拍摄设备以及用于漏光校正的方法
【专利摘要】公开了一种拍摄设备以及用于漏光校正的方法。一种拍摄设备，包括：图像传感器，包括多个像素，并被配置为在第一读出时间对存储在多个像素之中的一组像素中的电荷执行第一读出，并在第二读出时间对存储在包括所述一组像素的所述多个像素中的电荷执行第二读出；图像处理器，被配置为基于第一读出电荷的值和第二读出电荷的值中的至少一个来检测在所述多个像素之中的已发生漏光的像素，并对检测出的像素执行校正以产生图像。
【专利说明】拍摄设备以及用于漏光校正的方法
[0001 ] 本申请要求于2015年2月2日提交到韩国知识产权局的第10-2015-0016019号韩国专利申请的优先权，其公开通过引用全部合并于此。
技术领域
[0002]与示例性实施例一致的设备和方法涉及使用漏光校正的拍摄图像，更具体地涉及通过校正发生在全局快门中的漏光来拍摄图像。
【背景技术】
[0003]通常存在两种类型的对接收到拍摄设备的透镜中的光进行电转换的图像传感器:电荷耦合器件(CCD)传感器和互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器。
[0004]这两种类型的传感器通过快门的操作来保留适当的漏光，其中，快门的操作是通过开始和/或结束曝光来调整光的量。快门可以在各种电子快门机制(诸如，例如滚动快门和全局快门)下进行操作。
[0005]在滚动快门方法中，图像传感器不具有存储积聚在每个像素处的光电二极管中的电荷的存储器，因此对每个像素连续地启动和结束曝光。换句话说，在每个像素处的光电二极管不同时收集光。在同一时间段，在图像传感器的一行中的所有像素收集光，但光收集开始和结束的时间对于每行稍有不同。
[0006]在全局快门方法中，在图像传感器的所有像素中同时开始曝光，并且在适当的曝光时间之后，使用提供给每个像素的存储器，在所有像素中同时结束曝光。
[0007]然而，在CMOS型全局快门中，当全局快门进行操作时，在光生电荷被存储在像素级贮存器中直至电荷被读出之后，可能发生漏光现象，因此在像素级贮存器中的光生电荷可泄漏到与高亮度对象相关的周围像素中。例如，在最后读出的像素的情况下，漏光现象与执行读出的时间成比例地变得更加严重。
【发明内容】
[0008]示例性实施例至少解决以上问题和/或缺点以及以上未描述的其它缺点。此外，示例性实施例不需要克服上述缺点，并可不克服上述问题中的任何问题。
[0009]—个或多个示例性实施例提供全局快门型拍摄设备和方法，其中，所述方法能够校正由于漏光现象而引起的图像质量的恶化，其中，漏光现象在存储于每个像素的存储器中的电荷在图像传感器中被读出时发生。
[0010]根据示例性实施例的一方面，提供了一种拍摄设备，其中，所述拍摄设备包括:图像传感器，包括多个像素，并且被配置为在第一读出时间对存储在所述多个像素之中的一组像素中的电荷执行第一读出并在第二读出时间对存储在包括所述一组像素的所述多个像素中的电荷执行第二读出；图像处理器，被配置为基于第一读出电荷的值和第二读出电荷的值中的至少一个来检测在所述多个像素之中的已发生漏光的像素，并对检测出的像素执行校正以产生图像。
[0011]图像处理器可将所述一组像素的第二读出值与阈值进行比较，并响应于所述一组像素中的至少一个像素的第二读出值超过所述阈值来将所述一组像素中的所述至少一个像素确定为已发生漏光的漏光像素。
[0012]图像处理器可确定在漏光像素的外围上的外围像素的电荷的第二读出值与漏光像素的电荷的第一读出值之间的差值，并基于所述差值和漏光像素的第二读出值来将外围像素确定为已发生漏光的外围漏光像素。
[0013]图像处理器可通过从外围漏光像素的第二读出值减去所述差值或通过从外围漏光像素的第二读出值减去漏光像素的第二读出值来确定校正值，以校正外围漏光像素的第二读出值。
[0014]图像处理器可基于所述一组像素的第一读出值、外围漏光像素的校正值和除了外围漏光像素之外的所述多个像素的第二读出值来产生图像。
[0015]图像处理器可响应于外围漏光像素的第二读出值等于或大于阈值来将漏光像素的第一读出值确定为外围漏光像素的校正值。
[0016]响应于所述一组像素的第一读出值小于阈值，图像处理器可基于所述一组像素的第一读出值和除了所述一组像素之外的所述多个像素的第二读出值来产生图像。
[0017]拍摄设备还可包括被配置为测量被拍摄对象的照度值的照度传感器。图像处理器可分析照度值以将所述一组像素确定为执行第一读出的像素。
[0018]图像处理器可基于照度值确定在被拍摄对象的图像中是否存在光源区域、可响应于存在光源区域以轮作方法确定所述一组像素以及可响应于不存在光源区域以跳过方法确定所述一组像素。
[0019]图像处理器可分析照度值以确定对所述一组像素的多个读出，从而以跳过方法执行第一读出。
[0020]根据另一示例性实施例的一方面，提供了一种用于拍摄设备的漏光校正的方法，其中，所述方法包括:在第一读出时间对存储在多个像素之中的一组像素中的电荷执行第一读出；在第二读出时间对存储在包括一组像素的所述多个像素中的电荷执行第二读出；基于第一读出电荷的值和第二读出电荷的值中的至少一个来检测在所述多个像素之中的已发生漏光的像素;对检测出的像素执行校正以校正存储在检测出的像素中的电荷的值；基于检测出的像素的校正值和存储在除了检测出的像素之外的所述多个像素中的电荷的值来产生图像。
[0021]检测步骤可包括:将所述一组像素的第二读出值与阈值进行比较，并响应于所述一组像素中的至少一个像素的第二读出值超过所述阈值来将所述一组像素中的所述至少一个像素确定为漏光像素。
[0022]检测步骤可包括:确定在漏光像素的外围上的外围像素的电荷的第二读出值与漏光像素的电荷的第一读出值之间的差值，并基于所述差值和漏光像素的第二读出值将外围像素确定为已发生漏光的外围漏光像素。
[0023]执行校正的步骤可包括:通过从外围漏光像素的第二读出值减去所述差值或通过从外围漏光像素的第二读出值减去漏光像素的第二读出值来确定校正值以校正外围漏光像素的第二读出值。
[0024]产生图像的步骤可包括:基于所述一组像素的第二读出值、外围漏光像素的校正值和除了外围漏光像素之外的所述多个像素的第二读出值来产生图像。
[0025]执行校正的步骤可包括:响应于外围漏光像素的第二读出值等于或大于阈值，基于漏光像素的第一读出值确定外围漏光像素的校正值。
[0026]产生图像的步骤可包括:响应于所述一组像素中的每个像素的第一读出值小于阈值，基于所述一组像素的第一读出值和除了所述一组像素之外的所述多个像素的第二读出值来产生图像。
[0027]所述方法还可包括:分析由照度传感器测量的照度值并将所述一组像素确定为执行第一读出的像素。
[0028]确定步骤可包括:响应于基于照度值确定光源区域存在于被拍摄对象的图像中，以轮作方法确定所述一组像素，响应于确定不存在光源区域，以跳过方法确定所述一组像素。
[0029]确定步骤可包括:分析照度值，并确定对所述一组像素的多个读出，以按照跳过方法执行第一读出。
