用于减少cmos图像传感器的模拟图像数据中的噪声的方法及设备的制作方法
【专利摘要】本申请案涉及用于减少CMOS图像传感器的模拟图像数据中的噪声的方法及设备。本发明揭示一种用于预处理模拟图像数据以减少所述模拟图像数据中的噪声的方法，所述模拟图像数据是在取样时间期间从图像传感器的像素阵列读出的。所述方法包含在所述取样时间期间产生所述模拟图像数据的多个样本且接着将所述多个样本的值限制于上阈值及下阈值。所述方法还包含通过响应于在所述取样时间期间何时产生了所述多个样本中的每一者而对相应样本应用加权因子来预调节所述多个样本。接着确定并输出所述多个样本的中值。
【专利说明】用于减少CMOS图像传感器的模拟图像数据中的噪声的方法及设备
【技术领域】
[0001]本发明大体来说涉及图像传感器，且特定来说(但非排他性地)涉及包含于互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器中的读出电路。
【背景技术】
[0002]图像传感器已变得无所不在。其广泛地用于数码静物相机、蜂窝式电话、安全摄像机、医疗装置、汽车、便携式电子装置及其它应用中。用以制造图像传感器且特定来说CMOS图像传感器(“CIS”)的技术已不断快速地进步。现代图像传感器应用提出对较快速处理速度及较佳图像质量的需求，而同时预期图像传感器的物理大小的小型化。
[0003]随着图像传感器的物理大小变得更小，对使用更小MOS晶体管的需要增加。然而，小MOS晶体管在图像传感器中的使用会随之带来各种噪声源，例如白(约翰逊)噪声、1/f噪声及随机电报信号(RTS)噪声。可使用高级CMOS工艺技术且借助高级晶体管装置(例如掩埋沟道晶体管)来设计及制作常规图像传感器以试图最小化噪声，例如RTS噪声。然而，通常，甚至在实施这些技术时，例如RTS噪声等某一噪声仍可能保留。
【发明内容】
[0004]本申请案的一方面涉及一种用于产生图像数据的图像传感器，所述图像传感器包括:像素阵列，其包含布置成若干行及列的多个像素单元以用于产生模拟图像数据；位线，其耦合到所述像素阵列的一列内的所述像素中的至少一者；及读出电路，其耦合到所述位线以在取样时间期间读出所述模拟图像数据，所述读出电路包含:预处理逻辑，其耦合到所述位线以用于预处理所述模拟图像数据以减少噪声，其中对所述模拟图像数据的所述预处理包含，在所述取样时间期间产生所述模拟图像数据的多个样本；通过以下操作限制所述多个样本的值:用可编程上阈值替换具有超过所述可编程上阈值的值的所述多个样本，及用可编程下阈值替换具有小于所述可编程下阈值的值的所述多个样本；通过响应于在所述取样时间期间何时产生了所述多个样本中的每一者而对相应样本应用加权因子来预调节所述多个样本；及确定并输出所述多个样本的中值。
[0005]本申请案的另一方面提供一种用于预处理模拟图像数据以减少所述模拟图像数据中的噪声的方法，所述模拟图像数据是在取样时间期间从图像传感器的像素阵列读出的，所述方法包括:在所述取样时间期间产生所述模拟图像数据的多个样本；通过以下操作限制所述多个样本的值:用可编程上阈值替换具有超过所述可编程上阈值的值的所述多个样本，及用可编程下阈值替换具有小于所述可编程下阈值的值的所述多个样本；通过响应于在所述取样时间期间何时产生了所述多个样本中的每一者而对相应样本应用加权因子来预调节所述多个样本；及确定并输出所述多个样本的中值。
【专利附图】
【附图说明】[0006]参考以下各图描述本发明的非限制性及非详尽实施例，其中在所有各视图中相似参考编号指代相似部件，除非另有规定。
[0007]图1图解说明由于小MOSFET的Si/Si02界面处的个别缺陷所致的电流波动。
[0008]图2A图解说明理想化随机电报信号(RTS)噪声波形。
[0009]图2B是图解说明图2A的理想化RTS波形的归一化频率的直方图。
[0010]图3是图解说明根据本发明的实施例的模拟图像数据的相关双取样周期的时序图。
[0011]图4图解说明根据本发明的实施例的对图像数据的多个样本的预调节及中值滤波。
[0012]图5是图解说明根据本发明的实施例的图像传感器的功能框图。
[0013]图6是图解说明根据本发明的实施例的预处理逻辑的功能框图。
