一种1xN多通道光开关的轮询测试系统的制作方法
【专利摘要】本发明涉及测试系统【技术领域】，公开了一种1xN多通道光开关的轮询测试系统，包括：光源组、第一光开关、耦合器、Pin管、第二光开关、N通道功率计测试模块、第三光开关及可编程控制器；光源组与第一光开关的输入端连接，第一光开关的输出端与耦合器的输入端连接；耦合器的输出端与Pin管的输入端连接，Pin管的输出端与可编程控制器连接；耦合器的输出端与第二光开关的输入端连接；第二光开关的输出端与待测光开关的输入端连接，第二光开关的输出端与第三光开关的输入端连接；待测光开关的输出端与测试模块的输入端连接，测试模块的输出端与第三光开关的输入端连接；第三光开关的输出端与可编程控制器连接。本发明具有操作简便和省时的特点。
【专利说明】一种IxN多通道光开关的轮询测试系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试系统【技术领域】，主要适用于IxN多通道光开关的轮询测试系统。
【背景技术】
[0002]随着网络的扩容、业务量种类的增多、FTTH (Fiber To The Home)技术和CATV (Community Antenna Televis1n)技术的逐渐发展，以往的1χ2、2χ2光开关已经不能满足现在1x32、1x64、1x128光链路以上的多端口需求。由于端口太多，无论是光开关的生产还是在用户侧的测试都存在操作繁琐复杂及浪费时间的缺陷。其中，光开关的核心指标包括:插入损耗(IL)、隔离度(ISO)、回波损耗(RL)和切换延时(switch time)，且均需要测试。
[0003]由光开关的应用场景决定了光开关为多波长应用的器件，而最基础的光开关也需要满足双窗口 1310nm和1550nm波长的使用要求。如果按照常规的人工——端口测试的方法，测试一只多端口光开关，需要更换上百次的测试连接跳线，手动依次切换各个通道，无论是在测试准备阶段、测试过程中还是数据的采集阶段，操作都极其麻烦且耗时。
【发明内容】
[0004]本发明所要解决的技术问题是提供一种IxN多通道光开关的轮询测试系统装置，它能够对光开关的核心指标进行测试，且具有操作简便和省时的特点。
[0005]为解决上述技术问题，本发明提供了一种IxN多通道光开关的轮询测试系统，包括:光源组、第一 1*N光开关、第一 1*N耦合器、第一 Pin管、第二 1*N光开关、N通道功率计测试模块、第三1*N光开关及可编程控制器；所述光源组的输出端与所述第一 1*N光开关的输入端连接，所述第一 1*N光开关的输出端与所述第一 1*N親合器的输入端连接；所述第一1*N耦合器的第一输出端与所述第一 Pin管的输入端连接，所述第一 Pin管的输出端与所述可编程控制器的输入端连接；所述第一 1*N耦合器的第二输出端与所述第二 1*N光开关的输入端连接；所述第二 1*N光开关的第一输出端与待测1*N光开关的输入端连接，所述第二 1*N光开关的第二输出端与所述第三1*N光开关的第一输入端连接；所述待测1*N光开关的N通道输出端各自分别与所述N通道功率计测试模块的输入端连接，所述N通道功率计测试模块的输出端与所述第三1*N光开关的第二输入端连接；所述第三1*N光开关的输出端与所述可编程控制器的输入端连接。
[0006]进一步地，所述N通道功率计测试模块包括:N个1*N耦合器和N个Pin管；所述待测1*N光开关的N通道输出端各自分别与所述N个1*N耦合器的输入端连接；所述N个1*N耦合器的第一输出端各自分别与所述N个Pin管的输入端一一对应连接，所述N个Pin管的输出端与所述可编程控制器的输入端连接；所述N个1*N耦合器的第二输出端与所述第三1*N光开关的第二输入端连接。
[0007]进一步地，所述可编程控制器包括:
[0008]第一运算模块，用于通过公式IL = (Ρ---3Χ+Ρ---?η) /2~Pr^~计算出插入损耗IL ;其中，P+x_max为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最大光功率；P+X_min为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最小光功率；Pg_x为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；Prt+x为所述第一 Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；P ph为所述第一Pin管在插入损耗测试时探测到的光功率。
[0009]进一步地，所述可编程控制器包括:
