扫描空间频率的谐波的频率值，在频域内分析数据47。在方法200的步骤250，至少部分地根据在步骤240获得的量化值，调节成像参数。 图7示出根据本发明示例性实施例对多个不同偏焦值中的每个确定的各种量化值的分布。 所示的每个量化值都与相应图像参数值相关，在这种情况，相应图像参数值是总焦距值。每个参数值分别等于用于形成对应于每个图像特征图案50的图像特征的不同交织组的多个参数值的平均值。图7中的曲线图示出各量化值和线“FIT”，该线“FIT”是绘出了量化值的数学曲线。在该示例性实施例中，所应用的曲线“FIT”是二阶多项式。本发明人还使用了其它有关关系，包括六阶多项式，但是还发现，对于特定情况，通常不需要这些关系。量化值的分布和曲线“FIT”示出随着偏焦从+9微米的值增大或者减小，条带效应强度逐步升高。因此，+9微米的偏焦值对应于聚集成像参数的最佳设定点。图7的曲线图表明对应于用于表示+9微米偏焦值的每个有界参数值的所测光密度之间几乎没有差别。 在本发明的该示例性实施例中，对于后续成像，与记录设备10相关的聚集参数被设置为+9 微米。在本发明的不同示例性实施例中，可以根据在所确定的量化值的分布中识别出的最小值，来调节成像参数。在本发明的其它示例性实施例中，可以根据适合量化值的整个分布的数学曲线上的转折点，来调节成像参数。请注意，图7的曲线图中的“FIT”曲线在+9微米的偏焦值下降到0以下。这是仅适合练习而不是在频域内产生的实际量化值的结果。图7中的曲线图还示出了从-3微米到+23微米的偏焦分布，而图3A所示的图像特征图案50对应于-9微米到+9微米的范围。 如果绘制由对图3A的图像特征图案50所做的分析确定的量化值的曲线图，则操作员可能不能主动确定最佳焦距值，因为所有值的量值通常都下降。因此，图7的曲线图对应于被形成为具有其偏焦分布相对于图3A所示的正向偏移的图像特征图案50的对另一记录介质17 的二次成像。根据本发明，可以调节其它成像参数。图8示出对于与记录头16内的辐射源的功率有关的成像参数，在频域内确定的量化值的曲线图。在该示例性实施例中，利用许多图像特征图案，再一次对记录介质17成像，每个图像特征图案分别对应于特定功率值。通过使图像特征的第一图案中的图像特征与图像特征的第二图案中的图像特征交织，形成每个图像特征图案。根据其平均值等于相应图像特征图案中表示的特定功率水平的不同功率值， 形成第一图案和第二图案中每个的图像特征。在不同示例性实施例中，有界功率水平之间的间距和/或者每个图像特征图案表示的功率水平之间的间距可以与要成像的特定记录介质17相关联。在一个示例性实施例中，采用每个图像特征图案表示的功率水平之间相对于图像特征图案中的第一图像特征图案的总功率水平处于6%量级的间距，获得了良好结果。例如，第一图像特征图案可以对应于4. 250W。4. 250W的6%是0. 255W，因此，序列图像特征图案对应于下面的序列功率水平4. 250W、4. 505W、4. 760W、5. 015W等。在这种情况下，对应于特定图像特征图案的功率水平表示的有界功率水平之间的间距还被选择为+/-0. 255W。因此，对应于4. 250W功率水平的图像特征图案包括在3. 995W形成的第一组交织图像特征和在4. 505W形成的第二组交织图像特征。同样，对应于4. 505W功率水平的图像特征图案包括在4. 250W形成的第一组交织图像特征和在4. 760W形成的第二组交织图像特征。
17
