解码器解码性能测试方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明实施例提供一种解码器解码性能测试方法及装置。该方法包括：测试工装向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功；所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果；所述测试工装依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。本发明实施例通过测试工装向解码器发送带有干扰的测试码源，以使解码器对该带有干扰的测试码源进行解码，测试工装依据解码器的解码时间和解码结果确定解码器的解码性能，实现了码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
【专利说明】
解码器解码性能测试方法及装置
技术领域
[0001]本发明实施例涉及通信技术领域，尤其涉及一种解码器解码性能测试方法及装置。
【背景技术】
[0002]应答器系统如今在铁路系统上获得了广泛应用，其包括地面设备和车载设备，BTM是车载设备中的核心设备，BTM的核心功能是解码，具体的，BTM的解码器对BTM接收的TA信号进行解码。经研究发现解码器的解码性能直接关系到BTM的抗扰性及应用BTM的列车的最高时速。
[0003]解码器的解码性能具体可以从两个方面考虑:I)解码时间，指的是解码器从接收到正确的一帧报文码源开始到最后解出合法的用户报文的时间，且解码时间越短解码性能越好;2)最短的可以解码的码源长度，当码源全为好码，即码源未受到干扰的情况下，长报文的最短的可以解码的码源长度是1100位，短报文的最短的可以解码的码源长度是462位，但是，在码源受到干扰的情况下，长报文的最短的可以解码的码源长度大于1100位，短报文的最短的可以解码的码源长度大于462位，若最短的可以解码的码源长度太大，将导致解码器不解码，出现死机状态。
[0004]现有技术，使用大型模拟设备对BTM整机进行功能测试，或只在码源未受到干扰的情况下测试解码器的解码性能，但是，在现场测试环境下，码源会受到各种各样的干扰，导致解码器的解码性能会降低，而现有技术中缺乏在码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
【发明内容】
[0005]本发明实施例提供一种解码器解码性能测试方法及装置，以实现在码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
[0006]本发明实施例的一个方面是提供一种解码器解码性能测试方法，包括:
[0007]测试工装向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功；
[0008]所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果；
[0009]所述测试工装依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。
[0010]本发明实施例的另一个方面是提供一种解码器解码性能测试装置，包括:
[0011 ]发送模块，用于向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功；
[0012]获取模块，用于获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果;
[0013]分析模块，用于依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。
[0014]本发明实施例提供的解码器解码性能测试方法及装置，通过测试工装向解码器发送带有干扰的测试码源，以使解码器对该带有干扰的测试码源进行解码，测试工装依据解码器的解码时间和解码结果确定解码器的解码性能，实现了码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
【附图说明】
[0015]图1为本发明实施例提供的解码器解码性能测试方法流程图；
[0016]图1A为本发明实施例提供的测试码源的示意图；
[0017]图2为本发明另一实施例提供的解码器解码性能测试方法流程图；
[0018]图3所示为本发明实施例中解码器执行解码任务和其他任务的流程图；
[0019]图4为本发明另一实施例提供的解码器解码性能测试方法流程图；
[0020]图5为本发明实施例提供的测试码源的示意图；
[0021 ]图6为本发明另一实施例提供的测试系统的结构图；
[0022]图7为本发明实施例提供的解码器解码性能测试装置的结构图；
[0023]图8为本发明另一实施例提供的解码器解码性能测试装置的结构图。
【具体实施方式】
