一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法
【专利摘要】本发明申请提供的一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法，其中，所述通用测试方法包括：获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息，烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品，进而对所述待测试的数据通信产品进行测试，并在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件，进而烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品，进而在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件，应用此测试方法，可以避免不同客户使用不同测试流程的弊端，大大简化了测试流程，降低了人力成本，提升了生产效率。
【专利说明】一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法
【技术领域】
[0001]本专利申请涉及数据通信产品测试，特别是涉及一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法。
【背景技术】
[0002]随着电子技术的不断发展，数据通信产品已经成为当今人们不可或缺的必要日常工具，广泛应用于各种行业，例如路由器，交换机等等。
[0003]为了保证数通产品的可靠性和稳定性，在产品出厂前都要经过严格的功能性测试和老化测试，但是针对同一款产品有多个客户，由于客户有各自定制化的测试需求，因此，通常工厂要为每个客户维护一套测试程序，不能通用，造成测试效率低下，致使产品良率下降的问题。
【发明内容】
[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利申请的目的在于提供一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法，将可产品通用的测试统一完成，解决上述现有技术中的测试效率低下的问题。
[0005]为实现上述目标及其他相关目标，本专利申请提供一种数据通信产品的通用测试方法，包括:获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息；烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品；对所述待测试的数据通信产品进行测试；在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件；烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品；在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件。
[0006]优选的，所述产品信息包括:所述数据通信产品对应的客户信息及数据通信产品的规格参数信息。
[0007]优选的，所述数据通信产品依产品信息的不同而分为多种，所述多种数据通信产品在所述测试过程中生成同一格式的测试记录。
[0008]优选的，所述通用测试方法还包括:在所述测试有失败项时，对所述数据通信产品排查并解除问题。
[0009]优选的，所述通用测试方法还包括:在所述烧录客户软件失败时，重新烧录所述客户软件。
[0010]优选的，所述通用测试方法还包括:确认所述配置是否成功，若失败则重新执行所述配置。
[0011]优选的，所述通用测试方法还包括:所述测试包括功能测试和老化测试。
[0012]优选的，所述功能测试包括:CPU压力测试、内存压力测试、PC1-E总线测试、I2C总线测试、I2C设备探针测试、本地总线测试、NandFlash测试、风扇测试、多卡供电测试、实时时钟测试、LPSRAM测试以及其他外围设备测试的一种或任意组合中的一种。
[0013]优选的，所述老化测试包括:对所述数据通信产品的CPU及CPU外围芯片进行压力测试；若所述压力测试有失败项，对所述数据通信产品排查并解除问题；若通过压力测试，则判断所述压力测试时间是否达到预设测试时间阈值；若达到，则判定通过测试；若未达至IJ，则继续执行所述压力测试直至达到所述预设测试时间阈值。
[0014]为实现上述目标及其他相关目标，本专利申请提供一种数据通信产品的生产方法，包括如上所述的数据通信产品的通用测试方法。
[0015]如上所述，本专利申请提供的一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法，其中，所述通用测试方法包括:获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息，烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品，进而对所述待测试的数据通信产品进行测试，并在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件，进而烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品，进而在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件，应用此测试方法，可以避免不同客户使用不同测试流程的弊端，大大简化了测试流程，降低了人力成本，提升了生产效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。
[0017]图2显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。
[0018]图3显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。
[0019]图4显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。
[0020]元件标号说明
[0021]SI?S8 步骤流程
【具体实施方式】
[0022]以下通过特定的具体实例说明本专利申请的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利申请的其他优点与功效。本专利申请还可以通过另外不同的【具体实施方式】加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利申请的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0023]请参阅图1，本专利申请提供一种数据通信产品的通用测试方法，包括:
[0024]步骤S1:获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息；
[0025]步骤S2:烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品；
[0026]步骤S3:对所述待测试的数据通信产品进行测试；
[0027]步骤S4:判断所述测试是否有失败项；
[0028]步骤S5:若没有失败项，即测试通过，则在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件；
[0029]步骤S6:烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品;