图8的曲线图示出基于对记录介质17上形成的图像特征图案进行扫描而产生的数据、在频域内确定的许多量化值。图8的曲线图示出在欠曝光功率下条带效应强度高，如头几个数据点所示。图8的曲线图还示出因为曝光程度随着功率的升高而升高，所以条带效应强度降低然后平稳。在该示例性实施例中，通过产生经过所绘制的量化值的“平稳”区域的最适合第一线72和经过对应于该曲线图的欠曝光区域的量化值的最适合第二线74， 确定功率成像参数的设定点。第一线72与第二线74的交叉点76表示记录介质17的最低曝光点。由此，可以利用乘法器实现功率设定点。在对应于图8的曲线图的示例性实施例中，在介质支承12以常规转速旋转时，产生每个图像特征图案。由于记录介质17的曝光与该转速有关，所以如果在未来需要不同成像条件(该条件可能需要改变该速度)，则可能需要重新计算所确定的功率设定点。部件清单10 记录设备12 介质支承13 柱面16 记录头17 记录介质18:托架19 校准图像20 支承21 辐射束22 运动系统23 记录通道25 对准部件28 夹具30 控制器32:导向系统33 传动件35:自动聚焦系统36 二次激光源37:图像数据38 位置灵敏检测器40 扫描器42 传感器阵列45 矩阵46 数据列47 数据48:数据行50:图像特征图案50A:图像特征图案
60A 第一组图像特征60B 第二组图像特征70 -MiM.72 最匹配第一线74 最匹配第二线76 交叉点100:成像和诊断系统200:方法210 在记录介质上形成校准图像220 调节成像区域与未成像区域之间的对比度230 从图像记录介质产生数据240 分析扫描数据以确定表示条带效应的量化值250 至少基于该量化值调节成像参数300 快速傅里叶变换(FFT)算法310 选择扫描数据矩阵中对应于图像特征图案之一的一部分320 计算矩阵部分中的数据的平方和330 对于矩阵部分中的每个数据行计算FFT340 对于每个FFT获得一系列量值350 计算每个量值的平方，并且计算对应于给定数据列的平方值的和360 对量值的平方和进行归一化MSA:主扫描轴SSA:副扫描轴X 方向Y 方向M 数量N 数量
权利要求
1.一种用于调节成像参数的方法，包括操作记录头，以在记录介质上形成第一组图像特征，其中在所述成像参数被设置为第一预定值时形成所述第一组图像特征中的每个图像特征；操作所述记录头，以在所述记录介质上形成第二组图像特征，其中在所述成像参数被设置为不同于所述第一预定值的第二预定值时形成所述第二组图像特征中的每个图像特征；使所述第一组图像特征的图像特征与所述第二组图像特征的图像特征交织，以在所述记录介质上形成图像特征交织图案；从在所述记录介质上形成的所述图像特征交织图案生成数据； 分析所述数据，以确定表示所述图像特征交织图案中的条带效应的量化值；以及至少基于所述量化值调节所述成像参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述数据是灰阶数据。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述成像参数是所述记录头发出的辐射束的强度。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述成像参数是所述记录头发出的辐射束的焦距。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述成像参数是所述记录头中的辐射源的功率。
6.根据权利要求1所述的方法，包括在所述记录头在所述记录介质上的不同扫描期间，形成所述第一组图像特征和所述第二组图像特征中的每个。
7.根据权利要求1所述的方法，包括操作所述记录头，以在所述记录介质上同时形成所述第二组图像特征中的至少一个图像特征与所述第一组图像特征中的至少一个图像特征。
8.根据权利要求1所述的方法，包括将所述第一预定值和所述第二预定值选择为使得所述第一预定值和所述第二预定值的平均值等于第三预定值，其中所述方法还包括使所述量化值与所述第三预定值相关。
9.根据权利要求8所述的方法，包括至少基于所述第三预定值调节所述成像参数。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，分析所述数据以确定所述量化值包括在频域中分析所述数据。