[0014]图7是图解说明根据本发明的实施例的多取样电路的功能框图。
[0015]图8是图解说明根据本发明的实施例的读出图像传感器的模拟图像数据的过程的流程图。
[0016]图9是图解说明根据本发明的实施例的预处理模拟图像数据的过程的流程图。【具体实施方式】
[0017]本文中描述用于减少CMOS图像传感器的模拟图像数据中的噪声的方法及设备的实施例。在以下描述中，阐述众多特定细节以提供对所述实施例的透彻理解。然而，相关领域的技术人员将认识到，可在无所述特定细节中的一者或一者以上的情况下或借助其它方法、组件、材料等实践本文中所描述的技术。在其它实例中，为避免使某些方面模糊，未详细展示或描述众所周知的结构、材料或操作。
[0018]在本说明书通篇中对“一个实施例”或“一实施例”的提及意指结合所述实施例所描述的特定特征、结构或特性包含于本发明的至少一个实施例中。因此，在本说明书通篇中各个地方短语“在一个实施例中”或“在一实施例中”的出现未必全部指代同一实施例。此外，所述特定特征、结构或特性可以任何适合方式组合于一个或一个以上实施例中。
[0019]图1图解说明由于小MOSFET的Si/Si02界面处的缺陷所致的电流波动100。在一些应用中，例如在CMOS图像传感器中，这些电流波动100可显现为闪烁的像素，随着晶体管大小已缩小，此已变得更普遍。对于小装置，载流子数目变小，且由Si/Si02界面处的界面缺陷导致的陷获/脱陷事件的影响导致离散漏极电流波动(例如，电流波动100)。在一些实施例中，每一电流波动100可称为随机电报信号(RTS)噪声事件。如图1中所展不，许多RTS事件在持续时间上大于二分之一秒且可能横跨CMOS图像传感器的整个相关双取样(CDS)周期。然而，图2A图解说明使用隐马尔可夫模型(HMM)软件产生的理想化RTS噪声波形，而图2B是图解说明图2A的理想化RTS波形的归一化频率的直方图。如图2B中所展示，根据本文中所揭示的实施例，许多RTS事件为极短的(例如，IOOns到Iy S)，其可确实比CMOS图像传感器的CDS周期短且可能比CDS周期的复位电平取样时间及/或信号电平取样时间短。因此，本发明的实施例可通过滤除或减少具有小于CMOS图像传感器的取样时间的持续时间的RTS事件来减少所述图像传感器中的噪声。下文将更详细地论述这些及其它实施例。[0020]图3是图解说明根据本发明的实施例的模拟图像数据308的⑶S周期302的时序图300。模拟图像数据308可为CMOS图像传感器(下文所论述)的列位线的位线电压且可包含表示复位电平取样时间304的第一部分(时间TO到时间T6)及表示信号电平取样时间306的第二部分(时间T6到时间T12)。模拟图像数据308的复位电平取样时间304可表示紧接在用已知电荷复位之后CMOS图像传感器的有源像素上的电荷电平。模拟图像数据308的信号电平取样时间306表示在图像获取之后同一有源像素上的电荷电平。也就是说，信号电平取样时间306期间的模拟图像数据308表示图像传感器的所获取信号。
[0021]然而，噪声可在复位电平取样时间304及信号电平取样时间306两者期间显现，从而导致模拟图像数据308从其原本将有的值的变化。举例来说，在复位电平取样时间304期间，噪声311导致模拟图像数据308在时间T3及T4处的减小。类似地，噪声313导致在信号电平取样时间306期间的时间T8及T9处的减小。如所展示，噪声事件311的持续时间小于复位取样时间304，且噪声事件313的持续时间小于信号电平取样时间306。因此，本发明的实施例可包含在⑶S周期302期间产生模拟图像数据308的多个样本。事实上，如图3中所展示，可在复位电平取样时间304及信号电平取样时间306两者期间取得多个样本。举例来说，图3图解说明在复位电平取样时间304期间分别在时间Tl到T5处取得的样本I到5及在信号电平取样时间306期间分别在时间T7到Tll处取得的样本6到10。虽然图3图解说明在复位电平取样时间304期间取得的五个样本及在信号电平取样时间期间取得的五个样本，但可在取样周期302的每一部分期间取得任何数目个样本，包含一个或一个以上。此外，在复位电平取样时间304期间取得的样本的数目未必是在信号电平取样时间306期间取得的样本的相同数目。举例来说，可在复位电平取样时间304期间取得I个样本，而可在信号电平取样时间306期间取得2个或2个以上样本。