[0024]图1为本发明实施例提供的解码器解码性能测试方法流程图；图1A为本发明实施例提供的测试码源的示意图。本发明实施例针对现有技术中缺乏在码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法，提供了解码器解码性能测试方法，该方法具体步骤如下:
[0025]步骤SlOl、测试工装向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功；
[0026]本发明实施例的执行主体为测试工装，该测试工装可以自动生成测试码源，测试码源以持续的波特率564K存入缓存中，解码器通过滑动窗口从缓存中读取测试码源，滑动窗口的大小为解码器执行一次解码任务处理的测试码源的长度大小，本发明实施例中的测试码源包括样本码源和正确报文码，该样本码源可导致所述解码器解码不成功，即该样本码源是受干扰的码源，由于在现场测试环境下，解码器接收的码源会受到各种各样的干扰，为了模拟干扰，本发明实施例通过测试工装自动生成受干扰的码源即样本码源，并在样本码源的后面添加若干正确报文码，如图1A所示，区间11属于不可解码区，不可解码区中的码源为样本码源，区间12属于可解码区，可解码区中的码源为正确报文码，点C为错误码位置。
[0027]本发明实施例通过该解码器对所述测试码源进行解码，确定该解码器能够正确解码时，样本码源后面添加的正确报文码的总个数，该正确报文码的总个数即可体现出该解码器的性能。
[0028]步骤S102、所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果；
[0029]本发明实施例中，当测试工装将测试码源发送给该解码器后，测试工装记录发送时刻，当该测试工装接收到该解码器返回的解码结果后，测试工装记录接收时刻，测试工装通过发送时刻和接收时刻即可获知所述解码器的解码时间；或者，解码器接收到测试码源时记录接收时刻，生成解码结果时记录解码结束时刻，该解码器通过接收时刻和解码结束时刻可计算出解码时间，并将该解码时间发送给该测试工装。
[0030]步骤S103、所述测试工装依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。
[0031]在本发明实施例中，解码结果可以包括:解码失败标识、解码成功标识或解码成功后的测试测试码源。
[0032]本发明实施例通过测试工装向解码器发送带有干扰的测试码源，以使解码器对该带有干扰的测试码源进行解码，测试工装依据解码器的解码时间和解码结果确定解码器的解码性能，实现了码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
[0033]图2为本发明另一实施例提供的解码器解码性能测试方法流程图；图3所示为本发明实施例中解码器执行解码任务和其他任务的流程图。在图1实施例对应的基础上，本发明实施例提供的解码器解码性能测试方法的具体步骤如下:
[0034]步骤S201、测试工装生成多个测试用例库，所述测试用例库包括测试用例；
[0035]如图3所示为本发明实施例中解码器执行解码任务和其他任务的流程图，具体步骤如下:
[0036]步骤21、解码器通过滑动窗口读取码源；
[0037]在本发明实施例中，码源即待解码器处理的码以持续的波特率564K存入缓存中，解码器通过滑动窗口从缓存中读取码源，滑动窗口的大小为解码器执行一次解码任务处理的码源的长度大小。
[0038]步骤22、解码器判断码源的长度是否大于n+r比特;若是，则执行步骤24，否则，执行步骤23;
[0039]若解码前的报文是长报文，则n= 1023，r = 77;若解码前的报文是短报文，则η =341,r = 121o
[0040]步骤23、滑动窗口增加码源；
[0041]循环执行步骤21、22、23，直到码源的长度大于n+r比特。
[0042]步骤24、解码器对码源进行CRC校验；
[0043]步骤25、解码器判断CRC校验是否通过;若是，则执行步骤27，否则，执行步骤26;
[0044]步骤26、滑动窗口移动η I位，并返回步骤21 ；
[0045]例如，该步骤之前滑动窗口有1100位码源，则在第1100位码源后面新加入nl位未处理过的码源，同时，将第I位到第nl位的码源移出该滑动窗口，若缓存中处理过的码源排列在前，未处理过的码源排列在后，则此步骤处理相当于滑动窗口的大小保持不变的前提下向后滑动了 nl位。
[0046]步骤27、解码器对码源进行n+r校验；
[0047]步骤28、判断n+r校验是否通过，若是，则执行步骤30，否则，执行步骤29;
[0048]步骤29、滑动窗口移动n2位，并返回步骤21;
[0049]同理于步骤26，此处不再赘述。
[0050]步骤30、解码器对码源检测同步值；
[0051 ]步骤31、解码器判断同步值是否合法;若是，则执行步骤33，否则，执行步骤32;
[0052]步骤32、滑动窗口移动n3位，并返回步骤21 ；
[0053]步骤33、解码器对码源进行合法性校验；
[0054]步骤34、解码器判断是否所有比特都合法；若是，则执行步骤36，否则，执行步骤35；
[0055]步骤35、滑动窗口移动n4位，并返回步骤21 ；
