专利名称：图像处理器及其控制方法
技术领域：
本发明涉及一种用于再现静止图像的图像处理器及其控制方法和存储介质，尤其涉及一种在合成多个静止图像时对缺陷像素进行校正的图像处理器及其控制方法和存储介质。
背景技术：
通常，用于拍摄、记录和再现静止图像的摄像设备装配有图像处理器，通过图像处理器，有时进行多个静止图像的合成。在合成多个静止图像时，必须对缺陷像素进行所谓的缺陷像素校正。例如，在一个曝光操作中，多次进行用于从摄像装置读出视频信号(图像信号)的操作，从而记录通过读取操作所获得的多个视频信号。此外，当使多个视频信号经过合成处理(例如，加法处理)以生成一个视频信号时，对这多个视频信号中的每一个都进行缺陷像素校正(例如，参考日本特开2001-3^850号公报)。然而，在日本特开2001-3^850号公报所述的方法中，尽管对各个视频信号都进行缺陷像素校正，但是没有表示将形成视频信号的图像数据中的一些判断为缺陷像素所要参考的水平。因此，例如，假定在各图像数据中存在该水平以下的微小缺陷像素，当通过加法处理累积这多个图像数据时，这导致缺陷像素数据的累积。结果，这将引起以下问题即使当对各个视频信号都进行缺陷像素校正时，有时也不可能防止图像质量下降。此外，已知随着诸如数字照相机等的摄像设备的像素数量的增大和感光度的增强，摄像装置、尤其CMOS图像传感器遭受由读出像素的晶体管所生成的RTS(随机电报信号)噪声，这导致在图像中生成白点噪声。这导致以下问题如果在生成这类RTS噪声的图像区域中合成多个静止图像，则在画面内生成大量白点噪声，这使得图像质量下降。
发明内容
本发明提供一种图像处理器、该图像处理器的控制方法和存储介质，其中，该图像处理器能够在合成多个静止图像时不使图像质量下降而进行缺陷像素的校正。本发明还提供一种图像处理器、该图像处理器的控制方法和存储介质，其中，即使在合成下面的多个静止图像时，该图像处理器也能够不使图像质量下降而进行缺陷像素的校正作为在每次拍摄都改变的不同位置中生成诸如RTS噪声等的噪声的摄像装置进行拍摄的结果，获得这多个静止图像。在本发明的第一方面，提供一种图像处理器，其处理作为摄像装置摄像的结果所获得的图像数据以形成已处理图像数据，所述图像处理器包括合成单元，用于合成多个所述图像数据以形成合成图像数据；第一比较单元，用于将第一基准值与由形成所述合成图像数据的各合成像素数据所表示的像素值进行比较，其中，所述第一基准值小于用于判断是否校正形成所述图像数据的各像素数据的第二基准值；以及第一校正单元，用于进行第一校正处理，在所述第一校正处理中，根据所述第一比较单元的比较结果校正所述合成图像数据的合成像素数据，从而形成所述已处理图像数据。在本发明的第二方面，提供一种图像处理器的控制方法，所述图像处理器处理作为摄像装置摄像的结果所获得的图像数据以形成已处理图像数据，所述控制方法包括以下步骤合成多个所述图像数据以形成合成图像数据；将第一基准值与由形成所述合成图像数据的各合成像素数据所表示的像素值进行比较，其中，所述第一基准值小于用于判断是否校正形成所述图像数据的各像素数据的第二基准值；以及进行第一校正处理，在所述第一校正处理中，根据所述比较的结果校正所述合成图像数据的合成像素数据，从而形成所述已处理图像数据。在本发明的第三方面，提供一种非暂时性计算机可读存储介质，其存储用于使设置在图像处理器中的计算机执行所述图像处理器的控制方法的计算机可执行程序，所述图像处理器处理作为摄像装置摄像的结果所获得的图像数据以形成已处理图像数据，其中， 所述控制方法包括以下步骤合成多个所述图像数据以形成合成图像数据；将第一基准值与由形成所述合成图像数据的各合成像素数据所表示的像素值进行比较，其中，所述第一基准值小于用于判断是否校正形成所述图像数据的各像素数据的第二基准值；以及进行第一校正处理，在所述第一校正处理中，根据所述比较的结果校正所述合成图像数据的合成像素数据，从而形成所述已处理图像数据。根据本发明，在用于合成多个静止图像的处理中，可以不使图像质量下降而进行缺陷像素的校正。此外，在合成作为在每次拍摄都改变的不同位置中生成诸如RTS噪声等的噪声的摄像装置进行拍摄的结果所获得的多个静止图像中，也可以不使图像质量下降而进行缺陷像素的校正。通过以下参考附图对典型实施例的说明，本发明的其它特征将显而易见。
图1是包括根据本发明第一实施例的图像处理器的摄像设备的框图。图2是图1中示出的摄像设备所执行的启动和拍摄处理的流程图。图3是在图2中所示的启动和拍摄处理中的静止图像拍摄模式拍摄处理的流程图。图4是图3中示出的静止图像拍摄模式拍摄处理中的拍摄处理的流程图。图5是包括根据第一实施例的图像处理器的图1中所示的摄像设备的DSP的框图。图6是图2中示出的启动和拍摄处理中的多重曝光拍摄模式拍摄处理的流程图。图7A 7D是用于说明在图6中示出的多重曝光拍摄模式拍摄处理中所执行的缺陷校正数据的重新选择和装载的图；其中，图7A示出静止图像拍摄中所使用的基准值，图 7B示出静止图像拍摄中的缺陷校正，图7C示出多重曝光拍摄中所使用的基准值，以及图7D 示出多重曝光拍摄中的缺陷校正。图8是包括根据本发明第三实施例的图像处理器的摄像设备中的DSP的框图。图9是用于说明从图8中的线存储器读取像素数据的例子的图。图10是由包括根据第三实施例的图像处理器的摄像设备所执行的拍摄处理的流程图。图11是由第三实施例中的摄像设备所执行的多重曝光拍摄模式拍摄处理的流程图。图12是用于说明从包括根据本发明第四实施例的图像处理器的摄像设备的如图 8所示的线存储器读取像素数据的图。图13是由包括根据本发明第五实施例的图像处理器的摄像设备所执行的启动和拍摄处理的流程图。图14是图13中所示的启动和拍摄处理中的合成模式拍摄处理的流程图。