[0022]在取得取样周期302的相应部分的多个样本之后，接着对离群值进行限制。在一个实施例中，用上阈值替换具有超过所述上阈值的值的样本，且用下阈值替换具有小于所述下阈值的值的样本。举例来说，复位电平样本1、2及5在复位上阈值310与复位下阈值312之间且因此被保持以用于进一步处理，而样本3及4小于复位下阈值312且因此被限制(被替换)为复位下阈值312。类似地,信号电平样本6、9及10在信号上阈值314与信号下阈值316之间且因此被保持以用于进一步处理，而样本7及8小于信号下阈值316，此意味着其将被限制为信号下阈值316。
[0023]在CMOS图像传感器的一些实施例中，比起其它样本倾向于某些样本(取决于在取样周期302期间何时获取了相应样本)可为有利的。举例来说，在复位电平取样时间304即将结束时取得的复位电平样本5可比在复位电平取样时间304的开始期间取得的复位电平样本I及2优选。类似地，在信号电平取样时间306的开始期间取得的信号电平样本6可比在信号电平取样时间306即将结束时取得的信号电平样本9及10优选。因此，本发明的实施例可基于在取样周期302的相应部分期间何时获取了剩余样本中的每一者而对样本应用加权因子。在一个实施例中，对多个样本中的每一者应用的加权因子确定在进一步预处理之前将存在于多个样本中的每一相应样本的出现次数。通过对在时间上“靠近”而取得的样本应用较高加权因子，可改进Ι/f噪声抑制。举例来说，在复位电平取样时间304即将结束时取得的样本比其它样本更靠近于在信号电平取样时间306的开始期间取得的样本。因此，可对在复位电平取样时间304即将结束时取得的复位电平样本(例如，样本5)应用高加权因子，同时还对在信号电平取样时间306的开始期间取得的信号电平样本(例如，样本6及7)应用高加权因子。
[0024]图4图解说明用于对实例性样本402、404及406应用各种加权因子(即，Wl到W3)以产生经加权样本408的实例性加权因子方案405。图4为便于解释而包含三个样本(402、404及406)，但可使用任何数目个样本，例如图3中所展示的五个样本。在所图解说明的实例中，样本402具有值5，样本404具有值10，且样本406具有值15。应用其相应加权因子Wl ( S卩，X1)、W2( S卩，X2)及W3( S卩，X 3)，所得的经加权样本408具有样本402的一次出现、样本404的两次出现及样本406的三次出现。接着确定经加权样本的中值410且可将其转发以用于在图像传感器内进一步处理。中值410简单地即为经加权样本408的中间值。然而，如果存在偶数个经加权样本(例如图4中所展示)，那么本发明的实施例可通过简单地对两个中间值求平均来确定中值。举例来说，图4的经加权样本408的两个中间值为10及15。因此，中值410为这两个中间值的平均值(即，12.5)。
[0025]图5是图解说明根据本发明的实施例的图像传感器500的功能框图。图像传感器500的所图解说明实例包含控制电路505、像素阵列510、读出电路515及任选数字处理逻辑520。为简单地图解说明，像素阵列510的所图解说明实施例仅展示两个列502，每一列具有四个像素单元502。然而，应了解，实际图像传感器通常包含从数百个到数千个列，且每一列通常包含从数百个到数千个像素。此外，所图解说明的像素阵列510为规则形状的(例如，每一列502具有相同数目个像素)，但在其它实施例中，所述阵列可具有不同于所展示的规则或不规则的布置且可包含比所展示的多或少的像素、行及列。此外，在不同实施例中，像素阵列510可为包含经设计以在光谱的可见部分中捕获图像的红色、绿色及蓝色像素的彩色图像传感器或可为黑白图像传感器及/或经设计以在光谱的不可见部分(例如红外或紫外)中捕获图像的图像传感器。在一个实施例中，图像传感器500为互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器。