[0030]步骤S7:在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件。
[0031]优选而非必需的，所述通用测试方法还可以包括:
[0032]步骤S8:在所述测试有失败项时，对所述数据通信产品排查并解除问题。在本实施例中，是检测是否存在一些可修复的故障或者并非是产品本身的实质性故障缺陷，而在其他实施例中，也可以增加对修复的方式或次数加以限定，以进一步提升产品良率；或者也可以将未通过的作为不合格品直接返工亦可，并非以本实施例为限。
[0033]在本实施例中，所述产品信息包括:所述数据通信产品对应的客户信息及数据通信产品的规格参数信息；优选的，所述数据通信产品依产品信息的不同而分为多种，也就是说，可以根据客户的不同而采用不用的软件，例如客户基于Linux自己开发的符合自身需求的软件等等。
[0034]优选的，所述测试可以包括:功能测试和老化测试。功能测试和老化测试对数据通信产品所对应客户信息要求并不高，即使客户有所不同，但由于是同类型产品，其功能和器件还是有标准的，在执行该类或类似类别的测试时还是大同小异的。
[0035]在本实施例中，所述功能测试包括:CPU压力测试、内存压力测试、PC1-E总线测试、I2C总线测试、I2C设备探针测试、本地总线测试、NandFlash测试、风扇测试、多卡供电测试、实时时钟测试、LPSRAM测试以及其他外围设备测试中的一种或任意组合中的一种，在测试时对所述各功能测试项进行逐一执行。
[0036]如图2所示，在一实施例中，所述老化测试可以包括:
[0037]步骤S301:对所述数据通信产品的CPU及CPU外围芯片进行压力测试；
[0038]步骤S302:判断是否有失败项；
[0039]步骤S303:若所述压力测试有失败项，对所述数据通信产品排查并解除问题；
[0040]步骤S304:若通过压力测试，则判断所述压力测试时间是否达到预设测试时间阈值；
[0041]步骤S305:若达到，则判定通过测试；
[0042]步骤S306:若未达到，则继续执行所述压力测试直至达到所述预设测试时间阈值。
[0043]当然以上功能性测试及老化测试的内容仅为例示性地列举，在其他实施例中亦可有多种实施方式，仅需满足本领域技术人员可以通过本申请的技术方案而无需创造性劳动实现即可，并非以本实施例为限。
[0044]此外，优选的，所述多种数据通信产品在所述测试过程中生成同一格式的测试记录(LOG)便于查看管理，如此，综上，就可以通过提供统一的测试接口(包括测试接口和老化启动方式)和统一的LOG记录方式，将功能测试和老化测试进行整合，就可以根据统一的接口来开发统一的UI测试软件，这样用同一套测试软件来保证不同的客户的测试需求。
[0045]如图3及图4所示，在一实施例中，对所述步骤S6及步骤S7的烧录及配置客户软件的步骤作进一步扩展；
[0046]如图3所示，所述步骤S6可以包括:
[0047]步骤S601:烧录客户软件；
[0048]步骤S602:判断烧录客户软件是否失败；若所述烧录客户软件失败，重新烧录所述客户软件；若烧录成功则进入步骤S7。
[0049]如图4所示，可以接着所述步骤S6，所述步骤S7可以包括:
[0050]步骤S701:配置客户软件；
[0051]步骤S702:根据配置信息判断是否配置成功；若配置失败，则重新配置[0052]步骤S703:若配置成功，则判定为通过测试的良品；
[0053]综上，本专利申请还可以提供一种数据通信产品的生产方法，包括如上所述的数据通信产品的通用测试方法，可有效提升写产品生产的良率。
[0054]需说明的是，上述各种实施方式的变化可分开独立实现也可以合并一起实现，以本领域技术人员可以实施为准，而非以上述实施例为限。
[0055]综上所述，本专利申请提供的一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法，其中，所述通用测试方法包括:获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息，烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品，进而对所述待测试的数据通信产品进行测试，并在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件，进而烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品，进而在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件，应用此测试方法，可以避免不同客户使用不同测试流程的弊端，大大简化了测试流程，降低了人力成本，提升了生产效率。
[0056]上述实施例仅例示性说明本专利申请的原理及其功效，而非用于限制本专利申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属【技术领域】中具有通常知识者在未脱离本专利申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利申请的权利要求所涵盖。
【权利要求】
1.一种数据通信产品的通用测试方法，其特征在于，包括: 获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息； 烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品； 对所述待测试的数据通信产品进行测试； 在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件； 烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品； 在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件。
2.根据权利要求1所述的通用测试方法，其特征在于，所述产品信息包括:所述数据通信产品对应的客户信息及数据通信产品的规格参数信息。
3.根据权利要求1或2所述的通用测试方法，其特征在于，所述数据通信产品依产品信息的不同而分为多种，所述多种数据通信产品在所述测试过程中生成同一格式的测试记录。
4.根据权利要求1所述的通用测试方法，其特征在于，还包括:在所述测试有失败项时，对所述数据通信产品排查并解除问题。
5.根据权利要求1所述的通用测试方法，其特征在于，还包括:在所述烧录客户软件失败时，重新烧录所述客户软件。
6.根据权利要求1所述的通用测试方法，其特征在于，还包括:确认所述配置是否成功，若失败则重新执行所述配置。
7.根据权利要求1所述的通用测试方法，其特征在于，所述测试包括功能测试和老化测试。
8.根据权利要求7所述的通用测试方法，其特征在于，所述功能测试包括:CPU压力测试、内存压力测试、PC1-E总线测试、I2C总线测试、I2C设备探针测试、本地总线测试、NandFlash测试、风扇测试、多卡供电测试、实时时钟测试、LPSRAM测试以及其他外围设备测试的一种或任意组合中的一种。
9.根据权利要求7所述的通用测试方法，其特征在于，所述老化测试包括: 对所述数据通信产品的CPU及CPU外围芯片进行压力测试； 若所述压力测试有失败项，对所述数据通信产品排查并解除问题； 若通过压力测试，则判断所述压力测试时间是否达到预设测试时间阈值； 若达到，则判定通过测试； 若未达到，则继续执行所述压力测试直至达到所述预设测试时间阈值。
10.一种数据通信产品的生产方法，其特征在于，包括如权利要求1至9中任一项所述的数据通信产品的通用测试方法。
【文档编号】H04L12/26GK103746760SQ201410027648
【公开日】2014年4月23日 申请日期:2014年1月21日 优先权日:2014年1月21日
【发明者】王如义, 宁木轩 申请人:加弘科技咨询(上海)有限公司