具体实施例方式下面将参考示出本发明的实施例的附图详细说明本发明。图1是包括根据本发明第一实施例的图像处理器的摄像设备的框图。参考图1，所示摄像设备包括摄像装置101、AFE(模拟前端)102、D SP(数字信号处理器)103、时序发生器电路104和CPU105。在所示例子中，对于摄像装置101使用CMOS 传感器(固态摄像装置)。该CMOS传感器包含根据ISO感光度来切换增益的放大器电路 (未示出)。AFE 102包括将从摄像装置101输出的模拟图像信号(还称为视频信号)转换成数字图像信号的模拟-数字转换器(未示出)。此外，在所示例子中，AFE 102具有用于箝位暗偏置电平的功能。DSP 103对从AFE 102输出的数字图像信号(还称为图像数据)进行各种类型的校正处理、显像处理和压缩处理。此外，DSP 103进行用于访问诸如ROM(存储单元)106和 RAM 107等的各种存储器的处理。此外，DSP 103进行用于将图像数据(已处理图像数据) 写入记录介质108中的处理，并且进行用于在IXD (液晶显示器)114上显示各种数据的处理。注意，DSP 103还可以对记录在RAM 107中的图像数据进行各种类型的校正处理。DSP 103包括下述缺陷校正电路，其中，缺陷校正电路使用缺陷像素周围的周围像素的输出数据(即像素数据)来校正缺陷像素的输出数据(即缺陷像素数据)。也就是说， 利用周围像素数据校正缺陷像素数据。注意，ROM 106预先存储用于静止图像拍摄模式的缺陷校正数据，其中，在制造摄像设备或摄像装置101时准备该缺陷校正数据。时序发生器电路104在CPU 105的控制下，向摄像装置101、AFE 102和DSP 103提供时钟信号和控制信号。此外，时序发生器电路104与DSP 103协作，根据摄像装置(CMOS 传感器)101的各种读取模式生成定时信号。CPU 105控制DSP 103和时序发生器电路104，并且控制诸如测光和距离测量(测距)等的照相机功能。在所示例子中，电源开关109、第一级快门开关(SWl) 110、第二级快门开关(SW2) 111、模式拨盘112和ISO感光度设置开关113与CPU 105连接。CPU 105根据这些开关和拨盘的设置执行处理。ROM 106存储针对摄像设备的控制程序、即由CPU 105所执行的程序以及各种类型的校正数据(包括上述缺陷校正数据)等。例如，对于ROM 106使用闪存。
此外，使用RAM 107作为用于临时存储由DSP 103所处理的图像数据等的工作区。 注意，在拍摄时，将存储在ROM 106中的缺陷校正数据载入RAM 107中。此外，例如，对于存储所拍摄的图像数据的记录介质108使用存储卡。经由例如连接器(未示出)将记录介质108连接到DSP 103。当启动摄像设备时，由用户操作电源开关109。当打开快门开关110时，CPU 105 执行诸如测光处理和测距处理等的拍摄前处理。然后，当接通快门开关111时，在CPU 105 的控制下开始一系列的拍摄操作，其中，驱动镜和快门(两者均未示出)，并且经由AFE 102 和DSP 103将从摄像装置101输出的图像信号作为图像数据写入记录介质108中。模式拨盘112用于设置摄像设备的各种类型的操作模式。此外，ISO感光度设置开关113用于设置摄像设备的拍摄ISO感光度。在IXD 114上，显示与摄像设备有关的各种类型的信息。此外，在IXD 114上再现和显示作为拍摄结果的图像(在IXD114上还显示运动图像)。图2是由图1中示出的摄像设备所执行的启动和拍摄处理的流程图。参考图1和2，CPU 105监视是否接通了电源开关109(步骤S201)。如果未接通电源开关109(在步骤S201为电源关闭)，则CPU 105等待。如果接通了电源开关109 (在步骤S201为电源开启)，则CPU 105判断电池(未示出)中是否剩余有拍摄所需的电能(步骤 S202)。如果电池中未剩余拍摄所需的电能(步骤S202为“否”)，则CPU 105在IXD 114 上显示该意思的警告消息(步骤S211)，并且返回到步骤S201。另一方面，如果电池中剩余有拍摄所需的电能(步骤S202为“是”)，则CPU 105 检查记录介质108(步骤S203)。在该检查中，CPU 105判断安装在摄像设备上的记录介质 108是否能够记录不小于预定容量的量的图像数据。如果记录介质108不能记录不小于预定容量的量的图像数据(步骤S203为 “否”)，则CPU 105在IXD 114上显示该意思的警告消息(步骤S211)，并且返回到步骤 S201。如果记录介质108能够记录不小于预定容量的量的图像数据(步骤S203为 “是”)，则CPU 105判断通过模式拨盘112设置了静止图像拍摄模式和多重曝光拍摄模式中哪一拍摄模式(步骤S204)。如果设置了静止图像拍摄模式(步骤S204为“静止”)，则CPU 105将拍摄模式变换成静止图像拍摄模式。如果设置了多重曝光拍摄模式(步骤S204为“多重”)，则CPU 105 将拍摄模式变换成多重曝光拍摄模式。图3是图2中示出的启动和拍摄处理中的静止图像拍摄模式拍摄处理的流程图。参考图1和3，当将拍摄模式变换成静止图像拍摄模式时，CPU 105首先监视是否接通了快门开关110(步骤S301)。如果未接通快门开关110(步骤S301为“OFF”)，则CPU 105等待。另一方面，如果接通了快门开关110(步骤S301为“ON”)，则CPU 105通过测光控制器和测距控制器(两者均未示出)分别进行用于确定光圈值和快门速度的测光处理和用于使摄像镜头聚集于被摄体的测距处理(步骤S302)。然后，CPU 105判断是否接通了快门开关111 (步骤S303)。如果未接通快门开关111(步骤S303为“OFF”)，则CPU 105判断快门开关110是否为“ON” (步骤S304)。如果快门开关110继续为“ON” (步骤S304为“ON”)，则CPU105返回到步骤S303 以判断是否接通了快门开关111。另一方面，如果快门开关110没有继续为“ON” (步骤S304为“OFF”)，则CPU 105 返回到步骤S301，并且等待再次接通快门开关110。在步骤S303，如果判断为接通了快门开关111(步骤S303为“0N”)，则CPU 105执行拍摄处理(步骤S305)。下面将说明拍摄处理。