[0026]在使用期间，在像素单元525已在复位电平取样时间期间或在信号电平取样时间期间获取其电荷之后，可经由列读出线(例如，位线504)从像素单元中将模拟图像数据506(例如，模拟信号)或电荷读出到读出电路515。经由位线504将来自每一列502的像素单元525的模拟图像数据506 —次一个像素地读出到读出电路515且接着传送到预处理逻辑530。
[0027]预处理逻辑530预处理模拟图像数据506以减少噪声，例如上文所论述的RTS噪声。可接着将经预处理的数字图像数据509转发到输出数字图像数据508的任选数字处理逻辑520。
[0028]图6是图解说明根据本发明的实施例的预处理逻辑630的功能框图。预处理逻辑630是图5的预处理逻辑530的一个可能实施方案。在图6的所图解说明实例中，预处理逻辑630包含多取样逻辑635及相关双取样(⑶S)逻辑640。将⑶S逻辑640展示为包含信号电平存储装置645、复位电平存储装置650及算术运算符655。
[0029]如图6中所展示，多取样逻辑635经耦合以经由位线604接收模拟图像数据。多取样逻辑635经配置以在取样时间期间取得所述模拟图像数据的多个样本且执行所述多个样本的模/数转换、离群值限制、预调节及确定中值。将在复位电平取样时间期间确定的中值输出到复位电平存储装置650，而将在信号电平取样时间期间确定的中值输出到信号电平存储装置645。在一个实施例中，信号电平存储装置645及复位电平存储装置650各自包含用于存储从多取样逻辑635输出的数字值的存储器。在另一实施例中，信号电平存储装置645及复位电平存储装置650包含于共享存储器中，例如CMOS图像传感器的共享存储器。算术运算符655接着组合存储于信号电平存储装置645中的值与存储于复位电平存储装置650中的值以产生经预处理的模拟图像数据606。在一个实施例中，算术运算符655从信号电平减去复位电平，使得经预处理的数字图像数据606为两个值之间的差。
[0030]图7是图解说明根据本发明的实施例的多取样逻辑735的功能框图。多取样逻辑735是图6的多取样逻辑635的一个可能实施方案。在图7的所图解说明实例中，多取样逻辑735包含可编程阈值740、模/数转换器(ADC) 745、离群值移除逻辑750、预调节逻辑755及中值滤波器逻辑760。
[0031]如图7中所展示，ADC745经耦合以经由位线704接收模拟图像数据。ADC745经配置以在取样时间(例如，信号电平取样时间306)期间多次地取样并转换所述模拟图像数据的值。在一个实施例中，ADC745由图5的控制电路505控制。将由ADC745输出的数字数据705提供到离群值限制器逻辑750，离群值限制器逻辑750将在值大于上阈值的情况限制所述值且在所述值低于下阈值的情况下也限制所述值。由离群值限制器电路750使用的上阈值及下阈值可为可编程阈值740。因此，复位上阈值、复位下阈值、信号上阈值及信号下阈值中的一者或一者以上可为可编程的。在一个实施例中，经由阈值输入706从控制电路505接收上阈值及下阈值。举例来说，可在制造CMOS图像传感器的测试与修整阶段期间编程可编程阈值740。在另一实例中，可由系统设计者在并入到系统(例如，相机)中时在部署之后编程可编程阈值740。在又一实施例中，可在CMOS图像传感器的操作期间动态地编程可编程阈值740以动态地调整传感器对噪声的敏感度。
[0032]接着将多个样本转发到预调节逻辑755，预调节逻辑755基于相对于取样时间何时取得了样本而对所述样本应用加权因子。在一个实施例中，对在或接近取样时间的开始取得的样本应用比对在或接近取样时间的结束取得的样本应用的加权因子大的加权因子。
[0033]接着将经预调节的样本输出到中值滤波器逻辑760。在一个实施例中，中值滤波器逻辑760包含用以存储多个样本的存储器且经配置以确定所存储样本的中值。中值滤波器逻辑760接着输出表示中值的数字经预处理样本电平708以用于进一步处理。
[0034]现在将参考图6到9来描述具有多取样逻辑635的预处理逻辑630的操作。在图8中所图解说明的过程800的过程框805中，多取样逻辑635开始接收模拟图像数据。在过程框810中，多取样逻辑635预处理在复位电平取样时间期间接收的模拟图像数据。