[0010]第二运算模块，用于通过公式IL = (Ρ---3Χ+Ρ---?η)/2-ΡΓ_?_χ-(Ρ0-?-χ-ΡΓ0-?-χ)计算出隔离度；其中，P+x-max为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最大光功率；P+X_min为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最小光功率；Pg-x为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；Prt+x为所述第一 Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；P 为所述第一 Pin管在插入损耗测试时探测到的光功率。
[0011]进一步地，所述可编程控制器包括:
[0012]第三运算模块，用于通过公式RL = -1Olog ((Prw-Prl^zero)/(Prl-1-ref-Prl-1-zero) ) +14.7计算出回波损耗RL ;其中，P&为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的光功率；Prt+ZOT。为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在回损测试绕模归零时探测到的光功率；Prt+Mf为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在校准标准回损测试跳线的回损时探测到的光功率。
[0013]进一步地，还包括:第一 FC/APC适配器组；所述待测1*N光开关的N通道输出端各自分别与所述第一 FC/APC适配器组中各适配器的输入端一一对应连接，所述第一 FC/APC适配器组中各适配器的输出端各自分别与所述N个1*N耦合器的输入端一一对应连接。
[0014]进一步地，还包括:第二FC/APC适配器组个1*N耦合器的第二输出端各自分别与所述第二 FC/APC适配器组中各适配器的输入端一一对应连接，所述第二 FC/APC适配器组中各适配器的输出端与所述第三1*N光开关的第二输入端连接。
[0015]进一步地，还包括:高低温循环箱；所述待测1*N光开关设置在所述高低温循环箱中。
[0016]进一步地，还包括:第二 1*N耦合器和第二 Pin管；所述第二 1*N光开关的第一输出端与所述第二 1*N耦合器的输入端连接，所述第二 1*N耦合器的第一输出端与所述第二Pin管的输入端连接，所述第二 Pin管的输出端与所述可编程控制器的输入端连接；所述第二 1*N耦合器的第二输出端与所述待测1*N光开关的输入端连接。
[0017]进一步地，还包括:连接FC/APC适配器和连接FC/UPC适配器；所述第二 1*N耦合器的第二输出端与所述连接FC/APC适配器的输入端连接，所述连接FC/APC适配器的输出端与所述待测1*N光开关的输入端连接；所述第二 1*N光开关的第二输出端与所述连接FC/UPC适配器的输入端连接，所述连接FC/UPC适配器的输出端与所述第三1*N光开关的第一输入端连接。
[0018]本发明的有益效果在于:
[0019]本发明提供的IxN多通道光开关的轮询测试系统，通过光源组输出不同波长的光信号，并通过对第一 1*N光开关、第二 1*N光开关和第三1*N光开关的选择控制，输出所需波长的光；再通过第一 Pin管和N通道功率计测试模块探测光的功率；最后通过可编程控制器输出测试结果。当需要测试待测光开关在通过其他波长的光信号时的指标时，只需通过光源组输出所需波长的光，再调节第一 1*N光开关、第二 1*N光开关和第三1*N光开关选择输入输出即可，从而实现了对光开关的核心指标进行测试，且操作简便和省时。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]图1为本发明实施例提供的IxN多通道光开关的轮询测试系统的结构示意图；
[0021]图2为本发明实施例提供的IxN多通道光开关的轮询测试系统的工作流程图；
[0022]其中，1-光源组，2-第一 1*N光开关，3-第一 1*N親合器，4_第一 Pin管，5-第二1*N光开关，6-N通道功率计测试模块，7-第三1*N光开关，8-可编程控制器，9-第二 1*N耦合器，10-第二 Pin管，11-连接FC/UPC适配器，12-待测1*N光开关，13-连接FC/APC适配器，14-高低温循环箱。
【具体实施方式】
[0023]为进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的IxN多通道光开关的轮询测试系统的【具体实施方式】及工作原理进行详细说明。