[0056]步骤36、解码器检查码源是否需要反转，若需要反转，则反转；
[0057]步骤37、解码器校验码源中的控制位；
[0058]步骤38、解码器判断控制位是否合法;若是，则执行步骤40，否则，执行步骤39;
[0059]步骤39、滑动窗口移动n5位，并返回步骤21;
[0060]步骤40、解码器对码源进行逆变和解扰，得到合法报文及反转位；
[0061 ] 步骤41、滑动窗口移动n6位，并返回步骤21。
[0062]如图3所示，解码器执行的解码任务包括多个子任务，优选的，本发明实施例提供6步，具体的，将步骤21-26作为解码任务的第一个子任务即为第一步，步骤27-29作为解码任务的第二个子任务即为第二步，步骤30-32作为解码任务的第三个子任务即为第三步，步骤33-35作为解码任务的第四个子任务即为第四步，步骤36-39作为解码任务的第五个子任务即为第五步，步骤40作为解码任务的第六个子任务即为第六步。
[0063]本步骤S201，测试工装生成多个测试用例库的具体过程如下:
[0064]I)生成使图3中第一步不通过的第一个测试用例库
[0065]由于CRC校验的码源中如果有任一一位码出错，则CRC校验将不通过，因此对于长报文具体为1100位的报文，该1100位的报文包括77位的校验位R，该1100位的报文可表示为N+R= 1023+77，只要1023位中有任——位码出错，则CRC校验将不通过，因此，对于长报文，第一个测试用例库包括N=1023个测试用例，具体的，第I个测试用例是该长报文的第I位码出错，第2个测试用例是该长报文的第2位码出错，……，第N个测试用例是该长报文的第N位码出错。
[0066]对于短报文具体为462位的报文，该462位的报文包括121位的校验位R，该462位的报文可表示为N+R = 341+121，只要341位中有任——位码出错，则CRC校验将不通过，因此，对于短报文，第一个测试用例库包括N = 341个测试用例，具体的，短报文的测试用例与长报文的测试用例类似，此处不再赘述。
[0067]2)生成使图3中第二步不通过的第二个测试用例库
[0068]若源码通过第一步CRC校验，则N位中出现错误的概率几乎为O，建立第二个测试用例库时主要考虑R位中的错误对该解码器的影响，且R位中连续错误位越多，则对该解码器的影响越大，因此，第二个测试用例库根据R位中连续错误位的位数确定，具体的，该第二个测试用例库分4种情况考虑:
[0069]第一种情况:源码7500位前可解码，源码为长报文，第二个测试用例库包括R位中连续错误位的位数为I的测试用例，R位中连续错误位的位数为2的测试用例，……，R位中连续错误位的位数为R的测试用例，N= 1023，R = 77。
[0070]第二种情况:源码7500位前可解码，源码为短报文，第二个测试用例库包括R位中连续错误位的位数为I的测试用例，R位中连续错误位的位数为2的测试用例，……，R位中连续错误位的位数为R的测试用例，N=341，R=121。[0071 ] 第三种情况:源码7500位后可解码，源码为长报文，第二个测试用例库包括7500位后长报文N+R位的R位中连续错误位的位数为I的测试用例，7500位后长报文N+R位的R位中连续错误位的位数为2的测试用例，……，7500位后长报文N+R位的R位中连续错误位的位数为R的测试用例，N=1023，R = 77。
[0072]第四种情况:源码7500位后可解码，源码为短报文，第二个测试用例库包括7500位后长报文N+R位的R位中连续错误位的位数为I的测试用例，7500位后长报文N+R位的R位中连续错误位的位数为2的测试用例，……，7500位后长报文N+R位的R位中连续错误位的位数为R的测试用例，N=341，R=121。
[0073]3)生成使图3中第二步不通过的第三个测试用例库
[0074]该第三个测试用例库包括如下测试用例:
[0075]测试用例1:重复的3帧SI报文作为长报文；
[0076]测试用例2: S6报文作为短报文；
[0077]测试用例3:全O码；
[0078]测试用例4:全I码；
[0079]测试用例5:每个11都相同的码，1023—循环。
[0080]4)生成使图3中第二步不通过的第四个测试用例库
[0081]该第四个测试用例库包括如下测试用例:
[0082]测试用例9: S7报文作为长报文；
[0083]5)生成使图3中第二步不通过的第五个测试用例库
[0084]该第五个测试用例库包括如下测试用例:
[0085]测试用例10:S3报文作为长报文；
[0086]测试用例11: S5报文作为长报文；
[0087]测试用例12:S4报文作为短报文。
[0088]6)生成使图3中第二步不通过的第六个测试用例库
[0089]该第六个测试用例库包括如下测试用例:
[0090]测试用例:可以正确解码的长报文；
[0091 ] 测试用例:可以正确解码的短报文；
[0092]通过上述1)-6)之后获得了 6个不同的测试用例库，每个测试用例库均包括测试用例。
[0093]步骤S202、所述测试工装根据所述测试用例生成测试码源；