接着，CPU 105控制DSP 103以执行用于对作为拍摄结果所获得的图像数据进行显像的处理(步骤S306)。然后，CPU 105控制DSP 103以执行用于压缩经过了显像处理的图像数据的处理，并且将经过了压缩处理的图像数据存储在RAM 107的空闲区域中(步骤 S307)。然后，CPU 105控制DSP 103以读出存储在RAM 107中的图像数据，并且将所读取的图像数据记录在记录介质108中(步骤S308)。然后，CPU 105检查电源开关109是“ON” 还是“OFF”(步骤S309)。如果电源开关109为“ON，，(步骤S309为“0N，，)，则CPU 105返回到步骤S301，并且处于用于下一拍摄的待机。另一方面，如果断开了电源开关109 (步骤S309为“OFF” )， 则CPU 105返回到图2中的步骤S201，并且等待再次接通电源开关。图4是图3中示出的静止图像拍摄模式拍摄处理中的拍摄处理的流程图。参考图1和4，当开始拍摄处理时，CPU 105设置摄像装置101的放大增益和AFE 102的增益，从而使得摄像设备的拍摄ISO感光度变成等于利用ISO感光度设置开关113所设置的ISO感光度(步骤S400)。接着，CPU 105选择用于缺陷校正的数据(步骤S401)。例如，在摄像装置101出厂之前，通过在预定条件下评价暗输出和曝光输出来获得与像素有关的缺陷数据。该缺陷数据将具有超过预定输出范围的输出值的像素定义为缺陷像素。此外，RAM 107存储基于缺陷数据所准备的、表示各缺陷像素的种类(白缺陷、黑缺陷等)、缺陷像素的地址信息(图像的水平方向的坐标X和垂直方向的坐标y)和缺陷像素的输出水平的数据，作为缺陷校正数据。在下面的说明中，将说明要校正的缺陷像素的种类是白缺陷的情况。白缺陷的特征在于其水平(数据水平)响应于曝光时间(电荷累积时间)而变高。即使对于相同水平的白缺陷，如果将ISO感光度设置得更高，则白缺陷作为更大的缺陷在图像上出现。为应对这种情况，在所示例子中，作为用于判断摄像装置101的像素是否是要校正的缺陷像素的基准值(第二基准值)，选择下面的基准值根据该基准值，随着ISO感光度更高并且随着快门时间更长，可以校正缺陷校正数据中具有较小大小水平的缺陷像素 (可以校正更大数量的缺陷像素)。也就是说，在步骤S401，CPU 105基于通过ISO感光度设置开关113所设置的ISO 感光度和在图3的步骤S302所确定的快门速度，确定用于判断缺陷像素的基准值(第二基准值)。然后，CPU 105将存储在ROM 106中的缺陷校正数据中各缺陷像素的水平值(像素值)与该基准值进行比较，并且获得比较结果。
然后，CPU 105根据该比较结果、从由缺陷校正数据所表示的缺陷像素中仅选择水平值超过该基准值的像素，作为要校正的缺陷像素。然后，CPU 105将与要校正的缺陷像素相关的缺陷校正数据载入RAM 107中。此时，被载入RAM 107中的缺陷校正数据仅包括要校正的缺陷像素(还简称为校正对象像素)的地址信息。也就是说，在RAM 107中存在其地址信息的像素就是校正对象像素。接着，CPU 105将镜移动至镜上升位置(步骤S4(^)。然后，CPU 105基于在图3中示出的步骤S302的测光处理中所获得的测光数据，将光圈驱动成预定光圈值(步骤S403)。CPU 105删除(清除)摄像装置101中的电荷(步骤S404)。此后，CPU 105开始在摄像装置101中累积电荷(步骤S405)。然后，CPU 105打开快门(步骤S406)，并且开始摄像装置101的曝光(步骤S407)。CPU 105判断是否经过了根据测光数据所设置的曝光时间(步骤S408)。如果未经过该曝光时间(步骤S408为“否”)，则CPU105等待。另一方面，如果经过了该曝光时间(步骤S408为“是”)，则CPU 105关闭快门(步骤S409)。接着，CPU 105驱动光圈至开放光圈值(步骤S410)。然后，CPU 105开始驱动镜以使镜移动至镜下降位置(步骤S411)。此后，CPU 105判断是否经过了预先设置的电荷累积时间(预设时间)(步骤S412)。如果未经过电荷累积时间(步骤S412为“否”)，则CPU 105等待。另一方面，如果经过了电荷累积时间(步骤S412为“是”)，则CPU 105终止在摄像装置101中累积电荷(步骤S413)。接着，CPU 105从摄像装置101读出图像信号(步骤
5414)。在这种情况下，具有用于箝位暗偏置电平的功能的AFE102使用来自摄像装置101 的光学黑体部(未示出)的输出进行箝位操作。接着，DSP 103在CPU 105的控制下进行缺陷校正处理(第二校正处理)(步骤
5415)。由下述的缺陷校正电路执行该缺陷校正处理。注意，缺陷校正电路被包含在图1中的 DSP 103 中。缺陷校正电路以紧挨在缺陷像素之前的相同颜色的像素数据来替换从AFE 102 输入的缺陷相关数据(还称为像素数据)中与各缺陷像素相关的数据(还称为缺陷像素数据)，并且输出作为结果的数据。图5是图1中的DSP 103的框图。参考图1和5，DSP 103包括存储器控制电路1031、地址比较电路1032、缺陷校正电路1033和各种处理电路1034。如上所述，CPU 105将要校正的缺陷像素(校正对象像素)的地址信息载入RAM 107中。缺陷校正电路1033基于被载入RAM 107中的校正对象像素的地址信息进行校正处理。注意，在将与校正对象像素相关的地址信息转换成定时数据之后装载该地址信息，其中，参考同步信号确定各缺陷像素出现的定时。存储器控制电路1031将作为校正对象像素(例如，缺陷像素“1” “4”)的地址信息的定时数据从RAM 107顺次传送至地址比较电路1032。地址比较电路1032将参考同步信号所确定的摄像装置101的读取定时与定时数据的各像素相关定时数据进行比较。然后，如果读取定时和像素相关定时数据相互一致，则缺陷校正电路1033以紧挨在缺陷像素数据之前的相同颜色的像素数据来替换该像素数据，并且输出该像素数据。