[0030]根据另一示例性实施例的一方面，提供了一种由拍摄设备产生图像的方法，其中，所述方法包括:将图像的具有大于照度阈值的照度值的区域确定为轮作区域;在第一读出时间对包括在轮作区域中的第一组像素执行第一读出；在第二读出时间对包括在轮作区域中的第一组像素和第二组像素执行第二读出，其中，第一组像素和第二组像素被交替地布置;基于第一组像素的第二读出值和泄漏阈值之间的比较来检测第一组像素之中的漏光像素;对漏光像素执行校正以校正第二读出值。
[0031]执行第一读出的步骤可通过跳过方法被执行，其中，在跳过方法中第一组像素被读出并且第二组像素被跳过。
[0032]所述方法还可包括基于第二组像素的第二读出和第一组像素的第一读出值之间的差来将第二组像素中的至少一个像素确定为漏光像素。
[0033]根据示例性实施例，拍摄设备可在对存储在图像传感器中的多个像素中的电荷执行读出的同时快速地检测已发生漏光现象的区域。此外，根据示例性实施例的拍摄设备可对检测出的漏光现象执行校正，从而改善图像质量的恶化。
【附图说明】
[0034]通过参照附图描述特定的示例性实施例，以上和/或其它方面将更加明显，其中:
[0035]图1是示出一般全局快门的图像传感器的示例性视图；
[0036]图2是示出读出在全局快门的图像传感器中的电荷的操作的示例性视图；
[0037]图3是示意性的示出根据示例性实施例的拍摄设备的框图；
[0038]图4是根据示例性实施例的图像传感器的框图；
[0039]图5是根据示例性实施例的读出存储在图像传感器中的多个像素中的电荷的示例性视图；
[0040]图6是根据示例性实施例的拍摄设备的详细的框图；
[0041]图7A和图7B是根据示例性实施例的在拍摄设备中以跳过方法读出存储在图像传感器中电荷的示例性视图；
[0042]图8A和图SB是根据示例性实施例的在拍摄设备中以轮作方法读出存储在图像传感器中电荷的示例性视图；
[0043 ]图9A、图9B和图9C是示出根据示例性实施例的当在拍摄设备的图像传感器中读出电荷时电荷的运动的示例性视图；
[0044]图1OA和图1OB是示出根据示例性实施例在拍摄设备的图像传感器中基于跳过方法发生漏光现象的区域的第一示例性视图；
[0045]图1lA和图1lB是示出根据示例性实施例的在拍摄设备的图像传感器中基于跳过方法发生漏光现象的区域的第二示例性视图；
[0046]图12A和图12B是根据示例性实施例的确定在拍摄设备的图像传感器中由于漏光现象而将被校正的区域的示例性视图；
[0047]图13A和图13B是根据示例性实施例在拍摄设备的图像传感器中不存在漏光区域的情况下执行读出的示例性视图；
[0048]图14是根据示例性实施例的用于在拍摄设备中执行漏光校正的方法的流程图。
【具体实施方式】
[0049]下面参照附图更加详细地描述示例性实施例。
[0050]在以下描述中，即使在不同附图中，相同的附图标号也被用于相同的元件。提供在描述中限定的事项(诸如详细构造和元件)以帮助全面理解本发明。然而，显而易见的是可在没有那些具体限定的事项的情况下来实施示例性实施例。此外，由于公知的功能或构造将利用不必要的细节来模糊本发明，因此不详细描述它们。
[0051 ]术语“第一”、“第二”等可被用于描述不同的组件，但是，组件不被所述术语限制。所述术语仅被用于将一个组件与其它组件进行区分。
[0052]在描述示例性实施例中使用的术语仅被用于描述示例性实施例，而并不意图限制本公开的范围。单数表述也可包括复数含义，只要在上下文中不是不同的表示。术语“包括”和“由…组成”指定说明书中所写的特证、数字、步骤、操作、组件、元件或前述项的组合的存在，而不排除一个或更多个其它特征、数字、操作、组件、元件或前述项的组合的存在或添加个或更多个其它特征、数字、操作、组件、元件或前述项的组合的可能。
[0053]图1是使用全局快门机制的图像传感器的示例性示图。
[0054]如图1所示，总体而言，全局快门的图像传感器100包括多个像素，并且所述多个像素中的每个像素包括光电二极管roi 1、存储二极管120和浮动扩散节点FDl 30。
[0055 ]当通过过流门140的复位操作启动向每个像素的光电二极管110的曝光时，每个像素的光电二极管110将接收到的光的光子转换成电荷并积聚电荷。根据示例性实施例，图像传感器110可具有像素存储器结构，其中，在像素存储器结构中，每个像素除了包括光电二极管110和读出电路(诸如第二定时门160)以及浮动扩散节点130之外，还包括像素级存储器(即，存储二极管)120以临时存储光生电荷。
[0056]图像传感器100的每行可同时开始曝光。在曝光结束时，第一定时门150的开关被接通，以处于导通状态。在开关被接通时，积聚在该行中的每个像素的光电二极管110中的电荷可被全局地传送到每个像素的存储二极管120，以使得通过读出扫描逐行地读出传送的电荷。当根据读出定时接通第二定时门160的开关时，每个像素的浮动扩散节点130连读地读出存储在每个像素的存储二极管120中的电荷。存储二极管120可允许在每个单独的像素处执行电荷积聚和读出操作，从而消除了对于滚动快门脉冲的需求。
[0057]图2是全局快门的图像传感器中的电荷被读出的示例性示图。
[0058]如图2所示，每个像素的浮动扩散节点130逐行地连续读出存储在像素阵列210中的存储二极管120中的电荷。
[0059]首先，在像素阵列210的第一行中的浮动扩散节点130读出存储在相应存储二极管120中的电荷。当存储在第一行中的存储二极管120中的电荷被全部读出时，在第二行中的浮动扩散节点130读出存储在第二行中的像素的存储二极管120中的电荷。
[0060]当以这样的顺序读出存储在存储二极管120中的电荷时，在第(η-1)行中的存储二极管120中存储的电荷被全部读出之后，在第η行中的每个像素的浮动扩散节点130可读出存储在第η行中的相应存储二极管120中的电荷。“η”表示正整数。
[0061]同时，不仅在光电二极管110中积聚的电荷(SI)，而且由于衍射和漫反射通过漏光产生的泄露电荷(SLR)可流入每个像素的存储二极管120。
[0062]如图2所示，在从在第一行中的浮动扩散节点130上执行读出时的时间点过去的第一时间段TR01200之后，在像素阵列210的第五行中的浮动扩散节点130可执行读出操作。因此，在第五行的存储二极管120中，在从光电二极管110发送电荷时，泄漏电荷在时间段TRO1200期间被存储。因此，浮动扩散节点130读出包括在时间段TRO1200期间流入存储二极管120中的电荷的电荷的值。
[0063]此外，在从在第一行中的浮动扩散节点130上执行读出时的时间点过去的第二时间段TR02230之后，在第十六行中的浮动扩散节点130可执行读出操作。因此，在第十六行的存储二极管120中，在从光电二极管110发送电荷时，泄漏电荷在Τ2(230)时间段内被存储。因此，浮动扩散节点130可读出包括在第二时间段TR02230期间流入存储二极管120中的泄漏电荷的电荷的值。
[0064]此外，在从在第一行的浮动扩散节点130中执行读出时的时间点过去的第三时间段TR03240之后，在第二十八行中的浮动扩散节点130可执行读出操作。因此，在第十八行的存储二极管120中，在从光电二极管110发送电荷时，泄漏电荷在第三时间段TR03( 240)期间被存储。因此，浮动扩散节点130可读出包括在第三时间段TR03240期间流入存储二极管120中的泄漏电荷的电荷的值。