[0094]在本发明实施例中，所述测试工装可由操作人员控制操作，若操作人员预测试该编码器执行第一步的解码性能，则操作人员控制测试工装向该解码器发送第一个测试用例库中的测试用例，该测试用例可以为N位数据，以该N位数据为一个循环周期，生成以N位数据为一个循环周期的循环码，该循环码作为本发明实施例中的测试码源。
[0095]另外，若操作人员预测试该编码器执行第二步的解码性能，则通过测试工装向该解码器发送第二个测试用例库中的测试用例，依次类推测试该编码器执行后几步的解码性會K。
[0096]步骤S203、测试工装向解码器发送测试码源，以使所述解码器根据所述测试码源执行解码任务；
[0097]所述解码任务包括多个子任务，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功;所述测试用例库与所述子任务一一对应，所述测试用例库中的所述测试用例可导致所述解码器执行所述子任务失败。
[0098]步骤S204、所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果；
[0099]步骤S205、所述测试工装依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。
[0100]本发明实施例通过建立多个测试用例库，测试用例库分别与解码器执行的解码任务包括的子任务一一对应，测试用例库中的测试用例可导致解码器执行子任务失败，通过大量的测试用例测试解码器的解码性能可保证解码器的解码性能大大提高。
[0101]图4为本发明另一实施例提供的解码器解码性能测试方法流程图；图5为本发明实施例提供的测试码源的示意图。在图2对应的实施例的基础上，本发明实施例提供的解码器解码性能测试方法的具体步骤如下:
[0102]步骤S301、测试工装生成多个测试用例库，所述测试用例库包括测试用例；
[0103]本步骤与步骤S201—致，此处不再赘述。
[0104]步骤S302、所述测试工装根据所述测试用例生成测试码源；
[0105]所述样本码源是至少两个测试用例合并后的码源，所述两个测试用例分别来自不同的所述测试用例库。
[0106]在本发明实施例中，操作人员还可预测试该编码器依次执行第一步和第二步的解码性能，则操作人员控制测试工装向该解码器发送由第一个测试用例库中的测试用例和第二个测试用例库中的测试用例组合构成的码源。
[0107]另外，操作人员还可以测试该编码器依次执行第一步、第二步和第三步的解码性能，则操作人员控制测试工装向该解码器发送由第一个测试用例库中的测试用例、第二个测试用例库中的测试用例和第三个测试用例库中的测试用例组合构成的码源。
[0108]为了提高该解码器的性能，还可以有目的的组合第一个测试用例库、第二个测试用例库、第三个测试用例库、第四个测试用例库、第五个测试用例库中的测试用例构成的码源。
[0109]或者，操作人员还可以测试该编码器执行不连续步骤的解码性能，例如，测试该编码器执行第一步和第三步的解码性能，则操作人员控制测试工装向该解码器发送由第一个测试用例库中的测试用例和第三个测试用例库中的测试用例组合构成的码源;其余不连续步骤的解码性能的测试方法同理于此。
[0110]如图5所示，区间51属于不可解码区，不可解码区中的码源为样本码源，样本码源由多个测试用例构成，区间52属于可解码区，可解码区中的码源为正确报文码，点C为错误码位置。相比于图1A，区间51中的码源由多个测试用例构成，区间11中的码源由单个测试用例构成。
[0111]步骤S303、测试工装向解码器发送测试码源，以使所述解码器根据所述测试码源执行解码任务；
[0112]步骤S304、所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果；
[0113]步骤S305、若所述解码结果表示所述解码器解码不成功，则所述测试工装增大所述测试码源中正确报文码的位数获得新的测试码源，以使所述解码器对所述新的测试码源解码成功；
[0114]当解码器对测试码源解码不成功时，测试工装增大所述测试码源中正确报文码的位数，具体的，如图1A和图5所示，在可解码区12或52的后面继续增加正确报文码的位数获得新的测试码源，以使解码器对新的测试码源继续解码，如果解码再次不成功，则测试工装继续增加正确报文码的位数，直到解码器能够对新的测试码源解码成功。
[0115]步骤S306、根据所述解码结果确定所述正确报文码的位数；
[0116]假设解码器对新的测试码源解码成功时，测试工装增加的正确报文码的位数的总个数为M。
[0117]步骤S307、若所述解码时间在预设时间范围内、且所述正确报文码的位数小于预设位数，则确定所述解码器的解码性能达标。
[0118]由于解码时间、成功解码时正确报文码的位数是解码器的解码性能的两个性能指标，若解码时间在预设时间范围内、且所述正确报文码的位数M小于预设位数，则说明该解码器的解码性能达标。
[0119]若所述正确报文码的位数M大于预设位数，则需要对解码器进行该进，该进的方法可以包括如下方法:减小所述解码器执行所述解码任务之外的任务的时间；减小所述解码器执行每个子任务的时间。