此后，为了准备校正下一缺陷像素(校正对象像素)，立即将作为下一缺陷像素的地址信息的定时数据从存储器控制电路1031传送给地址比较电路1032。然后，类似地通过缺陷校正电路1033进行与缺陷像素相关的像素数据的校正。以附图标记1034整体表示的各种处理电路对经过了上述缺陷校正处理的图像数据进行诸如参考图3所述的步骤S306 S308中的显像处理、比较处理和记录处理等的各种类型的处理操作。图6是图2中示出的启动和拍摄处理中的多重曝光拍摄模式拍摄处理的流程图。 注意，以相同附图标记表示图6中与图3中相同的步骤，并且省略对其的说明。当将拍摄模式变换成多重曝光拍摄模式时，CPU 105进行重叠多少帧的图像的设置。也就是说，CPU 105设置曝光操作的数量(步骤S600)。通过用户使用操作开关(未示出)在IXD 14上所显示的画面上进行对曝光操作的数量的设置。接着，CPU 105执行参考图3所述的步骤S301 S305。注意，尽管参考图4说明了在步骤S305所执行的拍摄处理，但是在多重曝光拍摄模式下，在对已校正图像数据不执行显像处理的情况下将已校正图像数据存储在RAM 107中。接着，CPU 105判断是否完成了与曝光操作的数量相对应的拍摄处理(步骤 S601)。如果拍摄处理未达到曝光操作的数量(步骤S601为“否”)，则CPU 105返回到步骤S301，并且等待再次操作快门开关110。另一方面，如果拍摄处理达到了曝光操作的数量(步骤S601为“是”)，则CPU 105 对与曝光操作的数量相对应的图像数据进行加法处理(合成处理)(步骤S602)。在所示例子中，单纯地以相同增益进行加法处理。如果图像数据的暗偏置电平不同于OLSB (最优最低有效位)，则无论何时进行加法处理，图像数据都偏移与暗偏置电平相对应的量，因此仅进行暗偏置电平的校正。例如， 当对存储在RAM 107中的两个图像数据进行加法处理时，对于这两个图像数据的各相应像素计算(相加后的图像数据)=(第一图像数据)+ (第二图像数据)_(暗偏置电平)。然后，以与曝光操作的数量相对应的次数重复该处理。由于不再需要经过了加法处理的图像数据，所以可以覆写各帧的图像数据。根据上述处理，即使在进行多重曝光拍摄时，也可以在不改变暗偏置电平的情况下将图像数据精确相加。将通过以与曝光操作的数量相关的次数进行加法处理所获得的图像数据(以下称为合成图像数据)记录在RAM 107中。接着，CPU 105再次选择并装载用于合成图像数据的缺陷校正数据(步骤S603)。 在多重曝光拍摄中，在将各自包括白缺陷的多个帧相加在一起之后，即使各拍摄帧中微小大小水平且几乎难以在视觉上察觉的白缺陷有时也成为明显或清晰的白缺陷而被察觉。因此，在该处理中，代替与各帧的拍摄中的ISO感光度和快门时间相关所选择的基准值，使用下面的基准值(第一基准值)通过该基准值甚至可以校正微小大小水平的缺陷像素。然后，如图4的步骤S401中所述，将缺陷校正数据载入RAM 107中。图7A 7D是用于说明图6中示出的缺陷校正数据的重新选择和装载(步骤S603) 的图。图7A示出静止图像拍摄中所使用的校正值，并且图7B示出静止图像拍摄中的缺陷校正。此外，图7C示出多重曝光拍摄中所使用的基准值，并且图7D示出多重曝光拍摄中的缺陷校正。参考图7A 7D，为简化说明，将说明拍摄暗图像的情况。在所示例子中，假定在多重曝光拍摄中进行了三个曝光操作。在图7A中，现假定缺陷校正数据中以“5mV”所表示的缺陷像素存在于坐标(xl， yl)处，并且，类似地，缺陷校正数据中以“10mV”所表示的缺陷像素存在于坐标(x2，y2)处。 在这种情况下，在静止图像拍摄中以特定ISO感光度和特定曝光时间拍摄了图像时，假定选择以“7mV”所表示的基准值(第二基准值)作为基准值。当根据上述基准值进行缺陷校正处理时，如图7B所示，不校正不大于基准值 “7mV”的坐标(xl, yl)处的缺陷像素。另一方面，对大于基准值“7mV”的坐标(x2, y2)处的缺陷像素进行校正处理，并且在将缺陷像素校正得与其它暗电平没有差别之后，进行显像处理。在这种情况下，尽管坐标(xl，yl)处的像素是缺陷像素，但是判断为作为图像、该缺陷像素不易察觉。如图7C中所示，当进行具有三个曝光操作的多重曝光拍摄时，由于在拍摄各帧时坐标(x2，W)处的缺陷像素经过缺陷校正处理，所以在进行加法处理(合成)时，校正了缺陷像素。因此，由于与其它暗电平附近的输出没有差别，所以即使在进行加法处理之后，缺陷像素与其它暗电平附近的输出的像素也没有差别。另一方面，在加法处理之后，在一个拍摄图像中不明显的坐标(xl，yl)处的缺陷像素的像素值(即合成后的像素数据)增大了三倍，因此在加法处理之后，该像素作为缺陷像素变得明显，如图7D所示。因此，如果在加法处理之后，将与缺陷像素相关的基准值(第一基准值)的水平减小成例如“4mV”，则坐标(xl，yl)处的缺陷像素也变成校正对象像素。考虑到这种情况，在经过了加法处理的图像中进行缺陷像素的校正。再次参考图1和6，DSP 103根据被载入RAM 107的缺陷校正数据，对存储在RAM 107中的通过多重曝光拍摄所获得的图像数据(合成图像数据)进行缺陷校正处理(第一校正处理)，并且将已校正图像数据再次输出给RAM 107(步骤S604)。步骤S604与参考图 4所述的步骤S415相同。此后，CPU 105执行参考图3所述的步骤S306 S309。然后，在步骤S309，如果接通了电源开关109，则CPU 105返回到图2中示出的步骤S204以确认模式拨盘的设置。另一方面，如果将电源开关109切换成“off”，则CPU 105返回到图2中示出的步骤S201，并且等待接通电源开关109。顺便提及，为了设置缺陷水平，可以想到各种类型的方法，但是通常，当对η帧的图像数据进行加法处理时(η是大于1的整数)，通过将缺陷水平减小成相同条件下的静止图像拍摄中的基准值的1/η倍，可以进行与静止图像拍摄中相同的缺陷校正处理。然而，如果将基准值的水平减小成1/η，则校正对象像素的数量有时变得非常大。 为此，必须在考虑CPU 105和其它相关组件的处理能力的情况下确定基准值水平的设置。