[0035]现在转到图9，现在将参考过程900来描述复位电平的预处理。预处理在过程框905中开始。接下来，在过程框910中，ADC745取得模拟图像数据的第一样本。接下来，在决策框915中，离群值限制器逻辑750确定样本是否在复位下阈值与复位上阈值之间。如果否，那么过程900继续进行到过程框920，在过程框920中离群值限制器逻辑750用适当阈值替换所述样本(例如，如果样本小于下阈值，那么用下阈值，且如果样本超过上阈值，那么用上阈值)。在决策框915中，如果样本确实在复位下阈值与复位上阈值之间，那么过程900继续进行到框925，在框925中预调节逻辑755通过取决于何时获取了样本而对所述样本应用加权因子来预调节所述样本。在一个实施例中，预调节逻辑755可包含计数器(未展示)，所述计数器跟踪当前正经预调节以便应用适当加权因子的样本。接下来，在过程框930中，将经预调节的样本存储于存储器中以用于由中值滤波器逻辑760使用。决策框935确定是否已针对模拟图像数据的复位电平取样时间完成所有取样。如果否，那么过程返回到过程框910以开始预处理下一样本。如果取样完成(即，已产生多个样本)，那么中值滤波器逻辑760确定所存储样本的中值并输出所述值作为经预处理的复位电平。
[0036]现在返回到图8的过程800，接着在过程框815中，通过复位电平存储装置650存储经预处理的复位电平。接下来，在过程框820中，预处理模拟图像数据的信号电平。在信号电平取样时间期间，与上文所论述的复位电平相同地预处理模拟图像数据。也就是说，过程900也执行信号电平的预处理，仅此时间使用信号上阈值及下阈值来进行离群值限制。
[0037]现在继续进行到过程框825，通过信号电平存储装置645存储经预处理的信号电平。接下来，在过程框830中，算术运算符655从经预处理的信号电平减去经预处理的复位电平以输出经预处理的模拟图像数据606。可接着将经预处理的数字图像数据606输出到数字过程逻辑以用于任选的进一步数字处理。
[0038]所述过程框中的一些或全部在每一过程中显现的次序不应视为限制性。而是，受益于本发明的所属领域的技术人员将理解，可以未图解说明的多种次序执行所述过程框中的一些。举例来说，在过程800中，信号电平820的预处理可在复位电平810的预处理之前执行。此外，在过程900中，样本925的预调节可在过程框915及920的离群值移除之前执行。
[0039]上文所解释的过程是就计算机软件及硬件来描述的。所描述的技术可构成在机器(例如，计算机)可读媒体内体现的机器可执行指令，所述指令在由机器执行时将致使所述机器执行所描述的操作。另外，所述过程可体现在硬件内，例如专用集成电路(“ASIC”)
坐寸ο
[0040]机器可存取媒体包含以可由机器(例如，计算机、网络装置、个人数字助理、制造工具、具有一组一个或一个以上处理器的任何装置等)存取的形式提供(即，存储及/或传输)信息的任何机制。举例来说，机器可存取媒体包含可记录/不可记录媒体(例如，只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、磁盘存储媒体、光学存储媒体、快闪存储器装置等)。
[0041]包含发明摘要中所描述内容的本发明的所图解说明实施例的以上描述并非打算为穷尽性或将本发明限制于所揭示的精确形式。尽管出于说明性目的而在本文中描述本发明的特定实施例及实例，但如所属领域的技术人员将认识到，可在本发明的范围内做出各种修改。
[0042]可根据以上详细描述对本发明做出这些修改。所附权利要求书中所使用的术语不应理解为将本发明限制于说明书中所揭示的特定实施例。相反，本发明的范围将完全由所附权利要求书来确定，所述权利要求书将根据所创建的权利要求解释原则来加以理解。
【权利要求】
1.一种用于产生图像数据的图像传感器，所述图像传感器包括: 像素阵列，其包含布置成若干行及列的多个像素单元以用于产生模拟图像数据； 位线，其耦合到所述像素阵列的一列内的所述像素中的至少一者；及读出电路，其耦合到所述位线以在取样时间期间读出所述模拟图像数据，所述读出电路包含: 预处理逻辑，其耦合到所述位线以用于预处理所述模拟图像数据以减少噪声，其中对所述模拟图像数据的所述预处理包含， 在所述取样时间期间产生所述模拟图像数据的多个样本； 通过以下操作限制所述多个样本的值: 用可编程上阈值替换具有超过所述可编程上阈值的值的所述多个样本，及 用可编程下阈值替换具有小于所述可编程下阈值的值的所述多个样本； 通过响应于在所述取样时间期间何时产生了所述多个样本中的每一者而对相应样本应用加权因子来预调节所述多个样本；及确定并输出所述多个样本的中值。