11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述第一组图像特征和所述第二组图像特征中的每个均在所述记录介质上形成图像特征规则图案，并且所述方法包括在所述频域中、 在与每个所述图像特征规则图案中的图像特征的空间频率对应的频率值分析所述数据。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述量化值对应于所述频率值。
13.根据权利要求11所述的方法，其中，每个所述图像特征规则图案中的图像特征的空间频率是副扫描空间频率，并且所述方法包括操作所述记录头以在对所述记录介质成像时形成图带的规则图案，其中下列两者中的一方等于另一方的非整数倍所述图带的规则图案中的图带的副扫描空间频率；每个所述图像特征规则图案中的图像特征的副扫描空间频率。
14.根据权利要求10所述的方法，其中，所述第一组图像特征和所述第二组图像特征中的每个均在所述记录介质上形成图像特征规则图案，并且所述方法包括在所述频域中、在与每个所述图像特征规则图案中的图像特征的空间频率的谐波对应的频率值分析所述数据。
15.根据权利要求1所述的方法，其中，所述图像特征交织图案是在所述记录介质上形成的图像特征的多个交织图案之一，其中根据预定成像参数值的不同组合来形成每个所述图像特征交织图案，并且所述方法包括生成多个数据排列，每个数据排列均是从在所述记录介质上形成的不同的一个所述图像特征交织图案生成的；分析每个数据排列以确定量化值组合中的成员，其中所述量化值组合中的每个成员都表示对应的一个所述图像特征交织图案中的条带效应；以及至少基于所述量化值组合调节所述成像参数。
16.根据权利要求15所述的方法，包括至少基于从所述量化值组合确定的最小值，来调节所述成像参数。
17.根据权利要求15所述的方法，包括至少基于从所述量化值组合中的成员的分布获得的数学曲线上的转折点，来调节所述成像参数。
18.根据权利要求1所述的方法，包括提供扫描器，所述扫描器用于从在所述记录介质上形成的所述图像特征交织图案生成所述数据。
19.根据权利要求18所述的方法，其中，所述第一组图像特征中的每个图像特征和所述第二组图像特征中的每个图像特征均是沿第一方向延伸的细长图像特征，并且所述数据是通过操作所述扫描器在所述记录介质上沿与所述第一方向交叉的第二方向进行扫描来生成的。
20.根据权利要求1所述的方法，包括在从在所述记录介质上形成的所述图像特征交织图案生成所述数据之前，调节所述记录介质的成像区域与所述记录介质的未成像区域之间的对比度。
21.一种用于调节成像参数的方法，包括操作记录头，以在记录介质上形成多个图像特征图案，每个所述图像特征图案都包括在所述成像参数被设置为第一预定值时形成的第一组图像特征和在所述成像参数被设置为不同于所述第一预定值的第二预定值时形成的第二组图像特征；将针对每个所述图像特征图案的所述第一预定值和所述第二预定值中的每个选择为使得每个所述图像特征图案中的第一组图像特征与第二组图像特征之间的光密度差均不同于其它所述图像特征图案中的第一组图像特征与第二组图像特征之间的光密度差；生成多个数据排列，每个所述数据排列均是从在所述记录介质上形成的不同的一个所述图像特征图案生成的；确定每个数据排列的量化值，其中每个所述量化值均表示对应的一个所述图像特征图案中的第一组图像特征与第二组图像特征之间的光密度差；以及至少基于所述量化值调节所述成像参数。
22.根据权利要求21所述的方法，其中，在所述记录介质上将每个所述图像特征图案形成为使得来自每个所述第一组图像特征的图像特征与来自对应的一个所述第二组图像特征的图像特征交织。
23.根据权利要求22所述的方法，其中，所述成像参数是所述记录头发出的辐射束的强度。