此外，在多重曝光拍摄中，由于在加法处理之后进行缺陷校正处理，所以在多重曝光拍摄期间，不必须逐帧进行缺陷校正处理。例如，在在多重曝光拍摄期间完全省略逐帧缺陷校正处理的情况下，在执行加法处理之后，可以对不低于1/n水平的所有缺陷像素进行校正处理。可选地，可以将缺陷校正处理配置成对不低于作为加法处理之后要应用的基准值的1/n水平的所有缺陷进行逐帧校正，并且在加法处理之后不进行缺陷校正。在逐帧校正处理中，使用与静止图像拍摄时的水平(静止图像基准水平)相同水平的基准值来校正缺陷像素。然后，在加法处理之后，通过从缺陷校正数据中选择处于1/ η水平到静止图像基准水平之间的缺陷水平的缺陷像素，可以再次进行校正处理，从而可以分散校正处理。尽管在上述例子中，在进行用于校正缺陷像素的处理时，以紧挨在缺陷像素之前的相同颜色的像素数据替换缺陷像素，但可以应用任何其它校正方法。此外，尽管在所示例子中，使用模式拨盘选择多重曝光拍摄模式，但是可以使用任何其它合适方法来切换模式。如上所述，根据第一实施例，在通过进行多重曝光拍摄并合成图像数据所获得的合成图像数据中，可以适当进行用于校正缺陷像素数据的处理，并且作为结果，可以防止合成图像数据的图像质量下降。接着说明装配有根据本发明第二实施例的图像处理器的摄像设备的例子。对于加法处理之后要校正的缺陷像素是与静止图像拍摄中的白缺陷相同的白缺陷的情况，说明了根据第一实施例的摄像设备。然而，存在RTS噪声的问题，其中，由于RTS 噪声的特性，RTS噪声问题是在静止图像拍摄和多重曝光拍摄之间不同地影响最终所获得的图像的缺陷。近年来，随着像素的小型化，由用于读取特定像素的CMOS图像传感器的晶体管产生RTS噪声。RTS噪声有时在图像数据的特定像素处生成白点缺陷。RTS噪声没有明确的温度依赖性和累积时间依赖性，因而在静止图像拍摄期间难以校正缺陷。另一方面，在多重曝光拍摄期间，如果在多个拍摄中在同一像素中生成RTS噪声，则这产生与将普通白缺陷相加的情况下的结果相同的结果。此外，尽管与一次生成的RTS噪声相对应的输出微小，但是在高ISO感光度拍摄中，即使在多个像素中的每一个中生成一次RTS噪声时，如果进行许多曝光操作，则在作为结果的所有数据中都发生微小缺陷。结果，即使各个亮点(缺陷)不明显，图像质量的整体下降不可避免。尽管在各拍摄操作中在特定像素中随机生成RTS噪声，但是，如果在出厂之前的测试中获取多个图像数据，则可以一定程度地识别生成RTS噪声的像素。在本实施例中，由于RTS噪声具有像素依赖性，所以将生成RTS噪声的像素作为一种类型的缺陷像素来校正，并且对于多重曝光拍摄，除第一实施例中所使用的白缺陷数据以外，还使用包括诸如各像素的RTS噪声的种类、水平和地址等的信息的缺陷校正数据。第二实施例中的摄像设备具有与图1中示出的摄像设备相同的结构，并且省略对与第一实施例中所述操作相同的操作的说明。在静止图像拍摄中，类似于第一实施例，当在图4中示出的步骤S401选择缺陷校正数据时，CPU 105将白缺陷设置为校正对象，而不将RTS噪声设置为校正对象。另一方面，在多重曝光拍摄中，当在图6的步骤S603中再次选择缺陷校正数据时， CPU 105对于白缺陷设置低水平的基准值(第一基准值)，并且将RTS噪声添加至要校正的对象。也就是说，CPU 105从以缺陷校正数据所表示的缺陷像素中，仅选择其水平值超过基准值(第一基准值)的缺陷像素和被分类为生成RTS噪声的像素的缺陷像素作为要校正的缺陷像素，并且将要校正的缺陷像素的地址信息载入RAM 107中。接着，CPU 105控制DSP 103以进行图6的步骤S604中的校正处理。如上所述，在多重曝光拍摄中，还对被分类为RTS噪声的缺陷像素进行校正处理，因此，通过消除RTS噪声的不利影响，可以获得高质量的图像。注意，如第一实施例中所述，在多重曝光拍摄中，可以以帧为单位进行与RTS噪声相关的校正处理。如上所述，在第二实施例中，通过消除合成图像数据中RTS噪声的不利影响，即通过确实地校正由RTS噪声所引起的缺陷像素数据，可以防止合成图像数据的图像质量下降。接着将说明使用根据本发明第三实施例的图像处理器的摄像设备。在上述第一和第二实施例中，通过在摄像装置出厂之前预先进行测量来获得与要校正的缺陷像素有关的信息(即缺陷校正数据)。然而，获取缺陷校正数据需要时间，结果导致摄像装置的测试成本增大。为消除该问题，在本实施例中，从作为拍摄结果所获得的图像数据中提取要校正的异常像素数据，并且对其进行校正。在本实施例中，将说明根据作为拍摄结果所获得的图像数据来提取并校正要校正的缺陷像素的摄像设备。第三实施例中的摄像设备大体具有与图1中示出的摄像设备相同的结构，但是与图1中示出的摄像设备的不同在于，DSP 103包括用于检测从摄像装置101 所获得的图像数据中的缺陷像素的检测电路。图8是根据第三实施例的摄像设备的DSP的框图。参考图1和8，DSP 103包括缺陷校正电路1033和各种处理电路1034、以及线存储器1035和缺陷检测电路1036。线存储器1035临时存储从AFE 102输出的图像数据。按 AFE 102的每个操作时钟从线存储器1035读出与多个特定地址相关的图像数据。这使得可以同时读出关注的像素以及所关注像素周围的相同颜色的多个像素。图9是用于说明图8中的线存储器1035中的像素数据的读取的图。在图9中，现在假定同时读出处于中心的对象像素(关注的像素)的数据901和对象像素数据901周围相同颜色的八个像素数据(还简称为像素)902。作为简单例子，当对象像素数据901的值与八个像素数据的平均值的差为如下时，判断为对象像素数据901 是异常像素数据、因此是缺陷像素，其中，该差不小于在设置于DSP 103中的基准水平设置寄存器(未示出)中所设置的预设值(缺陷基准水平)(不小于缺陷基准水平的差)。尽管用于检测缺陷像素的算法包括各种类型的算法，但是在本实施例中，这里假定当来自对象像素901和线存储器1035的输出之间的差超过基准水平设置寄存器中所设置的预设值时，缺陷检测电路1036判断为对象像素901是缺陷像素。然后，在判断为对象像素901是缺陷像素时，缺陷检测电路1036将对象像素901的地址信息发送给缺陷校正电路 1033。缺陷校正电路1033将该地址信息(类似于第一实施例，被转换成定时数据)与从线存储器1035输出的像素数据的定时进行比较，并且当从线存储器1035输出对象像素901