[0120]本发明实施例通过将不同测试用例库中的测试用例进行组合获得组合测试用例，对解码器进行组合测试，进一步提高了解码器的性能。
[0121]图6为本发明另一实施例提供的测试系统的结构图。如图6所示，测试系统包括测试工装61、解码器62和计算机63，其中，测试工装61和解码器62连接，测试工装61与计算机63连接，按键区可供操作人员操作，通过操作人员操作按键生成按键输入信号，不同的按键对应不同的测试模式，本发明实施例中的测试模式包括单个测试用例模式和组合测试用例模式，具体的组合方式与上述实施例一致。控制器依据按键输入信号向码源发送器发送控制信号，控制信号包括测试模式和测试用例标识号，存储器中存储了上述实施例所述的测试用例库，码源发送器依据测试用例标识号从存储器中获取对应的测试用例，根据该测试用例生成测试码源，并将该测试码源发送给解码器62，具体的，码源发送器先向解码器62发送一个开始信号，以使解码器62做好接收后续测试码源的准备，码源发送器发送完一个开始信号后，开始发送测试码源，该测试码源可以通过两种形式发送，一种形式是模拟码源，另一种形式是数字码源，测试码源发送形式的不同取决于解码器62支持的接收码源不同，即本发明实施例的测试工装61能够满足不同解码器62的需求。另外，控制器可模拟外设通过待测区插接口向解码器62发送请求信号，解码器62依据该请求信号向控制器发送应答信号，解码器62将其解码结果发送给控制器，例如，解码是否成功、解码成功时的测试码源的序列、测试的是解码任务的哪个子任务、测试时间、解码时间等。测试工装61还具有显示屏，该显示屏用于显示按键区上的按键。控制器还可将解码器62返回的解码结果形成测试报告，将该测试报告通过输出端口发送给计算机63，以便计算机63对测试报告进行存储显示，供操作人员分析。
[0122]本发明实施例通过测试工装向解码器发送带有干扰的测试码源，以使解码器对该带有干扰的测试码源进行解码，测试工装依据解码器的解码时间和解码结果确定解码器的解码性能，实现了码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
[0123]图7为本发明实施例提供的解码器解码性能测试装置的结构图。本发明实施例提供的解码器解码性能测试装置具体可以为上述实施例中的测试工装，本发明实施例提供的解码器解码性能测试装置可以执行解码器解码性能测试方法实施例提供的处理流程，如图7所示，解码器解码性能测试装置70包括发送模块71、获取模块72和分析模块73，其中，发送模块71用于向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功;获取模块72用于获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果;分析模块73用于依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。
[0124]本发明实施例通过测试工装向解码器发送带有干扰的测试码源，以使解码器对该带有干扰的测试码源进行解码，测试工装依据解码器的解码时间和解码结果确定解码器的解码性能，实现了码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法。
[0125]图8为本发明另一实施例提供的解码器解码性能测试装置的结构图。在上述实施例的基础上，解码器解码性能测试装置70还包括测试用例库生成模块74和测试码源生成模块75，其中，测试用例库生成模块74用于生成多个测试用例库，所述测试用例库包括测试用例;测试码源生成模块75用于根据所述测试用例生成测试码源。
[0126]所述样本码源是至少两个测试用例合并后的码源，所述两个测试用例分别来自不同的所述测试用例库。
[0127]解码器解码性能测试装置70还包括处理模块76，处理模块76用于所述解码结果表示所述解码器解码不成功时，增大所述测试码源中正确报文码的位数获得新的测试码源，以使所述解码器对所述新的测试码源解码成功。
[0128]分析模块73具体用于根据所述解码结果确定所述正确报文码的位数;若所述解码时间在预设时间范围内、且所述正确报文码的位数小于预设位数，则确定所述解码器的解码性能达标。
[0129]本发明实施例提供的解码器解码性能测试装置可以具体用于执行上述图1所提供的方法实施例，具体功能此处不再赘述。
[0130]本发明实施例通过建立多个测试用例库，测试用例库分别与解码器执行的解码任务包括的子任务一一对应，测试用例库中的测试用例可导致解码器执行子任务失败，通过大量的测试用例测试解码器的解码性能可保证解码器的解码性能大大提高;通过将不同测试用例库中的测试用例进行组合获得组合测试用例，对解码器进行组合测试，进一步提高了解码器的性能。
[0131]综上所述，本发明实施例通过测试工装向解码器发送带有干扰的测试码源，以使解码器对该带有干扰的测试码源进行解码，测试工装依据解码器的解码时间和解码结果确定解码器的解码性能，实现了码源受到干扰的情况下，对解码器的解码性能进行测试的方法;通过建立多个测试用例库，测试用例库分别与解码器执行的解码任务包括的子任务一一对应，测试用例库中的测试用例可导致解码器执行子任务失败，通过大量的测试用例测试解码器的解码性能可保证解码器的解码性能大大提高;通过将不同测试用例库中的测试用例进行组合获得组合测试用例，对解码器进行组合测试，进一步提高了解码器的性能。