[0024]参见图1，本发明实施例提供的IxN多通道光开关的轮询测试系统，包括:光源组1、第一 1*N光开关2、第一 1*N耦合器3、第一 Pin管4、第二 1*N光开关5、N通道功率计测试模块6、第三1*N光开关7及可编程控制器8 ;光源组I的输出端与第一 1*N光开关2的输入端连接，第一 1*N光开关2的输出端与第一 1*N親合器3的输入端连接；第一 1*N親合器3的第一输出端与第一 Pin管4的输入端连接，第一 Pin管4的输出端与可编程控制器8的输入端连接(未在图中不出)；第一 1*N親合器3的第二输出端与第二 1*N光开关5的输入端连接；第二 1*N光开关5的第一输出端与待测1*N光开关12的输入端连接，第二 1*N光开关5的第二输出端与第三1*N光开关7的第一输入端连接；待测1*N光开关12的N通道输出端各自分别与N通道功率计测试模块6的输入端连接，N通道功率计测试模块6的输出端与第三1*N光开关7的第二输入端连接；第三1*N光开关7的输出端与可编程控制器8的输入端连接。其中，光源组I能够输出不同波长的光。第一 1*N耦合器3为1*299:1的耦合器，1*299:1的耦合器的I %分光端接第一 Pin管4的输入端，用以监控光源光强，1*299:1的耦合器的99%端接第二 1*N光开关5的输入端。
[0025]进一步对本发明实施例的结构进行说明，本发明实施例还包括:第二 1*N耦合器9、第二 Pin管10和连接FC/UPC适配器11 ;第二 1*N光开关5的第一输出端与第二 1*N耦合器9的输入端连接，第二 1*N耦合器9的第一输出端与第二 Pin管10的输入端连接，第二 Pin管10的输出端与可编程控制器8的输入端连接(未在图中示出)；第二 1*N耦合器9的第二输出端与待测1*N光开关12的输入端连接。第二 1*N光开关5的第二输出端与连接FC/UPC适配器11的输入端连接，连接FC/UPC适配器11的输出端与第三1*N光开关7的第一输入端连接。进一步地，本发明实施例还包括:连接FC/APC适配器13 ;第二 1*N耦合器9的第二输出端与连接FC/APC适配器13的输入端连接，连接FC/APC适配器13的输出端与待测1*N光开关12的输入端连接。其中，第二 1*N耦合器9为1x250:50耦合器。
[0026]对本发明实施例中N通道功率计测试模块6的结构进行说明，N通道功率计测试模块6包括:N个1*N耦合器和N个Pin管；待测1*N光开关12的N通道输出端各自分别与N个1*N耦合器的输入端连接#个1*N耦合器的第一输出端各自分别与N个Pin管的输入端一一对应连接，N个Pin管的输出端与可编程控制器8的输入端连接(未在图中示出)；N个1*N耦合器的第二输出端与第三1*N光开关7的第二输入端连接。其中的1*N耦合器均为1x250:50耦合器。
[0027]对本发明实施例中的可编程控制器8进行说明，可编程控制器8包括:
[0028]第一运算模块，用于通过公式IL = (Ρ---3Χ+Ρ---?η) /2~Pr^~计算出插入损耗IL，单位为dB ;其中，P+x_maxS N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管探测到的最大光功率，单位为dbm ;P+x_minS N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管探测到的最小光功率，单位为dbm ;Pg_xS N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率，单位为dbm ;Prt+x为第一 Pin管4在插入损耗校准时探测到的光功率，单位为dbm Tph为第一 Pin管4在插入损耗测试时探测到的光功率，单位为dbm。以常规多波长功率计为例，X为a、b、c、d。其中，a表示1550光源测试插损，b表示1310光源测试插损，c表示1490光源测试插损，d表示外接光源测试插损。
[0029]第二运算模块，用于通过公式IL = (P+x-max+P十x_min) /2-Pr+x_(P0+x_Pr0+x)计算出隔离度；这里需要说明的是，隔离度与插损的测试方法及计算公式一致，区别在于，隔离度为当前通道非工作状态的计算值，而插损为当前通道工作状态的计算值。