2.根据权利要求1所述的图像传感器，其中所述预处理逻辑包含经耦合以接收所述模拟图像数据的ADC，且其中产生所述多个样本包含将所述模拟图像数据转换成数字数据。
3.根据权利要求1所述的图像传感器，其中所述取样时间为相关双取样CDS周期的复位电平取样时间。
4.根据权利要求1所述的图像传感器，其中所述取样时间为相关双取样CDS周期的信号电平取样时间。
5.根据权利要求4所述的图像传感器，其中所述读出电路经配置以在所述信号电平取样时间期间及在所述CDS周期的复位电平取样时间期间读出模拟图像数据，其中对所述模拟图像数据的所述预处理包含预处理复位电平及预处理信号电平。
6.根据权利要求5所述的图像传感器，其中所述预处理逻辑进一步包含经耦合以从所述模拟图像数据的所述经预处理的信号电平减去所述经预处理的复位电平的相关双取样CDS电路。
7.根据权利要求5所述的图像传感器，其中预调节所述多个样本包含: 对在所述复位电平取样时间中较晚取得的样本应用比在所述复位电平取样时间中较早取得的样本高的加权因子；及 对在所述信号电平取样时间中较早取得的样本应用比在所述信号电平取样时间中较晚取得的样本高的加权因子。
8.根据权利要求1所述的图像传感器，其中对所述多个样本中的每一者应用的所述加权因子确定在确定所述中值之前每一相应样本在所述多个样本中的出现次数。
9.根据权利要求1所述的图像传感器，其中由所述预处理逻辑减少的所述噪声包含具有小于所述取样时间的持续时间的至少一个噪声事件。
10.一种用于预处理模拟图像数据以减少所述模拟图像数据中的噪声的方法，所述模拟图像数据是在取样时间期间从图像传感器的像素阵列读出的，所述方法包括: 在所述取样时间期间产生所述模拟图像数据的多个样本； 通过以下操作限制所述多个样本的值:用可编程上阈值替换具有超过所述可编程上阈值的值的所述多个样本，及 用可编程下阈值替换具有小于所述可编程下阈值的值的所述多个样本； 通过响应于在所述取样时间期间何时产生了所述多个样本中的每一者而对相应样本应用加权因子来预调节所述多个样本；及 确定并输出所述多个样本的中值。
11.根据权利要求10所述的方法，其中产生所述多个样本包含将所述模拟图像数据转换成数字数据。
12.根据 权利要求10所述的方法，其中所述取样时间为相关双取样CDS周期的复位电平取样时间。
13.根据权利要求10所述的方法，其中所述取样时间为相关双取样CDS周期的信号电平取样时间。
14.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括在所述CDS周期的复位电平取样时间期间读出模拟图像数据，其中对所述模拟图像数据的所述预处理包含预处理复位电平及预处理信号电平。
15.根据权利要求14所述的方法，其进一步包括从所述模拟图像数据的所述经预处理的信号电平减去所述经预处理的复位电平。
16.根据权利要求14所述的方法，其中预调节所述多个样本包含: 对在所述复位电平取样时间中较晚取得的样本应用比在所述复位电平取样时间中较早取得的样本高的加权因子；及 对在所述信号电平取样时间中较早取得的样本应用比在所述信号电平取样时间中较晚取得的样本高的加权因子。
17.根据权利要求10所述的方法，其中对所述多个样本中的每一者应用的所述加权因子确定在确定所述中值之前每一相应样本在所述多个样本中的出现次数。
18.根据权利要求10所述的方法，其中由预处理逻辑减少的所述噪声包含具有小于所述取样时间的持续时间的至少一个噪声事件。
【文档编号】H04N5/357GK103685993SQ201310346759
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年8月9日 优先权日:2012年8月30日
【发明者】约翰内斯·索尔胡斯维克 申请人:全视科技有限公司