一种射频自动校准衰减校准系统和校准方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及工厂生产自动化测试，尤其涉及一种射频自动校准衰减校准系统和校准方法。
【背景技术】
[0002]在现代化的工厂生产过程中，为了提升生产效率，越来越多的工厂采用计算机控制仪器完成测试工作，而采用仪器完成测试的话，特别是射频性能测试时，则必须要使用射频线并搭建一套测试环境，因此，我们需要测算出整个环境对测试结果造成的影响，也就是衰减，即信号在传输介质中传播时，将会有一部分能量转化成热能或者被传输介质吸收，从而造成信号强度不断减弱的一种现象。
[0003]针对不同的测试环境，不同的连接线，甚至是温度的差异，都会造成测试环境的衰减变化，因此，测试环境一旦变化，都需要对整个测试环境的衰减进行测量。手动校准环境衰减的过程，首先要将仪器的两个射频口，一个设为发射口，一个设为接收口，并将测试环境的输入端接在仪器发射口上，将测试环境的输出端接在仪器的接收口上，使用仪器配套软件，控制仪器发射口产生一个固定信号强度的信号，然后，由仪器接收口接收这个信号，人为计算出发射的信号与接收到的信号强度的差值，这个差值就是测试环境的衰减值。但是，由于不同信道之间的衰减会存在差异，所以不同的信道，也需要分别进行校准衰减，这就需要校准很多次。特别是在工厂大规模生产时，人为的去一次次校准衰减，费事费力，且通过人为的读取和计算衰减值，也容易发生错误。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种射频自动校准衰减校准系统和校准方法，解决了目前对仪器的射频校准方式仍然采用人工校准，存在费事费力，且误差大的问题。
[0005]为解决上述问题，本发明所采取的技术方案是:
[0006]一种射频自动校准衰减校准系统，包括相互通过网线连接的PC和无线性能测试仪器，所述无线性能测试仪器上设有射频发射口和射频接收口，所述射频发射口和射频接收口通过射频线分别连接至测试环境的输入端和输出端。
[0007]一种射频自动校准衰减校准方法，包括以下步骤:
[0008]步骤一，在PC中装载自动校准衰减程序；
[0009]步骤二，打开自动校准衰减程序，获取所有需要校准的天线和信道的数据参数；
[0010]步骤三，对其中一条需要校准的天线和信道，发射一个信号强度为-10DB的特定信号;
[0011]步骤四，所述特定信号在经过测试环境之后，由射频接收口接收，进行采样；
[0012]步骤五，通过PC控制无线性能测试仪器以预定的时间间隔，连续发射特定信号实现连续采样，PC上的自动校准衰减程序，对采样结果进行排序，删除最大值和最小值，取出中间值，中间值相互之间的差值小于或等于0.0TB，计算出中间值的平均值，该平均值减去-10算出来的值即为该天线和信道的衰减值；
[0013]步骤六，逐一对需要校准的天线和信道发射特定信号，最终完成所有天线和信道的校准测试并制成衰减值对照表。
[0014]更进一步的，对同一天线和信道的连续采用间隔时间为100ms，连续采样次数在7次以上。
[0015]采用上述技术方案所产生的有益效果在于:应对经常需要进行校正衰减以及大规模生产过程中，需要校正很多次衰减的情况，通过计算机控制仪器，自动完成校准衰减，免去了人为反复操作的工作量，并大幅提升了工作效率和可靠性。
【附图说明】
[0016]图1是本发明一种射频自动校准衰减系统连接示意图。
[0017]图2是本发明一种射频自动校准衰减方法流程示意图。
【具体实施方式】
[0018]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0019]图1示出了本发明一种射频自动校准衰减校准系统一个实施例:一种射频自动校准衰减的系统，包括相互通过网线连接的PC和无线性能测试仪器，所述无线性能测试仪器上设有射频发射口和射频接收口，所述射频发射口和射频接收口通过射频线分别连接至测试环境的输入端和输出端。
[0020]图2示出了本发明一种射频自动校准衰减校准方法的实施例的一个实施例，包括以下步骤:
[0021]步骤一，在PC中装载自动校准衰减程序；
[0022]步骤二，打开自动校准衰减程序，获取所有需要校准的天线和信道的数据参数；
[0023]步骤三，对其中一条需要校准的天线和信道，发射一个信号强度为-10DB的特定信号;
[0024]步骤四，所述特定信号在经过测试环境之后，由射频接收口接收，进行采样；