[0030]第三运算模块，用于通过公式RL = -1Olog ((Prw-Prl^zero)/(Prl-1-ref-Prl-1-zero) ) +14.7计算出回波损耗RL，单位为dB ;其中，Ρ?为N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管探测到的光功率；Pri+ZCT。为N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管在回损测试绕模归零时探测到的光功率N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管在校准标准回损测试跳线的回损时探测到的光功率；14.7是为了保证测试准确采用的标准14.7dB回损校准跳线。对本发明实施例的结构进行进一步的说明，本发明实施例还包括:第一 FC/APC适配器组和第二 FC/APC适配器组；待测1*N光开关12的N通道输出端各自分别与第一 FC/APC适配器组中各适配器的输入端对应连接，第一FC/APC适配器组中各适配器的输出端各自分别与N通道功率计测试模块6中的N个1*N耦合器的输入端一一对应连接。N通道功率计测试模块6中的N个1*N耦合器的第二输出端各自分别与第二 FC/APC适配器组中各适配器的输入端一一对应连接，第二 FC/APC适配器组中各适配器的输出端与第三1*N光开关7的第二输入端连接。
[0031]为了对光开关的温度相关损耗(TDL)进行测试，本发明实施例还包括:高低温循环箱14 ;待测1*N光开关12设置在高低温循环箱14中。
[0032]以1550/1310nm波长双窗口测试为例，参见图2，测试流程如下:
[0033]将1550nm和1310nm测试光源作为系统光源与第一 1*N光开关2的输入端连接；并将第二 1*N光开关5的输出端切换至第一输出端；判定是否进行功率校准，并选择需要校准的功率计模块及需要校准的波长；
[0034]当判定需要校准1550nm波长时，将第一 1*N光开关2的输出端切换至第一输出端；然后将第二 1*N光开关5的第一输出端与N通道功率计测试模块6中需要校准的通道连接，选择相应的探测波长，并通过可编程控制器8记录第二 Pin管10、第一 Pin管4、N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的功率。
[0035]当判定需要校准1310nm波长时，将第一 1*N光开关2的输出端切换至第二输出端；然后将第二 1*N光开关5的第一输出端与N通道功率计测试模块6中需要校准的通道连接，选择相应的探测波长，并通过可编程控制器8记录第一 Pin管4、N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的功率。
[0036]接着，需要判断是否进行回损校准，并选择需要校准的功率计模块。
[0037]如果需要进行回损校准，将第二 1*N光开关5的输出端切换至第二输出端；再将标准回损测试跳线接入到进行回损校准的N通道功率计测试模块6 ;接着将回损测试跳线绕模，记录N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的光功率，并测试校准标准回损测试跳线的回损，记录N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的光功率。
[0038]接着，选择测试通道和测试波长，将第二 1*N光开关5的输出端切换到第一输出端，开始进行测试。
[0039]进行1550波长的功率测试，需要将第一 1*N光开关2的输出端切换至第一输出端，通过可编程控制器8记录第一 Pin管4的光功率，N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的功率最大值，N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的功率最小值，通过公式计算得到插入损耗和隔离度。
[0040]进行1310波长的功率测试，需要将第一 1*N光开关2的输出端切换至第二输出端，通过可编程控制器8记录第一 Pin管4的光功率，N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的功率最大值，N通道功率计测试模块6中第i个通道的Pin管的功率最小值，通过公式计算得到插入损耗和隔离度。
[0041]进行1550波长的回损测试，需要将第一 1*N光开关2的输出端切换至第一输出端，将待测1*N光开关12的输入端连接器从光源输出跳线中拔出并绕模，并依次切换第三1*N光开关7的1-N输入端，并通过可编程控制器8记录各个通道的光功率，再通过公式计算得到回损。
[0042]进行1310波长的回损测试，需要将第一 1*N光开关2的输出端切换至第二输出端，将待测1*N光开关12的输入端连接器从光源输出跳线中拔出并绕模，并依次切换第三1*N光开关7的1-N输入端，并通过可编程控制器8记录各个通道的光功率，再通过公式计算得到回损。
