用于光模块测试的测试板子的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于光模块测试的测试板子，该测试板包括固定在测试板PCB上的待调测试光模块，发射端数字信号线负端布线，发射端数字信号线正端布线，收端数字信号线负端布线，收端数字信号线正端布线和自环芯片CDR，其中，发射端数字信号线负端布线TD-，发射端数字信号线正端布线TD+，收端数字信号线负端布线RD-，收端数字信号线正端布线RD+的四条布线的一端与自环芯片CDR连接，另一端通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-,RD+,TD-,TD+,从而收发端以自环的形式得到通信。测试板由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信，且无同轴电缆线连接头，可以大幅减少测试板制造成本，同时使得发端引脚接受到的调制信号更加稳定可靠。
【专利说明】用于光模块测试的测试板子
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及光纤通信测试领域，特别是光模块调试和测试的测试板设计领 域。
【背景技术】
[0002] 在目前的光纤信号通信测试领域中，通常用于发端的调制信号是直接来自于BERT (误码率测试仪Bit Error Ratio Tester)。在发射端接收到光信号后，把光信号转化成电 信号，再通过测试板子上的SMA (同轴线缆/天线连接头-A型SUB-MINIATURE-A)连接头， 用同轴电缆线把信号返回到BERT。这样经常需要通过多个SMA转接头连接，这种设计会出 现多种问题：一是测试板子本身的设计成本比较高；二是信号经过同轴电缆线和多次SMA 转接头转接后，信号质量变差，特别是同轴电缆线比较长的时候，信号质量下降的情况尤其 明显；三是在转接中带来各种不确定的因素会影响信号的质量，比如同轴电缆线松动、SMA 连接匹配阻抗不佳、外部信号干扰等，特别是对于高速率如4G及其以上速率的信号，多次 经过SMA连接头转接或者把一路调制信号经过1C (仪表芯片Instrument Chip)分成多路 调制信号后，会不同程度的影响信号质量。
【发明内容】
[0003] 本实用新型的目的在于解决传统调测试系统中信号链路光纤和同轴电缆线混用 转接，信号质量变差，以及一路调制信号经过1C分成多路调制信号后，影响信号质量的问 题，本实用新型提供了以下的技术方案：
[0004] 一种用于光模块测试的测试板子，该测试板包括：发射端数字信号线负端布线 TD- (1)，发射端数字信号线正端布线TD+ (2)，收端数字信号线正端布线RD+ (3)，收端数字 信号线负端布线RD- (4)和自环芯片⑶R (7)，其中，发射端数字信号线负端布线TD- (1)， 发射端数字信号线正端布线TD+ (2)，收端数字信号线正端布线RD+ (3)，收端数字信号线 负端布线RD- (4)的四条布线的一端与自环芯片⑶R (7)连接，另一端通过PCB上的布线 分别连接到待测试模块的收端RD-，RD+，TD-，TD+，从而收发端以自环的形式得到通信。
[0005] 进一步的，收发信号通过自环连接，测试板子无需通过同同轴电缆线连接，收发回 路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。
[0006] 与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
[0007] (1)减少测试板的成本，由于本测试板只有光路，无同轴电缆线连接头和同轴电缆 线，而同轴电缆线SMA连接头是比较昂贵的，因此可以较大幅度地减少测试板的成本；
[0008] (2)提高发端调制信号的质量。由于在系统链路中用光纤替代了同轴电缆线，根据 光纤线缆传输信号的稳定特性，发端引脚接受到的调制信号更加稳定、可靠。
【专利附图】
【附图说明】
[0009] 图1当前通用的测试板子布线及构成图。
[0010] 图2本实用新型的测试板子布线及构成图。
【具体实施方式】
[0011] 下面结合试验案列及【具体实施方式】对本实用新型作进一步的详细描述。但不应将 此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本
【发明内容】
所实现的技 术均属于本实用新型的范围。
[0012] 本实用新型公开了一种用于光模块测试的测试板子，包括测试板子上调制信号的 自布线方案，调测试所需要的发射端调制信号通过自环芯片CDR从发射端信号获得，通过 在测试板子上直接将误码仪调制光源发出的光信号由测试板子上待测光模块的发射端所 接收，发射端光信号转化成电信号后，直接从印刷电路板上布线连接到发端的调制信号接 收引脚，从而使待测光模块获得调制信号。并且收发信号通过自环连接，测试板子无需通过 同同轴电缆线连接，收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。