[0065]像这样，流入每个像素的存储二极管120中的泄漏电荷与读出时间成比例地增加。因此，在在相同照度环境下拍摄白图像的情况下，由于与存储在每个像素的存储二极管120中的电荷的读出时间成比例的泄漏电荷的差异，在图像的上部分和下部分之间可发生分级现象。
[0066]以上，解释了用于读出在全局快门的图像传感器100中的每个像素的存储二极管120中存储的电荷的操作。在下文中，将详细地解释拍摄设备300的组件。
[0067]图3是示意性地示出根据示例性实施例的拍摄设备的框图。
[0068]如图3所示，拍摄设备300可包括图像传感器310和图像处理器320。
[0069]图像传感器310可包括多个像素，并且多个像素中的每个像素可被布置为构成像素阵列。图像传感器310可对存储在所述多个像素中的一些像素中的电荷执行第一读出，并随后对存储在所述多个像素的每个像素中的电荷执行第二读出。图像传感器310可以是全局快门型图像传感器，诸如，例如电荷耦合器件(CCD)传感器或互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器。
[0070]图像处理器320可基于被进行第一读出的一些像素(在下文中，第一读出像素)的电荷的值和被进行第二读出的多个像素(在下文中，第二读出像素)的电荷的值，检测所述多个像素之中的发生漏光现象的像素。漏光现象可指在下一曝光时间期间一些电荷通过传输门从光电二极管或存储二极管泄露以致浮动扩散的现象。图像处理器320可对检测出的像素执行校正并产生反映校正的图像。具体而言，图像传感器310可输出关于一个图像的第一读出像素的电荷的值和第二读出像素的电荷的值。输出值被放大成一定大小的模拟信号，并随后通过模拟-数字转换器(ADC)被转换成数字信号。
[0071]因此，图像传感器320可接收与关于一个图像的从图像传感器310输出的电荷有关的数字信号并检测漏光区域，执行诸如对检测出的漏光区域进行校正和/或合成的图像处理，并且产生关于拍摄的图像的全部图像信号。
[0072]对存储在多个像素中的一些像素中的电荷执行第一读出并随后对存储在多个像素中的电荷执行第二读出的图像传感器310可被构造为如图4所示。
[0073]图4是根据示例性实施例的图像传感器的框图。
[0074]如图4所示，图像传感器310可以是全局快门型图像传感器，诸如，电荷耦合器件(CCD)传感器或互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器。图像传感器310可包括多个像素，并且所述多个像素中的每个像素可包括光电二极管311、存储二极管313和浮动扩散节点315。此外，形成图像传感器310的多个像素中的每个像素可包括接通和断开从光电二极管311到存储二极管313以及浮动扩散节点315的电荷的传输的多个开关SWl和多个开关SW2。
[0075]多个像素的每个光电二极管311可通过透镜10被曝光。光电二极管311可接收光的光子，积聚从光子产生的电荷并将积聚的电荷转换成电信号。此外，多个像素的每个存储二极管313可存储从每个光电二极管311传送的电荷。
[0076]具体而言，响应于用于拍摄正使用积聚在每个光电二极管311中的电荷输入的图像的控制命令，控制器330可控制信号产生器340产生存储信号。根据控制命令，信号产生器340可产生存储信号并将信号提供给图像传感器310。因此，每个光电二极管311可将积聚在每个光电二极管311中的电荷传输到存储二极管313，从而积聚在每个像素中的光电二极管311中的电荷变为存储在每个像素的存储二极管313中。
[0077]像这样，当电荷被存储在每个像素的存储二极管313中时，每个像素的浮动扩散节点315读出存储在每个存储二极管313中的电荷。具体而言，多个像素中的一些像素的浮动扩散节点315对存储在像素的存储二极管313中的电荷执行第一读出。响应于完成了第一读出，所述多个像素中的每个像素的浮动扩散节点315对存储在每个存储二极管313中的电荷执行第二读出。
[0078]因此，图像处理器320可基于关于第一读出像素的电荷的值和关于第二读出像素的电荷的值，检测多个像素之中的发生漏光现象的像素，并且对检测出的像素执行校正并产生反映校正的图像。
[0079]图5是根据示例性实施例的在图像传感器中读出存储在多个像素中的电荷的示例性视图。
[0080]如图5所示，第一区间510是用于根据施加的复位信号和传输信号将积聚在多个像素中的每个像素的每个光电二极管311中的电荷存储在存储二极管313中的区间。
[0081]此外，第二区间520是用于在图像传感器310中对存储在多个像素中的一些像素的存储二极管313中的电荷连续地执行第一读出的区间。在第二区间520中，图像传感器310根据预定读出方法对存储在多个像素中的一些像素的存储二极管313中的电荷连续地逐线(例如，逐行)执行第一读出。这里，预定读出方法可以是跳过方法或轮作方法。因此，图像传感器310可通过跳过或轮作方法中的一种方法对存储在所述多个像素中的一些像素的存储二极管313中的电荷连续地每行执行第一读出操作。在下文中，将详细地解释用于执行这样的第一读出操作的跳过方法或轮作方法。
[0082]此外，第三区间530是用于对存储在多个像素的存储二极管313中的电荷连续地执行第二读出的区间。在第三区间530中，图像传感器310对存储在所述多个像素中的每个像素的存储二极管313中的电荷连续地执行第二读出。
[0083]因此，图像处理器320可基于在第二区间520中由图像传感器310第一读出的一些像素的电荷的值和在第三区间530中由图像传感器310第二读出的多个像素的电荷的值，检测多个像素之中的已发生漏光现象的像素，执行对与检测出的像素相应的区域的校正，并产生图像。
[0084]图6是根据示例性实施例的拍摄设备的详细的框图。
[0085]如图6所示，拍摄设备300除了包括前述的图像传感器310和图像处理器320之外，还可包括控制器330、信号产生器340、显示器350、输入器360、通信器370、照度传感器380和存储器390。
[0086]控制器330控制拍摄设备300的组件的总体操作。例如，控制器330控制信号产生器340将复位信号和传输信号提供给图像传感器310。在控制命令从控制器被发送时，信号产生器340产生复位信号和传输信号，并将产生的复位信号和传输信号提供给图像传感器310。因此，根据从信号产生器340提供的复位信号和传输信号，图像传感器可将积聚在每个像素的光电二极管313中的电荷提供给存储二极管315或通过浮动扩散节点315读出存储在存储二极管315中的电荷。
[0087]在控制器330的控制命令下，显示器350可将在图像处理器320中处理处理和产生的图像和在屏显示(OSD)信息中的至少一个显示在屏幕上。在此，图像可以是拍摄的图像和实时图像中的至少一个。显示器350可与接收用户的触摸命令的触摸面板集成。
[0088]输入器360可接收用户的命令，并且输入器360可包括至少一个按钮。输入器360可包括位于显示器350上的触摸面板。因此，输入器360可通过按钮和触摸面板中的至少一个接收用户的用于拍摄图像或编辑拍摄的图像的命令。