[0043]另外，本发明实施例提供的测试系统还具有轮询的功能，通过轮询1-N个测试通道，并在示波器的配合下可以读取不同通道的切换延时，同时还可以监控待测1*N光开关12的监控引脚的状态。另外，在计数器的配合下，用脉冲驱动一直打动待测1*N光开关12，通过轮询1-N个通道可以对待测1*N光开关12的寿命进行测试。如果将待测1*N光开关12置于高低温循环箱14中，可以完成对光开关的温度相关损耗(TDL)的测试。如果将待测1*N光开关12置于其他实验箱中，还可以进行其他指标的测试。另外，在本实施例中，由于50:50的親合器的一个输出端接Pin管作为光强监控端口，当此端口的损耗值高于预设阈值时，就可以判定测试系统的该链路光路出现异常，因此，本发明实施例提供的测试系统还具有光强监控的功能，因而便于设备的监测和维护。
[0044]需要说明的是，由于第三1*N光开关7在链路光功率有冗余，因而在满足功率计探测范围要求的情况下，可以将其更换为IxN分路器。
[0045]还需要说明的是，在本发明实施例的基础上可以通过使用光谱仪、偏振控制仪或者示波器等设备，完成对波长相关损耗(WDL)、偏振相关损耗(TOL)或切换波形等指标的测试。具体地，如将N通道功率计测试模块6换为光谱仪，就可以扫描待测1*N光开关12的光谱，测试波长相关损耗(WDL)。如果在光源组I前端加入偏振控制仪，就可以在测量待测1*N光开关12的插损的同时，测试偏振相关损耗(I3DL)。如果在待测1*N光开关12的驱动控制处接入示波器，就可以测试待测1*N光开关12的切换波形。
[0046]本发明实施例提供的IxN多通道光开关的轮询测试系统，通过光源组I输出不同波长的光信号，并通过对第一 1*N光开关2、第二 1*N光开关5和第三1*N光开关7的选择控制，输出所需波长的光；再通过第一 Pin管4和N通道功率计测试模块6探测光的功率；最后通过可编程控制器8输出测试结果。当需要测试待测光开关在通过其他波长的光信号时的指标时，只需通过光源组I输出所需波长的光，再调节第一 1*N光开关2、第二 1*N光开关5和第三1*N光开关7选择输入输出即可，从而实现了对光开关的核心指标进行测试，且操作简便和省时。在本发明实施例中，通过对FC/APC斜头适配器的使用，降低了光路中的回返光的干扰，从而提高了测试精度。由于本发明实施例可以与其他设备配合使用，以完成对光开关其他指标的测试，因而本发明实施例还具有可扩展性，大大提高了本发明实施例的实用性。除此之外，对于其他IxN类的光器件的性能指标，也可以使用本发明实施例进行测试，因而本发明实施例还具有很强的适用性。此外，由于本发明实施例中所使用的设备均为基础设备，如1*N光开关、1*N耦合器、Pin管等，避免了回损仪等高价值设备的使用，因而本发明实施例还具有成本低的特点。
[0047]最后所应说明的是，以上【具体实施方式】仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照实例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
【权利要求】
1.一种IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，包括:光源组、第一 1*N光开关、第一 1*N耦合器、第一 Pin管、第二 1*N光开关、N通道功率计测试模块、第三1*N光开关及可编程控制器；所述光源组的输出端与所述第一 1*N光开关的输入端连接，所述第一 1*N光开关的输出端与所述第一 1*N I禹合器的输入端连接；所述第一 1*N I禹合器的第一输出端与所述第一 Pin管的输入端连接，所述第一 Pin管的输出端与所述可编程控制器的输入端连接；所述第一 1*N耦合器的第二输出端与所述第二 1*N光开关的输入端连接；所述第二1*N光开关的第一输出端与待测1*N光开关的输入端连接，所述第二 1*N光开关的第二输出端与所述第三1*N光开关的第一输入端连接；所述待测1*N光开关的N通道输出端各自分别与所述N通道功率计测试模块的输入端连接，所述N通道功率计测试模块的输出端与所述第三1*N光开关的第二输入端连接；所述第三1*N光开关的输出端与所述可编程控制器的输入端连接。
2.如权利要求1所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，所述N通道功率计测试模块包括:N个1*N耦合器和N个Pin管；所述待测1*N光开关的N通道输出端各自分别与所述N个1*N親合器的输入端连接；所述N个1*N親合器的第一输出端各自分别与所述N个Pin管的输入端一一对应连接，所述N个Pin管的输出端与所述可编程控制器的输入端连接；所述N个1*N耦合器的第二输出端与所述第三1*N光开关的第二输入端连接。