13时，缺陷校正电路1033对对象像素901进行校正处理。因此，在第三实施例中，不必将缺陷校正数据存储在RAM107中。第三实施例中的摄像设备进行与参考图2和3所述的操作相同的操作，但是拍摄处理和多重曝光拍摄的处理操作中的一些与参考图4所述的拍摄处理和参考图6所述的多重曝光拍摄处理有所不同。图10是由包括根据第三实施例的图像处理器的摄像设备所执行的拍摄处理的流程图。以相同附图标记表示图10中与参考图4所述的拍摄处理中相同的步骤，并且省略对其的说明。参考图1和10，在进行参考图4所述的增益的设置之后(步骤S400)，代替选择缺陷校正数据，CPU 105在设置于DSP 103中的基准水平设置寄存器中设置要检测的缺陷像素的基准水平(步骤S801)。此后，执行参考图4所述的步骤S402 S414。然后，如上所述，DSP 103对从摄像装置101所获得的图像数据进行缺陷像素的检测和用于校正所检测到的缺陷像素的处理 (步骤 S802)。在本实施例中，如果通过缺陷检测电路1036判断为对象像素是要校正的像素(即缺陷像素)，则缺陷校正电路1033根据用于输出从线存储器1035所输出的对象像素的定时、用紧挨在缺陷像素之前的相同颜色的像素替换缺陷像素并且进行输出。这使得可以从作为拍摄结果所获得的图像数据中提取异常像素数据(即缺陷像素数据)，并且对所提取的像素数据进行校正处理。图11是由第三实施例中的摄像设备所执行的多重曝光拍摄处理的流程图。以相同附图标记表示图11中与参考图6所述的多重曝光拍摄中相同的步骤，并且省略对其的说明。参考图1和11，当将拍摄模式变换成多重曝光拍摄模式时，执行参考图6所述的步骤S600、S301 S305、以及S601和S602。在进行步骤S602的加法处理之后，CPU 105在基准水平设置寄存器中设置要检测的缺陷像素的基准水平(步骤S901)。接着，在DSP 103中，如上所述进行缺陷像素的检测和所检测到的缺陷像素的校正(步骤S9(^)。此后，执行参考图6所述的步骤S306 S309。顺便提及，对于缺陷基准水平的设置，认为例如即使在多个图像数据经过加法处理时，如果在加法处理之后的增益处理和显像操作中的伽马校正处理中没有变化，则不改变在视觉上明显的缺陷像素的水平。也就是说，如果在加法处理之后使用与静止图像拍摄中所使用的基准水平相同的基准水平进行缺陷像素的检测和所检测到的缺陷像素的校正，则在加法处理期间缺陷像素变得从视觉上难以察觉。例如，考虑在多重曝光拍摄中所拍摄的各个帧的各图像数据中存在不高于缺陷基准水平的白缺陷的情况，如果各图像数据分别经过显像处理，则不会发生从视觉上可见白缺陷的这一问题(即将缺陷基准水平设置成使白缺陷在视觉上不明显)。另一方面，当多个图像数据经过加法处理时，各帧中的微小白缺陷累加，并且多重曝光图像中累加后的白缺陷有时均超过缺陷基准水平。在这种情况下，通过检测和校正超过缺陷基准水平的像素，可以校正通过加法处理在视觉上变得明显的白缺陷。可选地，当在多重曝光拍摄期间完全省略逐帧缺陷像素检测和校正时，在加法处理后可以使用相同的缺陷基准水平来进行缺陷像素的检测和校正。然而，在这种情况下，校正对象像素的数量有时变得非常大，因此必须在考虑DSP 103的处理能力的情况下进行缺陷像素的检测和校正。尽管在上述例子中，当进行用于校正缺陷像素的处理时，用紧挨在缺陷像素之前的相同颜色的像素数据替换缺陷像素，但是可以应用任何其它校正方法。此外，尽管使用模式拨盘来选择多重曝光拍摄模式，但是可以使用任何其它适当方法来选择模式。如上所述，在第三实施例中，可以在无需使用缺陷校正数据的情况下、从作为拍摄结果所获得的图像数据中直接提取缺陷像素数据并且适当进行合成图像数据中的缺陷像素数据的校正，结果，可以防止合成图像数据的图像质量的下降。接着，将说明装配有根据本发明第四实施例的图像处理器的摄像设备。注意，第四实施例中的摄像设备具有与第三实施例中所述的摄像设备的结构相同的结构，因此省略对其的说明。同样，在检测作为拍摄结果所获得的图像数据中的缺陷时，图像质量因RTS噪声而下降。在多重曝光拍摄中，当在特定像素处不止一次生成RTS噪声时，可以使用上述第三实施例中所述的方法来检测和校正缺陷像素。另一方面，当生成一次RTS噪声时，利用第三实施例中所述的方法难以检测到RTS 噪声。尽管在生成一次RTS噪声时，RTS噪声的输出值非常小，但是，如果在高ISO感光度拍摄中，多重曝光拍摄中的曝光操作的数量大，则在作为多重曝光拍摄结果所获得的整个数据上都生成微小缺陷。即使各个亮点(缺陷)都不明显，但是图像质量整体下降是不可避免的。装配有根据第四实施例的图像处理器的摄像设备执行与第三实施例中所述的摄像设备所执行的操作大体相同的操作，因此将说明与第三实施例的不同点。在第四实施例的摄像设备中，改变参考图11所述的在步骤S901所设置的缺陷基准水平的值。此外，改变参考图11所述的在步骤S902中的缺陷像素的检测。在第四实施例的摄像设备中，为在步骤S901中检测RTS噪声的单次发生，将缺陷基准水平的设置改变成低于用于确定明显白缺陷的值的值。然后，在步骤S902，改变周围像素的评价区域和评价方法。在考虑RTS噪声时，还必须考虑RTS噪声在作为确定缺陷像素的基准所使用的相同颜色的周围像素的区域中的不利影响。图12是用于说明通过装配有根据第四实施例的图像处理器的摄像设备的如图8 所示的线存储器1035进行的像素数据的读取的图。在图12中，这里假定同时读出处于中心的对象像素数据1201和对象像素数据 1201周围相同颜色的四个像素数据1202。在与图9比较时，与对象像素1201同时读出的周围相同颜色的像素减少成了一半，即四个。这样降低了在加法处理之后在周围相同颜色的像素中所生成的RTS噪声的不利影响。