[0089]通信器370可与外部终端设备执行无线或有线数据通信。在与外部终端设备执行无线数据通信的情况下，通信器370可包括以下项中的至少一个:WiFI直接通信模块、近场通信(NFC)模块、Zigbee模块、蜂窝通信模块、第三代(3G)移动通信模块、第四代(4G)移动通信模块和4G长期演进(LTE)通信模块。
[0090]在与外部终端设备执行有线通信的情况下，通信器370可包括诸如通用串行总线(USB)的接口模块，并且通信器370可通过这样的接口模块被物理地连接到诸如个人计算机(PC)的外部终端设备，并可收发图像数据或收发用于执行固件升级的固件数据。
[0091]照度传感器380可测量将被拍摄对象的照度并将测量出的照度值输出到图像处理器320。因此，图像处理器320可基于在照度传感器380中测量出的照度值来确定与将被拍摄对象的亮度相应的亮度值。随后，图像处理器320可分析亮度值并确定多个像素之中的哪些像素将被进行第一读出。
[0092]存储器390可存储关于拍摄的图像的信息以及用于控制拍摄设备300所必需的信息。存储器390可临时存储形成图像传感器310的被进行第一读出的多个像素中的一些像素的电荷的值和被进行第二读出的多个像素的电荷的值。存储器390可被实现为诸如易失性存储器(例如，闪速存储器、电可擦除只读存储器(EEPR0M)和硬盘等)的存储介质。上述的图像传感器320可将第二读出的一些像素的电荷的值(PL)与预定阈值(在下文中被称为第一阈值)进行比较，并将超过第一阈值的至少一个像素检测为已发生漏光现象的像素。具体而言，响应于第一读出像素中的一些像素之中的至少一个像素(在下文中被称为第一像素)的电荷的第二读出值(PL)超过第一阈值，可将第一像素检测为已发生漏光现象的像素。例如，第一像素可包括在极有可能发生漏光现象的高亮度拍摄对象区域中。在这种情况下，在电荷已经被进行第一读出并被清除的第一像素的存储二极管313中，可流入泄漏电荷。因此，当对已经通过图像传感器310被进行第一读出的第一像素执行第二读出时，图像传感器320可接收关于流入第一像素的存储二极管313中的泄漏电荷的电荷的值(PL)的输入。
[0093]当关于第一像素的电荷的第二读出值(PL)被输入时，图像处理器320可将第一像素的电荷的第二读出漏光值(PL)与第一阈值进行比较，并响应于第一像素的电荷的第二读出漏光值(PL)超过第一阈值，图像处理器320可将第一像素检测为已发生漏光现象的漏光像素。
[0094]像这样，当第一像素被检测为漏光像素时，图像处理器320可确定在第一像素的外围的像素(在下文中被称为第二像素)的电荷的第二读出值(PI)与第一像素的电荷的第一读出值(PR)之间的差值。第二像素可与第一像素邻近，并可被称为外围像素或邻近像素。随后，图像处理器320可将差值与第一像素的电荷的第二读出值(PL)进行比较，并将第二像素检测为外围漏光像素。在示例性实施例中，当从在第一像素的外围的被检测为漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)和第一像素的电荷的第一读出值(PR)确定了差值时，图像传感器320确定差值和第一像素的电荷的第二读出值(PL)之间的差是否小于预定阈值(在下文中被称为第二阈值)。如果确定差值和第一像素的电荷的第二读出值之间的差小于第二阈值，则图像处理器320可将在第一像素的外围上的第二像素检测为外围漏光像素。
[0095]例如，在第一像素的外围上的第二像素可包括在很有可能存在漏光现象的高亮度拍摄对象区域中。在这样的情况下，泄漏电荷以及存储在光电二极管311中的电荷可在第二读出期间流入第二像素的存储二极管313中。因此，当通过图像传感器310对第二像素执行第二读出时，图像处理器320可接收包括以下值的电荷的值(PI)的输入:存储在第二像素的存储二极管313中的电荷的值(PR)和关于流入第二像素的存储二极管313中的泄漏电荷的电荷的值(PL)。
[0096]当第二像素的电荷的第二读出值(PI)被输入时，图像处理器320可确定第二像素的电荷的第二读出值(PI)与第一像素的电荷的第一读出值(PR)之间的差值，并且如果确定的差值与第一像素的电荷的第二读出漏光值(PL)之间的差小于第二阈值，则图像处理器320可将第二像素检测为已发生漏光现象的外围漏光像素。当第二像素被检测为外围漏光像素时，图像处理器320可确定电荷的校正值以对检测出的第二像素进行校正。
[0097]在示例性实施例中，图像处理器320可通过从被检测为外围漏光像素的第二像素的像素值(PI)减去预定差值来确定校正值。这里，如上所述，预定差值可以是从在第一像素的外围的被检测为漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)减去第一像素的电荷的第一读出值(PR)得到的结果值。
[0098]在另一示例性实施例中，图像处理器320可通过从第二像素的像素值(PI)减去第一像素的电荷的第二读出漏光值(PL)来确定校正值。第二像素在第一像素的外围上并被检测为外围漏光像素。
[0099]根据另一示例性实施例，当第二像素的电荷的第二读出值(PI)等于或大于预定阈值(在下文中被称为第三阈值)时，图像传感器320可使用在第二像素的外围的第一像素的电荷的第一读出值(PR)来确定第二像素的电荷的校正值。例如，更大量的泄漏电荷可流入与在被检测为已发生漏光现象的区域的像素之中的第二像素相应的区域。在这种情况下，图像处理器320可将第二像素的电荷的第二读出值(PI)和第三阈值进行比较，并响应于第二像素的电荷的第二读出值(PI)超过第三阈值，图像处理器320可将在第二像素的外围的第一像素的电荷的第一读出值(PR)确定为第二像素的电荷的校正值。
[0100]像这样，当确定了外围漏光像素的电荷的校正值时，图像处理器320可使用多个像素中的一些像素的电荷的第一读出值、外围漏光像素的电荷的校正值以及除了外围漏光像素之外的剩余像素的电荷的第二读出值(PI)来产生图像。这里，剩余像素的电荷的第二读出值(PI)可以是未流入剩余像素中的每个像素的每个存储二极管313中而是从光电二极管313移动并被存储的电荷的值。也就是说，剩余像素中的每个像素的电荷的第二读出值(PI)可以是电荷的值(PR)。
[0101]响应于像素中一些像素的电荷的第一读出值(PR)小于预定阈值(在下文中被称为第四阈值)，图像处理器320可使用像素中的一些像素中的每个像素的电荷的第一读出值(PR)和除了像素中的所述一些像素之外的剩余像素中的每个像素的电荷的第二读出值(PI)来产生图像。这里，除了像素中的所述一些像素之外的剩余像素的电荷的第二读出值(PI)可以是从光电二极管311移动到剩余像素中的每个像素的存储二极管313并被存储的电荷的值。也就是说，除了像素中的所述一些像素之外的剩余像素的电荷的第二读出值可以是电荷的值(PR)。
[0102]具体而言，响应于像素中的所述一些像素的电荷的第一读出值(PR)小于第四阈值，图像处理器320确定泄漏电荷不存储在多个像素中的每个像素的存储二极管313中。因此，无需针对在上述一些像素中的每个像素的外围的像素中是否已发生漏光现象执行检查处理，图像处理器320可使用像素中的所述一些像素的电荷的第一读出值(PR)以及除了像素中的所述一些像素之外的剩余像素的电荷的第二读出值(PI)来产生图像。