[0132]在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0133]所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0134]另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
[0135]上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，R0M)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0136]本领域技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0137]最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
【主权项】
1.一种解码器解码性能测试方法，其特征在于，包括: 测试工装向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功； 所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果； 所述测试工装依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试工装向解码器发送测试码源之前，还包括: 测试工装生成多个测试用例库，所述测试用例库包括测试用例； 所述测试工装根据所述测试用例生成测试码源； 所述解码器对所述测试码源进行解码，包括: 所述解码器根据所述测试码源执行解码任务，所述解码任务包括多个子任务； 其中，所述测试用例库与所述子任务一一对应，所述测试用例库中的所述测试用例可导致所述解码器执行所述子任务失败。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述样本码源是至少两个测试用例合并后的码源，所述两个测试用例分别来自不同的所述测试用例库。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试工装获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果之后，还包括: 若所述解码结果表示所述解码器解码不成功，则所述测试工装增大所述测试码源中正确报文码的位数获得新的测试码源，以使所述解码器对所述新的测试码源解码成功。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述测试工装依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能，包括: 根据所述解码结果确定所述正确报文码的位数； 若所述解码时间在预设时间范围内、且所述正确报文码的位数小于预设位数，则确定所述解码器的解码性能达标。 所述测试工装获取所述解码器解码所述第二码源的解码时间和解码结果。6.一种解码器解码性能测试装置，其特征在于，包括: 发送模块，用于向解码器发送测试码源，以使所述解码器对所述测试码源进行解码，所述测试码源包括样本码源和正确报文码，所述样本码源可导致所述解码器解码不成功； 获取模块，用于获取所述解码器对所述测试码源进行解码的解码时间和解码结果； 分析模块，用于依据所述解码时间和所述解码结果确定所述解码器的解码性能。7.根据权利要求6所述的解码器解码性能测试装置，其特征在于，还包括: 测试用例库生成模块，用于生成多个测试用例库，所述测试用例库包括测试用例； 测试码源生成模块，用于根据所述测试用例生成测试码源。8.根据权利要求7所述的解码器解码性能测试装置，其特征在于，所述样本码源是至少两个测试用例合并后的码源，所述两个测试用例分别来自不同的所述测试用例库。9.根据权利要求8所述的解码器解码性能测试装置，其特征在于，还包括: 处理模块，用于所述解码结果表示所述解码器解码不成功时，增大所述测试码源中正确报文码的位数获得新的测试码源，以使所述解码器对所述新的测试码源解码成功。10.根据权利要求9所述的解码器解码性能测试装置，其特征在于，所述分析模块具体用于根据所述解码结果确定所述正确报文码的位数； 若所述解码时间在预设时间范围内、且所述正确报文码的位数小于预设位数，则确定所述解码器的解码性能达标。
【文档编号】H04L1/00GK105897376SQ201610184358
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2016年3月28日
【发明人】杨婷, 王耀辉, 冉娜娜, 监雄
【申请人】北京交大思诺科技股份有限公司