然而，单纯减少了要读出的周围相同颜色的像素、并且计算这些像素的值的平均值等，这降低了像素值的精度。为解决该问题，作为简单例子，计算周围相同颜色的像素的中值以使得不易受随机噪声波动影响，从而保持像素值的精度。这样，如果在加法处理之后使用下面的低基准水平再次检测缺陷像素并且进行缺陷像素的校正，也可以防止图像质量由于因RTS噪声的不利影响所生成的大量微小缺陷而下降以该低基准水平甚至可以检测到小的缺陷。此外，通过如上所述改变周围相同颜色的像素的数量、并使用中值，可以适当判断由RTS噪声而生成的微小缺陷，结果，可以防止图像质量下降。尽管在第四实施例中，改变周围相同颜色的像素的数量、并且使用中值，但是可以使用其它任何适当方法，只要该方法可以检测到RTS噪声的不利影响。如上所述，在第四实施例中，从作为拍摄结果所获得的图像数据中提取受到RTS 噪声影响的缺陷像素数据，并且在无需使用缺陷校正数据的情况下，确实地校正合成图像数据中由RTS噪声所生成的缺陷像素数据，从而可以防止合成图像数据的图像质量的下降。接着，将说明使用根据本发明第五实施例的图像处理器的摄像设备的例子。注意， 第五实施例中的摄像设备具有与图1中示出的结构相同的结构，因此省略对其的说明。在上述第一 第四实施例中，说明了下面的情况在多重曝光拍摄中，摄像设备进行多个图像帧的拍摄，并且进行用于将这些帧的图像数据相加的处理。在本实施例中，例如，说明下面的情况用户从再现画面上的所拍摄图像数据中选择想要的图像数据，并且进行用于将所选择的图像数据相加的处理。注意，将说明进行用于将显像处理之前的所谓的 RAff数据作为图像数据进行相加的处理的情况。图13是由包括根据第五实施例的图像处理器的摄像设备所执行的启动和拍摄处理的流程图。在图13中，以相同附图标记表示与图2中所示的相同的步骤，并且省略对其的说明。参考图1和13，CPU 105监视在步骤S201是否接通了电源开关109，然后执行上述步骤S202 S204和S211。在所示例子中，假定可以通过模式拨盘112选择拍摄模式和合成模式。然后，如果通过模式拨盘112选择了拍摄模式，则CPU 105将模式变换成拍摄模式。在这种情况下，CPU 105控制DSP 103在IXD 114上显示模式选择以使得能够选择参考图2所述的静止图像拍摄模式和多重曝光拍摄模式中的一个。然后，用户再操作模式拨盘112以选择静止图像拍摄模式或多重曝光拍摄模式。另一方面，如果通过模式拨盘112选择合成模式，则CPU105将模式变换成合成模式。然后，如下面所述，当终止合成处理时，CPU 105返回到步骤S201。图14是图13中示出的启动和拍摄处理中的合成模式拍摄处理的流程图。参考图1和14，用户通过操作控制台部(未示出)，参考IXD114上显示的再现图像来选择想要的再现图像。CPU 105监视是否选择了第一个图像(步骤S1301)，如果没有选择第一个图像(步骤S1301为“否”)，则CPU 105等待。另一方面，如果选择了第一个图像(步骤S1301为“是”)，则CPU 105监视是否选择了第二个图像(步骤S1302)。如果没有选择第二个图像(步骤S1302为“否”)，则CPU 105等待。在该处理中，大体上以两个图像为单位进行合成处理，并且当要合成两个以上的图像时，重复执行图13中示出的处理。接着，CPU 105根据用户所选择的这两个图像设置合成处理之后的缺陷基准水平(步骤S1303)。这里，假定如第一和第二实施例所述，已预先记录了缺陷校正数据。例如，CPU 105确认伴随(添加至)图像(以下还称为图像数据)的照相机ID信息(识别信息)，并且获得确认的结果。照相机ID信息用于识别摄像设备的摄像装置101。 然后，如果根据该确认结果判断为利用当前正执行该处理的摄像设备拍摄了该图像数据， 则CPU 105使用预先存储的缺陷校正数据。另一方面，如果利用其它摄像设备拍摄了该图像数据，则诸如各缺陷像素的坐标等的特征不一致，因此判断为不能使用预先存储的缺陷校正数据。也就是说，如果照相机ID信息一致，则CPU 105使用预先存储的缺陷校正数据对合成图像数据进行校正。另一方面，如果照相机ID信息不一致，则CPU 105将缺陷基准水平设置成非常大的值，从而使得不进行校正处理。此外，如果照相机ID信息一致，则CPU 105判断是否是根据相互不同的拍摄条件分别拍摄了所选择的图像。然后，CPU105根据相关的拍摄条件，获得在各个选择的图像中所设置的缺陷基准水平。CPU 105将作为由此所获得的所有缺陷基准水平中最低的缺陷基准水平(像素基准水平)设置为用于确定合成图像中的缺陷像素的基准值。接着，CPU 105控制DSP 103进行用于将这两个图像数据相加的处理(步骤 S1304)，使用在步骤S1303所设置的基准水平检测缺陷像素，并且如上所述对合成图像(经过了加法处理的图像)进行校正处理(步骤S1305)。此后，CPU 105在控制DSP 103的同时执行参考图3所述的步骤S306 S308，随
后终止合成模式。如上所述，当合成所记录的图像数据时，确认拍摄了所记录的图像数据的摄像设备的照相机ID信息，并且如果利用不同于进行该处理的摄像设备的摄像设备拍摄了所记录的图像数据，则禁止进行合成之后的缺陷校正处理。这使得可以在照相机ID信息不一致的情况下防止错误校正，并且防止由于错误校正而引起的图像质量下降。根据上述说明显而易见，在图1、5和8中，CPU 105和DSP103用作合成单元，并且地址比较电路1032、存储器控制电路1031和RAM 107用作第一比较单元和第二比较单元。 此外，缺陷校正电路1033用作第一校正单元和第二校正单元。此外，CPU 105用作设置单元，并且线存储器1035和缺陷检测电路1036用作缺陷判断单元。CPU 105还用作装置判断单元和条件判断单元。尽管参考典型实施例说明了本发明，但是应该理解，本发明不局限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释，以包含所有这类修改、等同结构和功能。例如，可以将上述实施例的功能转换成控制方法，并且可以通过图像处理设备来执行该控制方法。此外，可以通过图像处理设备中设置的计算机来执行包括上述实施例的功能的控制程序。还可以利用读出并执行记录在存储器装置上的程序以进行上述实施例的功能的系统或设备的计算机(或者CPU或MPU等装置)和通过下面的方法实现本发明的方面，其中，利用系统或设备的计算机通过例如读出并执行记录在存储器装置上的程序以进行上述实施例的功能来进行上述方法的各步骤。为此，例如，通过网络或者通过用作存储器装置的各种类型的记录介质(例如，计算机可读介质)将该程序提供给计算机。