[0103]根据示例性实施例，图像处理器320可通过分析被拍摄对象(例如，对象的动态图像)的图像和由照度传感器380测量的照度值中的至少一个来确定多个像素之中的将被进行第一读出的像素中的所述一些像素。具体而言，图像处理器320通过分析被拍摄对象的图像和由照度传感器380测量的照度值中的至少一个来确定是否存在光源区域。如果确定在被拍摄对象的某个区域中存在光源，则图像传感器310以轮作方法或轮作和跳过方法确定将被进行第一读出的像素中的一些像素。这里，轮作方法是一种读出布置在像素阵列上的像素之中的属于某行的像素的电荷的方法。
[0104]例如，可确定光源存在于被拍摄对象的第一区域。在这种情况下，图像处理器320确定以轮作方法对多个像素之中的与被拍摄对象的第一区域相应的至少一个像素执行第一读出。也就是说，图像处理器320可将所述多个像素之中的与存在光源的第一区域相应的所述至少一个像素以及在与所述至少一个像素包括在同一行中的剩余像素确定为将被进行第一读出的像素中的一些像素。
[0105]因此，图像传感器310可对存储在与存在光源的第一区域相应的至少一个像素中的电荷和存储在与所述至少一个像素包括在同一行中的剩余像素中的电荷连续地执行第一读出，并随后对存储在多个像素中的电荷执行第二读出。
[0106]然而，未对此进行限制，因此图像传感器310可仅对在相应于存在光源的第一区域的至少一个像素以及与所述至少一个像素包括在同一行中的剩余像素之中的与跳过方法相应的像素中存储的电荷执行第一读出，其中，跳过方法将在下文中被解释。
[0107]如果在被拍摄对象的某个区域不存在光源，则图像处理器320以跳过方法确定将被进行第一读出的像素中的一些像素。这里，跳过方法是一种用于在多个像素上交替地执行读出和跳过的方法。存在多种读跳方法，诸如，例如，从四个连续或相邻像素读出一个像素而跳过其它三个像素的读一跳三(1R3S)方法、以及从六个连续或相邻像素读出一个像素而跳过其它五个像素的读一跳五(1R5S)方法。读跳方法还可包括读一跳一(IRlS)方法、读一跳二(1R2S)方法、读一跳四(1R4S)方法、读二跳一(2R1S)方法、读二跳二(2R2S)方法、读二跳四(2R4S)方法……。具体而言，IRlS方法是一种对在像素阵列上的偶数行或奇数行的第一像素的电荷执行第一读出，并随后跳过对在第一像素的外围上的一个外围像素的读出的方法。
[0108]1R3S方法是一种这样的方法，其中，所述方法对包括在像素阵列上的第一行中的第一像素的电荷执行第一读出，跳过对第一像素的外围上的三个外围像素的读出，并且响应于对第一行的第一读出完成，跳过对包括在第一行后面的3行中的像素的读出，并随后对包括在另一行中的第一像素的电荷执行第一读出，并随后跳过对在第一像素的外围上的3个外围像素的读出。
[0109]2R4S方法是一种这样的方法，其中，所述方法对在连续地存在于像素阵列上的第一和第二行中包括的第一像素的电荷以及在第一像素的外围上的第二像素的电荷执行第一读出，跳过对在第二像素的外围上的4个外围像素的读出，并且响应于对第一和第二行的第一读出完成，跳过对包括在第二行后面的连续地存在的4行中的像素的读出，并随后对包括在连续地存在的4行中的第一像素的电荷和在第一像素的外围上的第二像素的电荷执行第一读出，并随后跳过对在第二像素的外围上的4个外围像素的读出。
[0110]图像处理器320可分析被拍摄对象的图像和由照度传感器380测量的照度值中的至少一个，并通过使用IRl S、1R3S和2R4S方法中的一个确定将被执行第一读出的像素。例如，响应于被拍摄对象的亮度与预定值相同或超过预定值作为分析由照度传感器380测量的照度值的结果，图像处理器320可通过使用IRlS方法确定将被执行第一读出的像素。响应于被拍摄对象的亮度小于预定值，图像处理器320可通过使用2R4S方法来确定将被执行第一读出的像素。然而，未对此进行限制，因此图像处理器320可根据被拍摄对象的亮度通过使用除了上述跳过方法之外的任何其它跳过方法来确定将被执行第一读出的像素。
[0111]如果能够分析图像或由照度传感器380感测的照度值，则图像处理器320可确定将通过使用在多个跳过方法之中的一个预定跳过方法被执行第一读出的像素。
[0112]图7A和图7B是根据示例性实施例的以跳过方法读出存储在拍摄设备的图像传感器中的电荷的示例性示图。
[0113]如图7A所示，图像传感器310可以以预定跳过方法对存储在多个像素中的一些像素中的电荷执行第一读出，并将第一读出输出到图像处理器320。例如，它可以是一种这样的方法，其中，所述方法以1R3S方法对包括在像素阵列上的第一行中的第一像素的电荷执行第一读出，跳过对在第一像素的外围上的3个外围像素的读出，并且响应于对第一行的第一读出完成，跳过对包括在第一行后面连续地存在的3行中的像素的读出，并随后对包括在另一行中的第一像素的电荷执行第一读出，并随后跳过对在第一像素的外围上的3个外围像素的读出。
[0114]在这样的跳过方法中，图像传感器310对存储在多个像素中的一些像素710中的电荷执行第一读出，并将第一读出输出到图像处理器320。因此，图像处理器320可接收一些像素710的电荷的第一读出值(PR)的输入。这里，一些像素710的电荷的第一读出值(PR)是从一些像素710的光电二极管311移动到存储二极管313并被存储在其中的电荷的值。
[0115]在第二读出期间，泄漏电荷可流入第一读出像素710中的至少一个像素，并且在第二读出时间段期间，存储在光电二极管311中的电荷以及泄漏电荷可流入剩余像素720中。
[0116]因此，如图7B所示，图像传感器310可对存储在一些像素710中的电荷执行第一读出，并随后对存储在多个像素中的每个像素中的电荷执行第二读出。因此，图像处理器320可接收关于包括存储在剩余像素720中的泄漏电荷的所有电荷的电荷的值(PI)的输入以及关于存储在一些像素730中的纯泄漏电荷的电荷的值(PL)的输入。因此，图像处理器320可基于已被进行第一读出的一些像素720的电荷的值(PR)、已被进行第二读出的一些像素730的电荷的值(PL)和已被进行第二读出的剩余像素720的电荷的值(PI)来检测已发生漏光现象的像素，并随后对与检测出像素相应的区域执行校正。
[0117]图8A和图SB是根据示例性实施例的在拍摄设备中以轮作方法读出存储在图像传感器中的电荷的示例性视图。
[0118]如图8A所示，图像处理器320分析被拍摄对象的图像或由照度传感器380确定的照度值，并确定是否存在光源区域。如果确定在被拍摄对象的第一区域810中有光源，则图像传感器310以轮作方法确定将被进行第一读出的一些像素。如所示出的，如果在被拍摄对象的第一区域810中存在光源，则图像处理器320可将与存在光源的第一区域810相应的至少一个像素以及与所述至少一个像素包括在同一行中的剩余像素确定为将被进行第一读出的一些像素。当如上所提到的确定了所述一些像素时，图像传感器310按照行对存储在一些像素中的电荷连续地执行第一读出，并按照行对存储在多个像素中的电荷执行第二读出，并将读出输出到图像处理器320。因此，图像处理器320可基于已被进行第一读出的一些像素的电荷的值(PR)、已被进行第二读出的一些像素的电荷的值(PL)和已被进行第二读出的剩余像素的电荷的值(PI)来检测已发生漏光现象的像素，并随后对与检测出的像素相应的区域执行校正。