24.根据权利要求22所述的方法，其中，所述成像参数是所述记录头发出的辐射束的焦距。
25.根据权利要求22所述的方法，其中，所述成像参数是所述记录头中的辐射源的功率。
26.根据权利要求22所述的方法，包括在频域中分析每个数据排列，以确定对应的一个所述量化值。
27.根据权利要求沈所述的方法，其中，每个所述图像特征图案中的所述第一组图像特征和所述第二组图像特征中的每个均在所述记录介质上形成图像特征规则图案，并且所述方法包括在所述频域中、在与每个所述图像特征规则图案中的图像特征的副扫描空间频率对应的频率值分析每个数据排列。
28.根据权利要求沈所述的方法，其中，每个所述图像特征图案中的所述第一组图像特征和所述第二组图像特征中的每个均在所述记录介质上形成图像特征规则图案，并且所述方法包括在所述频域中、在与每个所述图像特征规则图案中的图像特征的副扫描空间频率的谐波对应的频率值分析每个数据排列。
29.根据权利要求22所述的方法，其中，每个所述图像特征图案中的所述第一组图像特征和所述第二组图像特征中的每个均在所述记录介质上形成图像特征规则图案，并且所述方法包括操作所述记录头以在对所述记录介质成像时形成图带的规则图案，其中下列两者中的一方等于另一方的非整数倍所述图带的规则图案中的图带的副扫描空间频率；每个所述图像特征规则图案中的图像特征的副扫描空间频率。
30.根据权利要求21所述的方法，包括使每个量化值与如下成像参数值相关该成像参数等于在形成对应于该量化值的所述图像特征图案期间采用的所述第一预定值和所述第二预定值的平均值。
31.根据权利要求30所述的方法，其中，至少基于所述量化值调节所述成像参数包括 将所述成像参数的设定点调节到等于与最小量化值对应的成像参数值，所述最小量化值由与所述量化值匹配的数学曲线限定。
32.一种用于调节记录设备的成像参数的控制器，所述记录设备包括适合于接纳记录介质的介质支承和适合于发出辐射束以在所述记录介质上形成图像的记录头；其中所述控制器被配置为操作所述记录头，以在所述记录介质上形成多个图像特征图案，其中每个所述图像特征图案都包括在所述成像参数被设置为第一预定值时形成的第一组图像特征和在所述成像参数被设置为不同于所述第一预定值的第二预定值时形成的第二组图像特征，并且其中每个所述图像特征图案中的所述第一组图像特征中的图像特征与第二组图像特征中的图像特征交织；改变在形成每个所述图像特征图案期间采用的所述第一预定值和所述第二预定值中的每个，以使得每个所述图像特征图案中的第一组图像特征与第二组图像特征之间的光密度差均不同于其它所述图像特征图案中的第一组图像特征与第二组图像特征之间的光密度差；从扫描器接收多个数据排列，其中每个所述数据排列均是由所述扫描器在对所述记录介质上形成的不同的一个所述图像特征图案进行扫描时生成的；在频域中分析每个数据排列，以确定所分析的所述数据排列的量化值，其中每个所述量化值均表示对应的一个所述图像特征图案中的第一组图像特征与第二组图像特征之间的光密度差；以及至少基于所述量化值调节所述成像参数。
全文摘要
一种用于调节成像参数的方法包括操作记录头(16)，以在介质(17)上形成第一组图像特征(60A)。在所述成像参数被设置为第一预定值时形成所述第一组中的图像特征。所述记录头在所述介质上形成第二组图像特征(60B)。在所述成像参数被设置为不同于所述第一预定值的第二预定值时形成所述第二组中的特征。使所述第一组图像特征与所述第二组图像特征交织，以在所述介质上形成图像特征交织图案。从所述交织图案生成数据(47)，并对其进行分析以确定表示所述交织图案中的条带效应的量化值。基于所述量化值调节所述成像参数。
文档编号H04N1/00GK102474561SQ201080031777
公开日2012年5月23日 申请日期2010年7月12日 优先权日2009年7月15日
发明者肯尼斯·V·迪克, 迈克尔·K·杰克逊 申请人:伊斯曼柯达公司