3.如权利要求2所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，所述可编程控制器包括: 第一运算模块，用于通过公式IL =/2-Pr^x- (Po-^-PrO-1J计算出插入损耗IL ;其中，P+x_max为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最大光功率；P+X_min为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最小光功率；Pg-x为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；Prt+x为所述第一 Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；P 为所述第一 Pin管在插入损耗测试时探测到的光功率。
4.如权利要求2所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，所述可编程控制器包括: 第二运算模块，用于通过公式IL =/2-Pr^x~(Po-^-Pro-1J计算出隔离度；其中，P+x-max为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最大光功率；P+X_min为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的最小光功率；Pg_x为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；Ρκ)+χ为所述第一 Pin管在插入损耗校准时探测到的光功率；Ρ ο+χ为所述第一 Pin管在插入损耗测试时探测到的光功率。
5.如权利要求2所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，所述可编程控制器包括:
第二运算模块，用于通过公式 RL = -1Olog ( (Pr1-1_Pr1-1-zero) / (Prl-1-ref_Prl-1-Zero) )+14.7计算出回波损耗RL ;其中，为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管探测到的光功率；Pri+ZOT。为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在回损测试绕模归零时探测到的光功率为所述N通道功率计测试模块中第i个通道的Pin管在校准标准回损测试跳线的回损时探测到的光功率。
6.如权利要求2所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，还包括:第一FC/APC适配器组；所述待测1*N光开关的N通道输出端各自分别与所述第一 FC/APC适配器组中各适配器的输入端一一对应连接，所述第一 FC/APC适配器组中各适配器的输出端各自分别与所述N个1*N親合器的输入端 对应连接。
7.如权利要求2或6所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，还包括:第二 FC/APC适配器组；所述N个1*N耦合器的第二输出端各自分别与所述第二 FC/APC适配器组中各适配器的输入端一一对应连接，所述第二 FC/APC适配器组中各适配器的输出端与所述第三1*N光开关的第二输入端连接。
8.如权利要求1所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，还包括:高低温循环箱；所述待测1*N光开关设置在所述高低温循环箱中。
9.如权利要求1所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，还包括:第二1*N親合器和第二 Pin管；所述第二 1*N光开关的第一输出端与所述第二 1*N親合器的输入端连接，所述第二 1*N耦合器的第一输出端与所述第二 Pin管的输入端连接，所述第二 Pin管的输出端与所述可编程控制器的输入端连接；所述第二 1*N耦合器的第二输出端与所述待测1*N光开关的输入端连接。
10.如权利要求9所述的IxN多通道光开关的轮询测试系统，其特征在于，还包括:连接FC/APC适配器和连接FC/UPC适配器；所述第二 1*N耦合器的第二输出端与所述连接FC/APC适配器的输入端连接，所述连接FC/APC适配器的输出端与所述待测1*N光开关的输入端连接；所述第二 1*N光开关的第二输出端与所述连接FC/UPC适配器的输入端连接，所述连接FC/UPC适配器的输出端与所述第三1*N光开关的第一输入端连接。
【文档编号】H04B10/07GK104506233SQ201510007828
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2015年1月8日 优先权日:2015年1月8日
【发明者】张永红, 陈国祥 申请人:武汉正光恒远科技有限公司