[0119]如图SB所示，图像传感器310可仅对在以下像素之中的与跳过方法相应的像素中存储的电荷执行第一读出:与存在光源的第一区域820相应的至少一个像素以及与所述至少一个像素包括在同一行中的剩余像素。例如，在以1R3S方法对存储在像素中的电荷执行第一读出的情况下，图像传感器310可仅对与第一区域820相应的像素之中适合于1R3S方法的一些像素821的电荷执行第一读出，并将第一读出输出到图像输出器320。当完成了对适合于1R3S的一些像素821的电荷的第一读出时，图像传感器310可按照行对存储在多个像素中的电荷连续地执行第二读出，并将第二读出输出到图像处理器320。因此，图像处理器320可基于已被进行第一读出的一些像素的电荷的值(PR)、已被进行第二读出的一些像素的电荷的值(PL)和已被进行第二读出的剩余像素的电荷的值(PI)来检测已发生漏光现象的像素，并对与检测出的像素相应的区域执行校正。
[0120]图9A、图9B和图9C是示出根据示例性实施例的电荷当在拍摄设备的图像传感器中被读出时的运动的示例性视图。
[0121]如图9A所示，在多个像素之中的将被进行第一读出的第一像素的存储二极管313存储从光电二极管311移动的电荷910。随后，当以轮作或跳过方法执行快速第一读出时，第一像素的存储二极管313将存储在存储二极管313中的电荷发送到浮动扩散节点315。因此，当存储在存储二极管313中的电荷在被发送到浮动扩散节点315之后被快速地读出时，图像传感器310可将不存在泄漏电荷的图像电荷的电荷的值(PR)输出到图像处理器320。
[0122]如图9B所示，第一像素的存储二极管313仅存储在第二读出期间流入的泄漏电荷930。随后，当执行第二读出时，第一像素的存储二极管313将泄露电荷930发送到浮动扩散节点315。因此，存储在存储二极管313中的电荷940在被发送到浮动扩散节点315之后被读出，因此图像传感器310可仅将关于泄漏电荷的电荷的值(PL)输出到图像处理器320。
[0123]在多个像素之中，未被进行第一读出的第二像素的存储二极管313存储电荷950，其中，如图9C所示，电荷950包括从光电二极管313移动的电荷和在第二读出期间流入的泄漏电荷。随后，当执行第二读出时，第二像素的存储二极管313将包括泄漏电荷的电荷950发送到浮动扩散节点315。因此，存储在存储二极管313中的电荷940在被发送到浮动扩散节点315之后被读出，因此图像传感器310可将包括图像电荷和泄漏电荷的电荷的值(PI)输出到图像处理器320。
[0124]图1OA和图1OB是示出根据示例性实施例在拍摄设备的图像传感器中基于跳过方法已发生漏光现象的区域的第一示例性视图。
[0125]如图1OA所示，图像传感器310根据1R3S方法对存储在多个像素中的一些像素中的电荷执行第一读出。如所示出的，第一像素1010和第二像素1030是对其执行第一读出的像素。第三像素1020和第四像素1040分别在第一像素1010和第二像素1030的外围上，并可以是仅执行第二读出的像素。在这种情况下，图像处理器320可接收关于第一像素的电荷的第一值(PR)的输入和关于已由图像传感器310进行第一读出的第二像素1030的电荷的第二值(PR)的输入。
[0126]当完成了关于包括第一像素1010和第二像素1030的像素中的全部一些像素的第一次读出时，如图1OB所示，图像传感器310对存储在多个像素中的每个像素中的电荷执行第二读出。在这种情况下，图像处理器320可接收关于第一像素1010 ’的电荷的第一值(PL)的输入和关于已由图像传感器310进行第二读出的第二像素1030’的电荷的第二值(PL)的输入。这里，电荷的第一值(PL)和电荷的第二值(PL)可以是关于在第二读出期间流入第一像素1010’和第二像素1030’中的泄漏电荷的值，其中，已根据第一读出从第一像素1010’和第二像素1030’去除了电荷。
[0127]因此，图像处理器320确定关于第一像素1010’的电荷的第一值(PL)和关于第二像素1030’的电荷的第二值(PL)中的每个值是否超过第一阈值。如果确定关于第二像素1030’的电荷的第二值(PL)超过第一阈值，则图像处理器320将在第一像素1010’和第二像素1030’之中的第二像素1030’检测为已发生漏光现象的漏光像素。
[0128]图像处理器320可接收关于第三像素1020’的电荷的第三值(PI)的输入和关于已由图像传感器310进行第二读出的第四像素1040’的电荷的第四值(PI)的输入。这里，电荷的第三值(PI)可以是关于存储在第三像素1020’中的图像电荷的值，电荷的第四值(PI)可以是关于包括存储在第四像素1040’中的图像电荷和在第二读出期间流入第四像素1040’中的泄漏电荷的电荷的值。
[0129]在这种情况下，图像处理器320可基于第四像素1040’的电荷的第四值(PI)和在第四像素1040’的外围上的第二像素1030’的电荷的第一读出第二值(PR)来确定第四像素1040’是否是已发生漏光现象的外围像素。按照这种方式，图像处理器320可检测多个像素之中的已发生漏光现象的外围像素，并且如上所述，图像处理器320可确定关于已发生漏光现象的外围像素的电荷的校正值。
[0130]图1lA和图1lB是示出根据另一示例性实施例的在拍摄设备的图像传感器中基于跳过方法已发生漏光现象的区域的第二示例性视图。
[0131]如图1lA所示，图像传感器310可根据2R4S方法对存储在多个像素中的一些像素中的电荷执行第一读出。如所示出的，包括第一像素至第四像素的第一组1110可以是将根据2R4S方法被进行第一读出的像素。在这种情况下，图像处理器320可接收关于已由图像传感器310进行第一读出的第一组1110的第一像素至第四像素中的每个像素的电荷的第一至第四值(PR)的输入。
[0132]当完成对包括第一组1110的第一像素至第四像素的像素中的全部一些像素的第一读出时，如图1lB所示，图像传感器310可对存储在多个像素中的每个像素中的电荷执行第二读出。在这种情况下，图像处理器320可接收关于已由图像传感器310进行第二读出的第一组1110’的第一像素至第四像素中的每个像素的电荷的值(PL)的输入。这里，关于第一组1110’的第一像素至第四像素中的每个像素的电荷的值(PL)可以是关于在第二读出期间流入第一组1110’的第一像素至第四像素的泄漏电荷的值，其中，已根据第一次读出从第一组1110’的第一像素至第四像素去除了所有电荷。
[0133]因此，图像处理器320确定第一组1110’的第一像素至第四像素中的每个像素的电荷的第二读出值(PL)是否超过第一阈值。如果确定第一组1110’的第一像素至第四像素中的每个像素的电荷的第二读出值(PL)超过第一阈值，则图像处理器320可将第一组1110’的第一像素至第四像素检测为已发生漏光现象的像素。
[0134]当第一组1110’的第一像素至第四像素被检测为漏光像素时，图像处理器320可基于在第一组1110’的第一像素至第四像素的外围上的外围像素的电荷的第二读出值(PI)和第一组1110’的第一像素至第四像素中的每个像素的电荷(PR)的第一读出第一值至第四值，确定外围像素是否是已发生漏光现象的像素。按照这种方式，图像处理器320可检测多个像素之中的已发生漏光现象的外围像素，并且如上所述，图像处理器320可确定关于已发生漏光现象的外围像素的电荷的校正值。