本申请要求2010年10月观日提交的日本2010-2424 号专利申请的优先权，其全部内容通过引用包含于此。
权利要求
1.一种图像处理器，其处理作为摄像装置摄像的结果所获得的图像数据以形成已处理图像数据，所述图像处理器包括合成单元，用于合成多个所述图像数据以形成合成图像数据；第一比较单元，用于将第一基准值与由形成所述合成图像数据的各合成像素数据所表示的像素值进行比较，其中，所述第一基准值小于用于判断是否校正形成所述图像数据的各像素数据的第二基准值；以及第一校正单元，用于进行第一校正处理，在所述第一校正处理中，根据所述第一比较单元的比较结果校正所述合成图像数据的合成像素数据，从而形成所述已处理图像数据。
2.根据权利要求1所述的图像处理器，其特征在于，如果基于所述第一比较单元的比较结果判断为像素数据是缺陷像素数据，则所述第一校正单元用位置紧挨在该缺陷像素数据之前的相同颜色的像素数据来替换该缺陷像素数据。
3.根据权利要求1所述的图像处理器，其特征在于，还包括第二比较单元，用于将所述第二基准值与由所述图像数据的各像素数据所表示的像素值进行比较；以及第二校正单元，用于进行第二校正处理，在所述第二校正处理中，根据所述第二比较单元的比较结果校正所述图像数据的像素数据，从而形成已校正图像数据，其中，所述合成单元合成多个帧的所述已校正图像数据，从而形成所述合成图像数据。
4.根据权利要求1所述的图像处理器，其特征在于，所述第一基准值是根据ISO感光度和快门时间确定的。
5.根据权利要求1所述的图像处理器，其特征在于，在合成η个帧的图像数据以形成所述合成图像数据时，所述第一基准值被设置成等于所述第二基准值的1/η倍，其中，η是大于1的整数。
6.根据权利要求3所述的图像处理器，其特征在于，还包括存储单元，所述存储单元用于将与所述摄像装置所形成的像素中的缺陷像素相关的数据存储为校正数据，以及其中，所述第一校正单元和所述第二校正单元对与由所述校正数据所表示的缺陷像素相关的像素数据进行所述第一校正处理和所述第二校正处理。
7.根据权利要求3所述的图像处理器，其特征在于，还包括设置单元，用于设置用于确定像素数据的缺陷像素的缺陷基准水平；以及缺陷判断单元，用于根据所述缺陷基准水平，判断形成图像数据的各像素数据是否是缺陷像素数据，其中，所述第一校正单元和所述第二校正单元对所述缺陷像素数据进行所述第一校正处理和所述第二校正处理。
8.根据权利要求7所述的图像处理器，其特征在于，如果图像数据中位于一个像素数据附近的周围像素数据的像素值的平均值和所述一个像素数据的像素值之间的差不小于所述缺陷基准水平，则所述缺陷判断单元判断为所述一个像素数据是缺陷像素数据。
9.根据权利要求7所述的图像处理器，其特征在于，如果图像数据中位于一个像素数据附近的周围像素数据的像素值的中值和所述一个像素数据的像素值之间的差不小于所述缺陷基准水平，则所述缺陷判断单元判断为所述一个像素数据是缺陷像素数据。
10.根据权利要求1所述的图像处理器，其特征在于，所述图像数据添加有用于识别所述摄像装置的识别信息，所述图像处理器还包括装置判断单元，当通过所述合成单元合成多个图像数据以形成所述合成图像数据时，所述装置判断单元根据所述识别信息判断所述多个图像数据是否是利用相互不同的摄像装置获得的，以及所述第一校正单元根据所述装置判断单元的判断结果判断是否执行所述第一校正处理。
11.根据权利要求10所述的图像处理器，其特征在于，如果所述装置判断单元的判断结果表示所述多个图像数据是利用相互不同的摄像装置获得的，则所述第一校正单元不执行所述第一校正处理。
12.根据权利要求10所述的图像处理器，其特征在于，如果所述装置判断单元的判断结果表示所述多个图像数据都是利用同一摄像装置获得的，则所述第一校正单元执行所述第一校正处理。
13.根据权利要求12所述的图像处理器，其特征在于，还包括条件判断单元，当所述装置判断单元的判断结果表示所述多个图像数据都是利用同一摄像装置获得的时，所述条件判断单元判断所述多个图像数据是否是在不同组的拍摄条件下分别拍摄的，以及所述第一校正单元将用于确定图像数据的缺陷像素的所有像素基准水平中最低的像素基准水平设置为所述第一基准值。
14.一种图像处理器的控制方法，所述图像处理器处理作为摄像装置摄像的结果所获得的图像数据以形成已处理图像数据，所述控制方法包括以下步骤合成多个所述图像数据以形成合成图像数据；将第一基准值与由形成所述合成图像数据的各合成像素数据所表示的像素值进行比较，其中，所述第一基准值小于用于判断是否校正形成所述图像数据的各像素数据的第二基准值；以及进行第一校正处理，在所述第一校正处理中，根据所述比较的结果校正所述合成图像数据的合成像素数据，从而形成所述已处理图像数据。
全文摘要
本发明涉及图像处理器及其控制方法。一种图像处理器，其能够在合成多个静止图像时不使图像质量下降而进行缺陷像素的校正。当合成多个图像数据时，将小于用于判断是否校正形成所述图像数据的像素数据的第二基准值的第一基准值与由形成合成图像数据的各合成像素数据所表示的像素值进行比较，并且根据比较结果进行校正所述合成图像数据的所述合成像素数据的第一校正处理。
文档编号H04N5/232GK102469258SQ20111033780
公开日2012年5月23日 申请日期2011年10月28日 优先权日2010年10月28日
发明者木谷一成 申请人:佳能株式会社