[0025]步骤五，通过PC控制无线性能测试仪器以预定的时间间隔，连续发射特定信号实现连续采样，PC上的自动校准衰减程序，对采样结果进行排序，删除最大值和最小值，取出中间值，中间值相互之间的差值小于或等于0.0TB，计算出中间值的平均值，该平均值减去-10算出来的值即为该天线和信道的衰减值；
[0026]步骤六，逐一对需要校准的天线和信道发射特定信号，最终完成所有天线和信道的校准测试并制成衰减值对照表。
[0027]根据本发明一种射频自动校准衰减校准方法的一个优选实施例，对同一天线和信道的连续采用间隔时间为100ms，连续采样次数在7次以上。
[0028]以一款DLink 2740U产品校准衰减为例，提供本发明的一个实施例:
[0029]先将一台安装有自动校准衰减程序的PC与一台LitePoint IQnxn通过网线连接，并通过射频线连接IQnxn的射频发射口和测试环境的输入端，再通过射频线连接IQnxn的射频接收口和测试环境的输出端。
[0030]射频自动校准衰减的方法包括以下步骤:
[0031]步骤一，在PC中装载自动校准衰减程序；
[0032]步骤二，打开自动校准衰减程序，获取所有需要校准的天线和信道的数据参数，Dlink 2740U需要校准天线O的1，6，11信道和天线I的1，6，11信道，总共6个信道的衰减值；
[0033]步骤三，对其中一条需要校准的天线和信道，发射一个信号强度为-10DB的特定信号;
[0034]步骤四，所述特定信号在经过测试环境之后，由射频接收口接收，进行采样；
[0035]步骤五，通过PC控制无线性能测试仪器以预定的10ms时间间隔，连续7次发射特定信号实现连续采样，PC上的自动校准衰减程序，对采样结果进行排序，删除最大值和最小值，取出5个中间值，中间值相互之间的差值小于或等于0.0TB，计算出中间值的平均值，该平均值减去-10算出来的值即为该天线和信道的衰减值；
[0036]步骤六，逐一对需要校准的天线和信道发射特定信号，最终完成所有天线和信道的校准测试并制成衰减值对照表。
[0037]尽管这里参照本发明的多个解释性实施例对本发明进行了描述，但是，应该理解，本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变型和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。
【主权项】
1.一种射频自动校准衰减校准系统，其特征在于:包括相互通过网线连接的PC和无线性能测试仪器，所述无线性能测试仪器上设有射频发射口和射频接收口，所述射频发射口和射频接收口通过射频线分别连接至测试环境的输入端和输出端。
2.一种射频自动校准衰减校准方法，其特征在于包括以下步骤: 步骤一，在PC中装载自动校准衰减程序； 步骤二，打开自动校准衰减程序，获取所有需要校准的天线和信道的数据参数； 步骤三，对其中一条需要校准的天线和信道，发射一个信号强度为-1ODB的特定信号； 步骤四，所述特定信号在经过测试环境之后，由射频接收口接收，进行采样； 步骤五，通过PC控制无线性能测试仪器以预定的时间间隔，连续发射特定信号实现连续采样，PC上的自动校准衰减程序，对采样结果进行排序，删除最大值和最小值，取出中间值，中间值相互之间的差值小于或等于0.5DB,计算出中间值的平均值，该平均值减去-10算出来的值即为该天线和信道的衰减值； 步骤六，逐一对需要校准的天线和信道发射特定信号，最终完成所有天线和信道的校准测试并制成衰减值对照表。
3.根据权利要求2所述的一种射频自动校准衰减校准方法，其特征在于:对同一天线和信道的连续采用间隔时间为100ms，连续采样次数在7次以上。
【专利摘要】本发明公开了涉及工厂生产自动化测试，尤其涉及一种射频自动校准衰减校准系统和校准方法，该系统包括相互通过网线连接的PC和无线性能测试仪器，所述无线性能测试仪器上设有射频发射口和射频接收口，所述射频发射口和射频接收口通过射频线分别连接至测试环境的输入端和输出端。本发明的作用是：应对经常需要进行校正衰减以及大规模生产过程中，需要校正很多次衰减的情况，通过计算机控制仪器，自动完成校准衰减，免去了人为反复操作的工作量，并大幅提升了工作效率和可靠性。
【IPC分类】H04B17-12, H04B17-30, H04B17-21
【公开号】CN104767574
【申请号】CN201510209050
【发明人】闻敏刚, 刘立刚, 朱明辉
【申请人】太仓市同维电子有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年4月29日