[0135]图12A和图12B是根据示例性实施例的在拍摄设备的图像传感器中确定关于漏光区域的校正区域的示例性视图。
[0136]如图12A所示，图像处理器320可分析由照度传感器380测量的照度值，并确定在被拍摄对象区域1210中是否存在光源区域。如果确定被拍摄对象区域1210中存在光源区域，则图像处传感器310将多个像素之中的与存在光源区域的区域相应的第一区域1211确定为发生漏光现象的区域。随后，图像传感器310根据轮作方法按照行对存储在第一区域1210的每个像素中的电荷连续地执行第一读出，并将关于第一区域1210的每个像素的电荷的值(PR)输出到图像处理器320。
[0137]随后，图像传感器310按照行对存储在多个像素中的电荷连续地执行第二读出，并将关于多个像素的电荷的值(PI)输出到图像处理器320。当输入了已被进行第二读出的多个像素的电荷的值(PI)时，图像处理器320可基于关于已被进行第二读出的第一区域1311的像素的电荷的值(PI)和关于已被进行第一读出的第一区域1311的每个像素的电荷的值来确定关于第一区域1311的每个像素的电荷的校正值。
[0138]如图12B所示，图像处理器320可分析关于被拍摄对象的图像1250并确定在被拍摄对象中是否存在光源区域1250。如果确定在被拍摄对象区域1250中存在光源区域，则图像传感器310将多个像素中的与存在光源区域的区域相应的第一区域1351确定为发生漏光现象的区域。随后，图像传感器310以轮作方法按照行对存储在第一区域1251的每个像素中的电荷连续地执行第一读出，并将关于第一区域1251的每个像素的电荷的值(PR)输出到图像处理器320。
[0139]随后，图像传感器310按照行对存储在多个像素中的电荷连续地执行第二读出，并将关于多个像素的电荷的漏光值(PI)输出到图像处理器320。当输入了关于已被进行第二读的多个像素的电荷的值(PI)时，图像处理器320可基于输入的多个像素的电荷的值(PR)之中的关于已被进行第二读出的第一区域1251的像素的电荷的值(PI)和关于已被进行第一读出的第一区域1251的每个像素的电荷的值(PR)来确定关于第一区域1251的每个像素的电荷的校正值。
[0140]图13A和图13B是根据示例性实施例在拍摄设备的图像传感器中不存在漏光区域的情况下执行读出的示例性视图。
[0141]如图13A所示，当在多个像素之中的至少一个像素中检测到漏光区域时，图像传感器310对存储在所述多个像素中的像素中的一些像素(在下文中称为第一组像素)中的电荷执行第一读出，并对存储在所述多个像素中的每个像素中的电荷执行第二读出。
[0142]当在多个像素之中的至少一个像素中未检测到漏光区域时，如图13B所示，图像传感器310对存储在第一组像素中的电荷执行第一读出，并对存储在所述多个像素中的排除第一组像素之外的剩余像素中的电荷执行第二读出。
[0143]具体而言，当输入了第一组像素的电荷的值(PR)时，图像处理器320确定第一组像素的电荷的值(PR)中的每个值是否小于预定第三阈值。如果确定第一组像素的电荷的值(PR)中的每个值小于预定第三阈值，则图像处理器320确定在被拍摄对象中不存在光源。像这样，当确定在被拍摄对象中不存在光源时，图像传感器310对存储在所述多个像素中的排除第一组像素之外的剩余像素中的电荷执行第二读出，从而相比图13A减少了对存储在所述多个像素中的电荷执行第二读出的时间。图像处理器320使用已被进行第一读出的第一组像素的电荷的值(PR)和已被进行第二读出的剩余像素的电荷的值(PI)来产生图像。
[0144]在下文中，将详细地解释用于在拍摄设备300中执行漏光校正的方法。
[0145]图14是根据示例性实施例的用于在拍摄设备中执行漏光校正的方法的流程图。
[0146]如图14所示，拍摄设备300可分析图像和由照度传感器测量的照度值中的至少一个，并确定图像传感器中包括的多个像素之中的将被进行第一读出的一些像素(在下文中被称为第一组像素)以及将被应用于第一组像素的读出方法(操作S1410)。第一组像素可包括一个或更多个像素。
[0147]为了这个目的，拍摄设备300可分析图像和由照度传感器测量的照度值中的至少一个，并确定是否存在可被确定为漏光区域的光源区域。如果确定存在可被确定为漏光区域的光源区域，则拍摄设备300以轮作方法确定第一组像素。如果确定不存在可被确定为漏光区域的光源区域，则拍摄设备300以跳过方法确定第一组像素。这里，拍摄设备300可分析图像和由照度传感器测量的照度值中的至少一个，并以诸如IR3S方法、IR5S方法、IR2S方法、1R4S方法、2R2S方法和2R4S方法的各种读跳方法中的一种读跳方法来确定第一组像素。
[0148]当确定了第一组像素时，拍摄设备300可以以轮作方法或跳过方法对存储在第一组像素中的电荷执行第一读出(操作S1420)。当完成了第一读出时，拍摄设备300可对存储在所述多个像素中的每个像素中的电荷执行第二读出(S1430)。随后，拍摄设备300可基于已被进行第一读出的第一组像素的电荷的值(PR)、已被进行第二读出的所述多个像素中的每个像素的电荷的值(PI)和已被进行第二读出的第一组像素的电荷的值(PL)中的至少一个来检测在所述多个像素之中的已发生漏光现象的像素，并对与检测出的像素相应的区域执行校正(操作S1440和S1450)。
[0149]随后，拍摄设备300可使用已发生漏光现象的漏光像素的电荷的值和剩余像素的电荷的值来产生被拍摄对象的图像(操作S1460)。
[0150]具体而言，拍摄设备300可将电荷的第二读出值(PL)和已被进行第一读出的第一组像素中的每个像素的第一阈值进行比较。如果第一组像素中的至少一个像素的电荷的第二读出值(PL)超过第一阈值作为比较的结果，则可将这些像素检测为已发生漏光现象的漏光像素。当第一组像素中的至少一个像素被检测为漏光像素(在下文中被称为第一像素)时，拍摄设备300可确定在被检测为漏光像素的第一像素的外围上的外围像素(在下文中被称为第二像素)的电荷的第二读出值(PI)和第一像素的电荷的第一读出值(PR)之间的第一差值。随后，拍摄设备300可确定第一差值和第一像素的电荷的第二读出漏光值(PL)之间的第二差是否小于第二阈值。如果第二差小于第二阈值，则拍摄设备300可将第一像素的外围上的第二像素确定为已发生漏光现象的外围漏光像素。
[0151]当在第一像素的外围上的第二像素被检测为已发生漏光现象的像素时，拍摄设备300可通过从被检测为外围漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)减去预定差值来确定第二像素的电荷的校正值。根据另一示例性实施例，拍摄设备300可通过从已被检测为外围漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)减去第一像素的电荷的第二读出值(PL)来确定第二像素的电荷的校正值。