[0013] 结合图1，是当前通用的测试板子布线及构成，其中，（1)是来自Bert的发射端调 制信号差分信号负端布线；（2)是来自BERT的发射端调制信号差分信号正端布线；（3)是 模块发射端光转化成电后从PCBA (印刷电路板Printed Circuit Board Assembly)上的 返回BERT发射端的差分信号正端布线；（4)是模块发射端光转化成电后从PCBA上的返回 BERT发射端的差分信号负端布线；（5) - (8)是同轴电缆线；（9)是发端光信号光纤连接 线；（10)是收端光信号光纤连接线；（11)是发射端差分信号负端SMA转接头；（12)是发射 端差分信号正端SMA转接头；（13)是返回BERT发射端的差分信号正端SMA转接头；（14) 是返回BERT发射端的差分信号负端SMA转接头；（15)待测模块发端TOSA (Transmitter Optical Subassembly，光发射组件）；（16)为待测模块收端 ROSA (Receiver Optical Subassembly,光接收组件）；（17)为待测试模光模块。
[0014] 其中，待测的光模块（17)包括T0SA模块（15)和ROSA模块（16)，光信号通过收端 光纤（10)进入待调测试光模块（17)，光模块（17)将光信号转化为电信号，电信号经过PCBA 上的布线（3)和（4)，通过SMA转接头（13)和（14)，用同轴电缆（7)和（8)把信号返回到 BERT ;BERT将电信号进行检测之后，将调制后的电信号用同轴电缆（5)和（6)通过SMA转接 头（11)和（12)，经过PCBA上的布线（1)和（2)进入光模块中，在光模块中将电信号转化为 光信号，传送到发端的光纤（9)中。
[0015] 结合图2,是本实用新型的测试板子布线及构成图，其中：（1)TD_ (发射端数字信 号线-Transmit Data-) ;(2)TD+(发射端数字信号线+Transmit Data+) ;(3)RD+ (收端信 号线+Received Data+); (4) RD-(收端信号线-Received Data-); (5) TX Fiber (连接发 射端的光纤线）；（6) RX Fiber (连接接收端的光纤线）；（7)自环芯片⑶R (时钟数字信号 恢复芯片Clock Data Recover Chip),注意：此芯片根据实际信号质量的要求，可有可无； (8) 待测模块T0SA ; (9)为待测试模光模块；（10)为待测模块ROSA。
[0016] 在进行测试的过程中，将待调测试光模块（9)固定在测试板PCB上，待测试光模块 (9) 包括T0SA (8)和ROSA (10)模块；连接发射端的光纤线（5)和连接收端的光纤线（6) 连接在待测试光模块（9)之上。
[0017] 在PCB测试板子上设计有：发射端数字信号线负端布线（1)，发射端数字信号线正 端布线（2)，收端数字信号线负端布线（4)，收端数字信号线正端布线（3)和自环芯片CDR (7)，其中，发射端数字信号线负端布线（1)，发射端数字信号线正端布线（2)，收端数字信 号线负端布线（4)，收端数字信号线正端布线（3)的一端与自环芯片⑶R (7)连接，另一端 通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-，RD+，TD-，TD+，从而收发端以自环的 形式得到通信。
[0018] 其中，光信号通过收端光纤（6)进入待调测试光模块（9)，光模块（9)将光信号转 化为电信号，电信号经过PCBA上的布线（3)和（4)，通过自环芯片⑶R (7)直接将电信号经 过PCBA上的布线（1)和（2)进入返回到光模块（10)中，在光模块（9)中将电信号转化为光 信号，传送到发端的光纤（5)中。
[0019] 从以上实施例比较中，可以看出本实用新型由于测试板只有光路，无同轴电缆线 连接头和同轴电缆线，从而也不需要同轴电缆线SMA连接头，可以较大幅度地减少测试板 的成本。同时，由于在系统链路中用光纤替代了同轴电缆线，根据光纤线缆传输信号的稳定 特性，发端引脚接受到的调制信号更加稳定、可靠。
[0020] 同时，本发明也可以解决因为调制信号被1C 一路分成多路信号后，信号发生失 真、信号质量恶化，信号受EMI (电磁干扰Electromagnetic Interference)影响，信号随着 同轴电缆线的长度变长而变差等若干问题。另外，由于测试板子上无同轴电缆线和SMA连 接头和1C芯片，因此，测试板子的成本得到大幅度地降低，性能更加可靠。
【权利要求】
1. 一种用于光模块测试的测试板子，其特征在于，该测试板包括：发射端数字信号线 负端布线TD-(l)，发射端数字信号线正端布线TD+(2)，收端数字信号线正端布线RD+(3)， 收端数字信号线负端布线RD- (4)和自环芯片CDR (7)，其中，发射端数字信号线负端布线 TD- (1)，发射端数字信号线正端布线TD+ (2)，收端数字信号线正端布线RD+ (3)，收端数 字信号线负端布线RD- (4)的四条布线的一端与自环芯片⑶R (7)连接，另一端通过PCB 上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-，RD+，TD-，TD+，从而收发端以自环的形式得到 通信。
2. 根据权利要求1所述的光模块测试的测试板子，其特征在于，收发信号通过自环连 接，测试板子无需通过同同轴电缆线连接，收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆 线进行通信。
【文档编号】H04B10/07GK203872175SQ201420310062
【公开日】2014年10月8日 申请日期:2014年6月12日 优先权日:2014年6月12日
【发明者】海来勇布 申请人:索尔思光电（成都）有限公司