[0152]根据示例性实施例，如果被检测为外围漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)等于或大于第三阈值，则拍摄设备300可将在第二像素的外围上的第一像素的电荷的第一读出值(PR)确定为第二像素的电荷的校正值。例如，在与像素之中的被检测为外围漏光像素的第二像素相应的区域中，相比被检测为漏光像素的外围像素，更多泄漏电荷可流入。在这种情况下，图像处理器320可将被检测为外围漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)与第三阈值进行比较，如果被检测为外围漏光像素的第二像素的电荷的第二读出值(PI)与第三阈值相同或高于第三阈值，则图像处理器320可将第二像素的外围上的第一像素的电荷的第一次读出值(PR)确定为电荷的校正值。
[0153]随后，拍摄设备300可使用电荷的第一读出值(PR)、外围漏光像素的电荷的校正值和除外围漏光像素之外的剩余像素的电荷的第二读出值(PI)来产生图像。这里，剩余像素的电荷的第二读出值(PI)可以是未流入剩余像素中的每个像素的每个存储二极管313中而是从光电二极管311被移动并被存储的电荷的值。
[0154]如果电荷的第一读出值(PR)小于第四阈值，则拍摄设备300可使用电荷的第一读出值(PR)和剩余像素的电荷的第二读出值(PI)来产生图像。这里，剩余像素的电荷的第二读出值(PI)可以是被从光电二极管311移动到剩余像素的存储二极管313并被存储在其中的电荷的值。也就是说，剩余像素的电荷的第二读出值(PI)可以是电荷的值(PR)。
[0155]具体而言，如果电荷的第一读出值(PR)小于第四阈值，则拍摄设备300可确定在多个像素中的每个像素的存储二极管313中未存储泄露电荷。因此，拍摄设备300可使用第一组像素中的电荷的第一读出值(PR)和剩余像素的电荷的第二读出值(PI)来产生图像，而无需执行上述的检测是否已发生漏光现象的处理。
[0156]虽然未限制于此，但示例性实施例可被实现为计算机可读记录介质上的计算机可读代码。计算机可读记录介质可以是可存储可随后由计算机系统读取的数据的任何数据存储装置。计算机可读记录介质的示例包括只读存储器(R0M)、随机读取存储器(RAM)、CD-R0M、磁带、软盘和光学数据存储装置。计算机可读记录介质也可被分布于联网的计算机系统上，从而以分布方式存储和运行计算机可读代码。此外，示例性实施例可被编写为在计算机可读传输介质(诸如，载波)上传输并在运行所述程序的通用或专用数字计算机中被接收和执行的计算机程序。此外，理解的是:在示例性实施例中，上述设备和装置中的一个或更多个单元可包括电路、处理器、微处理器等，并可运行存储在计算机可读介质中的计算机程序。
[0157]前述示例性实施例和优点仅是示例性的并且将不被理解为限制。本教导可被容易地应用于其它类型的设备。此外，示例性实施例的描述意图是示意性的而不是意在限制权利要求的范围，许多可选方案、修改和变化对本领域技术人员将是清楚的。
【主权项】
1.一种拍摄设备，包括: 图像传感器，包括多个像素，并且被配置为对存储在所述多个像素之中的一组像素中的电荷执行第一读出，并对存储在所述多个像素中的电荷执行第二读出； 图像处理器，被配置为基于第一读出电荷的值和第二读出电荷的值中的至少一个来检测所述多个像素之中的发生漏光现象的像素，并对与检测出的像素相应的区域执行校正以产生图像。2.根据权利要求1所述的拍摄设备， 其中，图像处理器将所述一组像素的电荷的第二读出值与预定阈值进行比较，并将所述一组像素中的超过所述预定阈值的至少一个像素检测为已发生漏光现象的漏光像素。3.根据权利要求2所述的拍摄设备， 其中，图像处理器计算在漏光像素的外围上的外围像素的电荷的第二读出值与漏光像素的电荷的第一读出值之间的差值，并 基于计算出的差值和漏光像素的第二读出值，将外围像素检测为已发生漏光现象的外围漏光像素。4.根据权利要求3所述的拍摄设备， 其中，图像处理器通过从外围漏光像素的第二读出值减去所述差值或通过从外围漏光像素的第二读出值减去漏光像素的第二读出值来计算校正值，以对外围漏光像素的第二读出值进行校正。5.根据权利要求3所述的拍摄设备， 其中，响应于外围漏光像素的第二读出值等于或大于预定阈值，图像处理器计算漏光像素的第一读出值作为外围漏光像素的校正值。6.根据权利要求4所述的拍摄设备， 其中，图像处理器基于所述一组像素的第一读出值、外围漏光像素的校正值以及除了外围漏光像素之外的所述多个像素的第二读出值来产生图像。7.根据权利要求3所述的拍摄设备， 其中，响应于所述一组像素中的每个像素的第一读出值小于所述预定阈值，图像处理器基于所述一组像素中的每个像素的第一读出值和除了所述一组像素之外的所述多个像素的第二读出值来产生图像。8.根据权利要求2所述的拍摄设备， 还包括:照度传感器，被配置为测量被拍摄对象的照度值； 其中，图像处理器分析运动图像和照度值中的至少一个来确定所述一组像素，以对所述一组像素执行第一读出。9.如权利要求8所述的拍摄设备， 其中，响应于通过分析运动图像和照度值中的至少一个确定了具有被确定为漏光区域的可能性的光源区域，图像处理器以轮作方法确定所述一组像素，并且响应于确定所述光源区域不存在，图像处理器以轮作方法或者以轮作方法和跳过方法来确定所述一组像素以对所述一组像素执行第一读出。10.根据权利要求9所述的拍摄设备， 其中，图像处理器分析运动图像和照度值中的至少一个来确定对所述一组像素的多个读出，以按照多个跳过方法中的一个跳过方法执行第一读出。11.一种用于拍摄设备的漏光校正的方法，所述方法包括: 对存储在多个像素之中的一组像素中的电荷执行第一读出； 对存储在所述多个像素中的电荷执行第二读出； 基于第一读出电荷的值和第二读出电荷的值中的至少一个来检测所述多个像素之中的已发生漏光现象的像素； 对与检测出的像素相应的区域执行校正； 基于存储在检测出的像素中的电荷的值和存储在除了检测出的像素之外的所述多个像素中的电荷的值来产生图像。12.根据权利要求11所述的方法， 其中，检测步骤包括:将所述一组像素中的每个像素的第二读出值与预定阈值进行比较，并响应于所述一组像素中的至少一个像素的第二读出值超过所述预定阈值，将所述一组像素中的所述至少一个像素检测为漏光像素。13.根据权利要求12所述的方法， 其中，检测步骤还包括:计算在漏光像素的外围上的外围像素的电荷的第二读出值与漏光像素的电荷的第一读出值之间的差值，并基于计算出的差值和漏光像素的第二读出值将外围像素检测为已发生漏光现象的外围漏光像素。14.根据权利要求13所述的方法， 其中，执行校正的步骤包括:通过从外围漏光像素的第二读出值减去所述差值或通过从外围漏光像素的第二读出值减去漏光像素的第二读出值来计算校正值，以对外围漏光像素的第二读出值进行校正。15.根据权利要求13所述的方法， 其中，执行校正的步骤包括:响应于外围漏光像素的第二读出值等于或大于所述预定阈值，基于漏光像素的第一读出值来计算外围漏光像素的校正值。
【文档编号】H04N5/345GK105847712SQ201610073372
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年2月2日
【发明人】文载畯, 金道, 金一道
【申请人】三星电子株式会社